技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及分析物檢測裝置和使用此類裝置檢測樣品中的極少量目標分析物的方法。具體地，本發(fā)明提供一種分析物檢測裝置，其包括綴合至分析物結(jié)合配偶體的多個復(fù)合金屬納米結(jié)構(gòu)和含有其上固定有多個捕獲分子的金屬納米層的表面。還描述了制備復(fù)合納米結(jié)構(gòu)的方法。

技術(shù)研發(fā)人員：R·K·梅拉;V·蔣;K·P·阿倫;A·克雷爾
受保護的技術(shù)使用者：愛貝斯股份有限公司
文檔號碼：201580042633
技術(shù)研發(fā)日：2015.08.13
技術(shù)公布日：2017.05.31