本發(fā)明涉及檢測設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域：
，特別涉及一種檢具。
背景技術(shù)：
：目前，很多手機都采用金屬鋁片作為殼體，該鋁片殼體在加工過程中，需要進行長寬高等尺寸的測量與管控。在對鋁片殼體測量時，通常都是在鋁片殼體的自由狀態(tài)下，采用高度規(guī)來檢測。但是會產(chǎn)生了以下問題：1、因鋁片殼體較薄，高度規(guī)的探頭有一定重量，探頭抵接鋁片殼體的不同位置，鋁片殼體產(chǎn)生的變形不一致，導(dǎo)致數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。2、鋁片殼體在自由狀態(tài)下的尺寸是a，裝上與之配合的部件(如手機本體)后，鋁片殼體會因受力產(chǎn)生一定的變形，此時尺寸會變?yōu)閎，導(dǎo)致在自由狀態(tài)下測量是合格的鋁片殼體，也不能保證組裝以后的組件能夠滿足設(shè)計要求。技術(shù)實現(xiàn)要素：本發(fā)明的主要目的是提供一種檢具，該檢具能模擬殼體處于組裝狀態(tài)并在該狀態(tài)下進行準(zhǔn)確檢測。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提出的檢具，包括：包括一基臺，設(shè)有仿形部，所述仿形部內(nèi)設(shè)置有吸附部，該吸附部吸附殼體使殼體產(chǎn)生變形，該變形后的殼體與仿形部接觸，且與該仿形部相適配；至少一測量部，可滑動地設(shè)置于基臺，并臨近所述仿形部，所述測量部對變形后的殼體進行檢測；及支架，支撐所述基臺。優(yōu)選的，所述吸附部包括：至少一個吸槽，設(shè)于仿形部的底壁；至少一個吸氣孔，開設(shè)于吸槽的槽端壁并與吸槽和外部連通，該吸氣孔背離吸槽的一端外接真空吸管。優(yōu)選的，所述吸附部設(shè)置有多個吸槽，所述多個吸槽間隔分布于仿形部。優(yōu)選的，所述吸附部設(shè)置有多個吸氣孔，每一所述吸槽均包括兩個相對槽端壁，每一槽端壁均開設(shè)有一吸氣孔。優(yōu)選的，所述測量部面向基臺的表面設(shè)有上限臺階面和與所述上限臺階面連接的下限臺階面，所述上限臺階面與基臺的垂直距離大于所述下限臺階面與基臺的垂直距離，滑動所述測量部時，該上限臺階面、下限臺階面通過或止擋變形后容納于仿形部的殼體。優(yōu)選的，所述檢具還包括至少一個安裝座，該安裝座設(shè)于所述基臺并鄰近仿形部，該安裝座上開設(shè)有滑槽，所述測量部可滑動地容納于所述滑槽。優(yōu)選的，所述安裝座與基臺可拆卸連接。優(yōu)選的，所所述基臺上設(shè)置若干安裝座和若干測量部，若干所述安裝座和測量部分布于仿形部的兩側(cè)，每一測量部可滑動地容納于一滑槽。優(yōu)選的，所述檢具還包括至少一定位柱，所述定位柱設(shè)于所述仿形部，所述殼體設(shè)置有至少一定位孔，所述定位柱卡入所述定位孔。優(yōu)選的，所述仿形部內(nèi)還設(shè)置有擋塊，所述擋塊抵持于變形后殼體的側(cè)壁。本發(fā)明技術(shù)方案通過在基臺上設(shè)置仿形部及吸附部，使得放置于仿形部上的殼體在吸附部的真空吸附作用下容納于仿形部，殼體在吸附部吸力和仿形部支撐的反向力作用下產(chǎn)生變形，變形后的殼體形狀與仿形部形狀相適配，以使變形后殼體模擬處于組裝狀態(tài)后的殼體形狀，再使用滑動設(shè)于基臺上的測量部檢測變形后的殼體尺寸是否合格，使得檢具可檢測處于模擬組裝狀態(tài)下殼體的尺寸。附圖說明為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖示出的結(jié)構(gòu)獲得其他的附圖。圖1為本發(fā)明檢具一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1的分解結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明檢具的剖面結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為圖3中s1的放大示意圖；圖5為本發(fā)明檢具的測量部一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為圖3中s2的放大示意圖。附圖標(biāo)號說明：標(biāo)號名稱標(biāo)號名稱100檢具30測量部10基臺31上限臺階面11仿形部33下限臺階面13吸附部50安裝座131吸槽51滑槽133吸氣孔70支架17定位柱200殼體19擋塊21定位孔本發(fā)明目的的實現(xiàn)、功能特點及優(yōu)點將結(jié)合實施例，參照附圖做進一步說明。具體實施方式下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明的一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。需要說明，本發(fā)明實施例中所有方向性指示(諸如上、下、左、右、前、后……)僅用于解釋在某一特定姿態(tài)(如附圖所示)下各部件之間的相對位置關(guān)系、運動情況等，如果該特定姿態(tài)發(fā)生改變時，則該方向性指示也相應(yīng)地隨之改變。在本發(fā)明中，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“連接”、“固定”等應(yīng)做廣義理解，例如，“固定”可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或成一體；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通或兩個元件的相互作用關(guān)系，除非另有明確的限定。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。另外，在本發(fā)明中如涉及“第一”、“第二”等的描述僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示其相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個該特征。另外，各個實施例之間的技術(shù)方案可以相互結(jié)合，但是必須是以本領(lǐng)域普通技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)為基礎(chǔ)，當(dāng)技術(shù)方案的結(jié)合出現(xiàn)相互矛盾或無法實現(xiàn)時應(yīng)當(dāng)認為這種技術(shù)方案的結(jié)合不存在，也不在本發(fā)明要求的保護范圍之內(nèi)。本發(fā)明提出一種檢具100，請參照圖1至圖3，包括：一基臺10，設(shè)有仿形部11，所述仿形部11內(nèi)設(shè)置有吸附部13，該吸附部13吸附殼體200使殼體200產(chǎn)生變形，該變形后的殼體200與仿形部11接觸，且與該仿形部11相適配；至少一測量部30，可滑動地設(shè)置于基臺10，并臨近所述仿形部11，所述測量部30對變形后的殼體進行檢測；及支架70，支撐所述基臺10。手機殼體在組裝狀態(tài)由于受到配合件對其的作用力會產(chǎn)生微小的變形，為了模擬殼體200處于組裝狀態(tài)，首先在基臺10上設(shè)置仿形部11，仿形部11用于放置待檢測的殼體200，仿形部11可以的是凹向基臺10的凹面，也可以是凸起于基臺10的凸面，或者是一平面，仿形部11的具體形狀根據(jù)待檢測殼體200的形狀而進行仿形設(shè)計。仿形部11內(nèi)設(shè)置吸附部13，吸附部13外接抽真空的真空吸管，開啟外部的抽真空裝置后，吸附部13對放置于仿形部11的殼體200產(chǎn)生吸力，在吸力以及仿形部11支撐反力的作用下，殼體200產(chǎn)生變形，同時由于仿形部11的形狀預(yù)先設(shè)置成與殼體200裝配變形后的形狀，使得殼體200與仿形部11貼合適配，達到裝配后的狀態(tài)，然后使用滑動設(shè)置在基臺10上的測量部30檢測該殼體200是否合格。本發(fā)明技術(shù)方案通過在基臺10上仿形部11及吸附部13，使得放置于仿形部11的殼體200在吸附部13的真空吸附作用下容納于仿形部11，殼體200在吸附部13吸力和仿形部11支撐的反向力作用下產(chǎn)生變形，變形后的殼體200形狀與仿形部11形狀相適配，以使變形后殼體200模擬處于組裝狀態(tài)后的殼體200形狀，再使用測量部30檢測處于模擬組裝狀態(tài)后變形殼體200的尺寸是否合格，檢測狀態(tài)真實，測量準(zhǔn)確快速。具體的，如圖3和圖4所示，所述吸附部13包括：至少一個吸槽131，設(shè)于仿形部11的底壁；至少一個吸氣孔133，開設(shè)于吸槽131的槽端壁并與吸槽131和外部連通，該吸氣孔133背離吸槽131的一端外接真空吸管。吸槽131在吸氣孔133與外接的真空吸管作用下形成真空，殼體200將向吸槽131內(nèi)凹陷，同時由于仿形部接觸面的作用而產(chǎn)生變形，模擬出殼體200在組裝后的狀態(tài)。為了加強模擬效果，如圖2所示，所述吸附部13設(shè)置有多個吸槽131，所述多個吸槽131間隔分布于仿形部11。這樣殼體200的表面與仿形部11的接觸區(qū)域內(nèi)將受到多個吸力的作用，接觸區(qū)域內(nèi)殼體200受力均勻，產(chǎn)生的形變與真實場景符合。為了使每個吸槽131內(nèi)吸氣孔133對殼體200的作用力均衡，如圖4所示，所述吸附部13設(shè)置有多個吸氣孔133，每一所述吸槽131均包括兩個相對槽端壁，每一槽端壁均開設(shè)有一吸氣孔133。每個吸槽131內(nèi)位于吸槽131兩槽端壁的兩個吸氣孔133同時對殼體200產(chǎn)生吸力，使得殼體200的受力更均衡，以得到好的變形效果。對于變形后殼體200的檢測可以采用多種方式，具體的，在本實施例中，如圖5和圖6所示，所述測量部30面向基臺10的表面設(shè)有上限臺階面31和與所述上限臺階面31連接的下限臺階面33，所述上限臺階面31與基臺10的垂直距離大于所述下限臺階面33與基臺10的垂直距離，滑動所述測量部30時，該上限臺階面31、下限臺階面33通過或止擋變形后容納于仿形部11的殼體200。測量部30的上限臺階面31是為了檢測殼體200是否超過上限尺寸，超過則說明檢測部位尺寸過大，而測量部30的下限臺階面33是為了檢測殼體200是否小于下限尺寸，低于則說明檢測部位尺寸太小。具體檢測時，如圖6所示，當(dāng)測量部30在基臺10上滑向殼體200時，如果測量部30的上限臺階面31通過殼體200，而測量部30的下限臺階面31止擋于殼體200，則說明殼體200此處的尺寸在設(shè)置范圍內(nèi)，該處檢測合格，其他情況如上限臺階面31、下限臺階面33都通過殼體200或者上限臺階面31止擋殼體200均為不合格。為了包括保證檢測的可靠，可在殼體200周圍設(shè)置多個檢測點對殼體200多個部位的尺寸進行檢測，如果每個檢測點的測量部30的上限臺階面31都通過殼體200，同時，測量部30的下限臺階面33都止擋殼體200，則可認為該殼體200為合格產(chǎn)品。實際應(yīng)用中，測量部30的上限臺階面31、下限臺階面33與基臺10的垂直距離參數(shù)通過計算后與殼體200進行適應(yīng)性設(shè)計。為了便于檢測，測量部30需要限位而防止在檢測過程中擺動，影響檢測結(jié)果，如圖2所示，所述檢具100還包括至少一個安裝座50，該安裝座50設(shè)于所述基臺10并鄰近仿形部11，該安裝座50上開設(shè)有滑槽51，所述測量部30可滑動地容納于所述滑槽51。這樣，測量部30在滑槽51的導(dǎo)向作用下滑動，而不會上下或者左右跳動而影響檢測結(jié)果。較佳的，所述安裝座50與基臺10可拆卸連接，使得安裝座50在基臺10上的固定位置可以調(diào)整更換，以適應(yīng)于不同位置的檢測需求。在本實施例中，為了對殼體200的多個部位進行檢測，提高檢測結(jié)果的可靠性和準(zhǔn)確度，所述基臺10上設(shè)置若干安裝座50和若干測量部30，若干所述安裝座50和測量部30分布于仿形部11的兩側(cè)，每一測量部30可滑動地容納于一滑槽51。這樣，可對殼體200的兩對邊進行多部位的檢測，防止檢測部位過少而漏檢其他不合格部位?？梢岳斫?，安裝座50還可以環(huán)繞所述殼體200設(shè)置，在殼體200的四個邊上都進行多個部位的檢測。請繼續(xù)參考圖1和圖2，優(yōu)選的，所述檢具100還包括至少一定位柱17，所述定位柱17設(shè)于所述仿形部11，所述殼體200設(shè)置有至少一定位孔21，所述定位柱17卡入所述定位孔21。定位柱17與定位孔21的設(shè)置便于殼體200快速定位于仿形部11的合適位置。為了防止檢測過程中殼體200的滑動，所述仿形部11內(nèi)還設(shè)置有擋塊19，所述擋塊19抵持于變形后殼體200的側(cè)壁。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是在本發(fā)明的發(fā)明構(gòu)思下，利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變換，或直接/間接運用在其他相關(guān)的
技術(shù)領(lǐng)域：
均包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。當(dāng)前第1頁12