專利名稱：晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是與集成電路(IC)晶片測試裝置有關(guān)，更詳而言之，乃是指一種晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置。
按、由于IC晶片在連接時有其方向性，因此連接時須按晶片上所標(biāo)示的辨識記號來辨識其方向，藉以正確的將晶片安裝在IC插槽內(nèi)，使其發(fā)揮正常功能；而一般在包裝IC晶片時，通常是將多數(shù)個IC晶片依同方向裝入一晶片料管，并在該晶片料管的兩端設(shè)置不同顏色的擋栓，來擋住晶片使其不致掉出，又同時具有指示晶片方向的效果；欲取出該晶片料管內(nèi)的晶片時，僅須將一擋栓拿掉，再將該晶片料管傾斜，即可將晶片依序倒出；然而，欲取下晶片料管上的擋栓時，是以人工的方式徒手或以工具取下，操作上較為耗時、不便。
當(dāng)欲透過晶片測試機(jī)來檢測晶片時，是先將裝有待測晶片的晶片料管一端的擋栓取下，再將該晶片料管裝于晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置，晶片即會經(jīng)該進(jìn)料裝置進(jìn)入該晶片測試機(jī)，并于檢測完成后送出，故操作者在該晶片料管內(nèi)的晶片完全排出后，即會將該空的晶片料管置于該晶片測試機(jī)的出料裝置，藉以接收測試完成的晶片；其中，由于晶片料管內(nèi)的第一個晶片進(jìn)入該進(jìn)料裝置，經(jīng)過測試后，即會經(jīng)由該出料裝置進(jìn)入空的晶片料管，亦即，其是第一個進(jìn)入該空的晶片料管，晶片方向與原方向恰好相反，因此操作者必須將該空的晶片料管上取下的擋栓裝回，并取下該晶片料管另一端的擋栓，以反方向裝于該出料裝置，才能讓晶片進(jìn)入時方向正確；該種操作方式極為不便，且耗費(fèi)人工。
本實(shí)用新型的主要目的即在提供一種晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置，其可讓操作者僅須取下晶片料管一端的擋栓，即可在進(jìn)料后，直接裝設(shè)于測試機(jī)的出料位置，其晶片方向亦不會相反。
本實(shí)用新型的次一目的乃在提供一種晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置，其可在少量的空間內(nèi)動作，較不會影響到操作者。
緣是，依據(jù)本實(shí)用新型所提供的一種晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置，包含有一旋擺座，設(shè)于晶片測試機(jī)的預(yù)定位置，可受驅(qū)動而于第一、第二位置間旋擺，該旋擺座上具有一軌道，一夾具設(shè)置于該旋擺座上，用以夾掣晶片料管，其中該晶片料管在夾掣時是對正于該軌道；一旋擺料管，設(shè)于晶片測試機(jī)的預(yù)定位置，可受驅(qū)動而于第三、第四位置間旋擺，于該旋擺料管位于第三位置且該旋擺座位于第二位置時，該旋擺料管的一端恰對正于該旋擺座的軌道，該旋擺料管一端設(shè)有至少一活動擋件，可受驅(qū)動而產(chǎn)生擋止、釋放的動作，于該旋擺料管旋擺至第四位置時，即對正于晶片測試機(jī)的入料口；藉此，藉由該夾具將晶片料管固定于該旋擺座后，該旋擺座即可旋擺使該晶片料管內(nèi)的晶片經(jīng)由該軌道滑入該旋擺料管內(nèi)，再藉由控制該旋擺料管上的活動擋件即可將晶片擋止于該旋擺料管內(nèi)，該旋擺料管旋擺至第二位置即對正于晶片測試機(jī)的入料口，而得進(jìn)行送料動作。
其中還包含有一活動指，設(shè)于該旋擺座且位于該軌道上方。
其中該夾具是由一空壓缸及設(shè)于其活塞桿上的夾塊所組成。
其中該旋擺料管兩端分別設(shè)置一第一、第二活動擋件。
其中該第二活動擋件與該旋擺料管的末端相隔預(yù)定距離。
有關(guān)本實(shí)用新型的詳細(xì)結(jié)構(gòu)，特征及功效，以下茲舉一較佳實(shí)施例，并配合圖式作進(jìn)一步的說明，其中

圖1是本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例的側(cè)視圖；圖2是本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例的動作圖；圖3是本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例的另一動作圖；圖4是本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例的再一動作圖；圖5是本實(shí)用新型再一較佳實(shí)施例的側(cè)視圖；圖6是本實(shí)用新型再一較佳實(shí)施例的動作圖；圖7是本實(shí)用新型再一較佳實(shí)施例的另一動作圖。
請參閱圖1，本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例所提供的一種晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置10，是配合裝設(shè)于晶片測試機(jī)70上，該進(jìn)料裝置10主要是由一旋擺座11及一旋擺料管21所組成，其中
該旋擺座11，配合設(shè)于晶片測試機(jī)70的預(yù)定位置，受一空壓缸(圖中未示)的驅(qū)動而沿其固定點(diǎn)于第一、第二位置間旋擺，該旋擺座11具有一軌道12，可導(dǎo)引晶片沿預(yù)定方向移動，一夾具14設(shè)置于該旋擺座11上，由一空壓缸141連接一夾塊142所組成，藉由該空壓缸141驅(qū)動該夾塊142向下壓而可夾住裝有IC晶片的晶片料管80，進(jìn)而將晶片料管80固定于該旋擺座11上；如圖2所示，晶片料管80被夾掣時是對正于該軌道12，于該旋擺座11位于第一位置時，該軌道12是呈水平；如圖3所示，于該旋擺座11旋擺至第二位置時，該晶片料管80即隨之旋擺至傾斜狀態(tài)，位于該晶片料管80內(nèi)的晶片81即會向外滑出而滑入該軌道12內(nèi)；該旋擺料管21，設(shè)于晶片測試機(jī)70的預(yù)定位置，受一空壓缸(圖中未示)的驅(qū)動而沿其固定點(diǎn)于第三、第四位置間旋擺，于該旋擺料管21位于第三位置且該旋擺座11位于第二位置時，該旋擺料管21的一端恰對正于該旋擺座11的軌道12，得承接沿該軌道12滑下的晶片81，該旋擺料管21靠近該旋擺座11的一端設(shè)有一活動擋件22，可受一空壓缸(圖中未示)驅(qū)動而產(chǎn)生擋止、釋放的動作；該旋擺料管21旋擺至第四位置時即對正于晶片測試機(jī)70的入料口71。
請再參閱圖2，本實(shí)用新型于操作時，先將裝有IC晶片81的晶片料管80一端的擋栓83(圖未示)拔出，并以該夾具14夾住該晶片料管80，此時該旋擺座11是位于第一位置，如圖3所示，當(dāng)該旋擺料管21位于第三位置且該旋擺座11受驅(qū)動而旋擺至第二位置時，該晶片料管80即隨之旋擺至傾斜狀態(tài)，位于該晶片料管80內(nèi)的IC晶片81即向外滑出，經(jīng)由該軌道12而進(jìn)入該旋擺料管21，然后該活動擋件22即受驅(qū)動而位于擋止位置，藉以將IC晶片81擋止在該旋擺料管21內(nèi)；如圖4所示，于該旋擺料管21旋擺至第四位置時，即對正于晶片測試機(jī)70的入料口71，此時再控制該活動擋件22至釋放位置，位于該旋擺料管21內(nèi)的晶片81即會向外滑出而進(jìn)入該入料口71。
藉由上述結(jié)構(gòu)，第一個由該晶片料管80進(jìn)入本實(shí)用新型的進(jìn)料裝置10的IC晶片81即會轉(zhuǎn)為最后一個進(jìn)入晶片測試機(jī)70的晶片81，操作者可直接將該空的晶片料管80置于晶片測試機(jī)70的出料位置(圖中未示)，檢測完成的晶片81依序進(jìn)入該空的晶片料管80后，其方向即與原來的方向相同，操作者僅須將原取下的擋栓83裝回即可；換言之，藉由本實(shí)用新型，操作者僅須取下晶片料管80上的單一種擋栓83(即代表同一方向的擋栓)，再等到空的晶片料管80被填滿后將該擋栓83裝回即可，無須取下晶片料管80兩邊的擋栓83來變換晶片料管80的方向，對操作者而言非常方便。
請再參閱圖5至圖6所示，本實(shí)用新型再一較佳實(shí)施例所提供的一種晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置30，主要是概同于前揭實(shí)施例，其不同的處在于該旋擺座31具有一活動指36，該活動指36位于旋擺座31且位于該軌道32的上方，受一設(shè)于該旋擺座31上的空壓缸37所驅(qū)動而產(chǎn)生下壓、上升的動作，于其下壓時是將位于該軌道32上的IC晶片81夾住使其不再位移；該旋擺料管41兩端分別設(shè)置一第一、第二活動擋件42、44，其中該第一活動擋件42位于靠近該旋擺座41的一端，該第二活動擋件44則位于該旋擺料管41的另一端且距末端尚有預(yù)定距離，該二活動擋件42、44分別受一空壓缸(圖中未示)的驅(qū)動而產(chǎn)生擋止、釋放的動作；當(dāng)位于晶片料管80內(nèi)的IC晶片81總長度長于該旋擺料管41時，即無法一次全部進(jìn)入該旋擺料管41，此時，如圖6所示，當(dāng)旋擺座31旋擺至第二位置而使該晶片料管41處于傾斜狀態(tài)且該旋擺料管41是位于第三位置時，該第一活動擋件42位于釋放位置，而該第二活動擋件44位于擋止位置，進(jìn)入該旋擺料管41的晶片81即被該第二活動擋件44所擋止，然后，如圖7所示，驅(qū)動該活動指36下壓，使位于該軌道32上的晶片81被壓掣住而無法移動，再驅(qū)動該第二活動擋件44至釋放的位置，位于該被壓掣住的晶片81下方的晶片81即向下滑入該旋擺料管41，其下滑距離恰可讓最后一個滑入該旋擺料管41的晶片81通過該第一活動擋件42，然后再驅(qū)動該第一活動擋件42于擋止位置，此時，即可驅(qū)動該旋擺料管41旋擺至第四位置而對正于晶片測試機(jī)70的入料口；其余動作是概同于前揭實(shí)施例，容不再予贅述。
經(jīng)由上述的結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型可讓操作者僅須拔取晶片料管80上一端的擋栓83，即可置于進(jìn)料處進(jìn)料，并于進(jìn)料后直接置于出料處承接測試后的晶片，所承接的晶片其方向與原來的方向相同，于測試后的晶片裝入該空的晶片料管后，即可直接將取下的擋栓裝回，而完成測試作業(yè)，操作者對每支晶片料管僅需取下一個擋栓，極為方便、省時。
此外，本實(shí)用新型在操作時的活動空間僅為該旋擺座及該旋擺料管的旋擺空間，其僅需旋擺該旋擺料管即可完成變更方向，無須以回旋的方式來改變，其旋擺空間較小，較不易影響到操作者。
權(quán)利要求1．一種晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置，其特征在于，包含有一旋擺座，設(shè)于晶片測試機(jī)的預(yù)定位置，可受驅(qū)動而沿其固定點(diǎn)于第一、第二位置間旋擺，該旋擺座上具有一軌道，可導(dǎo)引晶片沿預(yù)定方向移動，一用以夾掣晶片料管的夾具設(shè)置于該旋擺座上，其中該晶片料管在夾掣時是對正于該軌道，于該旋擺座位于第一位置時，該軌道是呈水平，于該旋擺座旋擺至第二位置時，該晶片料管即隨的旋擺而呈傾斜狀，該晶片料管內(nèi)的晶片即會向外滑出而滑入該軌道內(nèi)；一旋擺料管，設(shè)于晶片測試機(jī)的預(yù)定位置，可受驅(qū)動而沿其固定點(diǎn)于第三、第四位置間旋擺，于該旋擺料管位于第三位置且該旋擺座位于第二位置時，該旋擺料管的一端恰對正于該旋擺座的軌道，而得承接沿該軌道滑下的晶片，該旋擺料管一設(shè)有至少一活動擋件，可受驅(qū)動而產(chǎn)生擋止、釋放的動作，于該旋擺料管旋擺至第四位置時，即對正于晶片測試機(jī)的入料口。
2．根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置，其特征在于，其中還包含有一活動指，設(shè)于該旋擺座且位于該軌道上方。
3．根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置，其特征在于，其中該夾具是由一空壓缸及設(shè)于其活塞桿上的夾塊所組成。
4．根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置，其特征在于，其中該旋擺料管兩端分別設(shè)置一第一、第二活動擋件。
5．根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置，其特征在于，其中該第二活動擋件與該旋擺料管的末端相隔預(yù)定距離。
專利摘要一種晶片測試機(jī)的進(jìn)料裝置,有一旋擺座,設(shè)于晶片測試機(jī),可受驅(qū)動而于第一、二位置間旋擺,旋擺座上具有一軌道,一夾具設(shè)置于其上,晶片料管在夾掣時是對正于該軌道;一旋擺料管設(shè)于晶片測試機(jī),可受驅(qū)動而于第三、四位置間旋擺,于旋擺料管位于第三位置且旋擺座位于第二位置時,旋擺料管的一端恰對正于旋擺座的軌道,旋擺料管一端設(shè)有至少一活動擋件,于旋擺料管旋擺至第四位置時,即對正于晶片測試機(jī)的入料口。
文檔編號H01L21/66GK2457739SQ01201018
公開日2001年10月31日 申請日期2001年1月12日 優(yōu)先權(quán)日2001年1月12日
發(fā)明者嚴(yán)燦焜 申請人:東捷半導(dǎo)體科技股份有限公司