1.一種長壽命IC測試裝置，包括PCB電路板、設置在PCB電路板上端電源接口和芯片插座，其特征在于：所述芯片插座包括芯片插座卡槽、測試簧片，所述測試簧片成對設置，每對兩個測試簧片間采用柔性結構連接，所述測試簧片底端與PCB電路板電性連接。
2.根據權利要求1所述的長壽命IC測試裝置，其特征在于：所述芯片插座卡槽的內側壁上設有凹槽，所述凹槽中安裝有彈簧A，所述彈簧A一端抵接在凹槽內側，另一端抵接在測試簧片側端。
3.根據權利要求2所述的長壽命IC測試裝置，其特征在于：所述芯片插座上端設有芯片固定架。
4.根據權利要求3所述的長壽命IC測試裝置，其特征在于：所述芯片固定架由豎直安裝在芯片插座上端的立柱和橫置在立柱上的限位桿組成，所述限位桿的高度可自由調節(jié)。
5.根據權利要求4所述的長壽命IC測試裝置，其特征在于：所述柔性結構為彈簧或氣囊或U型簧片。