本發(fā)明涉及集成測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種測試方法及裝置。

背景技術(shù)：

隨著城域網(wǎng)的快速發(fā)展以及業(yè)務(wù)的多樣化發(fā)展，網(wǎng)絡(luò)運營者對接入和匯聚網(wǎng)絡(luò)設(shè)備數(shù)量和帶寬需求與日俱增，同時要求在一個設(shè)備上集成實現(xiàn)的業(yè)務(wù)功能也越來越多。眾多的業(yè)務(wù)功能集于一體，客觀上增加了網(wǎng)絡(luò)設(shè)備研發(fā)的復(fù)雜性，也增加了研發(fā)過程中發(fā)生功能性故障的概率。為了保證產(chǎn)品質(zhì)量，就要求研發(fā)人員在交付產(chǎn)品前對產(chǎn)品進行測試。

目前，網(wǎng)絡(luò)設(shè)備產(chǎn)品研發(fā)的軟件一般都是分層的和模塊化的，不同層面的軟件通過協(xié)商的接口進行函數(shù)調(diào)用。其中，芯片驅(qū)動代碼與上層業(yè)務(wù)軟件之間協(xié)商功能接口，上層業(yè)務(wù)軟件通過功能接口調(diào)用下層芯片驅(qū)動各個功能模塊，實現(xiàn)芯片的配置工作。對于芯片驅(qū)動研發(fā)人員來說，為了保證驅(qū)動各個功能模塊的質(zhì)量，就需要對這些模塊進行測試。

傳統(tǒng)的測試方法要求每一個功能都要開發(fā)人員為該功能的接口編寫測試函數(shù)用例，通過運行這些用例來保證功能需求的正確性。傳統(tǒng)的測試方法效率較低，一體現(xiàn)在測試函數(shù)編寫上，需要研發(fā)人員花時間編寫、編譯和調(diào)試測試函數(shù)；二體現(xiàn)在這些測試函數(shù)的質(zhì)量上，即如果這些函數(shù)測試覆蓋率不足，則會影響交付質(zhì)量，一旦交付后產(chǎn)品出現(xiàn)故障，就要返工。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種測試方法及裝置，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中芯片驅(qū)動功能的測試方法效率低的問題。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例提供的一種系統(tǒng)測試方法，包括：

向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令；

獲取所述被測設(shè)備返回的根據(jù)所述腳本生成指令以及業(yè)務(wù)功能配置信息得到的第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件，所述配置信息文件包括：芯片驅(qū)動的配置信息文件；

根據(jù)所述配置信息文件自動編譯生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件；

根據(jù)所述測試腳本配置文件對所述被測設(shè)備進行測試。

其中，在向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令之前，所述方法還包括：

向所述被測設(shè)備發(fā)送業(yè)務(wù)功能配置信息。

其中，所述根據(jù)所述配置信息文件自動編譯生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件的步驟，包括：

對所述配置信息文件進行語法解析，得到第一配置解析信息；

將所述第一配置解析信息以一預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)進行保存；

對按照所述預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)保存的所述第一配置解析信息進行編譯，生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件。

其中，所述根據(jù)所述測試腳本配置文件對所述被測設(shè)備進行測試的步驟，包括：

對所述測試腳本配置文件的內(nèi)容進行解析，得到腳本配置數(shù)據(jù)流；

將所述腳本配置數(shù)據(jù)流發(fā)送至所述被測設(shè)備，對所述被測設(shè)備上的芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

本發(fā)明實施例還提供一種測試裝置，包括：

第一發(fā)送模塊，用于向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令；

第一獲取模塊，用于獲取所述被測設(shè)備返回的根據(jù)所述腳本生成指令以及業(yè)務(wù)功能配置信息得到的第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件，所述配置信息文件包括：芯片驅(qū)動的配置信息文件；

編譯模塊，用于根據(jù)所述配置信息文件自動編譯生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件；

測試模塊，用于根據(jù)所述測試腳本配置文件對所述被測設(shè)備進行測試。

其中，所述測試裝置還包括：

第二發(fā)送模塊，用于在向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令之前，向所述被測設(shè)備發(fā)送業(yè)務(wù)功能配置信息。

其中，所述編譯模塊包括：

解析子模塊，用于對所述配置信息文件進行語法解析，得到第一配置解析信息；

信息保存子模塊，用于將所述第一配置解析信息以一預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)進行保存；

編譯子模塊，用于對按照所述預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)保存的所述第一配置解析信息進行編譯，生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件。

其中，所述測試模塊包括：

腳本解析子模塊，用于對所述測試腳本配置文件的內(nèi)容進行解析，得到腳本配置數(shù)據(jù)流；

測試子模塊，用于將所述腳本配置數(shù)據(jù)流發(fā)送至所述被測設(shè)備，對所述被測設(shè)備上的芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

本發(fā)明實施例還提供一種測試方法，包括：

獲取測試主機發(fā)送的腳本生成指令；

根據(jù)所述腳本生成指令對業(yè)務(wù)功能配置信息進行預(yù)處理，并返回第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件至所述測試主機；

獲取所述測試主機發(fā)送的腳本配置數(shù)據(jù)流；

根據(jù)所述腳本配置數(shù)據(jù)流對芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

其中，在獲取測試主機發(fā)送的腳本生成指令之前，所述方法還包括：

獲取所述測試主機發(fā)送的業(yè)務(wù)功能配置信息，并按照第三預(yù)設(shè)格式對所述業(yè)務(wù)功能配置信息進行記錄。

其中，根據(jù)所述腳本生成指令對業(yè)務(wù)功能配置信息進行預(yù)處理，并返回第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件至所述測試主機的步驟，包括：

根據(jù)所述腳本生成指令集合業(yè)務(wù)功能配置信息；

對所述業(yè)務(wù)功能配置信息進行格式轉(zhuǎn)換，得到第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件；

將所述第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件返回至所述測試主機。

其中，所述根據(jù)所述腳本配置數(shù)據(jù)流對芯片進行業(yè)務(wù)功能配置的步驟，包括：

對所述腳本配置數(shù)據(jù)流進行解析處理，得到芯片的接口配置參數(shù)；

根據(jù)所述接口配置參數(shù)調(diào)用相對應(yīng)的芯片驅(qū)動接口函數(shù)，對所述芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

本發(fā)明實施例還提供一種測試裝置，包括：

第二獲取模塊，用于獲取測試主機發(fā)送的腳本生成指令；

預(yù)處理模塊，用于根據(jù)所述腳本生成指令對業(yè)務(wù)功能配置信息進行預(yù)處理，并返回第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件至所述測試主機；

第三獲取模塊，用于獲取所述測試主機發(fā)送的腳本配置數(shù)據(jù)流；

配置模塊，用于根據(jù)所述腳本配置數(shù)據(jù)流對芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

其中，所述測試裝置還包括：

第四獲取模塊，用于在獲取測試主機發(fā)送的腳本生成指令之前，獲取所述測試主機發(fā)送的業(yè)務(wù)功能配置信息，并按照第三預(yù)設(shè)格式對所述業(yè)務(wù)功能配置信息進行記錄。

其中，所述預(yù)處理模塊包括：

信息集合子模塊，用于根據(jù)所述腳本生成指令集合業(yè)務(wù)功能配置信息；

格式轉(zhuǎn)換子模塊，用于對所述業(yè)務(wù)功能配置信息進行格式轉(zhuǎn)換，得到第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件；

返回子模塊，用于將所述第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件返回至所述測試主機。

其中，所述配置模塊包括：

解析處理子模塊，用于對所述腳本配置數(shù)據(jù)流進行解析處理，得到芯片的接口配置參數(shù)；

配置子模塊，用于根據(jù)所述接口配置參數(shù)調(diào)用相對應(yīng)的芯片驅(qū)動接口函數(shù)，對所述芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

本發(fā)明的上述技術(shù)方案的有益效果如下：

本發(fā)明的上述方案中，通過測試主機將被測設(shè)備上學(xué)習記錄的業(yè)務(wù)功能配置信息自動編譯生成測試腳本，實現(xiàn)對被測設(shè)備的芯片驅(qū)動功能的配置測試，使得測試可脫離業(yè)務(wù)命令行，實現(xiàn)芯片驅(qū)動功能的快速測試，提高測試效率，同時節(jié)省開發(fā)人員的大量自測時間。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例的測試方法的基本步驟示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例的測試裝置的組成結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例的又一測試方法的基本步驟示意圖；

圖4為本發(fā)明實施例的又一測試裝置的組成結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本發(fā)明實施例的測試方法中測試腳本生成流程示意圖；

圖6為本發(fā)明實施例的測試方法中測試腳本測試流程示意圖；

圖7為圖5中主機測試平臺中專用編譯器的工作流程示意圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合附圖及具體實施例進行詳細描述。

本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)中芯片驅(qū)動功能的測試方法效率低的問題，提供一種系統(tǒng)測試方法，通過測試主機將被測設(shè)備上學(xué)習記錄的業(yè)務(wù)功能配置信息自動編譯生成測試腳本，實現(xiàn)對被測設(shè)備的芯片驅(qū)動功能的配置測試，使得測試可脫離業(yè)務(wù)命令行，實現(xiàn)芯片驅(qū)動功能的快速測試，提高測試效率，同時節(jié)省開發(fā)人員的大量自測時間。

第一實施例

如圖1所示，本發(fā)明實施例提供一種測試方法，應(yīng)用于測試主機，包括：

步驟11，向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令；

步驟12，獲取所述被測設(shè)備返回的根據(jù)所述腳本生成指令以及業(yè)務(wù)功能配置信息得到的第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件，所述配置信息文件包括：芯片驅(qū)動的配置信息文件；

這里，業(yè)務(wù)功能配置信息已預(yù)先保存于被測設(shè)備中。

步驟13，根據(jù)所述配置信息文件自動編譯生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件；

步驟14，根據(jù)所述測試腳本配置文件對所述被測設(shè)備進行測試。

本發(fā)明實施例的測試方法，通過測試主機自動編譯生成測試腳本，實現(xiàn)對 被測設(shè)備的芯片驅(qū)動功能的配置測試，使得測試可脫離業(yè)務(wù)命令行，實現(xiàn)芯片驅(qū)動功能的快速測試，提高測試效率，同時節(jié)省開發(fā)人員的大量自測時間。

進一步地，本發(fā)明實施例中步驟11在向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令之前所述方法還可包括：

步驟10，向所述被測設(shè)備發(fā)送業(yè)務(wù)功能配置信息。

這里，測試主機通過業(yè)務(wù)命令行將配置信息發(fā)送至被測設(shè)備，由被測設(shè)備學(xué)習記錄所述業(yè)務(wù)功能配置信息。

本發(fā)明實施例中所述步驟13可進一步包括：

步驟131，對所述配置信息文件進行語法解析，得到第一配置解析信息；

這里，配置信息文件的文件格式為第一預(yù)設(shè)格式，可通過格式語法解析器來對配置信息文件進行語法解析。

步驟132，將所述第一配置解析信息以一預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)進行保存；

需要說明的是，以一預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)對第一配置解析信息進行保存，便于后續(xù)數(shù)據(jù)的分類保存。這里，預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)可以為樹狀結(jié)構(gòu)，當然，不僅限于此結(jié)構(gòu)。

步驟133，對按照所述預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)保存的所述第一配置解析信息進行編譯，生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件。

這里，對第一配置解析信息進行腳本編譯的語言有多種，優(yōu)選地，本發(fā)明實施例的腳本編譯語言為python腳本語言。

本發(fā)明實施例中所述步驟14可進一步包括：

步驟141，對所述測試腳本配置文件的內(nèi)容進行解析，得到腳本配置數(shù)據(jù)流；

步驟142，將所述腳本配置數(shù)據(jù)流發(fā)送至所述被測設(shè)備，對所述被測設(shè)備上的芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

這里，腳本配置文件的內(nèi)容以腳本配置數(shù)據(jù)流的方式發(fā)送至被測設(shè)備，被測設(shè)備直接對數(shù)據(jù)流解析后對芯片進行測試配置。

這樣，被測設(shè)備無需提供額外的存儲空間存儲測試腳本，更不需要通過被測設(shè)備上運行該測試腳本。節(jié)省被測設(shè)備的存儲空間，且減輕被測設(shè)備的運行負擔，提高運行速度。

這里需要說明的是，本發(fā)明實施例的測試方法可適用于嵌入式系統(tǒng)。

本發(fā)明實施例的測試方法，通過測試主機將被測設(shè)備上學(xué)習記錄的業(yè)務(wù)功能配置信息自動編譯生成測試腳本，實現(xiàn)對被測設(shè)備的芯片驅(qū)動功能的配置測試，使得測試可脫離業(yè)務(wù)命令行，實現(xiàn)芯片驅(qū)動功能的快速測試，提高測試效率，同時節(jié)省開發(fā)人員的大量自測時間。

第二實施例

如圖2所示，本發(fā)明實施例還提供一種測試裝置，應(yīng)用于測試主機，包括：

第一發(fā)送模塊21，用于向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令；

第一獲取模塊22，用于獲取所述被測設(shè)備返回的根據(jù)所述腳本生成指令以及業(yè)務(wù)功能配置信息得到的第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件，所述配置信息文件包括：芯片驅(qū)動的配置信息文件；

這里，業(yè)務(wù)功能配置信息已預(yù)先保存于被測設(shè)備中。

編譯模塊23，用于根據(jù)所述配置信息文件自動編譯生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件；

測試模塊24，用于根據(jù)所述測試腳本配置文件對所述被測設(shè)備進行測試。

進一步地，本發(fā)明實施例中所述測試裝置還包括：

第二發(fā)送模塊20，用于在向被測設(shè)備發(fā)送腳本生成指令之前，向所述被測設(shè)備發(fā)送業(yè)務(wù)功能配置信息。

這里，測試主機通過業(yè)務(wù)命令行將配置信息發(fā)送至被測設(shè)備，由被測設(shè)備學(xué)習記錄所述業(yè)務(wù)功能配置信息。

具體地，本發(fā)明實施例中所述編譯模塊23還可包括：

解析子模塊，用于對所述配置信息文件進行語法解析，得到第一配置解析信息；

這里，配置信息文件的文件格式為第一預(yù)設(shè)格式，可通過格式語法解析器來對配置信息文件進行語法解析。

信息保存子模塊，用于將所述第一配置解析信息以一預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)進行保存；

需要說明的是，以一預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)對第一配置解析信息進行保存，便于后續(xù)數(shù)據(jù)的分類保存。這里，預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)可以為樹狀結(jié)構(gòu)，當然，不僅限于此 結(jié)構(gòu)。

編譯子模塊，用于對按照所述預(yù)設(shè)語法結(jié)構(gòu)保存的所述第一配置解析信息進行編譯，生成第二預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件。

這里，對第一配置解析信息進行腳本編譯的語言有多種，優(yōu)選地，本發(fā)明實施例的腳本編譯語言為python腳本語言。

本發(fā)明實施例中所述測試模塊24可具體包括：

腳本解析子模塊，用于對所述測試腳本配置文件的內(nèi)容進行解析，得到腳本配置數(shù)據(jù)流；

測試子模塊，用于將所述腳本配置數(shù)據(jù)流發(fā)送至所述被測設(shè)備，對所述被測設(shè)備上的芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

這里，腳本配置文件的內(nèi)容以腳本配置數(shù)據(jù)流的方式發(fā)送至被測設(shè)備，被測設(shè)備直接對數(shù)據(jù)流解析后對芯片進行測試配置。

這樣，被測設(shè)備無需提供額外的存儲空間存儲測試腳本，更不需要通過被測設(shè)備上運行該測試腳本。節(jié)省被測設(shè)備的存儲空間，且減輕被測設(shè)備的運行負擔，提高運行速度。

這里需要說明的是，本發(fā)明實施例的測試裝置可適用于嵌入式系統(tǒng)。

本發(fā)明實施例的測試裝置，通過測試主機將被測設(shè)備上學(xué)習記錄的業(yè)務(wù)功能配置信息自動編譯生成測試腳本，實現(xiàn)對被測設(shè)備的芯片驅(qū)動功能的配置測試，使得測試可脫離業(yè)務(wù)命令行，實現(xiàn)芯片驅(qū)動功能的快速測試，提高測試效率，同時節(jié)省開發(fā)人員的大量自測時間。

第三實施例

如圖3所示，本發(fā)明實施例還提供一種測試方法，應(yīng)用于被測設(shè)備，包括：

步驟31，獲取測試主機發(fā)送的腳本生成指令；

步驟32，根據(jù)所述腳本生成指令對業(yè)務(wù)功能配置信息進行預(yù)處理，并返回第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件至所述測試主機；

步驟33，獲取所述測試主機發(fā)送的腳本配置數(shù)據(jù)流；

這里，腳本配置數(shù)據(jù)流可通過測試主機對測試腳本配置文件的內(nèi)容解析得到。

步驟34，根據(jù)所述腳本配置數(shù)據(jù)流對芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

這里，采用腳本配置數(shù)據(jù)流的方式對芯片進行業(yè)務(wù)功能配置，可使被測設(shè)備無需提供額外的存儲空間存儲測試腳本，更不需要通過被測設(shè)備上運行該測試腳本。節(jié)省被測設(shè)備的存儲空間，且減輕被測設(shè)備的運行負擔，提高運行速度。

本發(fā)明實施例的測試方法，通過測試主機發(fā)送的腳本配置數(shù)據(jù)流對被測設(shè)備的芯片驅(qū)動功能進行快速測試，使得測試可脫離業(yè)務(wù)命令行，提高了測試效率，同時節(jié)省開發(fā)人員的大量自測時間。

進一步地，本發(fā)明實施例中步驟31在獲取測試主機發(fā)送的腳本生成指令之前，所述測試方法還可包括：

步驟30，獲取所述測試主機發(fā)送的業(yè)務(wù)功能配置信息，并按照第三預(yù)設(shè)格式對所述業(yè)務(wù)功能配置信息進行記錄。

需說明的是，被測設(shè)備可通過接收業(yè)務(wù)命令行來獲取所述測試主機發(fā)送的業(yè)務(wù)功能配置信息，這里，對業(yè)務(wù)功能配置信息的記錄可通過嵌入一段學(xué)習程序來實現(xiàn)。

本發(fā)明實施例中所述步驟32可進一步包括：

步驟321，根據(jù)所述腳本生成指令集合業(yè)務(wù)功能配置信息；

這里，業(yè)務(wù)功能配置信息已預(yù)先保存于被測設(shè)備中。

步驟322，對所述業(yè)務(wù)功能配置信息進行格式轉(zhuǎn)換，得到第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件；

這里，對所述業(yè)務(wù)功能配置信息進行格式轉(zhuǎn)換的目的是便于后續(xù)測試主機對業(yè)務(wù)功能配置信息進行測試腳本的編譯。

步驟323，將所述第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件返回至所述測試主機。

本發(fā)明實施例中所述步驟34可進一步包括：

步驟341，對所述腳本配置數(shù)據(jù)流進行解析處理，得到芯片的接口配置參數(shù)；

這里需要說明的是，被測設(shè)備對所述腳本配置數(shù)據(jù)流進行解析處理，而不是在該被測設(shè)備上運行測試腳本后，得到芯片的接口配置參數(shù)，也就是說，被測設(shè)備無需提供額外的存儲空間存儲測試腳本，更不需要通過被測設(shè)備上運行該測試腳本。節(jié)省被測設(shè)備的存儲空間，且減輕被測設(shè)備的運行負擔，提高運 行速度。

步驟342，根據(jù)所述接口配置參數(shù)調(diào)用相對應(yīng)的芯片驅(qū)動接口函數(shù)，對所述芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

這里需要說明的是，本發(fā)明實施例的測試方法可適用于嵌入式系統(tǒng)。

本發(fā)明實施例的測試方法，通過測試主機發(fā)送的腳本配置數(shù)據(jù)流對被測設(shè)備的芯片驅(qū)動功能進行快速測試，使得測試可脫離業(yè)務(wù)命令行，提高了測試效率，同時節(jié)省開發(fā)人員的大量自測時間。

第四實施例

如圖4所示，本發(fā)明實施例還提供一種測試裝置，應(yīng)用于被測設(shè)備，包括：

第二獲取模塊41，用于獲取測試主機發(fā)送的腳本生成指令；

預(yù)處理模塊42，用于根據(jù)所述腳本生成指令對業(yè)務(wù)功能配置信息進行預(yù)處理，并返回第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件至所述測試主機；

第三獲取模塊43，用于獲取所述測試主機發(fā)送的腳本配置數(shù)據(jù)流；

配置模塊44，用于根據(jù)所述腳本配置數(shù)據(jù)流對芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

這里，配置模塊44中采用腳本配置數(shù)據(jù)流的方式對芯片進行業(yè)務(wù)功能配置，可使被測設(shè)備無需提供額外的存儲空間存儲測試腳本，更不需要通過被測設(shè)備上運行該測試腳本。節(jié)省被測設(shè)備的存儲空間，且減輕被測設(shè)備的運行負擔，提高運行速度。

進一步地，本發(fā)明實施例中所述測試裝置還包括：

第四獲取模塊40，用于在獲取測試主機發(fā)送的腳本生成指令之前，獲取所述測試主機發(fā)送的業(yè)務(wù)功能配置信息，并按照第三預(yù)設(shè)格式對所述業(yè)務(wù)功能配置信息進行記錄。

需說明的是，被測設(shè)備可通過接收業(yè)務(wù)命令行來獲取所述測試主機發(fā)送的業(yè)務(wù)功能配置信息，這里，對業(yè)務(wù)功能配置信息的記錄可通過嵌入一段學(xué)習程序來實現(xiàn)。

具體地，本發(fā)明實施例中所述預(yù)處理模塊42可包括：

信息集合子模塊，用于根據(jù)所述腳本生成指令集合業(yè)務(wù)功能配置信息；

這里，業(yè)務(wù)功能配置信息已預(yù)先保存于被測設(shè)備中。

格式轉(zhuǎn)換子模塊，用于對所述業(yè)務(wù)功能配置信息進行格式轉(zhuǎn)換，得到第一 預(yù)設(shè)格式的配置信息文件；

這里，對所述業(yè)務(wù)功能配置信息進行格式轉(zhuǎn)換的目的是便于后續(xù)測試主機對業(yè)務(wù)功能配置信息進行測試腳本的編譯。

返回子模塊，用于將所述第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件返回至所述測試主機。

具體地，本發(fā)明實施例中所述配置模塊44可包括：

解析處理子模塊，用于對所述腳本配置數(shù)據(jù)流進行解析處理，得到芯片的接口配置參數(shù)；

這里需要說明的是，被測設(shè)備對所述腳本配置數(shù)據(jù)流進行解析處理，而不是在該被測設(shè)備上運行測試腳本后，得到芯片的接口配置參數(shù)，也就是說，被測設(shè)備無需提供額外的存儲空間存儲測試腳本，更不需要通過被測設(shè)備上運行該測試腳本。節(jié)省被測設(shè)備的存儲空間，且減輕被測設(shè)備的運行負擔，提高運行速度。

配置子模塊，用于根據(jù)所述接口配置參數(shù)調(diào)用相對應(yīng)的芯片驅(qū)動接口函數(shù)，對所述芯片進行業(yè)務(wù)功能配置。

這里需要說明的是，本發(fā)明實施例的測試方法可適用于嵌入式系統(tǒng)。

本發(fā)明實施例的測試裝置，通過測試主機發(fā)送的腳本配置數(shù)據(jù)流對被測設(shè)備的芯片驅(qū)動功能進行快速測試，使得測試可脫離業(yè)務(wù)命令行，提高了測試效率，同時節(jié)省開發(fā)人員的大量自測時間。

第五實施例

如圖5所示，為本發(fā)明實施例中測試腳本生成示意圖，下面結(jié)合圖6，即測試腳本測試示意圖，詳細說明本發(fā)明測試方法的一具體實施過程。

這里需要說明的是，本發(fā)明測試方法的執(zhí)行主體為主機測試平臺01’和被測設(shè)備02’。

其中，主機測試平臺01’包括：業(yè)務(wù)命令行配置界面03’，腳本配置界面04’，命令解析器05’，測試腳本配置文件06’以及專用編譯器07’。

被測設(shè)備02’包括：上層業(yè)務(wù)程序08’，芯片驅(qū)動接口09’，芯片10’，學(xué)習程序11’，業(yè)務(wù)功能配置信息12’以及測試服務(wù)器13’。具體步驟如下：

1)測試腳本生成

首先，主機測試平臺01’通過業(yè)務(wù)命令行配置界面03’進行業(yè)務(wù)功能配置；

也就是，測試人員通過輸入在業(yè)務(wù)命令行配置界面03’上輸入業(yè)務(wù)命令行向被測設(shè)備02’上的上層業(yè)務(wù)程序08’發(fā)送業(yè)務(wù)配置命令；

接著，被測設(shè)備02’上的上層業(yè)務(wù)程序08’接收到業(yè)務(wù)配置命令后進行驅(qū)動接口調(diào)用，同時，設(shè)置在上層業(yè)務(wù)程序08’與芯片驅(qū)動接口09’上的驅(qū)動接口程序之間的學(xué)習程序11’按照第三預(yù)設(shè)格式記錄業(yè)務(wù)功能配置信息，完成業(yè)務(wù)配置。

這里，該學(xué)習程序11’可嵌入到上層業(yè)務(wù)程序08’與芯片驅(qū)動接口09’上的驅(qū)動接口程序之間。

然后，主機測試平臺01’通過腳本配置界面04’發(fā)送腳本生成指令至被測設(shè)備02’中的測試服務(wù)器13’。

之后，被測設(shè)備02’的測試服務(wù)器13’接收腳本生成指令后集合業(yè)務(wù)功能配置信息，并將業(yè)務(wù)功能配置信息轉(zhuǎn)換為第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件并返回到主機測試平臺01’。

最后，主機測試平臺01’中的專用編譯器07’對第一預(yù)設(shè)格式的配置信息文件進行自動編譯轉(zhuǎn)換，生成第三預(yù)設(shè)格式的測試腳本配置文件。

這里，專用編譯器07’是測試腳本自動生成的關(guān)鍵，該編譯器的通過python腳本語言開發(fā)得到，實現(xiàn)了配置信息文件的格式語法解析和python命令腳本編譯。

具體的，專用編譯器07’，如圖7所示，首先，配置信息文件輸入到格式語法解析器14’，解析后的信息以特定語法樹狀結(jié)構(gòu)保存；然后，python命令腳本編譯器15’根據(jù)語法樹狀結(jié)構(gòu)中的信息進行編譯，最后，輸出python語言的測試腳本配置文件。

2)測試腳本測試

首先，主機測試平臺01’的測試腳本配置文件06’通過腳本配置界面04’將測試腳本配置內(nèi)容輸入到命令解析器05’進行配置數(shù)據(jù)流的組建；

然后，命令解析器05’將配置數(shù)據(jù)流傳送到被測設(shè)備02’中的測試服務(wù)器13’；

最后，測試服務(wù)器13’收到配置數(shù)據(jù)流后解析出接口配置參數(shù)，并調(diào)用相 應(yīng)的芯片驅(qū)動接口09’的接口函數(shù)，將配置下發(fā)到芯片10’相應(yīng)的寄存器與表項中，完成了業(yè)務(wù)功能的配置。

這里，需要說明的是，在生成測試腳本配置文件后，后續(xù)的被測設(shè)備上不再需要上層業(yè)務(wù)程序，也就是，本發(fā)明的測試方法可脫離命令行，通過測試腳本以配置數(shù)據(jù)流的方式快速實現(xiàn)被測設(shè)備的芯片驅(qū)動功能的測試。

本發(fā)明實施例的測試方法，通過測試主機將被測設(shè)備上學(xué)習記錄的業(yè)務(wù)功能配置信息自動編譯生成測試腳本，實現(xiàn)對被測設(shè)備的芯片驅(qū)動功能的配置測試，使得測試可脫離業(yè)務(wù)命令行，實現(xiàn)芯片驅(qū)動功能的快速測試，提高測試效率，同時節(jié)省開發(fā)人員的大量自測時間。

以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明所述原理的前提下，還可以作出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護范圍。