本實用新型涉及信號測試技術領域，特別涉及一種PCIE通道損耗測試治具。

背景技術：

PCIE3.0是一種電子產(chǎn)品接口總線，隨著數(shù)字版本的升高，其信號速率也相應的得到了提高。X8和X16是PCIE接口的帶寬，X8有8對發(fā)送信號（TX0~TX7）路徑和8對接收信號（RX0~RX7）路徑，X16有16對發(fā)送信號（TX0~TX15）路徑和16對接收信號（RX0~RX15）路徑。

在服務器項目中，標準X8 PCIE接口，X16 PCIE接口，PCIE總線通道經(jīng)過多板互聯(lián)，布線情況復雜，信號測試有合格和不合格的情況，對于通道本身各個元素直觀上很難了解，需要通過頻域測量手段，獲得全通道的S參數(shù)數(shù)據(jù)，進而分析通道在關注頻點的表現(xiàn)，從而獲得PCIE總線在系統(tǒng)架構中的實際驅動能力，所能支持的布線長度，方便后續(xù)項目的設計，積累設計經(jīng)驗。

在當前的測試治具市場中，PCIE1.0，PCIE 2.0和PCIE 3.0接口的信號質量測試治具都容易購得。但由于對通道損耗的測試是一種非標準的測試，且該測試對測試治具的易用性和準確性要求較高，目前還沒有能夠真正實現(xiàn)通道損耗測試的治具。

但是對PCIE接口通道損耗的測試對信號設計而言又非常重要，現(xiàn)有的測試方法不僅測試成本較高，而且測試工序復雜。針對這一問題，本實用新型提出了一種PCIE通道損耗測試治具。

技術實現(xiàn)要素：

本實用新型為了彌補現(xiàn)有技術的缺陷，提供了一種簡單高效的PCIE通道損耗測試治具。

本實用新型是通過如下技術方案實現(xiàn)的：

一種PCIE通道損耗測試治具，其特征在于：包括治具主板和金手指接口，所述治具主板通過金手指接口連接標準PCIE測試接口SLOT槽端，所述治具主板上連接有高速測試探針SMA接口，治具主板通過高速測試探針SMA接口連接到頻域測試儀器網(wǎng)絡分析儀；所述治具主板通過高速測試探針SMA接口將標準PCIE測試接口SLOT槽端的n+1對發(fā)送信號和n+1對接收信號接入頻域測試儀器網(wǎng)絡分析儀；所述治具主板上部設有去嵌入THRU線，一端連接一對高速測試探針SMA接口，另一端采用金手指設計。

所述治具主板一面設有TX0~TXn測試引出線，另一面設有RX0~RXn引出線；所述TX0~TXn測試引出線和RX0~RXn引出線分別連接各個高速測試探針SMA接口和金手指接口，且TX0~TXn測試引出線和RX0~RXn引出線從各個高速測試探針SMA接口到金手指接口的長度相等。

所述TX0~TXn測試引出線和RX0~RXn引出線從各個高速測試探針SMA接口到金手指接口的長度均為4 INCH；所述去嵌入THRU線長度等同于TX0~TXn測試引出線和RX0~RXn引出線的長度，線長也為4 INCH。

該PCIE通道損耗測試治具適用于標準X8 PCIE接口和X16 PCIE接口，n為7或15。

本實用新型的有益效果是：該PCIE通道損耗測試治具，結構簡單，簡化了測試工序，降低了測試成本，既能用于測試發(fā)送信號，又能用于測試接收信號，便于評估系統(tǒng)性能，分析系統(tǒng)信號問題點，能夠為產(chǎn)品設計提供了有效、有利的數(shù)據(jù)。

附圖說明

附圖1為本實用新型PCIE通道損耗測試治主視結構示意圖。

附圖2為本實用新型PCIE通道損耗測試治后視結構示意圖。

具體實施方式

為了使本實用新型所要解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白，以下結合附圖和實施例，對本實用新型進行詳細的說明。應當說明的是，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。

實施例1

附圖1和附圖2以標準X16 PCIE接口為例，給出了該PCIE通道損耗測試治具的連接結構示意圖，為了保證圖片的清晰，便于理解，圖中只畫出了TX0~TX3測試引出線和RX0~RX3引出線，隱去了TX4~TX15測試引出線和RX4~RX15引出線。實際上，X16PCIE接口的16對發(fā)送信號（TX0~TX15）和16對接收信號（RX0~RX15）均有引出線接入金手指。

該PCIE通道損耗測試治具，包括治具主板和金手指接口，所述治具主板通過金手指接口連接標準PCIE測試接口SLOT槽端，所述治具主板上連接有高速測試探針SMA接口，治具主板通過高速測試探針SMA接口連接到頻域測試儀器網(wǎng)絡分析儀；所述治具主板通過高速測試探針SMA接口將標準PCIE測試接口SLOT槽端的16對發(fā)送信號和16對接收信號接入頻域測試儀器網(wǎng)絡分析儀；所述治具主板上部設有去嵌入THRU線，一端連接一對高速測試探針SMA接口，另一端采用金手指設計。所述治具主板利用去嵌入THRU線做端口延伸，將測試界面移到金手指接口下方的被測通道位置，進而直接得到被測板的傳輸線損耗參數(shù)。

所述治具主板一面設有TX0~TX15測試引出線，另一面設有RX0~RX15引出線；所述TX0~TX15測試引出線和RX0~RX15引出線分別連接各個高速測試探針SMA接口和金手指接口，且TX0~TX15測試引出線和RX0~RX15引出線從各個高速測試探針SMA接口到金手指接口的長度相等。

所述TX0~TX15測試引出線和RX0~RX15引出線從各個高速測試探針SMA接口到金手指接口的長度均為4 INCH；所述去嵌入THRU線長度等同于TX0~TX15測試引出線和RX0~RX15引出線的長度，線長也為4 INCH。

測試時，先將去嵌入THRU線兩端的高速測試探針SMA接口和金手指接入頻域測試儀器網(wǎng)絡分析儀，進而得到該PCIE通道損耗測試治具的通道損耗參數(shù)。

然后，將PCIE通道損耗測試治具通過金手指接口連接到作為測試對象的標準X16 PCIE接口；并該選擇需要測試的發(fā)送信號或接收信號，并將其對應的高速測試探針SMA接口接入頻域測試儀器網(wǎng)絡分析儀，得到標準X16 PCIE接口和該PCIE通道損耗測試治具的通道損耗參數(shù)之和，扣除之前得到的該PCIE通道損耗測試治具的通道損耗參數(shù)后即為標準X16 PCIE接口的通道損耗參數(shù)。

實施例2

在實施例1的基礎上，以標準X8 PCIE接口為測試對象時，所述治具主板通過高速測試探針SMA接口將標準PCIE測試接口SLOT槽端的8對發(fā)送信號和8對接收信號接入頻域測試儀器網(wǎng)絡分析儀。

所述治具主板一面設有TX0~TX7測試引出線，另一面設有RX0~RX7引出線；所述TX0~TX7測試引出線和RX0~RX7引出線分別連接各個高速測試探針SMA接口和金手指接口，且TX0~TX7測試引出線和RX0~RX7引出線從各個高速測試探針SMA接口到金手指接口的長度相等。

所述TX0~TX7測試引出線和RX0~RX7引出線從各個高速測試探針SMA接口到金手指接口的長度均為4 INCH；所述去嵌入THRU線長度等同于TX0~TX7測試引出線和RX0~RX7引出線的長度，線長也為4 INCH。