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一種晶片研磨托盤支承裝置的制作方法

文檔序號:3409920閱讀:172來源:國知局
專利名稱:一種晶片研磨托盤支承裝置的制作方法
技術領域
本實用新型屬于機械加工領域,特指一種新性能石英晶片研磨的支承裝置,用于特定頻率的晶片研磨,對確保晶片品質有很重要的作用。
背景技術
石英晶體是目前世界上用量最大的晶體材料,利用晶體本身具有的物理特性制造出的電子元器件,如石英晶體諧振器、晶體濾波器、石英晶體振蕩器等等。因其在頻率端的穩(wěn)定性特征,作為頻率基準或是作為頻率源,在數(shù)字電路、電子產(chǎn)品及通訊設備領域均得到了廣泛的應用。為順應晶體產(chǎn)品制造時頻率產(chǎn)生諧振的要求,對石英晶片的加工,特別是對其頻率(厚度)的加工就成了一道必不可少的載體,因此研磨也就成為了晶片加工過程一個重要工序。晶片研磨支承裝置主要是用來研磨晶片的兩面,以有效控制晶片的厚度,進而方便后續(xù)封裝制作工藝的進行。一般而言,晶片研磨裝置由上下研磨盤、游輪、內外齒輪等組成。晶片頻率(及厚度)與晶片的使用范圍有著密切的聯(lián)系?,F(xiàn)有的石英雙面研磨常用機床有偏心式和游星式兩種,其中游星式研磨機具有研磨效率高,工件合格率及表面質量精度好,因而,其使用最為廣泛,適用于大批量生產(chǎn)高精度薄片工件,如石英晶體、硅鍺半導體等電子元件,閻板、閥片、活塞環(huán)及陶瓷密封件等零件的雙面精磨和拋光?!妒⒕难心ァ?b>壓電晶體技術,1995 (2) 41 44中指出外界因素對石英晶片研磨產(chǎn)生影響主要有——研磨盤的壓力大小,研磨液的濃度,砂子的選擇。并且指出要采用有槽的研磨盤,既提高研磨效率,又提高研磨質量而且利于破碎晶片的排出,不易產(chǎn)生劃痕碎片等。中國專利 CN200710044058. 6公布了一種改善晶片研磨不足偏厚的方法及裝置,通過增加兩個控制閥,改善了晶片研磨不足晶片厚度偏厚的問題,此裝置在改善晶片質量的同時,提高了機器的成本。目前,國內外常用游星研磨機,有二動作,三動作,四動作之分,按其使用工序和游輪尺寸來分有9B(s)、6B(s)、4B(s)、3B(s)等等,按照裝取工件結構和工件運動軌跡分有B 系列研磨機(如益陽產(chǎn) HD2M9B — 5L、HD2M6B — 5L)和 S 系列(HD2M9S — 5L、HD2M4S — 5L 系列)兩大類。9s系列游星研磨機,采用齒圈下降和抬升以后來裝取工件,對中磨和精磨來說,s系列側重于在磨盤加壓來提高其研磨效率。在晶片生產(chǎn)過程中通過機械上下盤面的壓力,是被加工件再研磨盤面中不斷擠壓并磨損,最終產(chǎn)生形變而達到最終的頻率要求。但現(xiàn)有的機器即研磨托盤支撐裝置,在實際應用中主要存在以下缺陷1.現(xiàn)有的研磨托盤支撐裝置下,機器加工頻率(及加工厚度)有限;2.不能滿足更高的要求加工精度有限,若需較高的加工精度,目前使用的9s機器不能滿足。針對第一個問題,為了改變機器的加工頻率,要通過改變機器對晶片的壓力來實現(xiàn)。針對第二個問題,要提高加工精度,必須改變研磨區(qū)對晶片研磨的方式。發(fā)明內容本實用新型的目的在于通過改變機床實際研磨區(qū)的大小,減小研磨壓力的大小, 解決了研磨晶片的頻寬低的問題,同時被加工晶片的表面粗糙度也得到提高,提高了機床及的加工范圍。實現(xiàn)本實用新型的技術方案為此托盤裝置由以下三個部分組成外齒輪圈、下研磨盤面、內齒輪圈、上研磨盤面。上研磨盤為一圓環(huán)平板,下研磨盤也為圓環(huán)平板,在下研磨盤面上有柵格狀盤面刀口, 盤面刀口為3-5條同心圓環(huán)刀口與32-40條徑向刀口形成環(huán)形柵格狀盤面刀口。內外齒輪分布在下研磨盤內外,又來帶動游輪選裝。在機器開動后,上研磨盤面與內齒輪圈為一整體,右下邊傳動軸帶動旋轉,上研磨盤在上邊傳動軸帶動與下研磨盤做逆向運動。通過上下研磨盤面得接觸來對晶片進行研磨,晶片在游輪的帶動下進行運動。本實用新型對上研磨盤與下研磨盤的外徑的大小做了調整直徑為變?yōu)?410-420mm。上研磨盤改為質量較輕十字架似的吊架,通過螺栓與上研磨盤聯(lián)接,減輕上研磨盤質量保證晶片加工頻率。研磨機下研磨盤面上的柵格改為環(huán)狀柵格,有利于破碎晶片的排除,不易產(chǎn)生劃痕可獲得較好的研磨面。先將游輪放在下研磨盤面上,保證游輪的齒與內、外齒輪圈相嚙合,將晶片依次放入游輪的空隙中,降下研磨盤。開啟砂泵開關,調整流量閥門使砂液能正常流出,轉動流沙口,使速度流入每一片游輪,按啟動開關。檢查上下研磨盤面,游輪和晶片,排除異物一切正常,預磨10圈后加速到規(guī)定機速(500-550r/min),不可急加速通過實際研磨區(qū)的減小以及托盤大小的改變,從而改變晶片研磨過程中的壓力來提高晶片加工頻率。再者,改變了晶片研磨過程中刀片的切割方式,從而提高了加工精度。本實用新型與現(xiàn)有的支承裝置對比有如下優(yōu)點1.晶片加工的產(chǎn)品頻率由原來的12MHz提高到20MHz,是加工的表面精度得到改
.、1· 口 ,2.精度要求從原來的士20000ppm提高到士8000ppm,整體研磨頻差降低;3.研磨盤的凹槽網(wǎng)格改為圓形磨盤網(wǎng)格,更利于對晶片進行研磨;4.十字架式的吊板方便工人操作時施工,提高效率;5.研磨盤、吊板相對于原有結構在結構上有了較大的改進,材料和重量都有很大幅度的減小,從而成本大大降低。

圖1為研磨裝置底部結構。 圖2為研磨裝置頂部結構。圖中1、外齒輪圈,2、下研磨盤,3、盤面刀口,4、內齒輪圈,5、上研磨盤,6、上研磨板吊架,7、聯(lián)接螺栓。
具體實施方式
此托盤裝置由以下三個部分組成外齒輪圈1、下研磨盤2、內齒輪圈4、上研磨盤 5。結合圖1,下研磨盤2也為圓環(huán)平板,但在上有環(huán)狀柵格。內外齒輪分布在下研磨盤2內外,又來帶動游輪旋轉。在下研磨盤2面上有柵格狀盤面刀口 3,盤面刀口 3為3-5條同心圓環(huán)刀口與32-40條徑向刀口形成環(huán)形柵格狀盤面刀口 3。結合圖2,上研磨盤5為一圓環(huán)平板,上研磨盤5的吊架改為質量較輕十字架似的上研磨板吊架6,通過聯(lián)接螺栓7與上研磨盤5聯(lián)接,減輕上研磨盤質量保證晶片加工頻率。在機器開動后,上研磨盤5與內齒輪圈為一整體,右下邊傳動軸帶動旋轉,上研磨盤5在上邊傳動軸帶動與下研磨盤2做逆向運動。通過上下研磨盤2得接觸來對晶片進行研磨,晶片在游輪的帶動下進行運動。1.先將游輪放在下研磨盤2上,保證游輪的齒與1和4想嚙合;2.將晶片依次放入游輪的空隙降下研磨盤5,開啟砂泵開關,調整流量閥門使砂液能正常流出,轉動流沙口,使速度流入每一片游輪;3.按啟動開關,機速開到5025(r/min),觀察是否跑片;4.若發(fā)現(xiàn)跑片及時關閉砂泵開關,升起上盤檢查上下研磨盤面,游輪和晶片,排除異物;5. 一切正常,預磨10圈后加速到規(guī)定機速(500-550r/min),不可急加速;6.自動停機后,復位轉速按鈕,關閉砂泵,升起盤面5,取出游輪,升高下研磨盤面 5,用毛刷輕輕將晶片掃入收料盒中,用海綿輕檫上盤面,以掃除殘余晶片放入晶片藍并浸入水中。
權利要求1.一種晶片研磨托盤支承裝置,其特征在于,由外齒輪圈(1)、下研磨盤面(2)、內齒輪圈(4)、上研磨盤(5)組成,所述上研磨盤為一圓環(huán)平板,所述下研磨盤(2)為一圓環(huán)平板, 在下研磨盤(2)面上有柵格狀盤面刀口(3),盤面刀口(3)為3-5條同心圓環(huán)刀口與32-40 條徑向刀口形成環(huán)形柵格狀盤面刀口( 3 )。
2.如權利要求1所述的一種晶片研磨托盤支承裝置,其特征在于,所述上研磨盤(5)與下研磨盤(2)的直徑為410-420mm。
3.如權利要求1或2所述的一種晶片研磨托盤支承裝置,其特征在于,所述上研磨盤 (5)為一圓環(huán)平板,所述圓環(huán)平板上設有上研磨板吊架(6),所述上研磨板吊架(6)為十字形吊架,通過聯(lián)接螺栓(7 )與上研磨盤(5 )聯(lián)接。
專利摘要本實用新型屬于機械加工領域,提供了一種晶片研磨托盤支承裝置,用于特定頻率的晶片研磨,由外齒輪圈(1)、下研磨盤面(2)、內齒輪圈(4)、上研磨盤(5)組成,所述上研磨盤為一圓環(huán)平板,所述下研磨盤(2)為一圓環(huán)平板,在下研磨盤(2)面上有柵格狀盤面刀口(3),盤面刀口(3)為3-5條同心圓環(huán)刀口與32-40條徑向刀口形成環(huán)形柵格狀盤面刀口(3)。通過實際研磨區(qū)的減小以及托盤大小的改變,從而改變晶片研磨過程中的壓力來提高晶片加工頻率;改變了晶片研磨過程中刀片的切割方式,從而提高了加工精度。
文檔編號B24B37/00GK202079472SQ20102067759
公開日2011年12月21日 申請日期2010年12月24日 優(yōu)先權日2010年12月24日
發(fā)明者周波, 宋志鵬, 張偉展, 李輝, 楊志杰, 王樹林 申請人:江蘇大學
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