本實(shí)用新型涉及一種半導(dǎo)體高速自動(dòng)CCD檢測(cè)設(shè)備，屬于工業(yè)檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

隨著科技的不斷發(fā)展，生產(chǎn)過程更加自動(dòng)化，這就要求被加工零件幾何尺寸 的測(cè)量速度快、精度高、非接觸，以往良品和次品的篩選都是以人工檢測(cè)為主， 操作人員通過眼睛對(duì)一個(gè)個(gè)的產(chǎn)品進(jìn)行查看，并通過手持測(cè)量工具對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行尺 寸測(cè)量，此過程對(duì)人員的需求量較大，而且人工操作效率低下，勞動(dòng)強(qiáng)度較大， 對(duì)操作人員的依賴性非常高，當(dāng)人員出現(xiàn)新老替換或者人員疲勞時(shí)，對(duì)產(chǎn)品的篩 選就容易出錯(cuò)，造成良品與次品的混亂，使得整批產(chǎn)品的品質(zhì)得不到保證?，F(xiàn)有的自動(dòng)CCD檢測(cè)設(shè)備對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)逐漸興起，慢慢地開始代替人工檢測(cè)。但是現(xiàn)有的自動(dòng)CCD檢測(cè)設(shè)備復(fù)雜、成本高昂，檢測(cè)效率不高等等。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

（一）要解決的技術(shù)問題：為解決上述問題，本實(shí)用新型提出了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單合理，使用方便，既能實(shí)現(xiàn)高速掃描，又利用半導(dǎo)體晶片來檢測(cè)排除，效率高，檢測(cè)精度高，減輕了工作強(qiáng)度，增加了工作效率的半導(dǎo)體高速自動(dòng)CCD檢測(cè)設(shè)備。

（二）技術(shù)方案：本實(shí)用新型的一種半導(dǎo)體高速自動(dòng)CCD檢測(cè)設(shè)備，其包括：架體，及設(shè)置在架體下部端的腳輪；所述的架體頂部端設(shè)置有控制裝置，所述的架體上設(shè)置有半導(dǎo)體晶片運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述的半導(dǎo)體晶片運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)上設(shè)置有送料機(jī)構(gòu)，其送料機(jī)構(gòu)一側(cè)端設(shè)置有校正定位機(jī)構(gòu)，所述的校正定位機(jī)構(gòu)一側(cè)端設(shè)置有CCD檢測(cè)機(jī)構(gòu),所述的CCD檢測(cè)機(jī)構(gòu)一側(cè)端設(shè)置有輸出移機(jī)構(gòu)，在所述的架體上還設(shè)置有顯示屏，所述的半導(dǎo)體晶片運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述的控制裝置電連接。

進(jìn)一步地，所述的CCD檢測(cè)機(jī)構(gòu)內(nèi)還設(shè)置有CCD工業(yè)相機(jī)和處理器，其處理器能夠?qū)CD工業(yè)相機(jī)成像的圖像進(jìn)行處理并控制檢測(cè)結(jié)果。

進(jìn)一步地，所述的的送料機(jī)構(gòu)位于架體左側(cè)；所述的校正定位機(jī)構(gòu)位于送料機(jī)構(gòu)后部端。

進(jìn)一步地，所述的半導(dǎo)體晶片運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)內(nèi)設(shè)置有運(yùn)動(dòng)輸送帶和半導(dǎo)體晶片。

進(jìn)一步地，所述的校正定位機(jī)構(gòu)上還設(shè)置有定位槽。

進(jìn)一步地，所述的控制裝置上還設(shè)置有控制面板，其控制面板內(nèi)設(shè)置有電路板。

（三）有益效果：本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比較，其具有以下有益效果：本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單合理，使用方便，既能實(shí)現(xiàn)高速掃描，又利用半導(dǎo)體晶片來檢測(cè)排除，效率高，檢測(cè)精度高，減輕了工作強(qiáng)度，增加了工作效率。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。

1-架體；2-腳輪；3-控制裝置；4-半導(dǎo)體晶片運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)；5-送料機(jī)構(gòu)；6-校正定位機(jī)構(gòu)；7-CCD檢測(cè)機(jī)構(gòu)；8-輸出移機(jī)構(gòu)；9-顯示屏。

具體實(shí)施方式

如圖1所示的一種半導(dǎo)體高速自動(dòng)CCD檢測(cè)設(shè)備，其包括：架體1，及設(shè)置在架體1下部端的腳輪2；所述的架體1頂部端設(shè)置有控制裝置3，所述的架體1上設(shè)置有半導(dǎo)體晶片運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)4，所述的半導(dǎo)體晶片運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)4上設(shè)置有送料機(jī)構(gòu)5，其送料機(jī)構(gòu)5一側(cè)端設(shè)置有校正定位機(jī)構(gòu)6，所述的校正定位機(jī)構(gòu)6一側(cè)端設(shè)置有CCD檢測(cè)機(jī)構(gòu)7,所述的CCD檢測(cè)機(jī)構(gòu)7一側(cè)端設(shè)置有輸出移機(jī)構(gòu)8，在所述的架體1上還設(shè)置有顯示屏9，所述的半導(dǎo)體晶片運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)4與所述的控制裝置3電連接；

其中，所述的CCD檢測(cè)機(jī)構(gòu)7內(nèi)還設(shè)置有CCD工業(yè)相機(jī)和處理器，其處理器能夠?qū)CD工業(yè)相機(jī)成像的圖像進(jìn)行處理并控制檢測(cè)結(jié)果；

所述的的送料機(jī)構(gòu)5位于架體1左側(cè)；所述的校正定位機(jī)構(gòu)6位于送料機(jī)構(gòu)5后部端；

所述的半導(dǎo)體晶片運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)4內(nèi)設(shè)置有運(yùn)動(dòng)輸送帶和半導(dǎo)體晶片；

所述的校正定位機(jī)構(gòu)6上還設(shè)置有定位槽；

所述的控制裝置3上還設(shè)置有控制面板，其控制面板內(nèi)設(shè)置有電路板。

本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單合理，使用方便，既能實(shí)現(xiàn)高速掃描，又利用半導(dǎo)體晶片來檢測(cè)排除，效率高，檢測(cè)精度高，減輕了工作強(qiáng)度，增加了工作效率。

上面所述的實(shí)施例僅僅是對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式進(jìn)行描述，并非對(duì)本實(shí)用新型的構(gòu)思和范分圍進(jìn)行限定。在不脫離本實(shí)用新型設(shè)計(jì)構(gòu)思的前提下，本領(lǐng)域普通人員對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案做出的各種變型和改進(jìn)，均應(yīng)落入到本實(shí)用新型的保護(hù)范圍，本實(shí)用新型請(qǐng)求保護(hù)的技術(shù)內(nèi)容，已經(jīng)全部記載在權(quán)利要求書中。