本發(fā)明屬于能源材料領(lǐng)域,具體涉及一種陶瓷電容器的介質(zhì)材料及其制備方法。
背景技術(shù):
多層片式陶瓷電容器(Multilayer Ceramic Capacitors)簡稱MLCC,具有高比容、高可靠性、高耐壓、頻率特性好等特點,是在電子信息、計算機、自動控制及通訊等領(lǐng)域應(yīng)用十分廣泛的電子器件。隨著電子設(shè)備及元器件向微型、薄層、混合集成等方向發(fā)展以及集成電路表面安裝技術(shù)的迅速發(fā)展,對高性能MLCC的需求與日俱增。
近年來開發(fā)出可使用鎳、銅等廉價的賤金屬作為內(nèi)電極的電容器介質(zhì)材料,實現(xiàn)了成本的大幅降低,其中鎳電極MLCC已取代銀-鈀貴金屬電極MLCC,成為MLCC市場的主流。
隨著電子電路的高密度化,對電子部件小型化的要求高,多層陶瓷電容器的小型化、大容量化迅速發(fā)展。同時,多層陶瓷電容器向著介質(zhì)層薄層化方向發(fā)展,需要即使薄層化也要保證電容器的可靠性的介質(zhì)材料,尤其在高額定電壓(額定電壓在100V以上)下使用的中高壓多層陶瓷電容器的小型化和大容量化,對構(gòu)成介質(zhì)層的介質(zhì)材料的可靠性提出了非常高的要求。
例如日本專利2005/082807號公報中提供了一種介電陶瓷組合物,其組成式為:BaTiO3+CuO+RO+MnO+MgO,R選自Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb和Lu中的至少一種金屬元素;此介電陶瓷組合物的介電常數(shù)低(小于1000)。日本專利2007-255591、2007-255598、2007-319812中公開的電介質(zhì)瓷器組合物適合用于額定電壓高的中高壓電容器;但是在文獻中記載的電介質(zhì)瓷器組合物的介電常數(shù)過低(小500),難以小型化、大容量化;不能實現(xiàn)小型化、大容量化下的耐壓和可靠性的提高。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
鑒于上述本領(lǐng)域的現(xiàn)狀,本發(fā)明的目的在于,提供一種適于中高壓陶瓷電容器用的介質(zhì)材料,即使在使介質(zhì)層薄層化的情況下也能保持高的介電常數(shù)和良好的可靠性,以實現(xiàn)電容器的小型化、大容量化。
本發(fā)明的另一目的是提出介質(zhì)材料的制備方法。
實現(xiàn)本發(fā)明上述目的的技術(shù)方案為:
一種用于中高壓X7R特性多層陶瓷電容器的介質(zhì)材料,所述介質(zhì)材料由以下摩爾配比的成分組成:
100摩爾(Ba1-aYa)bTiO3,其中0.005≤a<0.1,1.0<b<1.08;
0.2-1.0摩爾MgTiO3;
0.05-0.5摩爾選自Mn、Cr、Co和Fe中的至少一種元素的氧化物或碳酸鹽;
0.2-1.0摩爾選自Ca、Si、Li、AL和B中的至少一種元素的氧化物;
1.0-4.0摩爾選自Ho、Yb、Gd、Dy、Sm和Er中的至少一種元素的氧化物;
0-0.3摩爾選自W、Mo、V中的至少一種元素的氧化物。
以上摩爾數(shù)值只表示材料中的配比,不表示對材料中氧化物具體含量的限定。
其中,所述(Ba1-aYa)bTiO3采用固相法生產(chǎn),顆粒尺寸為400-500nm。固相法為已有的技術(shù),相對于其他生產(chǎn)鈦酸鋇系材料的方法,固相法成本更低。
優(yōu)選地,所述介質(zhì)材料中MgTiO3的摩爾份數(shù)為0.2-1.0摩爾;
更優(yōu)選地,所述介質(zhì)材料中,相對于100摩爾(Ba1-aYa)bTiO3,Mn、Cr、Co和Fe的氧化物的含量換算為MnCO3、Cr2O3、Co3O4和Fe2O3,摩爾份數(shù)為0.1-0.4摩爾。這些氧化物可以改善絕緣電阻及IR耐久性,含量過少,不能得到充分的效果,含量過多,不利于容量溫度特性。
其中,所述介質(zhì)材料中,相對于100摩爾(Ba1-aYa)bTiO3,W、Mo和V的氧化物的含量換算為WO3、MoO3和V2O3,摩爾份數(shù)為0.05-0.2摩爾。
本發(fā)明所述介質(zhì)材料的制備方法,包括步驟:
1)按照摩爾分?jǐn)?shù)的比例,將選自Mn、Cr、Co、Fe、Ca、Si、Li、AL、B、Ho、Yb、Gd、Dy、Sm、Er、W、Mo、V中的至少三種元素的氧化物或碳酸鹽進行混合、煅燒;
2)將煅燒后的粉末、MgTiO3加入到(Ba1-aYa)bTiO3中,一起混合、分散、干燥,獲得介質(zhì)材料。
其中,在溫度500-800℃下煅燒所述的氧化物或碳酸鹽的混合物。
含有本發(fā)明所述介質(zhì)材料的多層陶瓷電容器。
以下提供一種多層陶瓷電容器的優(yōu)選技術(shù)方案:
其中,所述多層陶瓷電容器的內(nèi)部電極采用鎳或鎳合金材料,所述多層陶瓷電容器采用以下方法制備:內(nèi)部電極與所述介質(zhì)材料結(jié)合制成生坯,將生坯在還原氣氛中燒結(jié),燒結(jié)溫度為1260-1320℃。
所述還原氣氛為本領(lǐng)域常規(guī)使用的還原氣氛,通常是由氫氣、氮氣混合而成,或是氫氣、氮氣、空氣的混合氣。
其中,所述多層陶瓷電容器采用以下方法制備:生坯燒結(jié)所得陶瓷體的兩端封上Cu或銅合金材質(zhì)的外部電極,在保護氣氛中燒結(jié),燒結(jié)的溫度為750-950℃。所述保護性氣氛為本領(lǐng)域常規(guī)使用的保護性氣氛,其可以是氮氣、氬氣、氦氣中的一種或多種。
所述的一種中高壓X7R特性多層陶瓷電容器用介質(zhì)材料,利用該介質(zhì)材料制備的多層陶瓷電容器有2500以上的介電常數(shù),溫度特性符合美國EIA標(biāo)準(zhǔn)的X7R特性;且高溫負(fù)荷可靠性為:在140℃施加300V的直流電壓時的平均壽命在20h以上。
本發(fā)明的優(yōu)點在于:
本發(fā)明提出的介質(zhì)材料,以低成本的固相法生產(chǎn)的鈦酸鋇為主要原材料,在各種輔助成分的共同作用下,通過優(yōu)化工藝和配方,可獲得在1260-1320℃的溫度下燒結(jié)的抗還原性X7R特性的介質(zhì)材料;該介質(zhì)材料適用于介質(zhì)層厚度8μm以上的、額定電壓100V以上的中高壓多層陶瓷電容器,其室溫介電常數(shù)可以保持在2500以上,溫度穩(wěn)定性好、高絕緣電阻、耐壓高、可靠性高等特點,滿足EIA標(biāo)準(zhǔn)的X7R特性;可以實現(xiàn)電容器的小型化、大容量化、高可靠性。
附圖說明
圖1為固相法生產(chǎn)的(Ba1-aYa)bTiO3的SEM照片。
具體實施方式
本發(fā)明的介質(zhì)材料組成具有如下成分:
(Ba1-aYa)bTiO3(其中0.005≤a<0.1,1.0<b<1.08);
MgTiO3;
選自Mn、Cr、Co和Fe中的至少一種元素的氧化物;
選自Ca、Si、Li、AL和B中的至少一種元素的氧化物;
選自Ho、Yb、Gd、Dy、Sm和Er中的至少一種元素的氧化物;
選自W、Mo、V中的至少一種元素的氧化物。
(Ba1-aYa)bTiO3中,a滿足0.005≤a<0.1,優(yōu)選0.01≤a≤0.05,b滿足1.0<b<1.08,優(yōu)選1.02≤b≤1.05其作為介質(zhì)材料的主成分,采用固相法生產(chǎn),尤其其生產(chǎn)時摻雜了部分釔,使其具有鈦酸鋇高的結(jié)晶性外還有無孔洞、缺陷少等特點,保證介質(zhì)材料高的可靠性。
相對于100摩爾(Ba1-aYa)bTiO3,MgTiO3的含量為0.2-1.0摩爾,優(yōu)選0.3-0.7摩爾;Mg具有使容量溫度特性平直,且可以抑制晶粒的長大;Mg的含量過少,容量溫度特性變差和耐壓降低,而過多則介電常數(shù)降低和壽命特性變差。
相對于100摩爾(Ba1-aYa)bTiO3,Mn、Cr、Co和Fe的氧化物的含量換算為MnCO3、Cr2O3、Co3O4和Fe2O3為0.05-0.5摩爾,優(yōu)選為0.1-0.4摩爾;這些氧化物可以改善絕緣電阻及IR耐久性,含量過少,不能得到充分的效果,含量過多,不利于容量溫度特性。
相對于100摩爾(Ba1-aYa)bTiO3,Ca、Si、Li、AL和B的氧化物含量換算為CaO、SiO2、Li2O3、AL2O3和B2O3為0.2-1.0摩爾,優(yōu)選為0.3-0.8摩爾;這些氧化物可以改善燒結(jié),含量過少,引起燒結(jié)特性的退化,且不利于容量溫度特性和絕緣電阻,含量過多,造成過燒,引起介電常數(shù)的下降。
相對于100摩爾(Ba1-aYa)bTiO3,Ho、Yb、Gd、Dy、Sm和Er的氧化物換算為Ho2O3、Yb2O3、Gd2O3、Dy2O3、Sm2O3和Er2O3為1.0-4.0摩爾,優(yōu)選為1.5-2.5摩爾;這些氧化物提高材料在還原氣氛下燒結(jié)的抗還原性,提高絕緣電阻和壽命;含量過少,抗還原性和壽命特性變差,含量過多,燒結(jié)特性惡化,介電常數(shù)降低。
相對于100摩爾(Ba1-aYa)bTiO3,W、Mo、V的氧化物換算為WO3、MoO3、V2O5為0-0.3摩爾,優(yōu)選為0.05-0.2摩爾;這些氧化物提高耐壓和改善容量溫度特性,含量過少,不能充分改善耐壓和容量溫度特性,含量過多,引起絕緣電阻的下降。
以下實施例進一步說明本發(fā)明的內(nèi)容,但不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制。
如無特別說明,實施例中采用的手段均為本領(lǐng)域常規(guī)的技術(shù)手段。
實施例中介質(zhì)材料的制備過程為:
首先,采用固相法制備主要成分鈦酸釔鋇(Ba1-aYa)bTiO3;接著,混合輔助添加劑成分并在500-800℃煅燒;然后將煅燒后的粉末、MgTiO3加入到(Ba1-aYa)bTiO3中,一起混合、分散、干燥,獲得MLCC介質(zhì)材料。
接著將上述獲得介質(zhì)材料制成漿料,把漿料通過流延機制成介質(zhì)生坯膜片,通過絲印機在膜片表面上印刷鎳或鎳合金電極,再根據(jù)設(shè)計層數(shù),疊層膜片和印刷內(nèi)電極;交替疊層印刷內(nèi)電極的介質(zhì)薄膜,形成疊層片;再經(jīng)過等靜壓、切割形成生坯,將生坯在1260-1320℃的還原氣氛中燒結(jié),形成陶瓷體,經(jīng)過倒角后在陶瓷體兩端封上Cu或Cu合金的外部電極,在保護性氣氛中燒結(jié),最終獲得多層陶瓷電容器MLCC。
實施例1
首先,采用固相法制備粒徑為0.4-0.5μm的(Ba1-aYa)bTiO3粉末(見圖1);接著,將MnCO3、SiO2、Ho2O3、V2O5的粉末(粒徑在0.3微米以下)進行混合,在650℃煅燒2h,獲得平均粒徑為0.2-0.3μm的粉末;接著,將煅燒后的粉末、MgTiO3加入到(Ba1-aYa)bTiO3中,一起混合、分散、干燥,獲得MLCC介質(zhì)材料。
實施例2-30
制備過程同實施例1,不同的是各成分的添加量。各成分的添加量如表1所示,各實施例中,如表所示,制備添加量不同的介質(zhì)材料(實施例編號即樣品編號),表1中,各成分的添加量是相對于100摩爾(Ba1-aYa)bTiO3換算的。材料中,使用a=0.02,b=1.02的(Ba1-aYa)bTiO3。
表1:介質(zhì)材料具體組分及配比
注,*表示添加量為0。
試驗例:電容器性能檢測
在實施例1-30獲得的介質(zhì)材料中加入分散制成漿料,把漿料通過流延機制成介質(zhì)生坯膜片,通過絲印機在膜片表面上印刷鎳合金電極,再根據(jù)設(shè)計層數(shù),疊層膜片和印刷內(nèi)電極;交替疊層印刷內(nèi)電極的介質(zhì)薄膜,形成疊層片;再經(jīng)過等靜壓、切割形成生坯,將生坯在1290℃的還原氣氛中燒結(jié),形成陶瓷體,經(jīng)過倒角后在陶瓷體兩端封上Cu合金的外部電極,在保護性氣氛中,溫度880℃下燒結(jié),最終獲得多層陶瓷電容器MLCC。
所得電容器的規(guī)格為0805,電介質(zhì)層的厚度為8μm,有效介質(zhì)層數(shù)為108層。
通過下述方法測定所得各電容器樣品的介電常數(shù)(ε)、損耗(DF)、容量溫度特性(TCC)、絕緣電阻(IR)、擊穿電壓(BDV)、高溫加速壽命(HALT),測試結(jié)果見表2所示。
介電常數(shù)(ε):
在基準(zhǔn)溫度25℃下,用LC電橋,在1.0KHz、1.0V下測定電容器樣品的容量C;根據(jù)電介質(zhì)層的厚度、有效電極面積、絲網(wǎng)系數(shù)、介質(zhì)層數(shù)、容量C計算介電常數(shù);本實施例中,優(yōu)選2500以上。
損耗(DF):
在基準(zhǔn)溫度25℃下,用LC電橋,在1.0KHz、1.0V下測定電容器樣品的損耗值;本實施例中,優(yōu)選120以下。
容量溫度特性(TCC):
在125℃下,用LC電橋,在1.0KHz、1.0V下測定電容器樣品的容量C;計算相對于基準(zhǔn)溫度25℃下的容量的變化率。本實施例章,以±15%內(nèi)為良好。
絕緣電阻(IR):
用絕緣電阻測試儀,在頻率為1.0KHz、100V下測試電容器樣品在基準(zhǔn)溫度25℃下的電阻值。本實施例中,優(yōu)選IR為3×1010Ω以上。
擊穿電壓(BDV):
在溫度25℃下,用耐壓測試儀,以升壓速度為50V/S對電容器樣品施加直流電壓,測定電容器失效時的電壓值。本實施例中,優(yōu)選BDV為70V/μm以上。
高溫加速壽命(HALT):
在140℃下,對電容器樣品施加300V直流電壓,測定壽命時間,由此評價高溫加速壽命(HALT)。本試驗例中,從施加開始到絕緣電阻降低106以下的時間定義為壽命。
表2:電容器樣品性能結(jié)果
從表2可以看出,通過控制各成分的添加量,可以得出介電常數(shù)大于2500,具有良好的絕緣性能和高的可靠性的介質(zhì)材料。
雖然,上文中已經(jīng)用一般性說明、具體實施方式及試驗,對本發(fā)明作了詳盡的描述,但在本發(fā)明基礎(chǔ)上,可以對之作出一些修改或改進,這對本領(lǐng)域技術(shù)人員而言是顯而易見的。因此,在不偏離本發(fā)明精神的基礎(chǔ)上所做的這些修改或改進,均屬于本發(fā)明要求保護的范圍。