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半導體裝置的制造方法與流程

文檔序號:12180256閱讀:來源:國知局
技術(shù)總結(jié)
一種半導體裝置的制造方法,包括在材料層上方形成硬質(zhì)遮罩(HM)堆疊,此HM堆疊具有第一、第二、第三及第四HM層。方法亦包括在第四HM層中形成第一溝槽、在第一溝槽中形成第一間隔墊,在第四HM層中形成第二溝槽,藉由使用第三HM層作為蝕刻終止層移除第一間隔墊的至少一部分以形成切口,移除由第一溝槽、第二溝槽及切口所曝露的第三及第二HM層的一部分以分別形成延伸的第一、第二溝槽及延伸的切口。方法亦包括在延伸的第一、第二溝槽及延伸的切口形成第二間隔墊且移除第二HM層的另一部分以形成第三溝槽。本發(fā)明使用硬質(zhì)遮罩堆疊以在頂部兩個HM層形成切口,避免底部HM層曝露于形成溝槽切口的蝕刻工藝。改進工藝視窗并提供形成溝槽及溝槽切口的穩(wěn)固工藝。

技術(shù)研發(fā)人員:張鈺聲;吳佳典;吳永旭
受保護的技術(shù)使用者:臺灣積體電路制造股份有限公司
文檔號碼:201510860265
技術(shù)研發(fā)日:2015.11.30
技術(shù)公布日:2017.03.08

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