用于分析儀器的粉末自動加樣裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，包括用于儲存試樣并提供試樣的放樣機構(gòu)以及用于從放樣機構(gòu)接取試樣并稱取試樣的稱樣機構(gòu)，放樣機構(gòu)底部開設(shè)有用于掉落試樣的漏樣孔，稱樣機構(gòu)設(shè)有開口朝上布置的稱樣器皿，漏樣孔與稱樣器皿的開口上下對應(yīng)布置；放樣機構(gòu)設(shè)有用于控制試樣掉落量的試樣掉落控制機構(gòu)，試樣掉落控制機構(gòu)通過開啟或關(guān)閉漏樣孔以控制試樣從漏樣孔掉落的掉落量。能夠?qū)Λ@取的試樣進行精確控制。
【專利說明】用于分析儀器的粉末自動加樣裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及工業(yè)分析設(shè)備領(lǐng)域，特別地，涉及一種用于分析儀器的粉末自動加樣裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]在自動分析儀器的使用過程中，經(jīng)常需要將試樣取量放在轉(zhuǎn)盤上的坩禍里面進行灼燒，每個坩禍中需要加一定重量試樣，在做不同分析時的試樣需要加不同重量的試樣，并且有可能所加的試樣種類完全不同。
[0003]而目前我們的加樣方式都是采用人工的方式手動加樣，加完一個樣，再加下一個樣，手動添加的樣重很難控制，重量差別很大；并且試樣的添加種類很容易出現(xiàn)差錯。因此，現(xiàn)有手工加樣方式主要存在以下幾個缺點:1、容易加錯試樣，有可能把A試樣加在了要放B試樣的坩禍中；2、多次添加和取出操作后才能使樣重合格，而這樣操作增加了試樣污染的概率，且易導(dǎo)致試樣重量不準確；3、多次添加取出操作延長了操作時間，增加了操作人員的勞動強度，對操作員提出了較高的技術(shù)要求；4、需要手動將樣品攪勻。
實用新型內(nèi)容
[0004]本實用新型目的在于提供一種用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，以解決現(xiàn)有手工加樣方式容易加錯試樣、試樣重量控制難度大、需要手動攪拌樣品等的技術(shù)問題。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用的技術(shù)方案如下:
[0006]一種用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，包括用于儲存試樣并提供試樣的放樣機構(gòu)以及用于從放樣機構(gòu)接取試樣并稱取試樣的稱樣機構(gòu)，放樣機構(gòu)底部開設(shè)有用于掉落試樣的漏樣孔，稱樣機構(gòu)設(shè)有開口朝上布置的稱樣器皿，漏樣孔與稱樣器皿的開口上下對應(yīng)布置；放樣機構(gòu)設(shè)有用于控制試樣掉落量的試樣掉落控制機構(gòu)，試樣掉落控制機構(gòu)通過開啟或關(guān)閉漏樣孔以控制試樣從漏樣孔掉落的掉落量。
[0007]進一步地，放樣機構(gòu)包括支撐臺以及用于儲存試樣并提供試樣的樣瓶，支撐臺上設(shè)有用于放置樣瓶的放置位，樣瓶的瓶口朝下扣合在放置位上，瓶口內(nèi)設(shè)有用于密封瓶口的密封墊，密封墊和封蓋瓶口的蓋體疊合于支撐臺的上表面；漏樣孔包括開設(shè)于支撐臺上的第一開孔、開設(shè)于密封墊上的第二開孔以及開設(shè)于蓋體上的第三開孔，第一開孔、第二開孔和第三開孔對應(yīng)布置。
[0008]進一步地，試樣掉落控制機構(gòu)包括轉(zhuǎn)動軸承、設(shè)于樣瓶內(nèi)的攪拌葉片、用于驅(qū)動攪拌葉片轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置以及貼合于密封墊上表面的擋板；攪拌葉片可轉(zhuǎn)動的套設(shè)于轉(zhuǎn)動軸承上，轉(zhuǎn)動軸承沿豎向固定在密封墊上；擋板固接在攪拌葉片的底部并隨攪拌葉片轉(zhuǎn)動，擋板上設(shè)有第四開孔，第二開孔處于第四開孔的轉(zhuǎn)動軌跡上。
[0009]進一步地，第二開孔、第三開孔、第四開孔中的至少兩個的孔型相同以及孔徑相同。
[0010]進一步地，第一開孔、第二開孔、第三開孔和第四開孔的孔徑相同，第一開孔、第二開孔、第三開孔、第四開孔中的至少一個采用三角孔、圓孔、方孔、菱形孔、十字孔、長圓孔或者長方孔。
[0011]進一步地，試樣掉落控制機構(gòu)包括固接在蓋體內(nèi)表面上固定軸、設(shè)于樣瓶內(nèi)的攪拌葉片以及用于驅(qū)動攪拌葉片轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置；密封墊套設(shè)于固定軸上并可繞固定軸進行水平轉(zhuǎn)動，攪拌葉片沿豎向固接在密封墊上；第三開孔處于第二開孔的運動軌跡上。
[0012]進一步地，支撐臺上的放置位連有用于傳送樣瓶的傳送機構(gòu)，傳送機構(gòu)的傳送軌跡為直線軌跡和/或曲線軌跡。
[0013]進一步地，稱樣機構(gòu)包括用于稱樣的稱重天平以及用于輸送稱樣器皿的輸送機構(gòu)；稱重天平上設(shè)有用于停放稱樣器皿的停放位，輸送機構(gòu)上用于輸出載重的稱樣器皿的輸出端以及用于輸入空置的稱樣器皿的輸入端分別與停放位相連。
[0014]進一步地，驅(qū)動裝置采用驅(qū)動電機，驅(qū)動電機的輸出端連接并驅(qū)動攪拌葉片轉(zhuǎn)動；或者驅(qū)動裝置包括至少一塊設(shè)于樣瓶外的驅(qū)動磁鐵以及至少一塊設(shè)于攪拌葉片上的傳動磁鐵，驅(qū)動磁鐵與傳動磁鐵之間的同性磁極相對布置。
[0015]進一步地，驅(qū)動磁鐵設(shè)置有多塊，多塊驅(qū)動磁鐵沿樣瓶的周向環(huán)繞于樣瓶外并且等間距布置。
[0016]進一步地，驅(qū)動磁鐵采用通過電流控制電磁力大小的電磁鐵。
[0017]根據(jù)本實用新型的另一方面，還提供了一種分析儀器，其包括上述用于分析儀器的粉末自動加樣裝置。
[0018]本實用新型具有以下有益效果:
[0019]本實用新型用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，通過放樣機構(gòu)的自動放樣以及稱樣機構(gòu)的自動接樣以及自動稱樣，從而實現(xiàn)分析儀器所需試樣的自動稱取。通過在放樣機構(gòu)底部開設(shè)漏樣孔以實現(xiàn)試樣定量掉落到稱樣器皿中，每一次從漏樣孔掉落的試樣均為定量的一份試樣通過稱樣機構(gòu)及時稱取，通過控制掉落的試樣份數(shù)從而實現(xiàn)稱樣器皿獲取試樣的精確控制。通過試樣掉落控制機構(gòu)開啟或關(guān)閉漏樣孔，從而實現(xiàn)試樣掉落的精確控制。
[0020]除了上面所描述的目的、特征和優(yōu)點之外，本實用新型還有其它的目的、特征和優(yōu)點。下面將參照圖，對本實用新型作進一步詳細的說明。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]構(gòu)成本申請的一部分的附圖用來提供對本實用新型的進一步理解，本實用新型的示意性實施例及其說明用于解釋本實用新型，并不構(gòu)成對本實用新型的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0022]圖1是本實用新型優(yōu)選實施例的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置的剖面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖2是本實用新型優(yōu)選實施例的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖3是本實用新型優(yōu)選實施例的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖4是本實用新型優(yōu)選實施例的試樣掉落控制機構(gòu)的縱向剖面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖5是本實用新型優(yōu)選實施例的試樣掉落控制機構(gòu)的橫向剖面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027]圖6是本實用新型優(yōu)選實施例的試樣掉落控制機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0028]圖例說明:
[0029]1、放樣機構(gòu);101、支撐臺;1011、放置位;102、樣瓶;1021、瓶口 ;1022、蓋體;2、稱樣機構(gòu)；201、稱樣器皿；202、稱重天平；2021、停放位；3、漏樣孔；301、第一開孔；302、第二開孔；303、第三開孔；4、試樣掉落控制機構(gòu)；401、轉(zhuǎn)動軸承；402、攪拌葉片；403、驅(qū)動裝置；4031、驅(qū)動磁鐵;4032、傳動磁鐵;404、擋板;405、固定軸;406、瓶堵;407、提升軸;408、旋轉(zhuǎn)葉片；409、升降機構(gòu)；4091、軸套；4092、彈性件；4093、磁鐵；5、密封墊；6、第四開孔；7、電磁體。

【具體實施方式】
[0030]以下結(jié)合附圖對本實用新型的實施例進行詳細說明，但是本實用新型可以由所限定和覆蓋的多種不同方式實施。
[0031]圖1是本實用新型優(yōu)選實施例的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置的剖面結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實用新型優(yōu)選實施例的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實用新型優(yōu)選實施例的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是本實用新型優(yōu)選實施例的試樣掉落控制機構(gòu)的縱向剖面結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是本實用新型優(yōu)選實施例的試樣掉落控制機構(gòu)的橫向剖面結(jié)構(gòu)示意圖；圖6是本實用新型優(yōu)選實施例的試樣掉落控制機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0032]如圖1所示，本實施例的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，包括用于儲存試樣并提供試樣的放樣機構(gòu)I以及用于從放樣機構(gòu)I接取試樣并稱取試樣的稱樣機構(gòu)2，放樣機構(gòu)I底部開設(shè)有用于掉落試樣的漏樣孔3，稱樣機構(gòu)2設(shè)有開口朝上布置的稱樣器皿201，漏樣孔3與稱樣器皿201的開口上下對應(yīng)布置；放樣機構(gòu)I設(shè)有用于控制試樣掉落量的試樣掉落控制機構(gòu)4，試樣掉落控制機構(gòu)4通過開啟或關(guān)閉漏樣孔3以控制試樣從漏樣孔3掉落的掉落量。本實用新型用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，通過放樣機構(gòu)I的自動放樣以及稱樣機構(gòu)2的自動接樣以及自動稱樣，從而實現(xiàn)分析儀器所需試樣的自動稱取。通過在放樣機構(gòu)I底部開設(shè)漏樣孔3以實現(xiàn)試樣定量掉落到稱樣器皿201中，每一次從漏樣孔3掉落的試樣均為定量的一份試樣通過稱樣機構(gòu)2及時稱取，通過控制掉落的試樣份數(shù)從而實現(xiàn)稱樣器皿201獲取試樣的精確控制。試樣從放樣機構(gòu)I掉落到前稱樣機構(gòu)2，通過試樣掉落控制機構(gòu)4的旋轉(zhuǎn)力對放樣機構(gòu)I內(nèi)的試樣進行充分攪拌；通過試樣掉落控制機構(gòu)4開啟或關(guān)閉漏樣孔3，從而實現(xiàn)試樣掉落的精確控制。優(yōu)選地，試樣掉落控制機構(gòu)4通過旋轉(zhuǎn)的方式控制試樣從漏樣孔3掉落的掉落量。試樣從放樣機構(gòu)I掉落到前稱樣機構(gòu)2，通過試樣掉落控制機構(gòu)4的旋轉(zhuǎn)力對放樣機構(gòu)I內(nèi)的試樣進行充分攪拌；通過試樣掉落控制機構(gòu)4的旋轉(zhuǎn)開啟或關(guān)閉漏樣孔3，從而實現(xiàn)試樣掉落的精確控制。
[0033]如圖1、圖2和圖3所示，本實施例中，放樣機構(gòu)I包括支撐臺101以及用于儲存試樣并提供試樣的樣瓶102。支撐臺101上設(shè)有用于放置樣瓶102的放置位1011。樣瓶102的瓶口 1021朝下扣合在放置位1011上。瓶口 1021內(nèi)設(shè)有用于密封瓶口 1021的密封墊5。密封墊5和封蓋瓶口 1021的蓋體1022疊合于支撐臺101的上表面。漏樣孔3包括開設(shè)于支撐臺101上的第一開孔301、開設(shè)于密封墊5上的第二開孔302以及開設(shè)于蓋體1022上的第三開孔303。第一開孔301、第二開孔302和第三開孔303對應(yīng)布置。開孔對應(yīng)布置，通過密封墊5相對于蓋體1022的相對移動實現(xiàn)第一開孔301、第二開孔302和第三開孔303三孔的貫通或者阻擋，從而控制試樣從漏樣孔3掉落的掉落量。當(dāng)?shù)谝婚_孔301與第二開孔302之間形成通孔，從而實現(xiàn)放樣機構(gòu)I的漏樣。當(dāng)?shù)谝婚_孔301與第二開孔302之間形成錯位時，則封閉放樣機構(gòu)I的漏樣開口。
[0034]如圖1、圖2和圖3所示，本實施例中，試樣掉落控制機構(gòu)4包括轉(zhuǎn)動軸承401、設(shè)于樣瓶102內(nèi)的攪拌葉片402、用于驅(qū)動攪拌葉片402轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置403以及貼合于密封墊5上表面的擋板404。攪拌葉片402可轉(zhuǎn)動的套設(shè)于轉(zhuǎn)動軸承401上。轉(zhuǎn)動軸承401沿豎向固定在密封墊5上。擋板404固接在攪拌葉片402的底部并隨攪拌葉片402轉(zhuǎn)動。擋板404上設(shè)有第四開孔6。第二開孔302處于第四開孔6的轉(zhuǎn)動軌跡上。優(yōu)選地，轉(zhuǎn)動軸承401處于樣瓶102的中軸線上。通過驅(qū)動攪拌葉片402旋轉(zhuǎn)以實現(xiàn)對樣瓶102內(nèi)的試樣進行攪拌，同時通過攪拌葉片402將試樣撥向漏樣孔3，當(dāng)?shù)谝婚_孔301、第二開孔302、第三開孔303和第四開孔6連通并形成通孔時，實現(xiàn)放樣機構(gòu)I的漏樣。
[0035]如圖1所示，本實施例中，第一開孔301、第二開孔302、第四開孔6中的至少兩個的孔型相同和/或孔徑相同。通過孔型和/或孔徑的相互配合，實現(xiàn)漏樣量以及漏樣速度的控制。
[0036]如圖1所不，本實施例中，第一開孔301、第二開孔302和第四開孔6的孔徑相同，第一開孔301、第二開孔302、第四開孔6中的至少一個采用三角孔、圓孔、方孔、菱形孔、十字孔、長圓孔或者長方孔。通過孔型和/或孔徑的相互配合，實現(xiàn)漏樣量以及漏樣速度的控制。
[0037]如圖2、圖3、圖4和圖5所示，試樣掉落控制機構(gòu)4包括固接在蓋體1022內(nèi)表面上固定軸405、設(shè)于樣瓶102內(nèi)的攪拌葉片402以及用于驅(qū)動攪拌葉片402轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置403。密封墊5套設(shè)于固定軸405上并可繞固定軸405進行水平轉(zhuǎn)動。攪拌葉片402沿豎向固接在密封墊5上。第三開孔303處于第二開孔302的運動軌跡上。優(yōu)選地，固定軸405偏離于樣瓶102的中軸線布置；密封墊5套設(shè)于固定軸405的套設(shè)部位也偏離于密封墊5的中心。通過驅(qū)動裝置403驅(qū)動密封墊5繞固定軸405進行偏心轉(zhuǎn)動，實現(xiàn)密封墊5上的第二開孔302與蓋體1022上的第三開孔303之間的貫通或者錯位，從而實現(xiàn)對漏樣孔3的開啟或關(guān)閉。優(yōu)選地，密封墊5的自由轉(zhuǎn)動端上還設(shè)置有限制密封墊5轉(zhuǎn)動范圍的限位件。
[0038]如圖6所示，優(yōu)選地，試樣掉落控制機構(gòu)4包括從樣瓶102內(nèi)頂?shù)衷诼涌?上的瓶堵406、連接在瓶堵406上的提升軸407、套設(shè)于提升軸407上的旋轉(zhuǎn)葉片408以及設(shè)有提升軸407上的升降機構(gòu)409。優(yōu)選地，升降機構(gòu)409設(shè)于提升軸407與樣瓶102之間。優(yōu)選地，升降機構(gòu)409包括套設(shè)于提升軸407上并連接在樣瓶102上的軸套4091、卡在軸套4091內(nèi)并固接在提升軸407上用于提供提升軸407運動回復(fù)力的彈性件4092以及設(shè)于提升軸407端部的磁鐵4093 ;磁鐵4093外設(shè)有用于吸附磁鐵4093的電磁體7，用于驅(qū)使提升軸407上升釋放漏樣孔3。
[0039]本實施例中，支撐臺101上的放置位1011連有用于傳送樣瓶102的傳送機構(gòu)。傳送機構(gòu)的傳送軌跡為直線軌跡和/或曲線軌跡。便于整個粉末自動加樣裝置自動并且連續(xù)的進行工作，從而提高工作效率。通過設(shè)置不同的傳送軌跡，方便與不同的分析儀器進行組合，適用范圍更廣。
[0040]如圖1、圖2和圖3所示，本實施例中，稱樣機構(gòu)2包括用于稱樣的稱重天平202以及用于輸送稱樣器皿201的輸送機構(gòu)。便于整個粉末自動加樣裝置自動并且連續(xù)的進行工作，從而提高工作效率。稱重天平202上設(shè)有用于停放稱樣器皿201的停放位2021，輸送機構(gòu)上用于輸出載重的稱樣器皿201的輸出端以及用于輸入空置的稱樣器皿201的輸入端分別與停放位2021相連。便于整個粉末自動加樣裝置自動并且連續(xù)的進行工作，從而提高工作效率。
[0041]如圖1、圖2、圖3、圖4和圖5所示，本實施例中，驅(qū)動裝置403采用驅(qū)動電機，驅(qū)動電機的輸出端連接并驅(qū)動攪拌葉片402轉(zhuǎn)動。通過電機驅(qū)動，工作效率高，試樣攪拌效果好。優(yōu)選地，驅(qū)動電機的輸出端還設(shè)有變速器。方便攪拌葉片402的旋轉(zhuǎn)速度控制。驅(qū)動裝置403包括至少一塊設(shè)于樣瓶102外的驅(qū)動磁鐵4031以及至少一塊設(shè)于攪拌葉片402上的傳動磁鐵4032，驅(qū)動磁鐵4031與傳動磁鐵4032之間的同性磁極相對布置。通過磁鐵的同性磁極排斥力驅(qū)動攪拌葉片402，能夠節(jié)約能源消耗。
[0042]如圖1、圖2、圖3、圖4和圖5所示，本實施例中，驅(qū)動磁鐵4031設(shè)置有多塊，多塊驅(qū)動磁鐵4031沿樣瓶102的周向環(huán)繞于樣瓶102外并且等間距布置。方便驅(qū)動力的控制，方便控制攪拌葉片402撥動試樣，以及便于試樣從漏樣孔3掉落量的控制。
[0043]如圖1、圖2、圖3、圖4和圖5所示，本實施例中，驅(qū)動磁鐵4031采用通過電流控制電磁力大小的電磁鐵。方便電磁力大小及通斷的精確控制，以便于對樣瓶102內(nèi)試樣攪拌的控制，以及漏樣孔3試樣掉落量的精確控制。
[0044]實施時，通過傳送機構(gòu)將樣瓶102傳送到放樣機構(gòu)I的放置位1011，并固定，同時通過樣瓶102上的電子標(biāo)識獲取樣瓶102內(nèi)的芯片信息，獲取此樣瓶102中的樣品名稱等信息(信息的電子識別屬于現(xiàn)有技術(shù))。此時接樣坩禍(稱樣機構(gòu)2)通過輸送機構(gòu)輸送并落在天平秤桿(稱重天平202)的停放位2021上，穩(wěn)定后去皮重，去皮重成功后打開樣瓶102外面的電磁鐵(驅(qū)動磁鐵4031)，使樣瓶102內(nèi)部的轉(zhuǎn)動機構(gòu)(帶傳動磁鐵4032的攪拌葉片402)轉(zhuǎn)動起來，進一步帶動帶第四開孔6的擋板404轉(zhuǎn)動，從而使樣瓶102內(nèi)的樣品粉末通過帶第四開孔6的擋板404上面的漏樣孔3漏出，同時將樣品攪勻，同時不停的讀取天平(稱重天平202)數(shù)據(jù)，當(dāng)天平(稱重天平202)數(shù)據(jù)滿足設(shè)定要求時停止轉(zhuǎn)動，并使轉(zhuǎn)動機構(gòu)(帶傳動磁鐵4032的攪拌葉片402)上的密封墊5停在封口第一開孔301處，從而密封住漏樣孔3。讀取穩(wěn)定的樣品重量后，使坩禍(稱樣器皿201)轉(zhuǎn)動到下一個，接著添加第二個試樣。
[0045]帶有一個或者多個漏樣孔3的樣瓶102 ;樣瓶102內(nèi)部有自動轉(zhuǎn)動機構(gòu)使樣品自動漏出樣瓶102 ;自動轉(zhuǎn)動機構(gòu)(驅(qū)動裝置403、轉(zhuǎn)動軸承401和攪拌葉片402)能夠刮樣出去，也能夠封住漏樣孔3，同時能夠?qū)悠窋噭颉?br> [0046]本技術(shù)能夠使加樣更加快速準確，降低了人員的勞動強度，簡化了操作過程。
[0047]以上所述僅為本實用新型的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本實用新型，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本實用新型可以有各種更改和變化。凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，包括用于儲存試樣并提供試樣的放樣機構(gòu)(I)以及用于從所述放樣機構(gòu)(I)接取所述試樣并稱取所述試樣的稱樣機構(gòu)(2)， 其特征在于， 所述放樣機構(gòu)(I)底部開設(shè)有用于掉落所述試樣的漏樣孔(3)， 所述稱樣機構(gòu)(2)設(shè)有開口朝上布置的稱樣器皿(201)， 所述漏樣孔(3)與所述稱樣器皿(201)的開口上下對應(yīng)布置； 所述放樣機構(gòu)(I)設(shè)有用于控制所述試樣掉落量的試樣掉落控制機構(gòu)(4)，所述試樣掉落控制機構(gòu)(4)通過開啟或關(guān)閉所述漏樣孔(3)以控制所述試樣從所述漏樣孔(3)掉落的掉落量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，其特征在于， 所述放樣機構(gòu)(I)包括支撐臺(101)以及用于儲存所述試樣并提供所述試樣的樣瓶(102)， 所述支撐臺(101)上設(shè)有用于放置所述樣瓶(102)的放置位(1011)， 所述樣瓶(102)的瓶口(1021)朝下扣合在所述放置位(1011)上， 所述瓶口(1021)內(nèi)設(shè)有用于密封所述瓶口(1021)的密封墊(5)， 所述密封墊(5)和封蓋所述瓶口(1021)的蓋體(1022)疊合于所述支撐臺(101)的上表面； 所述漏樣孔(3)包括開設(shè)于所述支撐臺(101)上的第一開孔(301)、開設(shè)于所述密封墊(5)上的第二開孔(302)以及開設(shè)于所述蓋體(1022)上的第三開孔(303)， 所述第一開孔(301)、所述第二開孔(302)和所述第三開孔(303)對應(yīng)布置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，其特征在于， 所述試樣掉落控制機構(gòu)(4)包括轉(zhuǎn)動軸承(401)、設(shè)于所述樣瓶(102)內(nèi)的攪拌葉片(402)、用于驅(qū)動所述攪拌葉片(402)轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置(403)以及貼合于所述密封墊(5)上表面的擋板(404)； 所述攪拌葉片(402)可轉(zhuǎn)動的套設(shè)于所述轉(zhuǎn)動軸承(401)上，所述轉(zhuǎn)動軸承(401)沿豎向固定在所述密封墊(5)上； 所述擋板(404)固接在所述攪拌葉片(402)的底部并隨所述攪拌葉片(402)轉(zhuǎn)動，所述擋板(404)上設(shè)有第四開孔￠)，所述第二開孔(302)處于所述第四開孔(6)的轉(zhuǎn)動軌跡上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，其特征在于， 所述第一開孔(301)、所述第二開孔(302)、所述第三開孔(303)、所述第四開孔(6)中的至少兩個的孔型相同以及孔徑相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，其特征在于， 所述試樣掉落控制機構(gòu)(4)包括固接在所述蓋體(1022)內(nèi)表面上固定軸(405)、設(shè)于所述樣瓶(102)內(nèi)的攪拌葉片(402)以及用于驅(qū)動所述攪拌葉片(402)轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置(403)； 所述密封墊(5)套設(shè)于所述固定軸(405)上并可繞所述固定軸(405)進行水平轉(zhuǎn)動，所述攪拌葉片(402)沿豎向固接在所述密封墊(5)上； 所述第三開孔(303)處于所述第二開孔(302)的運動軌跡上。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，其特征在于， 所述支撐臺(101)上的所述放置位(1011)連有用于傳送所述樣瓶(102)的傳送機構(gòu)， 所述傳送機構(gòu)的傳送軌跡為直線軌跡和/或曲線軌跡。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項所述的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，其特征在于， 所述稱樣機構(gòu)(2)包括用于稱樣的稱重天平(202)以及用于輸送所述稱樣器皿(201)的輸送機構(gòu)； 所述稱重天平(202)上設(shè)有用于停放所述稱樣器皿(201)的停放位(2021)， 所述輸送機構(gòu)上用于輸出載重的所述稱樣器皿(201)的輸出端以及用于輸入空置的所述稱樣器皿(201)的輸入端分別與所述停放位(2021)相連。
8.根據(jù)權(quán)利要求3至5中任一項所述的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，其特征在于， 所述驅(qū)動裝置(403)采用驅(qū)動電機，所述驅(qū)動電機的輸出端連接并驅(qū)動所述攪拌葉片(402)轉(zhuǎn)動；或者 所述驅(qū)動裝置(403)包括至少一塊設(shè)于所述樣瓶(102)外的驅(qū)動磁鐵(4031)以及至少一塊設(shè)于所述攪拌葉片(402)上的傳動磁鐵(4032)，所述驅(qū)動磁鐵(4031)與所述傳動磁鐵(4032)之間的同性磁極相對布置。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，其特征在于， 所述驅(qū)動磁鐵(4031)設(shè)置有多塊， 多塊所述驅(qū)動磁鐵(4031)沿所述樣瓶(102)的周向環(huán)繞于所述樣瓶(102)外并且等間距布置。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于分析儀器的粉末自動加樣裝置，其特征在于，所述驅(qū)動磁鐵(4031)采用通過電流控制電磁力大小的電磁鐵。
【文檔編號】G01N35/10GK204255963SQ201420669829
【公開日】2015年4月8日 申請日期:2014年11月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月11日
【發(fā)明者】楊海生 申請人:長沙瑞翔科技有限公司