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一種薄型測(cè)試裝置的制作方法

文檔序號(hào):6168267閱讀:307來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):一種薄型測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
一種薄型測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域[0001]本發(fā)明涉及一種適用于平板顯示面板的測(cè)試裝置,尤其涉及一種適用于各種空間受限制環(huán)境中的薄型測(cè)試裝置。。
背景技術(shù)
[0002]目前,在平板顯示面板制造技術(shù)中,面板切割完成后,需要對(duì)面板進(jìn)行測(cè)試。[0003]圖1為現(xiàn)有測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。顯示面板150置于焊接于測(cè)試線路板112上的測(cè)試探針(未畫(huà)出)之上,通過(guò)限位結(jié)構(gòu)113限定水平位置,逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)手柄131,帶動(dòng)與其連接的軸132上的偏心塊130,通過(guò)該凸塊130的外形,使通過(guò)固定于底座110的導(dǎo)向軸限定的活動(dòng)壓板120垂直向下移動(dòng),直至活動(dòng)壓板120使顯示面板150測(cè)試點(diǎn)(未畫(huà)出)與測(cè)試探針緊密接觸,同時(shí)偏心塊130通過(guò)外形鎖住該裝置。電信號(hào)通過(guò)一定的接口接至測(cè)試探針上,通過(guò)該測(cè)試裝置,達(dá)到顯示面板上電測(cè)試的目的。[0004]但在測(cè)試階段需要對(duì)面板不良的原因進(jìn)行分析,因顯示面板線路和像素越來(lái)越小,各種缺陷需要用顯微鏡進(jìn)行觀察和判斷。另在顯示面板缺陷修復(fù)時(shí),需要用到鐳射修復(fù)設(shè)備。這些設(shè)備的載臺(tái)與鏡頭的距離往往因設(shè)備受限,沒(méi)有足夠的空間使用現(xiàn)有測(cè)試裝置,這就要求薄型的面板測(cè)試裝置來(lái)適用于這種測(cè)試環(huán)境。發(fā)明內(nèi)容[0005]本實(shí)用新型涉及的薄型測(cè)試裝置,主要是解決了在顯微鏡以及鐳射修復(fù)設(shè)備對(duì)顯示面板進(jìn)行測(cè)試分析或修復(fù)過(guò)程中,因載臺(tái)與鏡頭之間空間要求,需要對(duì)顯示面板測(cè)試裝置整體厚度降低的問(wèn)題,故提供了 一種薄型化的測(cè)試裝置。[0006]本實(shí)用新型提供的薄型測(cè)試裝置,包括有一固定底座,一蓋板以及一電源板,所述固定底座中設(shè)置有一測(cè)試線路板,用于放置待測(cè)試的顯示面板,所述蓋板耦合于該固定底座上,可對(duì)合形成薄型測(cè)試平臺(tái),所述電源板與固定底座通過(guò)軟排線進(jìn)行連接,形成一個(gè)完整的測(cè)試裝置。[0007]本實(shí)用新型的另一目的在于,所述蓋板一端通過(guò)鉸鏈與固定底座的一端相連,可以自由地旋轉(zhuǎn)蓋板進(jìn)行開(kāi)關(guān)閉合的動(dòng)作。[0008]本實(shí)用新型的另一目的在于,所述蓋板可與固定蓋板上下分離,在進(jìn)行屏體與測(cè)試線路板的固定時(shí),可將蓋板拿下來(lái),然后再蓋上固定。[0009]本實(shí)用新型的另一目的在于,所述電源板設(shè)置于固定底座外面,通過(guò)軟排線與固定底座連接,這樣就可以減小固定底座的厚度,增大了測(cè)試的空間。[0010]利用本實(shí)用新型的測(cè)試裝置可適用于各種對(duì)厚度有特殊要求的測(cè)試環(huán)境。


[0011]圖1為一種現(xiàn)有平板測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)示意圖。[0012]圖2為本發(fā)明的一種測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)示意圖。[0013]圖3為圖2中虛線框結(jié)構(gòu)的分解示意圖。[0014]圖4為本發(fā)明的另一種測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
[0015]圖2為本發(fā)明的一種薄型測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)示意圖,圖3為圖2虛線框中結(jié)構(gòu)的分解示意圖[0016]下面結(jié)合圖2和圖3進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。圖2中:底座210上設(shè)置有測(cè)試線路板212,顯示面板250設(shè)置于固定底座210中測(cè)試線路板212的測(cè)試探針260之上,水平方向通過(guò)限位結(jié)構(gòu)213確定顯示面板250的位置,耦合在固定底座一側(cè)的蓋板220,本實(shí)施例的耦合是指鉸鏈連接進(jìn)行旋轉(zhuǎn),旋轉(zhuǎn)固定在底座210 —端的蓋板220,使得顯示面板的測(cè)試點(diǎn)(未畫(huà)出)與測(cè)試探針260充分接觸,最后通過(guò)旋轉(zhuǎn)所述蓋板220,使得蓋板220上的磁鐵221與固定于底座210上的磁鐵211相互吸引形成閉合,形成薄型的測(cè)試平臺(tái)。電信號(hào)由電源板280產(chǎn)生,通過(guò)軟排線281與測(cè)試線路板212上的接口 270連接,將電信號(hào)接入測(cè)試線路板,再通過(guò)測(cè)試線路板的走線與測(cè)試探針相互連接,將電信號(hào)送至顯示面板250的測(cè)試點(diǎn),完成顯示面板的上電測(cè)試。[0017]圖4為本發(fā)明的另一種薄型測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)施例與實(shí)施例一的區(qū)別主要在于蓋板與底座的連接方式,本實(shí)施例是將蓋板與固定底設(shè)置成可分離的結(jié)構(gòu),顯示面板250置于固定于底座310的測(cè)試線路板312上的測(cè)試探針(未畫(huà)出)之上,水平方向通過(guò)限位結(jié)構(gòu)313確定顯示面板250的位置,測(cè)試蓋板320通過(guò)孔321與固定于底座310四周的彈性定位柱330限定測(cè)試蓋板的位置,輕輕按壓測(cè)試蓋板320中間部位322,使得顯示面板的測(cè)試點(diǎn)(未畫(huà)出)與測(cè)試探針260充分接觸,同時(shí)通過(guò)固定于測(cè)試蓋板320的磁鐵(未畫(huà)出)與固定于底座310的磁鐵311相互吸引形成閉合。電信號(hào)同樣由電源板280產(chǎn)生,通過(guò)軟排線281將電信號(hào)接入測(cè)試線路板,再通過(guò)測(cè)試線路板的走線與測(cè)試探針相互連接,將電信號(hào)送至顯示面板250的測(cè)試點(diǎn),完成顯示面板的上電測(cè)試。[0018]本實(shí)用新型解決了在顯微鏡以及鐳射修復(fù)設(shè)備對(duì)顯示面板進(jìn)行測(cè)試分析或修復(fù)過(guò)程中,因載臺(tái)與鏡頭之間空間要求,需要對(duì)顯示面板測(cè)試裝置整體厚度降低的問(wèn)題,可適用于各種對(duì)厚度有特殊要求的測(cè)試環(huán)境。[0019]上述實(shí)施例僅為本發(fā)明較佳的實(shí)施方式,但本發(fā)明的實(shí)施方式并不受上述實(shí)施例的限制,其他任何未背離本發(fā)明的精神實(shí)質(zhì)與原理下所作的改變、修飾、組合、簡(jiǎn)化,均應(yīng)為等效的置換方式,都包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。雖然本發(fā)明已以比較佳實(shí)施例揭露如上,然而其并非用以限定本發(fā)明,任何熟悉此技術(shù)人士,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤(rùn)飾,因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)以申請(qǐng)的專(zhuān)利范圍所界定為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種薄型測(cè)試裝置,包括有一固定底座,一蓋板、一電源板以及一軟排線,其特征在于,其中, 所述固定底座中設(shè)置有一測(cè)試線路板,用于放置待測(cè)試的顯示面板; 所述蓋板耦合于該固定底座上,可對(duì)合形成薄型測(cè)試平臺(tái); 所述電源板與固定底座通過(guò)軟排線進(jìn)行連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄型測(cè)試裝置,其特征在于,所述蓋板一端通過(guò)鉸鏈與固定底座的一端相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄型測(cè)試裝置,其特征在于,所述蓋板與固定蓋板可上下分離。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄型測(cè)試裝置,其特征在于,所述電源板設(shè)置于固定底座外面,通過(guò)軟排線與固定底座連接。
專(zhuān)利摘要一種薄型測(cè)試裝置,包括有一固定底座,一蓋板以及一電源板,其中該固定底座中設(shè)置有一測(cè)試線路板,待檢測(cè)的顯示面板放置于測(cè)試線路板上,固定底座與電源板通過(guò)軟排線進(jìn)行連接,將蓋板與固定底座對(duì)合后,即可進(jìn)行測(cè)試工作,該薄型測(cè)試裝置改變了蓋板和固定底座的連接方式,使得測(cè)試裝置整體厚度大大減小,且測(cè)試裝置的上表面保持平整,利于顯微鏡以及鐳射修復(fù)設(shè)備等測(cè)試環(huán)境中使用。
文檔編號(hào)G01R31/00GK203054117SQ20122074790
公開(kāi)日2013年7月10日 申請(qǐng)日期2012年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月29日
發(fā)明者王向前, 邱勇, 黃秀頎 申請(qǐng)人:昆山工研院新型平板顯示技術(shù)中心有限公司
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