測(cè)試裝置的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)一種測(cè)試裝置，包括一輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元、多個(gè)測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元以及多個(gè)電性組件。輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元沿著一方向旋轉(zhuǎn)以輸送多個(gè)電子元件。測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元沿著所述方向旋轉(zhuǎn)以承接輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元輸送來(lái)的電子元件。每一測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元包括多個(gè)工作站，且工作站分別具有不同的工作模式。電性組件分別電連接至測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元。每一電性組件包括多組測(cè)試電線、一電性轉(zhuǎn)換接頭以及多組連接電線。這些組測(cè)試電線分別連接至工作站、沿著所述方向旋轉(zhuǎn)且通過(guò)旋轉(zhuǎn)而與電性轉(zhuǎn)換接頭電連接。這些組連接電線固定不動(dòng)且通過(guò)電性轉(zhuǎn)換接頭分別電連接至這些組測(cè)試電線。
【專利說(shuō)明】
測(cè)試裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試裝置，且特別是涉及一種可同時(shí)對(duì)多個(gè)電子元件連續(xù)進(jìn)行不同功能測(cè)試的測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)有的測(cè)試裝置中，每一組的測(cè)試排線會(huì)分別與每一個(gè)測(cè)試工作站電連接，且這些測(cè)試排線會(huì)集中且置放于排線保護(hù)架內(nèi)，而此排線保護(hù)架是會(huì)跟著測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)一起旋轉(zhuǎn)。當(dāng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)在承接主轉(zhuǎn)盤(pán)輸送過(guò)來(lái)的電子元件后，會(huì)沿著逆時(shí)鐘方向旋轉(zhuǎn)，以使電子元件至不同的工作站進(jìn)行測(cè)試。但，當(dāng)逆時(shí)鐘方向旋轉(zhuǎn)三個(gè)工作站之后，必須以順時(shí)鐘方向回轉(zhuǎn)至主轉(zhuǎn)盤(pán)，其目的在于避免跟著測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)旋轉(zhuǎn)的測(cè)試排線打結(jié)或絞斷。因此，現(xiàn)有的測(cè)試裝置的設(shè)計(jì)除了要避免于旋轉(zhuǎn)的過(guò)程中測(cè)試排線打結(jié)或絞斷之外，還需要常常更換因扭曲而斷裂的測(cè)試排線。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種測(cè)試裝置，可同時(shí)對(duì)多個(gè)電子元件連續(xù)進(jìn)行不同功能的測(cè)試，可避免工作站有閑置狀態(tài)，從而縮短測(cè)試時(shí)間且可提高測(cè)試產(chǎn)能。
[0004]為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型的測(cè)試裝置，其包括一輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元、多個(gè)測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元以及多個(gè)電性組件。輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元沿著一方向旋轉(zhuǎn)以輸送多個(gè)電子元件。測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元沿著所述方向旋轉(zhuǎn)以承接輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元輸送來(lái)的電子元件，其中每一測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元包括多個(gè)工作站，且工作站分別具有不同的工作模式。電性組件分別電連接至測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元。每一電性組件包括多組測(cè)試電線、一電性轉(zhuǎn)換接頭以及多組連接電線。這些組測(cè)試電線分別連接至工作站且沿著所述方向旋轉(zhuǎn)。這些組測(cè)試電線通過(guò)旋轉(zhuǎn)而與電性轉(zhuǎn)換接頭電連接。這些組連接電線固定不動(dòng)且通過(guò)電性轉(zhuǎn)換接頭分別電連接至這些組測(cè)試電線。
[0005]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述的每一電子元件包括一環(huán)境光感測(cè)器、一光電感測(cè)器或一光電二極管。
[0006]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述的方向?yàn)橐荒鏁r(shí)鐘方向。
[0007]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述的每一測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元為一4分割測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元。
[0008]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述的工作站包括一個(gè)放料站以及三個(gè)測(cè)試工作站。
[0009]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述的測(cè)試裝置還包括:多個(gè)測(cè)試模塊，配置于測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元的周圍且固定不動(dòng)。
[0010]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述的測(cè)試模塊至少包括一灰卡測(cè)試模塊、一燈源測(cè)試模塊以及一玻璃測(cè)試模塊。
[0011]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述的測(cè)試裝置還包括:一測(cè)試機(jī)，這些組連接電線電連接至測(cè)試機(jī)。
[0012]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述的每一測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元還包括:多條氣壓管路、一氣壓轉(zhuǎn)換接頭以及多條連接管路。氣壓管路分別連接至工作站且沿著所述方向旋轉(zhuǎn)。氣壓管路通過(guò)旋轉(zhuǎn)而與氣壓轉(zhuǎn)換接頭電連接。連接管路固定不動(dòng)且通過(guò)氣壓轉(zhuǎn)換接頭分別電連接至氣壓管路。
[0013]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述的測(cè)試裝置還包括多個(gè)真空表以及多個(gè)電磁閥。真空表分別連接至連接管路。電磁閥分別電連接連接管路，以獨(dú)立切換工作站的電壓。
[0014]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于，由于本實(shí)用新型的測(cè)試裝置具有電性組件，其中這些組測(cè)試電線會(huì)跟測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元同方向旋轉(zhuǎn)，而這些組連接電線則固定不動(dòng)且通過(guò)電性轉(zhuǎn)換接頭與這些組測(cè)試電線電連接。因此，相較于現(xiàn)有在將電子元件逆時(shí)鐘移動(dòng)幾個(gè)工作站后需再以順時(shí)鐘方向回轉(zhuǎn)而將電子元件轉(zhuǎn)回主轉(zhuǎn)盤(pán)而言，本實(shí)用新型的測(cè)試裝置都是以同一方向旋轉(zhuǎn)且無(wú)需回轉(zhuǎn)，無(wú)需使用排線保護(hù)架且也不用擔(dān)心測(cè)試電線會(huì)因?yàn)榕で鴶嗔训膯?wèn)題，故可有效縮短測(cè)試時(shí)間且可提高測(cè)試產(chǎn)能。
[0015]為讓本實(shí)用新型的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合所附附圖作詳細(xì)說(shuō)明如下。
【附圖說(shuō)明】
[0016]圖1為本實(shí)用新型的一實(shí)施例的一種測(cè)試裝置的俯視示意圖；
[0017]圖2為圖1的測(cè)試裝置的一測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元的立體示意圖；
[0018]圖3A至圖3E為圖2的測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元旋轉(zhuǎn)時(shí)電子元件與工作站之間的相對(duì)位置的示意圖；
[0019]圖4為圖2的測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元的側(cè)視示意圖。
[0020]符號(hào)說(shuō)明
[0021]10、10a、10b、10c、1cU 1e:電子元件
[0022]100:測(cè)試裝置
[0023]110:輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元
[0024]120a、120b:測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元
[0025]121a、121b、121c、121d:氣壓管路
[0026]122、124、126、128:工作站
[0027]丨23:氣壓轉(zhuǎn)換接頭
[0028]125a、125b、125c、125d:連接管路
[0029]130a、130b:電性組件
[0030]132a、132b、132c、132d:測(cè)試電線
[0031]134:電性轉(zhuǎn)換接頭
[0032]136a、136b、136c、136d:連接電線
[0033]140a、140b、140c:測(cè)試模塊
[0034]150:測(cè)試機(jī)
[0035]160a、160b、160c、160d:真空表
[0036]170a、170b、170c、170d:電磁閥
[0037]172a、172b、172c、172d:正壓
[0038]174a、174b、174c、174d:負(fù)壓 D:方向
【具體實(shí)施方式】
[0039]圖1為本實(shí)用新型的一實(shí)施例的一種測(cè)試裝置的俯視示意圖。圖2為圖1的測(cè)試裝置的一測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元的立體示意圖。為了方便說(shuō)明起見(jiàn)，圖1與圖2中有省略繪示部分元件，且下述實(shí)施例中采用相同的標(biāo)號(hào)來(lái)表示相同或近似的元件，并且省略了相同技術(shù)內(nèi)容的說(shuō)明。請(qǐng)先參考圖1，在本實(shí)施例中，測(cè)試裝置100包括一輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110、多個(gè)測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元(圖1中僅示意地繪示兩個(gè)測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a、120b)以及多個(gè)電性組件(圖1中僅示意地繪示兩個(gè)電性組件130a、130b)。
[0040]詳細(xì)來(lái)說(shuō)，請(qǐng)同時(shí)參考圖1與圖2，輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110沿著一方向D旋轉(zhuǎn)以輸送多個(gè)電子元件10。測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a、120b沿著方向D旋轉(zhuǎn)以承接輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110輸送來(lái)的電子元件1，其中每一測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a (或120b)包括多個(gè)工作站(圖2中僅示意地繪示四個(gè)工作站122、124、126、128)，且工作站122、124、126、128分別具有不同的工作模式。電性組件130a、130b分別電連接至測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a、120b。每一電性組件(或130b)包括多組測(cè)試電線(圖2中僅示意地繪示四組測(cè)試電線132a、132b、132c、132d)、一電性轉(zhuǎn)換接頭134以及多組連接電線(圖2中僅示意地繪示四組連接電線136a、136b、136c、136d)。這些組測(cè)試電線132a、132b、132c、132d分別連接至工作站122、124、126、128且沿著方向D旋轉(zhuǎn)。這些組測(cè)試電線132a、132b、132c、132d通過(guò)旋轉(zhuǎn)而與電性轉(zhuǎn)換接頭134電連接。這些組連接電線136a、136b、136c、136d固定不動(dòng)且通過(guò)電性轉(zhuǎn)換接頭134分別電連接至這些組測(cè)試電線132a、132b、132c、132d0
[0041]更具體來(lái)說(shuō)，在本實(shí)施例中，電子元件10例如是一環(huán)境光感測(cè)器、一光電感測(cè)器或一光電二極管，但并不以此為限。電子元件10通過(guò)輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110沿著方向D旋轉(zhuǎn)而被輸送至測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a、120b的工作站122、124、126、128來(lái)進(jìn)行不同功能的測(cè)試。此處，方向D具體化為一逆時(shí)鐘方向。每一測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a(或120b)為一4分割測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元，其中工作站122、124、126、128包括一個(gè)放料站以及三個(gè)測(cè)試工作站。此處，工作站122具體化為一放料站，用以承接輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110輸送過(guò)來(lái)的電子元件10，而工作站124、126、128具體化為測(cè)試工作站。
[0042]再者，本實(shí)施例的測(cè)試裝置100還包括多個(gè)測(cè)試模塊(圖2中示意地繪示三個(gè)測(cè)試模塊140&、14013、140(3)，其中每一測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120&(或12013)的周圍都設(shè)置有測(cè)試模塊140a、140b、140c，且測(cè)試模塊140a、140b、140c不隨著測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a旋轉(zhuǎn)而呈現(xiàn)固定不動(dòng)的狀態(tài)。測(cè)試模塊140a、140b、140c至少包括一灰卡測(cè)試模塊、一燈源測(cè)試模塊以及一玻璃測(cè)試模塊。換言之，本實(shí)施例的測(cè)試裝置100至少會(huì)對(duì)電子元件10進(jìn)行灰卡測(cè)試、燈源測(cè)試以及玻璃測(cè)試。此外，本實(shí)施例的測(cè)試裝置100還更包括一測(cè)試機(jī)150，其中連接電線136a、136b、136c、136d電連接至測(cè)試機(jī)150，以測(cè)試電子元件10的開(kāi)路、短路以及相關(guān)的直流電(DC)測(cè)試項(xiàng)目和感光測(cè)試。
[0043]請(qǐng)?jiān)賲⒖紙D2，特別是，本實(shí)施例的這些組測(cè)試電線132a、132b、132c、132d是分別連接至工作站122、124、126、128且沿著方向D旋轉(zhuǎn)。也就是說(shuō)，每一個(gè)工作站122(或124、126、128)都具有一組獨(dú)立且對(duì)應(yīng)的測(cè)試電線132&(或13213、13213、132(1)，且這些組測(cè)試電線132a、132b、132b、132d會(huì)與測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a(或120b)同方向旋轉(zhuǎn)。另一方面，這些組連接電線136a、136b、136c、136d則呈現(xiàn)固定不動(dòng)，且這些組連接電線136a、136b、136c、136d連接于測(cè)試機(jī)150與電性轉(zhuǎn)換接頭134之間，并通過(guò)電性轉(zhuǎn)換接頭134分別電連接至這些組測(cè)試電線132a、132b、132c、132d。更具體來(lái)說(shuō)，電性組件130a、130b內(nèi)具有彈片，彈片會(huì)壓住電性轉(zhuǎn)換接頭134的軸心，因此當(dāng)電性轉(zhuǎn)換接頭134在轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，這些組連接電線136a、136b、136c、136d與這些組測(cè)試電線132a、132b、132b、132d會(huì)保持導(dǎo)通狀態(tài)。
[0044]由于本實(shí)施例的測(cè)試裝置100的設(shè)計(jì)是通過(guò)設(shè)置這些組測(cè)試電線132a、132b、132c、132d與測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a(或120b)同方向旋轉(zhuǎn)，而這些組連接電線136a、136b、136c、136d固定不動(dòng)并通過(guò)電性轉(zhuǎn)換接頭134與這些組測(cè)試電線132a、132b、132c、132d電連接。如此一來(lái)，可使得電子元件10可沿著同一方向依序移動(dòng)至工作站122、124、126、128而完成測(cè)試，且無(wú)需擔(dān)心測(cè)試電線132a、132b、132c、132d會(huì)因?yàn)榕でa(chǎn)生斷裂的情形。
[0045]以下將以一實(shí)施例說(shuō)明測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a(或120b)旋轉(zhuǎn)時(shí)電子元件10與工作站122、124、126、128之間的相對(duì)位置關(guān)系。圖3A至圖3E為圖2的測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元旋轉(zhuǎn)時(shí)電子元件與工作站之間的相對(duì)位置的示意圖。請(qǐng)先同時(shí)參考圖1與圖3A，輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110沿著方向D旋轉(zhuǎn)，而將其上的電子元件1a輸送至測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a的工作站122。接著，請(qǐng)參考圖3B，測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a沿方向D旋轉(zhuǎn)，而將電子元件1a輸送至工作站124，以使測(cè)試模塊140a對(duì)電子元件1a進(jìn)行測(cè)試，如進(jìn)行灰卡測(cè)試，如用特定色板在適當(dāng)距離遮蔽下對(duì)電子元件1a進(jìn)行感光測(cè)試。同時(shí)，輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110仍沿著方向D旋轉(zhuǎn)，而將其上的電子元件1b輸送至測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a的工作站122。
[0046]接著，請(qǐng)參考圖3C，測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a持續(xù)沿方向D旋轉(zhuǎn)，而將電子元件1a輸送至工作站126，以使測(cè)試模塊140b對(duì)電子元件1a進(jìn)行測(cè)試，如進(jìn)行燈源測(cè)試，以在暗室及有光度的環(huán)境下的對(duì)電子元件1a進(jìn)行感光測(cè)試。此時(shí)，電子元件1b則被輸送至工作站124，以使測(cè)試模塊140a對(duì)電子元件1b進(jìn)行測(cè)試，而輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110仍沿著方向D旋轉(zhuǎn)，而將其上的電子元件1c輸送至測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a的工作站122。
[0047]之后，請(qǐng)參考圖3D，測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a持續(xù)沿方向D旋轉(zhuǎn)，而將電子元件1a輸送至工作站128，以使測(cè)試模塊140c對(duì)電子元件1a進(jìn)行測(cè)試，如進(jìn)行玻璃測(cè)試，以在有玻璃遮蔽下對(duì)電子元件1a進(jìn)行感光測(cè)試。此時(shí)，電子元件1b則被輸送至工作站126，以使測(cè)試模塊140b對(duì)電子元件1b進(jìn)行測(cè)試，而電子元件1c則被輸送至工作站124，以使測(cè)試模塊140a對(duì)電子元件1c進(jìn)行測(cè)試，且輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110仍沿著方向D旋轉(zhuǎn)，而將其上的電子元件1d輸送至測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a的工作站122。
[0048]最后，請(qǐng)參考圖3E，通過(guò)真空吸取的方式取下已完成測(cè)試的電子元件10a，此時(shí)，測(cè)試裝置100會(huì)以逆時(shí)鐘旋轉(zhuǎn)而將以測(cè)試完成的良品輸送至包裝站以進(jìn)行包裝成卷，而已測(cè)試完的不良品則會(huì)到料筒成散裝。同時(shí)，測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a持續(xù)沿方向D旋轉(zhuǎn)，而將電子元件1b輸送至工作站128，以使測(cè)試模塊140c對(duì)電子元件1b進(jìn)行測(cè)試，而電子元件1c則被輸送至工作站126，以使測(cè)試模塊140b對(duì)電子元件1c進(jìn)行測(cè)試，而電子元件1d則被輸送至工作站124，以使測(cè)試模塊140a對(duì)電子元件1d進(jìn)行測(cè)試，且輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110仍沿著方向D旋轉(zhuǎn)，而將其上的電子元件1e輸送至測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a的工作站122。通過(guò)上述的步驟，除了可使得本實(shí)施例的測(cè)試裝置100可同時(shí)對(duì)多個(gè)電子元件10a、10b、10c、1cUlOe連續(xù)進(jìn)行不同功能的測(cè)試之外，還可避免工作站122、124、126、128有閑置的狀態(tài)，從而可縮短測(cè)試時(shí)間且可提高測(cè)試產(chǎn)能。
[0049]請(qǐng)?jiān)偻瑫r(shí)參考圖1與圖3A至圖3E，由于本實(shí)施例的輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110與測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a持續(xù)不斷的沿著方向D旋轉(zhuǎn)，而將輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元110上的電子元件10、10a、10b、10c、10d、1e持續(xù)不斷的輸送至測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a(或120b)的工作站122、124、126、128進(jìn)行測(cè)試，且這些組測(cè)試電線132a、132b、132c、132d會(huì)跟測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a(或120b)同方向旋轉(zhuǎn)，而這些組連接電線136a、136b、136c、136d則固定不動(dòng)并通過(guò)電性轉(zhuǎn)換接頭134與這些組測(cè)試電線132a、132b、132c、132d電連接。因此，相較于現(xiàn)有在將電子元件逆時(shí)鐘移動(dòng)幾個(gè)工作站后需再以順時(shí)鐘方向回轉(zhuǎn)而將電子元件轉(zhuǎn)回主轉(zhuǎn)盤(pán)而言，本實(shí)施例的測(cè)試裝置100都是以同一方向旋轉(zhuǎn)且無(wú)需回轉(zhuǎn)，無(wú)需使用排線保護(hù)架且也不用擔(dān)心測(cè)試電線132a、132b、132c、132d會(huì)因?yàn)榕で鴶嗔训膯?wèn)題，可有效縮短測(cè)試時(shí)間且可提高測(cè)試產(chǎn)能。
[0050]圖4為圖2的測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元的側(cè)視示意圖。為了方便說(shuō)明起見(jiàn)，圖4中省略繪示部分元件。請(qǐng)同時(shí)參考圖2與圖4，本實(shí)施例的每一測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元120a(或120b)還更包括多條氣壓管路(圖2示意地繪示四條氣壓管路121a、121b、121c、121d)、一氣壓轉(zhuǎn)換接頭123以及多條連接管路(圖4示意地繪示四條連接管路125a、125b、125c、125d)。氣壓管路121a、121b、121c、121d分別連接至工作站122、124、126、128且沿著方向D旋轉(zhuǎn)。氣壓管路121a、121b、121c、121d通過(guò)旋轉(zhuǎn)而與氣壓轉(zhuǎn)換接頭123電連接。連接管路125a、125b、125c、125d固定不動(dòng)且通過(guò)氣壓轉(zhuǎn)換接頭123分別電連接至氣壓管路121a、121b、121c、121d。此處，氣壓轉(zhuǎn)換接頭123可采用如速睦喜(SMC)公司所出產(chǎn)型號(hào)為MQR-X229的彈性體密封回轉(zhuǎn)接頭。
[0051]此外，本實(shí)施例的測(cè)試裝置100還更包括多個(gè)真空表(圖4示意地繪示四個(gè)真空表160a、160b、160c、160d)以及多個(gè)電磁閥(圖4示意地繪示四個(gè)電磁閥170a、170b、170c、170d)。真空表160a、160b、160c、160d分別連接至連接管路125a、125b、125c、125d，以通過(guò)壓差的方式來(lái)檢測(cè)工作站122、124、126、128上是否有電子元件10。電磁閥170a、170b、170c、170d分別電連接至連接管路125a、125b、125c、125d，以獨(dú)立切換工作站125a、125b、125c、125d)的電壓。此處，每一電磁閥170a(或170b、170b、170d)分別具有一個(gè)正壓172a(或172b、172b、172d)與一負(fù)壓 174a(或 174b、174b、174d)，通過(guò)切換每一電磁閥 170a(或 170b、170b、170d)的正壓 172a(或 172b、172b、172d)與負(fù)壓 174a(或 174b、174b、174d)，可使得每一個(gè)工作站122(或124、126、128)都有獨(dú)立的電壓，即正電壓源與負(fù)電壓源。
[0052]綜上所述，由于本實(shí)用新型的測(cè)試裝置具有電性組件，其中這些組測(cè)試電線會(huì)跟測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元同方向旋轉(zhuǎn)，而這些組連接電線則固定不動(dòng)且通過(guò)電性轉(zhuǎn)換接頭與這些組測(cè)試電線電連接。因此，相較于現(xiàn)有在將電子元件逆時(shí)鐘移動(dòng)幾個(gè)工作站后需再以順時(shí)鐘方向回轉(zhuǎn)而將電子元件轉(zhuǎn)回主轉(zhuǎn)盤(pán)而言，本實(shí)用新型的測(cè)試裝置都是以同一方向旋轉(zhuǎn)且無(wú)需回轉(zhuǎn)，無(wú)需使用排線保護(hù)架且也不用擔(dān)心測(cè)試電線會(huì)因?yàn)榕で鴶嗔训膯?wèn)題，故有效縮短測(cè)試時(shí)間且可提高測(cè)試產(chǎn)能。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種測(cè)試裝置，其特征在于，該測(cè)試裝置包括: 輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元，沿著一方向旋轉(zhuǎn)以輸送多個(gè)電子元件； 多個(gè)測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元，沿著該方向旋轉(zhuǎn)以承接該輸送轉(zhuǎn)盤(pán)單元輸送來(lái)的該些電子元件，其中各該測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元包括多個(gè)工作站，且該些工作站分別具有不同的工作模式；以及多個(gè)電性組件，分別電連接至該些測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元，各該電性組件包括: 多組測(cè)試電線，分別連接至該些工作站且沿著該方向旋轉(zhuǎn)； 電性轉(zhuǎn)換接頭，該些組測(cè)試電線通過(guò)旋轉(zhuǎn)而與該電性轉(zhuǎn)換接頭電連接；以及 多組連接電線，固定不動(dòng)且通過(guò)該電性轉(zhuǎn)換接頭分別電連接至該些組測(cè)試電線。2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，各該電子元件包括環(huán)境光感測(cè)器、光電感測(cè)器或光電二極管。3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，該方向?yàn)橐荒鏁r(shí)鐘方向。4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，各該測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元為一4分割測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元。5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置，其特征在于，該些工作站包括一個(gè)放料站以及三個(gè)測(cè)試工作站。6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，該測(cè)試裝置還包括: 多個(gè)測(cè)試模塊，配置于該些測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元的周圍且固定不動(dòng)。7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其特征在于，該些測(cè)試模塊至少包括一灰卡測(cè)試模塊、一燈源測(cè)試模塊以及一玻璃測(cè)試模塊。8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，該測(cè)試裝置還包括: 測(cè)試機(jī)，該些組連接電線電連接至該測(cè)試機(jī)。9.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，各該測(cè)試轉(zhuǎn)盤(pán)單元還包括: 多條氣壓管路，分別連接至該些工作站且沿著該方向旋轉(zhuǎn)； 氣壓轉(zhuǎn)換接頭，該些氣壓管路通過(guò)旋轉(zhuǎn)而與該氣壓轉(zhuǎn)換接頭電連接；以及 多條連接管路，固定不動(dòng)且通過(guò)該氣壓轉(zhuǎn)換接頭分別電連接至該些氣壓管路。10.如權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置，其特征在于，該測(cè)試裝置還包括: 多個(gè)真空表，分別連接至該些連接管路；以及 多個(gè)電磁閥，分別電連接該些連接管路，以獨(dú)立切換各該工作站的電壓。
【文檔編號(hào)】G01R31/01GK205643582SQ201620465368
【公開(kāi)日】2016年10月12日
【申請(qǐng)日】2016年5月19日
【發(fā)明人】李文章, 鄭嘉賢
【申請(qǐng)人】健鼎（無(wú)錫）電子有限公司