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一種聯(lián)排led補(bǔ)粉測(cè)試裝置的制作方法

文檔序號(hào):5936480閱讀:264來源:國(guó)知局
專利名稱:一種聯(lián)排led補(bǔ)粉測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及LED技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
大功率LED應(yīng)用于照明已越來越多,是未來照明技術(shù)不可阻擋的趨勢(shì),為了使生產(chǎn)的LED燈珠顏色集中性更好,在點(diǎn)熒光粉的時(shí)候需要進(jìn)行修正,即常說的補(bǔ)粉,聯(lián)排LED測(cè)試就是為了解決補(bǔ)粉而進(jìn)行的,現(xiàn)有技術(shù)的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置多采用源表和控制模塊一體的模式,需多路輸出驅(qū)動(dòng)、測(cè)量,過電流的接線多,布線復(fù)雜,因此現(xiàn)有技術(shù)的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置亟待改進(jìn)。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,克服現(xiàn)有技術(shù)的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置源表和控制模塊一體,過電流的接線多,布線復(fù)雜的缺陷。本實(shí)用新型為解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為一種聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,包括源表、I/O控制模塊和測(cè)試模塊,所述測(cè)試模塊分別連接所述源表和所述I/o控制模塊,所述測(cè)試模塊與所述源表的連接導(dǎo)線上設(shè)置有開關(guān)并連接待測(cè)LED,所述源表為所述待測(cè)LED施加電流和電壓并獲取所述待測(cè)LED的電性參數(shù),所述I/O控制模塊對(duì)所述開關(guān)的通斷進(jìn)行控制。所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其中所述源表包括輸出端高端、輸出端低端以及測(cè)量端高端和測(cè)量端低端,所述測(cè)試模塊包括至少一個(gè)LED測(cè)試單元,所述LED測(cè)試單元的第一導(dǎo)線的頭端與所述輸出端高端相連,所述LED測(cè)試單元的第二導(dǎo)線的頭端與所述輸出端低端相連,在第一導(dǎo)線或者第二導(dǎo)線上設(shè)置有第一開關(guān),所述LED測(cè)試單元的第三導(dǎo)線的頭端與所述測(cè)量端高端相連,所述LED測(cè)試單元的第四導(dǎo)線的頭端與所述測(cè)量端低端相連,在第三導(dǎo)線或者第四導(dǎo)線上設(shè)置有第二開關(guān),第一導(dǎo)線的尾端和第三導(dǎo)線的尾端并聯(lián)后與所述待測(cè)LED連接,第二導(dǎo)線的尾端和第四導(dǎo)線的尾端并聯(lián)后與所述待測(cè)LED連接,所述I/O控制模塊對(duì)第一開關(guān)和第二開關(guān)的通斷進(jìn)行控制。所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其中所述I/O控制模塊包括單片機(jī)和與其相連的開關(guān)控制芯片,所述開關(guān)控制芯片的輸出端連接第一開關(guān)和第二開關(guān)。所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其中第一開關(guān)設(shè)為光電耦合器。所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其中第二開關(guān)設(shè)為光電耦合器。所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其中所述單片機(jī)設(shè)為芯片AT89C51。所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其中所述開關(guān)控制芯片設(shè)為芯片74LS154。所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其中所述源表設(shè)為KEITHLEY2400。所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其中所述LED測(cè)試單元設(shè)為二十個(gè)。本實(shí)用新型的有益效果本實(shí)用新型將源表和測(cè)試模塊、控制模塊分開,只需要一路輸出、測(cè)量,在測(cè)試模塊上再用光耦將電流分開成20路,過電流的接線大大減少,使用多芯電纜線,可靠性更高,更耐用,通用性也很強(qiáng),只要有源表,外加幾個(gè)IO點(diǎn)就可以進(jìn)行二次開發(fā),本實(shí)用新型推進(jìn)了 LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置的技術(shù)進(jìn)步。

本實(shí)用新型包括如下附圖圖I為本實(shí)用新型示意圖; 圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例示意圖。
具體實(shí)施方式
下面根據(jù)附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明如圖I和圖2所示,本實(shí)用新型聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置包括源表、I/O控制模塊和測(cè)試模塊,測(cè)試模塊分別連接源表和I/o控制模塊,測(cè)試模塊與源表的連接導(dǎo)線上設(shè)置有開關(guān)并連接待測(cè)LED,源表為待測(cè)LED施加電流和電壓并獲取待測(cè)LED的電性參數(shù),I/O控制模塊對(duì)開關(guān)的通斷進(jìn)行控制。源表包括輸出端高端、輸出端低端以及測(cè)量端高端和測(cè)量端低端,測(cè)試模塊包括至少一個(gè)LED測(cè)試單元,LED測(cè)試單元的第一導(dǎo)線的頭端與輸出端高端相連,LED測(cè)試單元的第二導(dǎo)線的頭端與輸出端低端相連,在第一導(dǎo)線或者第二導(dǎo)線上設(shè)置有第一開關(guān),LED測(cè)試單元的第三導(dǎo)線的頭端與測(cè)量端高端相連,LED測(cè)試單元的第四導(dǎo)線的頭端與測(cè)量端低端相連,在第三導(dǎo)線或者第四導(dǎo)線上設(shè)置有第二開關(guān),第一導(dǎo)線的尾端和第三導(dǎo)線的尾端并聯(lián)后與待測(cè)LED連接,第二導(dǎo)線的尾端和第四導(dǎo)線的尾端并聯(lián)后與待測(cè)LED連接,I/O控制模塊對(duì)第一開關(guān)和第二開關(guān)的通斷進(jìn)行控制。源表設(shè)為KEITHLEY2400,源表是一個(gè)能給負(fù)載提供電流電壓并測(cè)量的電子系統(tǒng),源表由電腦控制,能輸出正負(fù)兩個(gè)方向的電流,可以定電壓測(cè)電流,也可以定電流測(cè)電壓,具有電流電壓互鎖功能,輸出測(cè)量精度較高,可用來點(diǎn)亮LED以測(cè)量其電性參數(shù),LED測(cè)試單元設(shè)為20個(gè)。第一開關(guān)和第二開關(guān)使由光電耦合器構(gòu)成,控制和負(fù)載線路光電隔離,I/O控制模塊使用單片機(jī)AT89C51輸出TTL電平來控制,控制時(shí)只需六個(gè)TTL信號(hào),其中四個(gè)TTL信號(hào)輸出到74LS154作為譯碼信號(hào),可以控制16組開關(guān),兩個(gè)TTL信號(hào)作為片選信號(hào),一個(gè)選通I一 16號(hào)LED測(cè)試單元對(duì)應(yīng)的開關(guān)控制IC 74LS154,另一個(gè)選通17 — 20號(hào)LED測(cè)試單元對(duì)應(yīng)的開關(guān)控制IC 74LS154,LED測(cè)試單元測(cè)試時(shí),通過I/O控制模塊,使SWl接通,精密源表系統(tǒng)給LED加電進(jìn)行測(cè)試,依次切換SW2—SW20,完成對(duì)其他LED的測(cè)試。本領(lǐng)域技術(shù)人員不脫離本實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)和精神,可以有多種變形方案實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型,以上所述僅為本實(shí)用新型較佳可行的實(shí)施例而已,并非因此局限本實(shí)用新型的權(quán)利范圍,凡運(yùn)用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變化,均包含于本實(shí)用新型的權(quán)利范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其特征在于包括源表、I/O控制模塊和測(cè)試模塊,所述測(cè)試模塊分別連接所述源表和所述I/o控制模塊,所述測(cè)試模塊與所述源表的連接導(dǎo)線上設(shè)置有開關(guān)并連接待測(cè)LED,所述源表為所述待測(cè)LED施加電流和電壓并獲取所述待測(cè)LED的電性參數(shù),所述I/O控制模塊對(duì)所述開關(guān)的通斷進(jìn)行控制。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其特征在于所述源表包括輸出端高端、輸出端低端以及測(cè)量端高端和測(cè)量端低端,所述測(cè)試模塊包括至少ー個(gè)LED測(cè)試單元,所述LED測(cè)試單元的第一導(dǎo)線的頭端與所述輸出端高端相連,所述LED測(cè)試單元的第二導(dǎo)線的頭端與所述輸出端低端相連,在第一導(dǎo)線或者第二導(dǎo)線上設(shè)置有第一開關(guān),所述LED測(cè)試單元的第三導(dǎo)線的頭端與所述測(cè)量端高端相連,所述LED測(cè)試單元的第四導(dǎo)線的頭端與所述測(cè)量端低端相連,在第三導(dǎo)線或者第四導(dǎo)線上設(shè)置有第二開關(guān),第一導(dǎo)線的尾端和第三導(dǎo)線的尾端并聯(lián)后與所述待測(cè)LED連接,第二導(dǎo)線的尾端和第四導(dǎo)線的尾端并聯(lián)后與所述待測(cè)LED連接,所述I/O控制模塊對(duì)第一開關(guān)和第二開關(guān)的通斷進(jìn)行控制。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其特征在于所述I/O控制模塊包括單片機(jī)和與其相連的開關(guān)控制芯片,所述開關(guān)控制芯片的輸出端連接第一開關(guān)和第二開關(guān)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其特征在于第一開關(guān)設(shè)為光電耦合器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其特征在于第二開關(guān)設(shè)為光電耦合器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其特征在于所述單片機(jī)設(shè)為芯片AT89C51。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其特征在于所述開關(guān)控制芯片設(shè)為芯片74LS154。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其特征在于所述源表設(shè)為KEITHLEY2400。
9.根據(jù)權(quán)利要求I至8任一所述的聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,其特征在于所述LED測(cè)試單元設(shè)為二十個(gè)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種聯(lián)排LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置,包括源表、I/O控制模塊和測(cè)試模塊,所述測(cè)試模塊分別連接所述源表和所述I/O控制模塊,所述測(cè)試模塊與所述源表的連接導(dǎo)線上設(shè)置有開關(guān)并連接待測(cè)LED,所述源表為所述待測(cè)LED施加電流和電壓并獲取所述待測(cè)LED的電性參數(shù),所述I/O控制模塊對(duì)所述開關(guān)的通斷進(jìn)行控制。本實(shí)用新型將源表和測(cè)試模塊、控制模塊分開,只需要一路輸出、測(cè)量,在測(cè)試模塊上再用光耦將電流分開成20路,過電流的接線大大減少,使用多芯電纜線,可靠性更高,更耐用,通用性也很強(qiáng),只要有源表,外加幾個(gè)IO點(diǎn)就可以進(jìn)行二次開發(fā),本實(shí)用新型推進(jìn)了LED補(bǔ)粉測(cè)試裝置的技術(shù)進(jìn)步。
文檔編號(hào)G01R31/44GK202421436SQ20112056266
公開日2012年9月5日 申請(qǐng)日期2011年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月29日
發(fā)明者廖湘濤, 李冰, 林開釗, 王建江 申請(qǐng)人:東莞市中譜光電設(shè)備有限公司
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