專利名稱：自動測試系統(tǒng)及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種自動測試系統(tǒng)及測試方法。
背景技術(shù)：
服務(wù)器主板在設(shè)計時通常都會設(shè)置一些LED燈來提示硬件信息，以利于系統(tǒng)管理員能快速的定位錯誤，更換硬件。如每個內(nèi)存條、PCI、PCI-E插槽都對應(yīng)一個LED燈，當(dāng)系統(tǒng)硬件正常時，LED燈都處于熄滅狀態(tài)，當(dāng)某一個硬件發(fā)生異常時，對應(yīng)此硬件的LED燈會便會被點亮來指示該硬件異常。在對服務(wù)器主板進(jìn)行測試時，該LED燈的功能必須進(jìn)行驗證。目前對主板上LED測試方法是通過一測試程序?qū)ED燈分成兩次進(jìn)行測試，每次測試都包括一半以上的LED燈。在每次將LED點亮的時候會出現(xiàn)一個提示框，需要測試人員計算被點亮的LED燈的數(shù)量，然后輸入到提示框內(nèi)，如果輸入的數(shù)量與程序設(shè)定的數(shù)量一致，、則測試為成功。如果不一致則為失敗。這種需要人工介入的測試方式，誤判率高，測試時間長。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種自動測試系統(tǒng)及測試方法，以方便快捷地對主板上的LED燈進(jìn)行測試。一種自動測試系統(tǒng)，用于自動檢測一主板上的LED是否可以正常工作，所述自動測試系統(tǒng)包括一記錄模組，用于記錄存儲第一個LED的ID ；一控制模組，用于發(fā)送一讀取指令；—讀取模組，用于根據(jù)所述讀取指令來讀取ID，并將讀取到的ID輸出；一控制模組，還用于根據(jù)讀取到的ID來啟動相應(yīng)的LED，并輸出一第一檢測指令；一檢測模組，用于在接收到所述第一檢測指令后檢測一信號轉(zhuǎn)換器的輸出端是否有高電平信號輸出；其中，所述信號轉(zhuǎn)換器連接若干光敏傳感器、一顯不器及每一 LED,所述光敏傳感器分別設(shè)置在一個LED的一側(cè)，用于感測相應(yīng)的LED是否發(fā)光，并在感測到相應(yīng)的LED發(fā)光后輸出一個電壓信號，所述信號轉(zhuǎn)換器用于接收所述光敏傳感器輸出的電壓信號，并將所述電壓信號轉(zhuǎn)換成一脈沖信號后輸出；所述檢測模組還用于在檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端有高電平信號輸出時輸出一熄滅指令；所述控制模組還用于在收到所述熄滅指令后熄滅被點亮的LED，并輸出一第二檢測指令，所述檢測模組還用于在接收到所述第二檢測指令后檢測所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端是否有低電平信號輸出；所述檢測模組還用于在檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端有低電平信號輸出時，發(fā)送一加一指令；
一計數(shù)模組，用于根據(jù)所述加一指令對存儲的ID加“I”；一判定模組，用于判定存儲的ID是否大于LED的個數(shù)；
所述判定模組還用于在判定到存儲的ID大于LED的個數(shù)時，發(fā)送一結(jié)束指令；并在判定到存儲的ID不大于LED的個數(shù)時，發(fā)送一讀取指令；所述控制模組還用于根據(jù)接收到的結(jié)束指令后控制一顯示器顯示測試結(jié)束；所述檢測模組還用于在檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端未有高電平信號輸出時，發(fā)送一顯示指令 '及所述顯示器，用于顯示此時存儲的ID，同時發(fā)送一加一指令。一種自動測試方法，用于用于檢測一主板上的LED是否正常工作，所述自動測試方法包括發(fā)送讀取指令步驟發(fā)送一讀取指令；讀取ID步驟根據(jù)所述讀取指令來讀取ID值，并將讀取到的ID值輸出；啟動LED步驟根據(jù)讀取到的ID來啟動相應(yīng)的LED，并輸出一第一檢測指令；第一檢測步驟接收到所述第一檢測指令后檢測一信號轉(zhuǎn)換器的輸出端是否有高電平信號輸出，若檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端有高電平信號輸出，則執(zhí)行輸出熄滅指令步驟；若檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端未有高電平信號輸出，則執(zhí)行發(fā)送顯示指令步驟；輸出熄滅指令步驟輸出一熄滅指令；熄滅LED步驟熄滅具有對應(yīng)ID的LED，并輸出一第二檢測指令；第二檢測步驟接收到所述第二檢測指令后檢測所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端是否有低電平信號輸出，若檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端有低電平信號輸出，則執(zhí)行發(fā)送加一指令步驟；若檢測出所述信號轉(zhuǎn)換的輸出端未有低電平信號輸出時，則執(zhí)行發(fā)送顯示指令步驟；發(fā)送加一指令步驟發(fā)送一加一指令；計數(shù)步驟根據(jù)所述加一指令來對存儲的ID加“ I” ；判定步驟判定存儲的ID是否大于LED的個數(shù)，若存儲的ID大于LED的個數(shù)時，則執(zhí)行發(fā)送結(jié)束指令步驟；若存儲的ID不大于LED的個數(shù)，則執(zhí)行發(fā)送讀取指令步驟；發(fā)送結(jié)束指令步驟發(fā)送一結(jié)束指令；顯示測試結(jié)束步驟根據(jù)接收到的結(jié)束指令后顯示測試結(jié)束；發(fā)送顯示指令步驟發(fā)送一顯示指令；及顯示ID步驟顯示此時存儲的ID，同時發(fā)送一加一指令，并返回計數(shù)步驟。所述自動測試系統(tǒng)通過所述光敏傳感器來感測被啟動的LED是否發(fā)光，并在感測到所述LED發(fā)光后通過所述控制器控制發(fā)光的LED熄滅，當(dāng)檢測到發(fā)光的LED被熄滅，表明該LED是可以正常工作，若被啟動的LED未發(fā)光或發(fā)光的LED未被熄滅，則表明該LED不能正常工作，從而完成了對一個LED的測試。所述自動測試系統(tǒng)還通過所述計數(shù)模組對存儲于所述記錄模組內(nèi)的ID值加一，并通過所述判定模組判斷此時所述記錄模組內(nèi)所存儲的ID是否大于LED的數(shù)量，若大于LED數(shù)量，則表示此時所有的LED均被測試完畢，整個測試過程即得以完成；若不大于LED數(shù)量，則表示此時尚有LED未被測試，則繼續(xù)對下一個LED進(jìn)行測試，從而使所述自動測試系統(tǒng)實現(xiàn)了自動地依次對所述主板上的LED進(jìn)行測試。


下面結(jié)合附圖及較佳實施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述圖I是本發(fā)明自動測試系統(tǒng)的較佳實施方式的框圖。圖2A-2B是本發(fā)明自動測試方法的較佳實施方式的流程圖。
主要元件符號說明光敏傳感器10信號轉(zhuǎn)換器20控制器30記錄模組31讀取模組32控制模組33檢測模組34判定模組35計數(shù)模組36顯示器40自動測試系統(tǒng)100LED200如下具體實施方式
將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說明本發(fā)明。
具體實施例方式請參考圖1，本發(fā)明自動測試系統(tǒng)100用于自動檢測一主板上的LED(lightemitting diode，發(fā)光二極管)200是否可以正常工作。本發(fā)明自動測試系統(tǒng)100的較佳實施方式包括若干光敏傳感器10、一信號轉(zhuǎn)換器20、一控制器30及一顯不器40。每個光敏傳感器10分別設(shè)置在對應(yīng)的一個LED 200的一側(cè)以感測對應(yīng)的LED 200是否發(fā)光，并在感測到相應(yīng)的LED 200發(fā)光后輸出一電壓信號。所述信號轉(zhuǎn)換器20連接在所述光敏傳感器10與所述控制器30之間，以接收所述光敏傳感器10輸出的電壓信號，并將所述電壓信號轉(zhuǎn)換成脈沖信號后輸出至所述控制器30。所述控制器30還連接至每一 LED 200以點亮或熄滅所述LED 200。同時，所述控制器30還連接至每一光敏傳感器10及所述顯示器40。本實施方式中，所述LED 200的數(shù)量為M。所述控制器30包括一記錄模組31、一讀取模組32、一控制模組33、一檢測模組34、一判定模組35及一計數(shù)模組36。所述記錄模組31用于存儲第一個LED 200的ID (identity)。其中所述ID的初始值為“I”。所述控制模組33用于發(fā)送一讀取指令至所述讀取模組32。所述讀取模組32用于在接收到所述讀取指令后從所述記錄模組31內(nèi)讀取ID，并將讀取到的ID傳輸至所述控制模組33。所述控制模組33還用于根據(jù)讀取到的ID來啟動相應(yīng)的LED 200，并輸出一第一檢測指令至所述檢測模組34。
所述檢測模組34用于在接收到所述第一檢測指令后檢測所述信號轉(zhuǎn)換器20的輸出端是否有高電平信號輸出，若所述信號轉(zhuǎn)換器20的輸出端有高電平信號輸出，表明具有對應(yīng)ID的LED 200可以正常被點亮，則所述檢測模組34輸出一熄滅指令至所述控制模組33。若所述信號轉(zhuǎn)換器20未有高電平信號輸出，表明具有對應(yīng)ID的LED 200不能被點亮，即所述LED 200不能正常工作，則所述檢測模組34輸出一顯示指令至所述控制模組33。其中，所述控制模組33還用于在收到所述熄滅指令后熄滅被點亮的LED 200，并輸出一第二檢測指令至所述檢測模組34，同 時還在接收到所述顯示指令后控制所述顯示器40顯示此次讀取的ID以表明對應(yīng)此次讀取的ID的LED 200不能正常工作。所述檢測模組34還用于在接收到所述第二檢測指令后檢測所述信號轉(zhuǎn)換器20的輸出端是否有低電平信號輸出。若所述信號轉(zhuǎn)換器20的輸出端有低電平信號輸出，表明對應(yīng)ID的LED 200可以正常被熄滅，即所述LED 200可正常工作。若所述信號轉(zhuǎn)換器20的輸出端未有低電平信號輸出時，表明所述LED 200不能被熄滅，即所述LED 200不能正常工作，則所述檢測模組34發(fā)送顯示指令至所述控制模組33。根據(jù)上面的描述可以得知，當(dāng)所述控制模組33輸出第一檢測指令后所述信號轉(zhuǎn)換器20的輸出端沒有高電平信號輸出，或當(dāng)所述控制模組33輸出第二檢測指令后信號所述轉(zhuǎn)換器20的輸出端沒有低電平信號輸出時，則表示該LED 200不能正常工作；當(dāng)所述控制模組33輸出第一檢測指令后所述信號轉(zhuǎn)換器20的輸出端有高電平輸出且當(dāng)所述控制模組33輸出第二檢測指令后所述信號轉(zhuǎn)換器20的輸出端有低電平信號輸出時,貝U表不該LED200能正常工作。此時，對一個LED 200的測試即已完成。之后，所述計數(shù)模組36對存儲于所述記錄模組31內(nèi)的ID值加一，并將加一之后得到的值替換原存儲的ID值。所述判定模組35則用于判斷此時所述記錄模組31內(nèi)所存儲的ID是否大于M，若所述記錄模組31內(nèi)存儲的ID大于M，則表示此時所有的LED 200均被測試完畢，整個測試過程即得以完成。若所述記錄模組31內(nèi)存儲的ID不大于M，則表示此時尚有LED 200未被測試，則繼續(xù)對下一個LED 200進(jìn)行測試，其測試過程與對第一個LED的測試過程完全相同。請繼續(xù)參考圖2A及2B，本發(fā)明自動檢測方法用于檢測所述主板上的LED 200是否正常工作。所述自動檢測方法較佳實施方式包括以下步驟。SI :控制模組33發(fā)送一讀取指令給讀取模組32。S2 :讀取模組32從記錄模組31中讀取ID值，并將讀取到的ID值傳輸至控制模組33，其中記錄模組31中所存儲的ID值的初始值為“I”。S3 :所述控制模組33根據(jù)讀取到的ID來啟動相應(yīng)的LED 200，并輸出一第一檢測指令至所述檢測模組34。S4 :所述檢測模組34檢測所述信號轉(zhuǎn)換器20的輸出端是否有高電平信號輸出。若有高電平信號輸出，則表示具有對應(yīng)ID的LED 200能被點亮，并執(zhí)行S5，若沒有高電平信號輸出，則表示具有對應(yīng)ID的LED 200不能被點亮，并執(zhí)行S13。S5 :所述檢測模組34輸出一熄滅指令至控制模組33。S6 :所述控制模組33熄滅LED 200，并輸出所述第二檢測指令至所述檢測模組34。S7 :所述檢測模組34檢測所述信號轉(zhuǎn)換器20的輸出端是否有低電平信號輸出，若有低電平信號輸出，貝1J表不所述LED 200能被熄滅,執(zhí)行S8。若沒有低電平信號輸出，貝Ij表示所述LED 200不能被熄滅,并執(zhí)行S13。
S8 :所述檢測模組34發(fā)送一加一指令至所述計數(shù)模組36。S9 :所述計數(shù)模組36對存儲于所述記錄模組31內(nèi)的ID值加一。SlO :所述判定模組35判斷所述記錄模組31內(nèi)的ID是否大于M。若記錄模組31內(nèi)的ID大于M，則表示此時所有的LED 200均被測試完畢，并執(zhí)行步驟S10。若記錄模組31內(nèi)的ID不大于M，則表示此時尚有LED 200未被測試，則返回至步驟SI。Sll :所述判定模組35發(fā)送一結(jié)束指令至所述控制模組33。S12 :所述控制模組33控制所述顯示器40顯示測試結(jié)束。S13 :所述檢測模組34輸出一顯示指令至控制模組33。S14 :所述控制模組33控制所述顯示器40顯示此時存儲于所述記錄模組31內(nèi)的 ID,以提示用戶具有該ID的LED 200不能正常工作，同時發(fā)送一加一指令，并返回至步驟S9。所述自動測試系統(tǒng)100通過所述光敏傳感器10來感測被啟動的LED 200是否發(fā)光，并在感測到所述LED 200發(fā)光后通過所述控制器30控制發(fā)光的LED 200熄滅，當(dāng)檢測到發(fā)光的LED 200被熄滅，表明該LED 200是可以正常工作，若被啟動的LED 200未發(fā)光或發(fā)光的LED 200未被熄滅，則表明該LED 200不能正常工作，從而完成了對一個LED 200的測試。所述自動測試系統(tǒng)100還通過所述計數(shù)模組36對存儲于所述記錄模組31內(nèi)的ID值加一，并將加一之后得到的值替換原存儲的ID值，并通過所述判定模組35判斷此時所述記錄模組31內(nèi)所存儲的ID是否大于M,若大于M,則表示此時所有的LED 200均被測試完畢，整個測試過程即得以完成；若不大于M，則表示此時尚有LED 200未被測試，則繼續(xù)對下一個LED 200進(jìn)行測試，從而使所述自動測試系統(tǒng)100實現(xiàn)了自動對所述主板上的LED 200依次進(jìn)行測試。
權(quán)利要求
1.ー種自動測試系統(tǒng)，用于自動檢測ー主板上的LED是否可以正常工作，所述自動測試系統(tǒng)包括 ー記錄模組，用于記錄存儲第一個LED的ID ； ー控制模組，用于發(fā)送ー讀取指令； ー讀取模組，用于根據(jù)所述讀取指令來讀取ID，并將讀取到的ID輸出； ー控制模組，還用于根據(jù)讀取到的ID來啟動相應(yīng)的LED，并輸出一第一檢測指令； ー檢測模組，用于在接收到所述第一檢測指令后檢測一信號轉(zhuǎn)換器的輸出端是否有高電平信號輸出；其中，所述信號轉(zhuǎn)換器連接若干光敏傳感器、ー顯不器及姆ー LED,所述光敏傳感器分別設(shè)置在ー個LED的ー側(cè)，用于感測相應(yīng)的LED是否發(fā)光，并在感測到相應(yīng)的LED發(fā)光后輸出ー個電壓信號,所述信號轉(zhuǎn)換器用于接收所述光敏傳感器輸出的電壓信號，并將所述電壓信號轉(zhuǎn)換成ー脈沖信號后輸出； 所述檢測模組還用于在檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端有高電平信號輸出時輸出ー熄滅指令； 所述控制模組還用于在收到所述熄滅指令后熄滅被點亮的LED，并輸出一第二檢測指令， 所述檢測模組還用于在接收到所述第二檢測指令后檢測所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端是否有低電平信號輸出； 所述檢測模組還用于在檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端有低電平信號輸出時，發(fā)送一加一指令； ー計數(shù)模組，用于根據(jù)所述加一指令對存儲的ID加“I” ； 一判定模組，用于判定存儲的ID是否大于LED的個數(shù)； 所述判定模組還用于在判定到存儲的ID大于LED的個數(shù)吋，發(fā)送ー結(jié)束指令；并在判定到存儲的ID不大于LED的個數(shù)時，發(fā)送ー讀取指令； 所述控制模組還用于根據(jù)接收到的結(jié)束指令后控制ー顯示器顯示測試結(jié)束； 所述檢測模組還用于在檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端未有高電平信號輸出時，發(fā)送ー顯示指令；及 所述顯示器，用于顯示此時存儲的ID，同時發(fā)送一加一指令。
2.ー種自動測試方法，用于用于檢測ー主板上的LED是否正常工作，所述自動測試方法包括 發(fā)送讀取指令步驟發(fā)送ー讀取指令； 讀取ID步驟根據(jù)所述讀取指令來讀取ID值，并將讀取到的ID值輸出； 啟動LED步驟根據(jù)讀取到的ID來啟動相應(yīng)的LED，并輸出一第一檢測指令； 第一檢測步驟接收到所述第一檢測指令后檢測一信號轉(zhuǎn)換器的輸出端是否有高電平信號輸出，若檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端有高電平信號輸出，則執(zhí)行輸出熄滅指令步驟；若檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端未有高電平信號輸出，則執(zhí)行發(fā)送顯示指令步驟； 輸出熄滅指令步驟輸出ー熄滅指令； 熄滅LED步驟熄滅具有對應(yīng)ID的LED，并輸出一第二檢測指令； 第二檢測步驟接收到所述第二檢測指令后檢測所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端是否有低電平信號輸出，若檢測到所述信號轉(zhuǎn)換器的輸出端有低電平信號輸出，則執(zhí)行發(fā)送加一指令步驟；若檢測出所述信號轉(zhuǎn)換的輸出端未有低電平信號輸出時，則執(zhí)行發(fā)送顯示指令步驟； 發(fā)送加一指令步驟發(fā)送ー加一指令； 計數(shù)步驟根據(jù)所述加一指令來對存儲的ID加“I” ； 判定步驟判定存儲的ID是否大于LED的個數(shù)，若存儲的ID大于LED的個數(shù)吋，則執(zhí)行發(fā)送結(jié)束指令步驟；若存儲的ID不大于LED的個數(shù)，則執(zhí)行發(fā)送讀取指令步驟； 發(fā)送結(jié)束指令步驟發(fā)送ー結(jié)束指令； 顯示測試結(jié)束步驟根據(jù)接收到的結(jié)束指令后顯示測試結(jié)束； 發(fā)送顯示指令步驟發(fā)送ー顯示指令；及 顯示ID步驟顯示此時存儲的ID，同時發(fā)送一加一指令，并返回計數(shù)步驟。
全文摘要
一種自動測試系統(tǒng)通過光敏傳感器來感測被啟動的LED是否發(fā)光，并在感測到所述LED發(fā)光后通過控制發(fā)光的LED熄滅，當(dāng)檢測到發(fā)光的LED被熄滅，表明該LED是可以正常工作，若被啟動的LED未發(fā)光或發(fā)光的LED未被熄滅，則表明該LED不能正常工作，從而完成了對一個LED的測試，所述自動測試系統(tǒng)還對存儲的ID值加一，并判斷此時存儲的ID是否大于LED的數(shù)量，若大于，則表示此時所有的LED均被測試完畢，整個測試過程完成；若不大于，則表示此時尚有LED未被測試，則繼續(xù)對下一個LED進(jìn)行測試，從而使所述自動測試系統(tǒng)實現(xiàn)了自動地依次對所述主板上的LED進(jìn)行測試。本發(fā)明還提供了一種自動測試方法。
文檔編號G01R31/44GK102759719SQ20111011053
公開日2012年10月31日 申請日期2011年4月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月29日
發(fā)明者林樂, 陳軍民 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司