1.一種晶體參考面加工用X射線定向夾具，其特征在于，包括：
可控傾斜臺，具有一支撐面，該支撐面相對水平面的傾斜角度可調(diào)；
夾具組件，安裝于所述可控傾斜臺上，對晶體進行支撐和固定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體參考面加工用X射線定向夾具，其特征在于：所述夾具組件包括：
夾具底板，固定于所述支撐面上；
夾具頂板，與所述夾具底板上下設(shè)置，該夾具頂板與夾具底板之間可拆卸固定，所述夾具頂板和夾具底板之間形成一晶體固定槽，所述夾具頂板上開設(shè)有與所述晶體固定槽連通的開口，該開口的大小滿足：晶體固定后其參考面位于所述夾具頂板的上方。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體參考面加工用X射線定向夾具，其特征在于：所述可控傾斜臺包括上下間隔設(shè)置的上支撐板和下支撐板，所述上支撐板和下支撐板之間設(shè)置有萬向球，所述上支撐板相對所述下支撐板傾角可變。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶體參考面加工用X射線定向夾具，其特征在于：所述上支撐板和下支撐板之間連接有第一調(diào)節(jié)螺釘和第二調(diào)節(jié)螺釘，轉(zhuǎn)動該第一調(diào)節(jié)螺釘以調(diào)節(jié)上支撐板沿平行晶體固定槽延伸方向轉(zhuǎn)動，轉(zhuǎn)動第二調(diào)節(jié)螺釘以調(diào)節(jié)上支撐板沿垂直晶體固定槽延伸方向轉(zhuǎn)動。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶體參考面加工用X射線定向夾具，其特征在于：所述上支撐板和下支撐板之間連接有至少一個鎖定螺釘，該鎖定螺釘鎖緊以實現(xiàn)上支撐板和下支撐板相對位置的固定。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶體參考面加工用X射線定向夾具，其特征在于：所述夾具底板的上表面形成有對晶體進行支撐的第一V形凹槽。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的晶體參考面加工用X射線定向夾具，其特征在于：所述第一V形凹槽的支撐面上設(shè)有墊片，該墊片的硬度小于所述第一V形凹槽的支撐面材料以及晶體材料的硬度。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或6所述的晶體參考面加工用X射線定向夾具，其特征在于：所述夾具頂板的下表面形成有對晶體頂面進行限位的第二V形凹槽。
9.基于權(quán)利要求1至9任一所述的晶體參考面加工用X射線定向夾具的晶體參考面定向方法，其特征在于，包括步驟：
s1、將晶體支撐于夾具底板上；
s2、將X射線入射在晶體上，并通過探測器對反射的X射線進行探測；
s3、粗調(diào)：轉(zhuǎn)動晶體，并通過探測器獲取所需晶體參考面；
s4、將夾具頂板固定于夾具底板上方，并將晶體相對固定于晶體固定槽內(nèi)；
s5、細調(diào)：改變可控傾斜臺支撐面的傾斜角度，通過探測器進一步修正晶體參考面位置，獲取標(biāo)準(zhǔn)晶體參考面。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的晶體參考面加工用X射線定向夾具的晶體參考面定位方法，其特征在于：還包括步驟：
s6、轉(zhuǎn)動鎖定螺釘，實現(xiàn)上支撐板和下支撐板相對位置的固定。