高溫條件下永磁材料電阻率的測量裝置與測量方法
【技術(shù)領(lǐng)域】：
[0001] 本發(fā)明設(shè)及一種高溫條件下永磁材料電阻率的測量裝置與測量方法。
【背景技術(shù)】：
[0002] 永磁材料的發(fā)展與電子信息、航空航天等領(lǐng)域密切相關(guān)，具有極高的戰(zhàn)略意義，其 中作為執(zhí)行和功能部件的永磁電機在近幾十年更是得到了極大的發(fā)展，并且也越來越多的 應(yīng)用在不同的工作場合中，例如高溫情況，因此對工作在不同場合的永磁電機的性能進行 準確的分析，就變的極為重要。其中作為永磁電機勵磁元件的永磁體在不同工況下的性能 參數(shù)對設(shè)計人員就顯得尤為重要。運其中包括高溫條件下永磁材料的電阻率?，F(xiàn)在通行的 方法均是采用常溫情況下的永磁材料的電阻率，通過實驗分析發(fā)現(xiàn)，運種方法存在很嚴重 的誤差。由于永磁材料自身的限制使得其對與測量設(shè)備和測量方法具有很嚴苛的要求，運 些原因均增大了高溫情況下永磁材料電阻率的測量難度，運也使得高溫條件下對永磁材料 電阻率的測量至今仍缺少有效的測量方法，為此，有必要提供有一種適合高溫條件下測量 永磁材料電阻率的測量裝置與測量方法。

【發(fā)明內(nèi)容】
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[0003] 本發(fā)明的目的是提供一種在高溫條件下永磁材料電阻率的測量裝置與測量方法， 既適用于永磁體試樣未充磁情況下的電阻率隨溫度的變化情況，也適用于永磁體飽和充磁 后的電阻率隨溫度的變化情況。
[0004] 上述的目的通過W下的技術(shù)方案實現(xiàn)：
[0005] 一種高溫條件下永磁材料電阻率的測量裝置，圓柱形接觸頭2、螺栓13、絕緣框架 4、右側(cè)標尺5、左側(cè)標尺6、滑動塊17、滑動塊118、滑動塊1119、滑動塊IV10、錐形接觸螺栓 111、錐形接觸螺栓1112、錐形接觸螺栓11113、錐形接觸螺栓IV14,所述的絕緣框架4的頂 端與底端均開有框架通孔15,所述的框架通孔15內(nèi)裝入所述的螺栓13,所述的螺栓13裝 入圓柱形接觸頭2的螺紋盲孔內(nèi)，所述的絕緣框架4的左側(cè)連接左側(cè)標尺7,所述的絕緣框 架4的右側(cè)連接右側(cè)標尺5,所述的絕緣框架4的左側(cè)開有左側(cè)滑動導(dǎo)槽16,所述的絕緣框 架4的右側(cè)開有右側(cè)滑動導(dǎo)槽17,所述的左側(cè)滑動導(dǎo)槽16內(nèi)裝入滑動塊17與滑動塊1119， 所述的右側(cè)滑動導(dǎo)槽17內(nèi)裝入滑動塊II8與滑動塊IV10,所述的滑動塊17、滑動塊118、滑 動塊III9與滑動塊IV10均開有橫向的螺紋通孔，所述的滑動塊17的螺紋通孔內(nèi)裝入可橫 向移動的所述的錐形接觸螺栓111，所述的滑動塊II8的螺紋通孔內(nèi)裝入可橫向移動的所 述的錐形接觸螺栓1112,所述的滑動塊III9的螺紋通孔內(nèi)裝入可橫向移動的所述的錐形 接觸螺栓11113,所述的滑動塊IV10的螺紋通孔內(nèi)裝入可橫向移動的所述的錐形接觸螺栓 IV14 ;所述的左側(cè)滑動導(dǎo)槽16及所述的右側(cè)滑動導(dǎo)槽17的寬度均與固定螺栓18的栓桿無 螺紋的直徑相等；所述的錐形接觸螺栓111、所述的錐形接觸螺栓11113、所述的錐形接觸 螺栓1112及所述的錐形接觸螺栓IV14頭部均開有引線孔19,所述的引線孔19連接耐高 溫導(dǎo)線的一端，所述的耐高溫導(dǎo)線的另一端連接電阻測量儀的電流輸入輸出端與電壓檢測 JLjJU 乂而。
[0006] 所述的高溫條件下永磁材料電阻率的測量裝置，所述的滑動塊17及滑動塊III9 分別開有盲孔，所述的盲孔內(nèi)裝入穿過金屬墊片20的固定螺栓18。
[0007] 所述的高溫條件下永磁材料電阻率的測量裝置，所述的錐形接觸螺栓111和所述 的錐形接觸螺栓III13的長度相等；所述的觸頭螺栓1112、和所述的錐形接觸螺栓IV14的 長度相等；所述的錐形接觸螺栓111的長度大于所述的錐形接觸螺栓1112的長度加上圓形 接觸頭2直徑的總和；所述的錐形接觸螺栓111與所述的錐形接觸螺栓III13均在所述的 右側(cè)標尺5的上表面處，所述的觸頭螺栓1112與所述的觸頭螺栓IV14均在所述的右側(cè)標 尺6的上表面處。
[0008] 所述的高溫條件下永磁材料電阻率的測量裝置，所述的滑動塊17、所述的滑動塊 118、所述的滑動塊III9及所述的滑動塊IV10均需要在垂直方向開有滑塊厚度2/3長的 螺紋盲孔，所述的垂直方向的螺紋盲孔和所述的橫向方向的螺紋通孔處在非同一垂直方向 上。
[0009] 所述的高溫條件下永磁材料電阻率的測量裝置，所述的圓柱形接觸頭2的中屯、平 面與所述的絕緣框架4的上表面處于同一個平面內(nèi)。
[0010] 一種利用權(quán)利要求1所述的測量裝置實現(xiàn)高溫條件下永磁材料電阻率的測量方 法，所述方法包括如下步驟：
[0011] 步驟一：固定條形永磁鐵試樣1;
[0012] 在將條形永磁鐵試樣1固定到測量裝置前，將錐形接觸螺栓111和錐形接觸螺栓 III13旋松，錐形接觸螺栓1112和錐形接觸螺栓IV14向著試樣方向旋緊，然后先將條形永 磁鐵試樣1的頂端或底端與兩個縱向固定件的其中一個縱向固定件接觸，所述兩個縱向固 定件均由所述測量裝置中的帶有螺紋盲孔的圓柱形接觸頭2與螺栓13組成，再將條形永磁 鐵試樣1與錐形接觸螺栓1112和錐形接觸螺栓IV14完全接觸，然后移動兩個縱向固定件 的另外一個縱向固定件，完成條形永磁鐵試樣1的縱向位置固定；最后移動錐形接觸螺栓 111和錐形接觸螺栓III13與條形永磁鐵試樣1相接觸，并分別通過固定螺栓固定滑動塊 17、滑動塊118、滑動塊III9及滑動塊IV10,完成條形永磁鐵試樣1的縱向位置固定；
[0013] 步驟二：測量條形永磁鐵試樣1的電阻率；
[0014] 條形永磁鐵試樣1完全固定好后，通過電阻測量儀讀取條形永磁鐵試樣1的電阻 R，然后利用公式一： RS ,
[0015] F二 ^ 公式一 毛：
[0016] 計算出試樣的電阻率P，S為條形永磁鐵試樣1的橫截面的面積，L為電壓檢測端 之間的距離；
[0017] 步驟=:測量條形永磁鐵試樣1在不同溫度下的電阻率；
[0018] 為了測量不同溫度下條形永磁體試樣1的電阻率，將固定好條形永磁體試樣1的 測量裝置置于高溫爐中，然后測量不同溫度下條形永磁鐵試樣1的阻值R，并利用公式一計 算條形永磁體試樣1的電阻率。
[0019] 步驟四：測量條形永磁鐵試樣1在某一溫度下的電阻率；
[0020] 先定義所述的錐形接觸螺栓111與條形永磁鐵試樣1接觸測試的點為A點，所 述的錐形接觸螺栓1112與條形永磁鐵試樣1接觸測試的點為B點，所述的錐形接觸螺栓III13與條形永磁鐵試樣1接觸測試的點為C點，所述的錐形接觸螺栓IV14與條形永磁鐵 試樣1接觸測試的點為D點；在某一溫度下，將A點、B點、C點、D點接到電阻測量儀引線的 不同位置，之后，測量條形永磁體試樣的電阻值，并計算其電阻率P。
[0021] 所述的高溫條件下永磁材料電阻率的測量方法，步驟四中，所述在某一溫度下，將 A點、B點、C點、D點接到電阻測量儀引線的不同位置的具體接線位置如下： 陽02引 1)當A點為電流輸入端，C點為電流輸出端，B點為高電壓檢測端，D點為低電壓 檢測端時，條形永磁體試樣的電阻值可直接從電阻測量儀上讀取，記為Ri;
[0023] 2)當B點為電流輸入端，A點為高電壓檢測端，C點為電流輸出端，D點為低電壓 檢測端時，條形永磁體試樣的電阻值可直接從電阻測量儀上讀取，記為R2;
[0024] 3)將與A點、B點、C點與D點相對應(yīng)的電阻測量儀互換，即當C點為電流輸入端， A點為電流輸出端，D點為高電壓檢測端，B點為低電壓檢測端時，條形永磁體試樣的電阻值 可直接從電阻測量儀上讀取，記為R3;
[0025] 4)調(diào)換A點、B點、C點與D點相對應(yīng)的電阻測量儀，即當D點為電流輸入端，A點 為電流輸出端，C點為高電壓檢測端，B點為低電壓檢測端時，條形永磁體試樣的電阻值可 直接從電阻測量儀上讀取，記為R4;
[0026] 5)條形永磁體試樣1的電阻值R為
[0027] R=巧i+R2+R3+R4)/4
[002引 6)利用P^裝^，S=bXd計算此溫度下條形永磁體試樣的電阻率P;S為條形 永磁鐵試樣1的橫截面的面積，L為電壓檢測端之間的距離，b為條形永磁鐵試樣1的寬度，d為條形永磁鐵試樣1的厚度。
【附圖說明】：
[0029] 附圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。