1.一種測(cè)量裝置，其特征在于，所述測(cè)量裝置包括顯微鏡(1)及刻度尺(2)，所述顯微鏡(1)的物鏡(11)上具有多條第一刻度線(12)，所述刻度尺(2)具有多條第二刻度線(21)，所述顯微鏡(1)和所述刻度尺(2)設(shè)置為所述第一刻度線(12)能夠與所述第二刻度線(21)配合進(jìn)行測(cè)量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量裝置，其特征在于，所述測(cè)量裝置還包括支架(3)，所述顯微鏡(1)安裝在所述支架(3)上且能相對(duì)所述支架(3)進(jìn)行高度調(diào)節(jié)，所述刻度尺(2)相對(duì)所述支架(3)固定。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)量裝置，其特征在于，所述顯微鏡(1)設(shè)置為所述物鏡(11)的軸線垂直于所述刻度尺(2)的長(zhǎng)度方向。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)量裝置，其特征在于，所述支架(3)包括底座(31)及所述底座(31)上設(shè)置的滑桿(32)，所述顯微鏡(1)安裝在所述滑桿(32)上并能夠沿所述滑桿(32)上下滑動(dòng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)量裝置，其特征在于，與所述滑桿(32)連接有用于旋轉(zhuǎn)以使得所述顯微鏡(1)在所述滑桿(32)上滑動(dòng)并能夠?qū)⑺鲲@微鏡(1)固定在所述滑桿(32)上的控制旋鈕(33)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)量裝置，其特征在于，所述滑桿(32)垂直于所述底座(31)的底面。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)量裝置，其特征在于，所述刻度尺(2)垂直于所述底座(31)的底面。
8.一種基板玻璃垂度測(cè)量設(shè)備，其特征在于，包括有根據(jù)權(quán)利要求1-7中任意一項(xiàng)所述的測(cè)量裝置。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基板玻璃垂度測(cè)量設(shè)備，其特征在于，所述基板玻璃垂度測(cè)量設(shè)備還包括測(cè)量平臺(tái)(6)，所述測(cè)量平臺(tái)(6)上設(shè)置有所述測(cè)量裝置以及用于支撐基板玻璃的玻璃支架(5)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基板玻璃垂度測(cè)量設(shè)備，其特征在于，所述刻度尺(2)的長(zhǎng)度方向垂直于所述測(cè)量平臺(tái)(6)的上平面。