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一種用于掃描探針顯微鏡的探針夾持裝置的制作方法

文檔序號:11275052閱讀:561來源:國知局
一種用于掃描探針顯微鏡的探針夾持裝置的制造方法

本發(fā)明涉及微/納尺度下信號檢測領(lǐng)域,尤其是涉及一種用于掃描探針顯微鏡的探針夾持裝置。



背景技術(shù):

隨著電子器件朝著小型化、微型化方向發(fā)展,其發(fā)熱與散熱問題已經(jīng)成為制約其穩(wěn)定性與集成度的一個(gè)重要瓶頸問題。在微/納尺度下,材料的熱學(xué)行為往往會(huì)表現(xiàn)出強(qiáng)烈的尺度效應(yīng),材料的微觀結(jié)構(gòu)以及疇結(jié)構(gòu)(包括磁疇結(jié)構(gòu)、鐵電/壓電疇結(jié)構(gòu)、導(dǎo)電疇結(jié)構(gòu)等)對其熱力學(xué)性質(zhì)的影響尤為重要。在微/納尺度下表征材料與熱相關(guān)的物性,理解其發(fā)熱與散熱的物理過程已經(jīng)成為現(xiàn)代熱科學(xué)中的一個(gè)嶄新的分支—微/納尺度熱科學(xué)。以磁性材料為例,在外場驅(qū)動(dòng)下其磁疇的翻轉(zhuǎn)會(huì)產(chǎn)生微區(qū)發(fā)熱,如果能夠在微區(qū)內(nèi)同步、原位、實(shí)時(shí)地對磁性、溫度/熱導(dǎo)等物理參量進(jìn)行二維成像,就可以在微觀層面上實(shí)時(shí)觀察材料的發(fā)熱與散熱途徑、材料結(jié)構(gòu)與磁性之間的關(guān)聯(lián),對于理解磁性材料的微區(qū)發(fā)熱與散熱的物理機(jī)制,降低磁電微/納器件的功耗、提高穩(wěn)定性具有非常重要的意義。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明提出一種用于掃描探針顯微鏡的探針夾持裝置,該探針夾持裝置能夠?yàn)樘结樚峁┱裨?,有利于磁疇結(jié)構(gòu)的高分辨探測,并且能夠與探針形成熱學(xué)回路,有利于探測溫度/熱導(dǎo)信號,從而能在微區(qū)內(nèi)對磁性、溫度/熱導(dǎo)等物理參量進(jìn)行原位、實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)表征的二維成像,以滿足當(dāng)前微/納尺度下熱科學(xué)與磁性納米復(fù)合熱電材料的表征需求。

本發(fā)明的技術(shù)方案如下:

一種用于掃描探針顯微鏡的探針夾持裝置,探針通過所述的探針夾持裝置固定在掃描器上,掃描器帶動(dòng)探針產(chǎn)生與樣品之間的相對位移,所述的探針具有磁性、導(dǎo)電性與導(dǎo)熱性,用于探測磁、電、熱信號;

所述的探針夾持裝置包括電路主板、壓電陶瓷片、探針定位塊,以及用于將探針固定在探針定位塊上的夾具;

所述的壓電陶瓷片位于電路主板上,二者間電絕緣接觸;探針定位塊位于壓電陶片上,二者間電絕緣接觸;掃描器與電路主板之間電連接,掃描器與探針定位塊之間電連接;激勵(lì)信號源一的正負(fù)極通過電路主板的兩條電引線與壓電陶瓷片的上、下表面形成電回路,用于激勵(lì)壓電陶瓷片產(chǎn)生振源傳遞至探針;

所述夾具包括與探針相接觸的夾片;激勵(lì)信號源二的正負(fù)極通過夾片上的兩條電引線與探針形成熱學(xué)回路,即,激勵(lì)信號源二激勵(lì)電信號流經(jīng)探針上、下表面,探針與樣品接觸時(shí)進(jìn)行熱交換,使熱學(xué)回路中的電信號發(fā)生變化,經(jīng)采集分析得到樣品的熱信號。

作為一種實(shí)現(xiàn)方式,掃描器通過插針、插孔的插合方式與電路主板實(shí)現(xiàn)電連接。

作為一種實(shí)現(xiàn)方式,夾片與探針相接觸的表面的兩條電引線分別連接探針的上、下表面,形成熱學(xué)回路。

作為一種實(shí)現(xiàn)方式,所述的激勵(lì)信號源一集成在掃描器上。作為優(yōu)選,所述的電路主板包括兩個(gè)過孔焊盤,一個(gè)過孔與其焊點(diǎn)由信號線實(shí)現(xiàn)與壓電陶瓷片上表面的電連接,另一個(gè)過孔與其焊點(diǎn)由信號線實(shí)現(xiàn)與壓電陶瓷片下表面的電連接。作為優(yōu)選,過孔中的插孔為兩個(gè)冠簧插孔。

作為一種實(shí)現(xiàn)方式,所述的激勵(lì)信號源二集成在掃描器上。作為優(yōu)選,所述的電路主板還包括一個(gè)過孔焊盤,該過孔與其焊點(diǎn)由信號線實(shí)現(xiàn)與夾片上的兩條電引線的電連接。

作為優(yōu)選,所述的電路主板設(shè)置第一凹槽,壓電陶瓷片固定于該第一凹槽內(nèi)。

作為優(yōu)選,壓電陶瓷片的上、下表面分別連接陶瓷絕緣層。

作為優(yōu)選,探針定位塊設(shè)置第二凹槽,用于放置探針。

作為優(yōu)選,第二凹槽與水平面形成一定夾角,有利于探針固定在探針定位塊,防止其下滑等,該夾角進(jìn)一步優(yōu)選約為10°。

作為優(yōu)選,所述的夾具為彈性夾具。作為一種實(shí)現(xiàn)方式,彈性夾具包括夾片、彈簧、以及連接件;夾片通過連接件可活動(dòng)地連接在電路主板上,彈簧位于夾片一端與電路主板之間,彈簧提供彈力,使夾片另一端夾住探針,使其固定在探針定位塊上。

作為優(yōu)選,電路主板設(shè)置第三凹槽,第三凹槽中放置彈簧。

作為優(yōu)選,所述的連接件包括夾片上的固定孔、螺絲,以及電路主板上的螺孔,螺絲穿過固定孔后與螺孔進(jìn)行螺紋連接,所述夾片可相對電路主板進(jìn)行前推或者后拉。向下按壓夾片一端,彈簧壓縮,并前推該夾片,使其另一端與探針接觸,然后釋放夾片一端,彈簧提供彈力,使夾片前端壓緊探針;反之,向下按壓夾片一端,并后拉該夾片,使其另一端離開探針,探針得到釋放。

作為優(yōu)選,夾片的另一端有個(gè)彎角結(jié)構(gòu),用于加強(qiáng)對探針的壓緊。作為一種實(shí)現(xiàn)方式,所述的彎角結(jié)構(gòu)由夾片的另一端向上彎折后再向下、向內(nèi)彎折而形成。向上彎折的彎折部與夾片本體的夾角優(yōu)選為為10°至30°,向下彎折的彎折部優(yōu)選與夾片本體平行,向內(nèi)彎折的彎折部優(yōu)選與夾片本體垂直。與該彎角結(jié)構(gòu)相配,探針定位塊優(yōu)選設(shè)置探針定位槽,當(dāng)彎角結(jié)構(gòu)離開探針,探針得到釋放時(shí),該彎角結(jié)構(gòu)落入該探針定位槽中。

本發(fā)明利用電路主板、壓電陶瓷片、夾片、探針定位塊等簡單零件構(gòu)成探針夾持裝置,利用該探針夾持裝置將探針固定在掃描器上,并可通過壓電陶瓷片為探針提供驅(qū)動(dòng)振源,有利于通過抬高模式高分辨測量磁疇結(jié)構(gòu),并且能夠與探針形成熱學(xué)回路,有利于探測溫度/熱導(dǎo)信號,解決了常規(guī)磁性測量夾具沒有熱電測量電路,不能檢測熱信號,以及常規(guī)熱測量夾具磁信號測量分辨率差的問題,從而能在微區(qū)內(nèi)對磁性、溫度/熱導(dǎo)等物理參量進(jìn)行原位、實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)表征的二維成像,以滿足當(dāng)前微/納尺度下熱科學(xué)與磁性納米復(fù)合熱電材料的表征需求。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的立體圖;

圖2為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的俯視圖;

圖3為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的主視圖;

圖4為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的左視圖;

圖5為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的電路主板結(jié)構(gòu)圖;

圖6是圖5反面的主板印刷電路圖;

圖7為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的探針定位塊的立體圖;

圖8為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的探針定位塊的主視圖;

圖9為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的探針定位塊的俯視圖;

圖10為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的探針定位塊的左視圖;

圖11為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的夾片的側(cè)面放大視圖;

圖12為本發(fā)明實(shí)施例中探針夾持裝置的夾片的俯視圖。

其中,電路主板1,冠簧插孔2,探針定位塊3,壓電陶瓷片4,陶瓷絕緣層5,螺絲6,彈簧7,夾片8,第一凹槽9,螺孔10,第三凹槽11,第二凹槽12,探針定位槽13,信號電纜14,固定孔15,限位片16,外接引線17。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的內(nèi)容更加清楚易懂,以下結(jié)合附圖,對本發(fā)明的內(nèi)容作進(jìn)一步說明。當(dāng)然本發(fā)明并不局限于該具體實(shí)施例,本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員所熟知的一般替換也涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。

本實(shí)施例中,掃描型顯微鏡包括掃描器、探針,以及將探針固定在掃描器上的探針夾持裝置。探針具有磁性、導(dǎo)電性與導(dǎo)熱性。

探針夾持裝置的結(jié)構(gòu)示意圖如圖1~4所示。探針夾具包括電路主板1、探針定位塊3、壓電陶瓷片4以及用于將探針固定在探針定位塊3上的夾具。

電路主板1的結(jié)構(gòu)如圖5所示,其中第一凹槽9用于安裝壓電陶瓷片4,壓電陶瓷片4的上、下表面分別連接陶瓷絕緣層5。第三凹槽11呈圓形,用于放置彈簧7。

夾具為彈性夾具,包括彈簧7、夾片8以及螺絲6。

如圖11、12所示,夾片8中部設(shè)有固定孔15,夾片8兩側(cè)設(shè)置限位片16。螺絲6穿過固定孔15與電路主板1上的螺孔10相螺紋連接,使夾片8可活動(dòng)地連接到電路主板1上,即夾片8可相對電路主板1進(jìn)行前推或者后拉。

夾片8的前端有個(gè)彎角結(jié)構(gòu),即一端向上彎折后再向下、向內(nèi)彎折,向上彎折的彎折部與夾片8本體的夾角約為10°,向下彎折的彎折部與夾片8本體的平行,向內(nèi)彎折的彎折部與夾片8本體垂直。夾片8下表面印有兩條電路,分別連接磁-電探針的上、下表面,用以傳導(dǎo)磁-電聯(lián)用探針獲取的熱電信號,電路通過外接引線接入信號放大系統(tǒng),用以輸出磁電聯(lián)用探針的電信號,并且可以通過信號線接入掃描型顯微鏡系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)信號的及時(shí)采集、處理。

探針定位塊3的結(jié)構(gòu)如圖7~10所示,是一個(gè)具有第二凹槽12的近似長方體。壓電陶瓷片4參考尺寸可以采用長寬高為4mm×3.5mm×1mm,其它尺寸也可;相對于壓電陶瓷片4的尺寸,探針定位塊3采用長寬高為3.5mm×3mm×2mm,其它尺寸也可;第二凹槽12與定位塊3上表面之間的夾角約為10°,用于放置、固定探針。與夾片8結(jié)構(gòu)相配,探針定位塊3還設(shè)置探針定位槽13。工作狀態(tài)時(shí),向下按壓夾片8的后端使彈簧7壓縮,夾片8的前端抬起,并前推夾片8,使其前端的彎角結(jié)構(gòu)與探針接觸,然后釋放夾片8后端,彈簧7提供彈力,使夾片8前端的彎角結(jié)構(gòu)壓緊探針;反之,向下按壓夾片8后端使彈簧7壓縮,夾片8的前端抬起,并后拉夾片8,使其前端的彎角結(jié)構(gòu)落入探針定位槽13中,即,該彎角結(jié)構(gòu)離開探針,探針得到釋放。

掃描器集成激勵(lì)信號源一與激勵(lì)信號源二的功能,探針定位塊3與探針電連接。電路主板1的具體印刷電路如圖6所示,四個(gè)冠簧插孔2焊接于電路主板1的a、b、c、d過孔焊盤上,用于實(shí)現(xiàn)與掃描器導(dǎo)電插針的機(jī)械插拔,從而實(shí)現(xiàn)電連接。正極過孔c與焊點(diǎn)e由信號電纜實(shí)現(xiàn)與壓電陶瓷片4上表面的電連接,負(fù)極過孔d與焊點(diǎn)f由信號電纜實(shí)現(xiàn)與壓電陶瓷片4下表面的電連接。過孔b與焊點(diǎn)g由信號電纜實(shí)現(xiàn)與夾片8上的兩條信號電纜14的電連接。

工作狀態(tài)時(shí),探針放置在第二凹槽12中,測量電信號時(shí)探針與樣品接觸,樣品放置在樣品臺(tái)上從而接地;激勵(lì)信號源一的正、負(fù)極與壓電陶瓷片的上、下表面形成電回路,用于激勵(lì)壓電陶瓷片產(chǎn)生振源傳遞至探針,以此驅(qū)動(dòng)探針高頻振動(dòng)實(shí)現(xiàn)高分辨探測。激勵(lì)信號源二的正、負(fù)極通過夾片上的兩條信號電纜14與探針形成熱學(xué)回路,即,激勵(lì)信號源二激勵(lì)電信號流經(jīng)探針上、下表面,探針與樣品接觸時(shí)進(jìn)行熱交換,使熱學(xué)回路中的電信號發(fā)生變化,經(jīng)采集分析得到樣品的熱信號。

本掃描型顯微鏡用探針夾持裝置的使用方法:通過冠簧插孔2與掃描器上對應(yīng)插針的機(jī)械插拔實(shí)現(xiàn)探針夾持裝置與掃描器的連接固定與分離;裝卸探針時(shí),先把探針夾持裝置與掃描器分離,并通過下壓、向后拉夾片8與探針脫離,以便更換探針。

雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭示如上,然所述諸多實(shí)施例僅為了便于說明而舉例而已,并非用以限定本發(fā)明,本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下可作若干的更改與潤飾,本發(fā)明所主張的保護(hù)范圍應(yīng)以權(quán)利要求書所述為準(zhǔn)。

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