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一種低輻射鍍膜玻璃的制作方法

文檔序號(hào):11900518閱讀:來(lái)源:國(guó)知局

技術(shù)特征:

1.一種低輻射鍍膜玻璃,其特征在于:包括玻璃基板和連接在所述玻璃基板上的基層電介質(zhì)單元、功能單元、阻擋單元和中間電介質(zhì)單元,以及上層電介質(zhì)單元,所述基層電介質(zhì)單元包括連接在所述玻璃基板上的第一基層電介質(zhì)層和連接在所述第一基層電介質(zhì)層上的第二基層電介質(zhì)層,所述功能單元包括第一功能銀層和第二功能銀層,所述阻擋單元包括第一阻擋層、第二阻擋層和第三阻擋層,所述中間電介質(zhì)單元包括第一中間電介質(zhì)層和第二中間電介質(zhì)層,所述上層電介質(zhì)單元包括第一上層電介質(zhì)層和第二上層電介質(zhì)層,所述第一基層電介質(zhì)層、第二基層電介質(zhì)層、第一功能銀層、第一阻擋層、第一中間電介質(zhì)層、第二中間電介質(zhì)層、第二阻擋層、第二功能銀層、第三阻擋層、第一上層電介質(zhì)層和第二上層電介質(zhì)層從內(nèi)向外依次連接,于所述第二上層電介質(zhì)層外還連接有外層保護(hù)層。

2.如權(quán)利要求1所述的低輻射鍍膜玻璃,其特征在于:所述第一基層電介質(zhì)層為非金屬氧化物層或非金屬氮化物層,且所述第一基層電介質(zhì)層的厚度為30nm~50nm。

3.如權(quán)利要求1所述的低輻射鍍膜玻璃,其特征在于:所述第二基層電介質(zhì)層為金屬氧化物層,且所述第二基層電介質(zhì)層的厚度為5nm~20nm。

4.如權(quán)利要求1所述的低輻射鍍膜玻璃,其特征在于:所述第一功能銀層的厚度為5nm~15nm,且所述第二功能銀層的厚度為3nm~10nm。

5.如權(quán)利要求1所述的低輻射鍍膜玻璃,其特征在于:所述第一阻擋層、第二阻擋層和第三阻擋層均為鎳鉻層、氧化鎳鉻層或氮化鎳鉻層中的任意一種,且所述第一阻擋層、第二阻擋層和第三阻擋層的層厚均為1nm~5nm。

6.如權(quán)利要求1所述的低輻射鍍膜玻璃,其特征在于:所述第一中間電介質(zhì)層和第二中間電介質(zhì)層均為金屬氧化物層,且所述第一中間電介質(zhì)層的厚度為60nm~75nm。

7.如權(quán)利要求1所述的低輻射鍍膜玻璃,其特征在于:所述第一上層電介質(zhì)層為金屬氧化物層,且所述第一上層電介質(zhì)層的厚度為5nm~20nm。

8.如權(quán)利要求1所述的低輻射鍍膜玻璃,其特征在于:所述第二上層電介質(zhì)層為非金屬氮化物層,且所述第二上層電介質(zhì)層的厚度為25nm~30nm。

9.如權(quán)利要求1所述的低輻射鍍膜玻璃,其特征在于:所述外層保護(hù)層為非金屬氧化物層,且所述外層保護(hù)層的厚度為5nm~15nm。

10.如權(quán)利要求1所述的低輻射鍍膜玻璃,其特征在于:所述玻璃基板與所述基層電介質(zhì)單元經(jīng)濺射積沉連接在一起,所述基層電介質(zhì)單元與功能單元、阻擋單元和中間電介質(zhì)單元,以及上層電介質(zhì)單元之間相鄰的兩個(gè)膜層之間經(jīng)濺射積沉連接在一起。

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