技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明所述液晶顯示補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值測(cè)量方法，包括，模擬液晶顯示不同補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化；根據(jù)模擬的漏光變化選擇補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值作為基準(zhǔn)，獲取不同補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值與所述基準(zhǔn)補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值的比值倍數(shù)；通過比值倍數(shù)擬合出補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關(guān)系式；以已知補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補(bǔ)償膜作為基準(zhǔn)測(cè)量該液晶顯示補(bǔ)償膜的漏光值；測(cè)量待測(cè)補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補(bǔ)償膜的漏光值；獲取測(cè)量待測(cè)補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補(bǔ)償膜的漏光值與基準(zhǔn)測(cè)量該液晶顯示器的補(bǔ)償膜面的漏光值的漏光比值；把漏光比值帶入所述擬合出的補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關(guān)系中計(jì)算出待測(cè)液晶顯示補(bǔ)償膜面內(nèi)相位差值。

技術(shù)研發(fā)人員：海博
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市華星光電技術(shù)有限公司
文檔號(hào)碼：201611252035
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.29
技術(shù)公布日：2017.03.22