本發(fā)明涉及液晶顯示技術領域，尤其涉及一種液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值測量方法及裝置。

背景技術：

隨著液晶顯示器的觀察角度增大，畫面的對比度不斷降低，畫面的清晰度下降。這是液晶層中液晶分子的雙折射率隨觀察角度變化發(fā)生改變的結(jié)果，采用寬視角補償膜進行補償，可以有效降低暗態(tài)畫面的漏光，在一定視角內(nèi)能大幅度提高畫面的對比度。

補償膜具有面內(nèi)相位差值Ro和厚度方向的面外相位差值Rth，補償膜的Ro會影響到液晶面板的暗態(tài)漏光和品味，所以在顯示器制作過程中對補償膜的Ro量測是很有必要。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種測量簡單成本較低的液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值測量方法。

本發(fā)明還提供一種液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值測量裝置。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施方式提供如下技術方案：

所述液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值測量方法，包括，

模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化；

根據(jù)所述模擬的漏光變化選擇補償膜面內(nèi)相位差值作為基準，獲取不同補償膜面內(nèi)相位差值與所述基準補償膜面內(nèi)相位差值的比值倍數(shù)；

通過所述比值倍數(shù)擬合出補償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關系式；

以已知補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜作為基準測量該液晶顯示器的補償膜的漏光值；以及

測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值；

獲取測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值與基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值的漏光比值；

把所述漏光比值帶入所述擬合出的所述補償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關系中計算出待測液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值。

其中，所述模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化是在補償膜的光軸與液晶顯示器的偏光片的光軸呈45度角的條件下進行。

其中，所述步驟模擬液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化包括，兩個相鄰的不同面內(nèi)相位差值按照一定比例進行選取。

其中，步驟已知補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜作為基準測量該液晶顯示補償膜的漏光值；以及測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值，是選取同一背光。

其中，所述步驟模擬液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化包括，對低于液晶顯示補償膜使用標準范圍的補償膜面內(nèi)相位差值進行模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化。

其中，在模擬的補償膜面內(nèi)相位差值48nm時，擬合模擬面內(nèi)相位差值與亮度關系式為Y＝7.5553X³-34.003X²+68.327X+7.14，其中，X為獲取測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值與基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值的漏光比值；Y為需要測量待測補償膜面內(nèi)相位差值。

本發(fā)明所述的液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值測量裝置，包括，

模擬模塊，用于模擬液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化，以選取不同補償膜面內(nèi)相位差值作為基準；

第一獲取模塊，用于根據(jù)所述模擬的漏光變化選擇補償膜面內(nèi)相位差值作為基準，獲取不同補償膜面內(nèi)相位差值與所述基準補償膜面內(nèi)相位差值的比值倍數(shù)；

擬合模塊，用于根據(jù)所述比值倍數(shù)擬合出補償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關系式；

第一測量模塊，用于以已知補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜作為基準測量該液晶顯示器的補償膜的漏光值；

第二測量模塊，用于測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值；

第二獲取模塊，用于獲取測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值與基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值的漏光比值；

計算模塊，把所述漏光比值帶入所述擬合出的所述補償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關系中計算出待測液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值。

其中，通過LCD模擬仿真軟件模擬補償膜不同面內(nèi)相位差值的漏光變化。

其中，還包括測量旋轉(zhuǎn)臺，所述已知補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的基準邊以及測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的基準變均與所述旋轉(zhuǎn)臺基準邊對其，在旋轉(zhuǎn)臺45度角情況下通過所述第一測量模塊與所述第二測量模塊。

其中，所述第一測量模塊與所述第二測量模塊是在同一背光下進行測量。

本發(fā)明實施例具有如下優(yōu)點或有益效果：

本發(fā)明的補償膜不同面內(nèi)相位差值Ro的量測設備和量測方法。量測成本低，快捷，方便而準確。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值測量方法流程圖；

圖2是本發(fā)明液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值測量方法中模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化圖；

圖3是以圖2所述模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化關中R0＝12nm為基準的補償膜面內(nèi)相位差值與倍數(shù)關系圖；

圖4是以圖2所述模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化關中R0＝48nm為基準的補償膜面內(nèi)相位差值與倍數(shù)關系圖；

圖5是以圖2所述模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化關中R0＝84nm為基準的補償膜面內(nèi)相位差值與倍數(shù)關系圖；

圖6是以圖2所述模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化關中R0＝120nm為基準的補償膜面內(nèi)相位差值與倍數(shù)關系圖；

圖7是以圖2所述模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化關中R0＝180nm為基準的補償膜面內(nèi)相位差值與倍數(shù)關系圖；

圖8是本發(fā)明液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值測量方法中，根據(jù)常用標準R0值在R0小范圍內(nèi)模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化圖；

圖9是以圖8所述模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化關中R0＝48nm為基準的補償膜面內(nèi)相位差值與倍數(shù)關系圖；

圖10是本發(fā)明的液晶顯示器液晶量測裝置模塊圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明的一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸地連接，或者一體地連接；可以是機械連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領域的普通技術人員而言，可以具體情況理解上述術語在本發(fā)明中的具體含義。

請參閱圖1，本發(fā)明第一實施例提供所述液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值測量方法，包括，

參閱圖圖2，步驟S1，模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化；本步驟得到不同補償膜面內(nèi)相位差值與漏光(亮度)的關系曲線，其中橫坐標中補償膜面內(nèi)相位差值之間以按照一定比例進行選取模擬的；本實施例中，優(yōu)選的，該模擬步驟是在補償膜的光軸與液晶顯示器的偏光片的光軸呈45度角的條件下進行，以得到不同面內(nèi)相位差值對應的亮度值。在其它實施方式中，該模擬步驟是在補償膜的光軸與液晶顯示器的偏光片的光軸可以是其他夾角。

步驟S2，根據(jù)所述模擬的漏光變化選擇補償膜面內(nèi)相位差值作為基準，獲取不同補償膜面內(nèi)相位差值與所述基準補償膜面內(nèi)相位差值的比值倍數(shù)；參閱圖3，以面內(nèi)相位差值R0＝12nm為基準，確定比值倍數(shù)，如圖3橫坐標?？梢詤⒄請D2的橫坐標，在其它實施例中，面內(nèi)相位差值R0的值可以為24nm、48nm、84nm、120nm及180nm。

如圖3，步驟S3，通過所述比值倍數(shù)擬合出補償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關系式；本實施例以R0＝12nm為基準，擬合公式為Y＝0.00003561X³-0.01137048X²+1.95339053X+16.4。其中Y為補償膜面內(nèi)相位差值，X為比值倍數(shù)。

步驟S4，以已知補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜作為基準測量該液晶顯示補償膜的漏光值Lv1。

步驟S5，測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值Lv2。其中，步驟已知補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜作為基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值；以及測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值，是選取同一背光。

在步驟S4與步驟S5中使用測量設備包括旋轉(zhuǎn)臺、設有基準邊的載物臺及亮度測量儀，已知補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜與測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜分別放于基準邊的載物臺上并與基準邊對其，光線通過載物臺穿過所述補償膜后進入所述亮度測量儀。

步驟S6，獲取測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值與基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值的漏光比值；也就是Lv2與Lv1的比值。

步驟S7，把所述漏光比值帶入所述擬合出的所述補償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關系式中計算出待測液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值。關系式為所述的Y＝0.00003561X³-0.01137048X²+1.95339053X+16.4。

在本實施例步驟S2的基礎上，分別以面內(nèi)相位差值R0的值為48nm、84nm、120nm及180nm進行擬合得到補償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關系式。具體如下：

如圖4所示，當R0的值為48nm時，擬合得到的對應的補償膜面內(nèi)相位差值公式為：Y＝0.13405X³-2.75169X²+30.38781X+16.4。

如圖5所示，當R0的值為84nm時，擬合得到的對應的補償膜面內(nèi)相位差值公式為：Y＝3.3009X³-23.29X²+88.407X+16.4。

如圖6所示，當R0的值為120nm時，擬合得到的對應的補償膜面內(nèi)相位差值公式為：Y＝21.69366X³-81.71592X²+165.59725X+16.4。

如圖7所示，當R0的值為180nm時，擬合得到的對應的補償膜面內(nèi)相位差值公式為：Y＝134.831X³-276.235X²+304.466X+16.4。其中，其中Y為補償膜面內(nèi)相位差值，X為比值倍數(shù)。

請參閱圖8，進一步的，所述步驟模擬液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化包括，對低于液晶顯示補償膜使用標準范圍的補償膜面內(nèi)相位差值進行模擬液晶顯示不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化。常見的補償膜面內(nèi)相位差值一般在50nm，本方法中以50nm為參照對于小范圍內(nèi)的面內(nèi)相位差值的補償膜面內(nèi)相位差值進行測量。

請參閱圖9具體的，在模擬的補償膜面內(nèi)相位差值48nm為基準，通過上述方法得到補償膜面內(nèi)相位差值48nm與不同面內(nèi)相位差值比值倍數(shù)。然后擬合模擬面內(nèi)相位差值與亮度關系式為Y＝7.5553X³-34.003X²+68.327X+7.14，其中，X為獲取測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值與基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值的漏光比值；Y為低于標準范圍的補償膜面內(nèi)相位差值的待測補償膜面內(nèi)相位差值。本實施例中，補償膜面內(nèi)相位差值48nm為基準的橫坐標上不同補償膜面內(nèi)相位差值的比例較小，如4.8、9.6。

請參閱圖10，本發(fā)明所述的液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值測量裝置，包括，

模擬模10，用于模擬液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化，以選取不同補償膜面內(nèi)相位差值作為基準；

第一獲取模塊20，用于根據(jù)所述模擬的漏光變化選擇補償膜面內(nèi)相位差值作為基準，獲取不同補償膜面內(nèi)相位差值與所述基準補償膜面內(nèi)相位差值的比值倍數(shù)；

擬合模塊30，用于根據(jù)所述比值倍數(shù)擬合出補償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關系式；

第一測量模塊40，用于以已知補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜作為基準測量該液晶顯示器的補償膜的漏光值；

第二測量模塊50，用于測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值；

第二獲取模塊60，用于獲取測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值與基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值的漏光比值；

計算模塊70，把所述漏光比值帶入所述擬合出的所述補償膜面內(nèi)相位差值與漏光倍數(shù)關系中計算出待測液晶顯示補償膜面內(nèi)相位差值。

其中，通過LCD模擬仿真軟件模擬補償膜不同面內(nèi)相位差值的漏光變化。

其中，還包括測量旋轉(zhuǎn)臺，所述已知補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的基準邊以及測量待測補償膜面內(nèi)相位差值的液晶顯示補償膜的基準變均與所述旋轉(zhuǎn)臺基準邊對其，在旋轉(zhuǎn)臺45度角情況下通過所述第一測量模塊與所述第二測量模塊。

其中，所述第一測量模塊與所述第二測量模塊是在同一背光下進行測量。

本實施例中，通過LCD模擬仿真軟件模擬不同補償膜面內(nèi)相位差值的漏光變化。具體為LCD Master。

本發(fā)明的補償膜不同面內(nèi)相位差值Ro的量測設備和量測方法。量測成本低，快捷，方便而準確。

以上所述的實施方式，并不構(gòu)成對該技術方案保護范圍的限定。任何在上述實施方式的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進等，均應包含在該技術方案的保護范圍之內(nèi)。