1.一種液晶顯示補償膜面內相位差值測量方法，其特征在于，包括，
模擬液晶顯示不同補償膜面內相位差值的漏光變化；
根據(jù)所述模擬的漏光變化選擇補償膜面內相位差值作為基準，獲取不同補償膜面內相位差值與所述基準補償膜面內相位差值的比值倍數(shù)；
通過所述比值倍數(shù)擬合出補償膜面內相位差值與漏光倍數(shù)關系式；
以已知補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜作為基準測量該液晶顯示補償膜的漏光值；以及
測量待測補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值；
獲取測量待測補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值與基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值的漏光比值；
把所述漏光比值帶入所述擬合出的所述補償膜面內相位差值與漏光倍數(shù)關系式中計算出待測液晶顯示補償膜面內相位差值。
2.如權利要求1所述的液晶顯示補償膜面內相位差值測量方法，其特征在于，所述模擬液晶顯示不同補償膜面內相位差值的漏光變化是在補償膜的光軸與液晶顯示器的偏光片的光軸呈45度角的條件下進行。
3.如權利要求1所述的液晶顯示補償膜面內相位差值測量方法，其特征在于，所述步驟模擬液晶顯示補償膜面內相位差值的漏光變化包括，兩個相鄰的不同面內相位差值按照一定比例進行選取。
4.如權利要求1所述的液晶顯示補償膜面內相位差值測量方法，其特征在于，步驟已知補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜作為基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值；以及測量待測補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值，是選取同一背光。
5.如權利要求3所述的液晶顯示補償膜面內相位差值測量方法，其特征在于，所述步驟模擬液晶顯示補償膜面內相位差值的漏光變化包括，對低于液晶顯示補償膜使用標準范圍的補償膜面內相位差值進行模擬液晶顯示不同補償膜面內相位差值的漏光變化。
6.如權利要求5所述的液晶顯示補償膜面內相位差值測量方法，其特征在于，在模擬的補償膜面內相位差值48nm時，擬合模擬面內相位差值與亮度關系式為Y＝7.5553X3-34.003X2+68.327X+7.14，其中，X為獲取測量待測補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值與基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值的漏光比值；Y為需要測量待測補償膜面內相位差值。
7.一種液晶顯示補償膜面內相位差值測量裝置，其特征在于，包括，
模擬模塊，用于模擬液晶顯示補償膜面內相位差值的漏光變化，以選取不同補償膜面內相位差值作為基準；
第一獲取模塊，用于根據(jù)所述模擬的漏光變化選擇補償膜面內相位差值作為基準，獲取不同補償膜面內相位差值與所述基準補償膜面內相位差值的比值倍數(shù)；
擬合模塊，用于根據(jù)所述比值倍數(shù)擬合出補償膜面內相位差值與漏光倍數(shù)關系式；
第一測量模塊，用于以已知補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜作為基準測量該液晶顯示器的補償膜的漏光值；
第二測量模塊，用于測量待測補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值；
第二獲取模塊，用于獲取測量待測補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜的漏光值與基準測量該液晶顯示器的補償膜面的漏光值的漏光比值；
計算模塊，把所述漏光比值帶入所述擬合出的所述補償膜面內相位差值與漏光倍數(shù)關系中計算出待測液晶顯示補償膜面內相位差值。
8.如權利要求6所述的液晶顯示補償膜面內相位差值測量裝置，其特征在于，通過LCD模擬仿真軟件模擬補償膜不同面內相位差值的漏光變化。
9.如權利要求6所述的液晶顯示補償膜面內相位差值測量裝置，其特征在于，還包括測量旋轉臺，所述已知補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜的基準邊以及測量待測補償膜面內相位差值的液晶顯示補償膜的基準變均與所述旋轉臺基準邊對其，在旋轉臺45度角情況下通過所述第一測量模塊與所述第二測量模塊。
10.如權利要求6所述的液晶顯示補償膜面內相位差值測量裝置，其特征在于，所述第一測量模塊與所述第二測量模塊是在同一背光下進行測量。