本發(fā)明實施例涉及顯示技術(shù)，尤其涉及一種顯示基板及其測試方法。

背景技術(shù)：

主動式薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor-LCD,TFT-LCD)近年來得到了飛速的發(fā)展和廣泛的應(yīng)用?，F(xiàn)有市場上的液晶顯示裝置大部分為背光型液晶顯示裝置，其包括液晶顯示面板及背光模組(backlight module)。通常液晶顯示面板由彩膜基板(CF,Color Filte)、薄膜晶體管基板(TFT,Thin Film Transistor)、夾于彩膜基板與薄膜晶體管基板之間的液晶(LC,Liquid Crystal)及密封框膠(Sealant)組成，其工作原理是通過在兩片玻璃基板上施加驅(qū)動電壓來控制液晶層的液晶分子的旋轉(zhuǎn)，將背光模組的光線折射出來產(chǎn)生畫面。

大尺寸的顯示基板一般采用雙驅(qū)架構(gòu)，兩側(cè)的兩個柵極驅(qū)動電路連接至同一條柵極線。當顯示基板正常工作時，兩個柵極驅(qū)動電路輸出同樣的信號。傳統(tǒng)的柵極驅(qū)動架構(gòu)中，兩側(cè)的柵極驅(qū)動電路都是連接至同一高垂直排列(HVA，High Vertical Alignment)走線。在柵極驅(qū)動制程階段的測試制程中，兩側(cè)的柵極驅(qū)動電路同時打開工作，輸出柵極脈沖信號將顯示區(qū)內(nèi)部的像素點亮。當一側(cè)的柵極驅(qū)動電路不能正常工作時，另外一側(cè)的柵極驅(qū)動電路仍然能夠輸出柵極脈沖信號。該柵極脈沖信號也可以使得顯示區(qū)內(nèi)部的像素正常工作。這樣就會帶來漏檢的風(fēng)險，對提升制程的良率是非常不利的。

為了解決漏檢的問題，現(xiàn)有的做法是將顯示區(qū)兩側(cè)的柵極驅(qū)動電路分離開來。在對柵極驅(qū)動電路進行陣列測試時對兩側(cè)的柵極驅(qū)動電路分別進行測試。在對柵極驅(qū)動電路進行陣列測試時分別對兩個柵極驅(qū)動電路進行單邊送信號。這種設(shè)計雖然可以避免對柵極驅(qū)動電路漏檢的風(fēng)險，但是在高垂直排列固化制程時，由于顯示基板的顯示區(qū)尺寸較大，單邊的柵極驅(qū)動電路驅(qū)動顯示區(qū)工作會因為RC負載較重而導(dǎo)致比較嚴重的信號衰減，從而會導(dǎo)致畫面分屏或畫面漸變等問題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供一種顯示基板及其測試方法，以實現(xiàn)在高垂直排列固化制程時，顯示基板的兩個柵極驅(qū)動電路同時打開工作，在對柵極驅(qū)動電路進行陣列測試時，對兩個柵極驅(qū)動電路分別進行測試。

一方面，本發(fā)明實施例提供了一種顯示基板，包括顯示區(qū)和圍繞所述顯示區(qū)的非顯示區(qū)，所述顯示區(qū)包括多條沿第一方向延伸的掃描線，以及分別設(shè)置在所述多條掃描線兩端的第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路，所述顯示基板還包括：

測試引線，同時與所述第一柵極驅(qū)動電路和所述第二柵極驅(qū)動電路電連接；

高垂直排列制程測試焊盤，設(shè)置在所述測試引線的至少一端；

第一陣列測試焊盤，與所述第一柵極驅(qū)動電路電連接，且與所述測試引線相連接形成第一連接點；

第二陣列測試焊盤，與所述第二柵極驅(qū)動電路電連接，且與所述測試引線相連接形成第二連接點；

開關(guān)單元，形成在所述測試引線的所述第一連接點和所述第二連接點之間，用于控制所述測試引線導(dǎo)通或斷開。

可選地，所述高垂直排列制程測試焊盤設(shè)置在所述測試引線的兩端，且位于所述顯示區(qū)沿所述第一方向兩側(cè)的非顯示區(qū)內(nèi)。

可選地，所述第一陣列測試焊盤和所述第二陣列測試焊盤位于所述顯示區(qū)沿第二方向一側(cè)的非顯示區(qū)內(nèi)。

可選地，所述開關(guān)單元為一薄膜晶體管，所述顯示基板還包括開關(guān)控制線，所述開關(guān)控制線與所述薄膜晶體管的柵極電連接，所述薄膜晶體管的源極和漏極與所述測試引線電連接。

可選地，顯示基板還包括開關(guān)控制焊盤，所述開關(guān)控制線的端部與所述開關(guān)控制焊盤電連接。

可選地，所述開關(guān)控制焊盤與所述高垂直排列制程測試焊盤相鄰設(shè)置。

另一方面，本發(fā)明實施例提供了一種顯示基板的測試方法，

在高垂直排列固化制程時，控制所述開關(guān)單元導(dǎo)通，通過所述高垂直排列制程測試焊盤施加第一測試信號，所述第一測試信號驅(qū)動所述第一柵極驅(qū)動電路和所述第二柵極驅(qū)動電路同時工作；

在陣列測試時，控制所述開關(guān)單元關(guān)閉，分時通過所述第一陣列測試焊盤施加第二測試信號，以及通過所述第二陣列測試焊盤施加第三測試信號，所述第二測試信號驅(qū)動所述第一柵極驅(qū)動電路，以及所述第三測試信號驅(qū)動所述第二柵極驅(qū)動電路分時工作。

可選地，所述開關(guān)單元為一薄膜晶體管，在高垂直排列固化制程時，通過所述開關(guān)控制線向所述薄膜晶體管的柵極施加開啟信號，以控制所述薄膜晶體管導(dǎo)通。

可選地，所述顯示基板還包括開關(guān)控制焊盤，所述開關(guān)控制線的端部與所述開關(guān)控制焊盤電連接，在所述高垂直排列固化制程時，通過所述開關(guān)控制焊盤向所述開關(guān)控制線施加開啟信號。

本發(fā)明提供了一種顯示基板及其測試方法，該基板包括同時與第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路電連接的測試引線、高垂直排列制程測試焊盤、第一陣列測試焊盤、第二陣列測試焊盤以及開關(guān)單元，開關(guān)單元用于控制測試引線的導(dǎo)通或斷開，在高垂直排列固化制程時，控制開關(guān)單元導(dǎo)通，第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路同時工作；在陣列測試時，控制開關(guān)單元關(guān)閉，第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路分時工作，實現(xiàn)了在高垂直排列固化制程時，顯示基板的兩個柵極驅(qū)動電路同時打開工作，在對柵極驅(qū)動電路進行陣列測試時，對兩個柵極驅(qū)動電路分別進行測試。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例中的一種顯示基板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例中的又一種顯示基板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例中的又一種顯示基板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本發(fā)明實施例中的又一種顯示基板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本發(fā)明實施例中的又一種顯示基板的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步的詳細說明?？梢岳斫獾氖?，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本發(fā)明，而非對本發(fā)明的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分而非全部結(jié)構(gòu)。

圖1為本發(fā)明實施例中的一種顯示基板的結(jié)構(gòu)示意圖，參考圖1，顯示基板包括顯示區(qū)100和非顯示區(qū)，且由于非晶硅(a-Si)制作的薄膜晶體管(TFT)器件驅(qū)動能力較弱，因此大尺寸的顯示基板一般采用雙驅(qū)架構(gòu)，即包括第一柵極驅(qū)動電路31和第二柵極驅(qū)動電路32。顯示區(qū)100兩側(cè)的兩個柵極驅(qū)動電路連接至同一條柵極線30。當顯示基板中的顯示區(qū)100正常工作時，兩個柵極驅(qū)動電路輸出同樣的信號。傳統(tǒng)的柵極驅(qū)動架構(gòu)中，顯示區(qū)兩側(cè)的柵極驅(qū)動電路都是連接至同一高垂直排列(HVA，High Vertical Alignment)走線10。在柵極驅(qū)動制程階段的測試制程中，顯示區(qū)兩側(cè)的柵極驅(qū)動電路同時打開工作，輸出柵極脈沖信號將顯示區(qū)內(nèi)部的像素點亮。當顯示區(qū)一側(cè)的柵極驅(qū)動電路不能正常工作時，另外一側(cè)的柵極驅(qū)動電路仍然能夠輸出柵極脈沖信號。該柵極脈沖信號也可以使得顯示區(qū)內(nèi)部的像素正常工作。這樣就會帶來漏檢的風(fēng)險，對提升制程的良率是非常不利的。

圖2為本發(fā)明實施例中的又一種顯示基板的結(jié)構(gòu)示意圖，參考圖2，其中第二柵極驅(qū)動電路32連接至高垂直排列走線10，可以理解的是，也可以是第一柵極驅(qū)動電路31連接至高垂直排列走線10。在對柵極驅(qū)動電路進行陣列測試時分別對第一柵極驅(qū)動電路31和第二柵極驅(qū)動電路32進行單邊送信號。這種設(shè)計雖然可以避免對柵極驅(qū)動電路漏檢的風(fēng)險，但是在高垂直排列固化制程時，由于顯示基板的顯示區(qū)尺寸較大，單邊的柵極驅(qū)動電路驅(qū)動顯示區(qū)工作會因為RC負載較重而導(dǎo)致比較嚴重的信號衰減，從而會導(dǎo)致畫面分屏或畫面漸變等問題。

為了解決上述問題，本發(fā)明實施例提供一種顯示基板及其測試方法，以實現(xiàn)在高垂直排列固化制程時，顯示基板的兩個柵極驅(qū)動電路同時打開工作，在對柵極驅(qū)動電路進行陣列測試時，對兩個柵極驅(qū)動電路分別進行測試。

圖3為本發(fā)明實施例中的又一種顯示基板的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖3所示，顯示基板包括顯示區(qū)100和圍繞顯示區(qū)100的非顯示區(qū)，顯示區(qū)100包括多條沿第一方向(圖3中虛線方向)延伸的掃描線30，以及分別設(shè)置在多條掃描線30兩端的第一柵極驅(qū)動電路31和第二柵極驅(qū)動電路32，本發(fā)明實施例提供的顯示基板還包括測試引線10、高垂直排列制程測試焊盤11、第一陣列測試焊盤21、第二陣列測試焊盤22和開關(guān)單元40。

其中，測試引線10同時與第一柵極驅(qū)動電路31和第二柵極驅(qū)動電路32電連接。高垂直排列制程測試焊盤11設(shè)置在測試引線10的至少一端，圖3中示例性地在測試引線的一端設(shè)置了高垂直排列制程測試焊盤。第一陣列測試焊盤21與第一柵極驅(qū)動電路31電連接，且與測試引線10相連接形成第一連接點210；第二陣列測試焊盤22與第二柵極驅(qū)動電路32電連接，且與測試引線10相連接形成第二連接點220。開關(guān)單元40形成在測試引線10的第一連接點210和第二連接點220之間，用于控制測試引線10導(dǎo)通或斷開。

可選地，測試引線為高垂直排列走線。參考圖3，第一陣列測試焊盤21和第二陣列測試焊盤22位于顯示區(qū)100沿第二方向(垂直于圖3中虛線方向)一側(cè)的非顯示區(qū)內(nèi)。

另外，本實施例中的高垂直排列制程測試焊盤也可以設(shè)置在測試引線的兩端，且位于顯示區(qū)沿第一方向兩側(cè)的非顯示區(qū)內(nèi)。圖4為本發(fā)明實施例中的又一種顯示基板的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖4所示，高垂直排列制程測試焊盤11設(shè)置在測試引線的兩端，且位于顯示區(qū)沿第一方向兩側(cè)的非顯示區(qū)內(nèi)。在工業(yè)生產(chǎn)過程中，往往在上下兩個玻璃基板之間有不止一個顯示基板，例如在上下兩個玻璃基板之間存在4個上述的顯示基板，則在測試引線的兩端設(shè)置高垂直排列制程測試焊盤保證了在對多個顯示基板進行切割操作之前，可以同時對多個顯示基板進行高垂直排列制程測試。

本發(fā)明實施例提供的顯示基板包括同時與第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路電連接的測試引線、高垂直排列制程測試焊盤、第一陣列測試焊盤、第二陣列測試焊盤以及開關(guān)單元，開關(guān)單元用于控制測試引線的導(dǎo)通或斷開，在高垂直排列固化制程時，控制開關(guān)單元導(dǎo)通，第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路同時工作；在陣列測試時，控制開關(guān)單元關(guān)閉，第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路分時工作，實現(xiàn)了在高垂直排列固化制程時，顯示基板的兩個柵極驅(qū)動電路同時打開工作，在對柵極驅(qū)動電路進行陣列測試時，對兩個柵極驅(qū)動電路分別進行測試。

圖5為本發(fā)明實施例中的又一種顯示基板的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖5所示，顯示基板包括顯示區(qū)100和圍繞顯示區(qū)100的非顯示區(qū)，顯示區(qū)100包括多條沿第一方向(圖5中虛線方向)延伸的掃描線30，分別設(shè)置在多條掃描線30兩端的第一柵極驅(qū)動電路31和第二柵極驅(qū)動電路32，以及測試引線10、高垂直排列制程測試焊盤11、第一陣列測試焊盤21、第二陣列測試焊盤22和開關(guān)單元40。其中，開關(guān)單元40可以為一薄膜晶體管，顯示基板還包括開關(guān)控制線50和開關(guān)控制焊盤51。開關(guān)控制線50與薄膜晶體管的柵極電連接，薄膜晶體管的源極和漏極與測試引線10電連接。開關(guān)控制線50的端部與開關(guān)控制焊盤51電連接。

在高垂直排列固化制程時，控制薄膜晶體管導(dǎo)通，例如可以是在開關(guān)控制線上施加一高電平信號使得薄膜晶體管導(dǎo)通，從而使測試引線導(dǎo)通，第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路同時工作；在對柵極驅(qū)動電路進行陣列測試時，控制薄膜晶體管關(guān)閉，例如可以是不在開關(guān)控制線上施加電壓信號使得薄膜晶體管關(guān)閉，從而使測試引線斷開，第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路分時工作，實現(xiàn)了在高垂直排列固化制程時，顯示基板的兩個柵極驅(qū)動電路同時打開工作，在對柵極驅(qū)動電路進行陣列測試時，對兩個柵極驅(qū)動電路分別進行測試。需要說明的是，高垂直排列固化制程和陣列測試是兩個相互獨立的過程。

若將高垂直排列制程測試焊盤所在面板稱為測試面板，則當測試面板上具有多個測試焊盤時，可以對顯示基板進行多種測試，例如測試面板包括R測試焊盤、G測試焊盤、B測試焊盤、A-COM測試焊盤、CF-COM測試焊盤、開關(guān)測試焊盤以及高垂直排列制程測試焊盤，可選地，開關(guān)控制焊盤與高垂直排列制程測試焊盤相鄰設(shè)置，這樣設(shè)置的好處是，與開關(guān)控制焊盤電連接的開關(guān)控制線和與高垂直排列制程測試焊盤電連接的測試引線之間的距離最小，節(jié)約了設(shè)計空間。

基于同樣的技術(shù)構(gòu)思，本發(fā)明實施例還提供了一種針對上述實施例所示的顯示基板的測試方法，該方法包括：在高垂直排列固化制程時，控制開關(guān)單元導(dǎo)通，通過高垂直排列制程測試焊盤施加第一測試信號，第一測試信號驅(qū)動第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路同時工作；陣列測試時，開關(guān)單元關(guān)閉，分時通過第一陣列測試焊盤施加第二測試信號，以及通過第二陣列測試焊盤施加第三測試信號，第二測試信號驅(qū)動第一柵極驅(qū)動電路，以及第三測試信號驅(qū)動第二柵極驅(qū)動電路分時工作。

可選地，開關(guān)單元為一薄膜晶體管，在高垂直排列固化制程時，通過開關(guān)控制線向薄膜晶體管的柵極施加開啟信號，以控制薄膜晶體管導(dǎo)通。

可選地，顯示基板還包括開關(guān)控制焊盤，開關(guān)控制線的端部與開關(guān)控制焊盤電連接，在高垂直排列固化制程時，通過開關(guān)控制焊盤向開關(guān)控制線施加開啟信號，控制薄膜晶體管導(dǎo)通，例如可以是在開關(guān)控制線上施加一高電平信號使得薄膜晶體管導(dǎo)通，從而使測試引線導(dǎo)通，第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路同時工作。

本發(fā)明實施例提供的顯示基板的測試方法，在高垂直排列固化制程時，控制開關(guān)單元導(dǎo)通，通過高垂直排列制程測試焊盤施加測試信號驅(qū)動第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路同時工作；在陣列測試時，控制開關(guān)單元關(guān)閉，分時通過第一陣列測試焊盤和第二陣列測試焊盤分別驅(qū)動第一柵極驅(qū)動電路和第二柵極驅(qū)動電路工作，實現(xiàn)了在高垂直排列固化制程時，顯示基板的兩個柵極驅(qū)動電路同時打開工作，在對柵極驅(qū)動電路進行陣列測試時，對兩個柵極驅(qū)動電路分別進行測試。

注意，上述僅為本發(fā)明的較佳實施例及所運用技術(shù)原理。本領(lǐng)域技術(shù)人員會理解，本發(fā)明不限于這里所述的特定實施例，對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說能夠進行各種明顯的變化、重新調(diào)整和替代而不會脫離本發(fā)明的保護范圍。因此，雖然通過以上實施例對本發(fā)明進行了較為詳細的說明，但是本發(fā)明不僅僅限于以上實施例，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的情況下，還可以包括更多其他等效實施例，而本發(fā)明的范圍由所附的權(quán)利要求范圍決定。