技術(shù)總結(jié)
公開了一種用于檢查液晶的注射情況的方法和裝置，其中具有注射在上基板與下基板之間的液晶的液晶盒在被光照射的同時(shí)局部擠壓，使得可以基于來自液晶盒的光泄漏來檢查液晶的注射情況。為此，檢查注射在液晶盒的上基板與下基板之間的液晶的注射情況的方法包括：擠壓步驟，以預(yù)設(shè)壓力在擠壓位置處擠壓液晶盒；照射步驟，通過光照射整個液晶盒或液晶盒的擠壓位置；光泄漏測量步驟，在經(jīng)受擠壓步驟和照射步驟的同時(shí)測量在擠壓位置處穿過液晶盒的光的泄漏；以及檢查步驟，將在光泄漏測量步驟中測量的光泄漏與預(yù)設(shè)參考變化進(jìn)行比較。

技術(shù)研發(fā)人員：黃映珉;金宰湖;金兌昱;李鍾勛
受保護(hù)的技術(shù)使用者：SNU精密股份有限公司
文檔號碼：201610821929
技術(shù)研發(fā)日：2016.09.13
技術(shù)公布日：2017.06.13