測試裝置及其測試方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種測試裝置及其測試方法，該測試裝置包含連接模塊以及電性連接至該連接模塊的處理器。該連接模塊與數(shù)個待測通訊裝置同步電性耦合。該處理器用以為所述數(shù)個待測通訊裝置決定一排程，并根據(jù)該排程測試所述數(shù)個待測通訊裝置。該測試方法用以使該測試裝置執(zhí)行上述運(yùn)作。
【專利說明】測試裝置及其測試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明關(guān)于一種測試裝置及其測試方法。更具體而言，本發(fā)明關(guān)于一種利用排程 交錯地測試數(shù)個通訊裝置的測試裝置及其測試方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 通訊裝置(例如：移動電話、筆記本電腦、平板計(jì)算機(jī)、個人數(shù)字助理等通訊裝置） 在出廠前必須經(jīng)過許多測試，以確保出廠后的產(chǎn)品質(zhì)量。目前用以測試通訊裝置的測試裝 置大致上可分為非聯(lián)機(jī)模式（non-signalingmode)以及聯(lián)機(jī)模式（signalingmode)這 兩類。對于非聯(lián)機(jī)模式的測試裝置而言，測試裝置在測試待測通訊裝置（communication DevicesUnderTest,communicationDUTs)前，不需與待測通訊裝置進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)程序 (networkattachprocedure),而在測試時，使用者還必須同時控制測試裝置以及待測通 訊裝置。對于聯(lián)機(jī)模式的測試裝置而言，測試裝置在測試待測通訊裝置前，需要先與待測通 訊裝置進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)程序，而在測試時，用戶只需控制測試裝置。
[0003] 傳統(tǒng)的非聯(lián)機(jī)模式或聯(lián)機(jī)模式測試裝置每次只能電性耦合（electrically coupling)至一通訊裝置并測試該通訊裝置。若要測試數(shù)個通訊裝置的話，傳統(tǒng)測試裝置只 能依序電性耦合至各該通訊裝置，再依序?qū)Ω髟撏ㄓ嵮b置進(jìn)行測試。換言之，在前一個通訊 裝置所需的測試項(xiàng)目被全部測試完之前，下一個通訊裝置是無法與測試裝置耦合且無法被 測試裝置測試的。因此，對于傳統(tǒng)測試裝置而言，測試數(shù)個通訊裝置的時間幾乎等同于測試 單一個通訊裝置的時間的N倍，其中N為待測通訊裝置的總數(shù)。
[0004] 近年來，隨著人們對于通訊裝置的需求明顯地增加，使得通訊裝置的產(chǎn)量亦逐年 遞增?，F(xiàn)代的通訊裝置被要求要具有高質(zhì)量的特色及快速的連接速度。因此，嵌入通訊裝 置的協(xié)議軟件及收發(fā)機(jī)等硬件的發(fā)展變得非常復(fù)雜，且所造成的影響是前所未見的。在維 持最好的服務(wù)質(zhì)量的同時，為了更有效率地利用有限的頻譜，現(xiàn)代的通訊裝置不得不具備 多種不同的操作模式，并優(yōu)化各個操作模式以應(yīng)付各種特定的場合。然而，受限于同時間只 能測試一通訊裝置，傳統(tǒng)的測試裝置的測試效率已幾乎無法應(yīng)付龐大的通訊裝置的產(chǎn)量以 及現(xiàn)代通訊裝置在不同的測試特征及測試項(xiàng)目所需的各種認(rèn)證。有鑒于此，如何有效提升 傳統(tǒng)測試裝置的測試效率，如何在數(shù)個通訊裝置的各種測試特征及/或測試項(xiàng)目的測試組 合下，有效提升傳統(tǒng)測試裝置的測試效率，確為本發(fā)明所屬領(lǐng)域亟需解決的問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的主要目的為提升傳統(tǒng)測試裝置的測試效率，特別是提升傳統(tǒng)測試裝置測 試數(shù)個通訊裝置的測試效率。
[0006] 為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供了一種測試裝置。該測試裝置包含連接模塊以及電性 連接至該連接模塊的處理器。該連接模塊與數(shù)個待測通訊裝置同步電性耦合。該處理器 用以為所述數(shù)個待測通訊裝置決定一排程，并根據(jù)該排程交錯地測試所述數(shù)個待測通訊裝 置。
[0007] 為達(dá)上述目的，本發(fā)明更提供了一種用于測試裝置的測試方法。該測試裝置包含 連接模塊與電性連接至該連接模塊的處理器，而該測試方法包含下列步驟：
[0008] (a)使該連接模塊與數(shù)個待測通訊裝置同步電性耦合；以及
[0009] (b)使該處理器為所述數(shù)個待測通訊裝置決定一排程，并根據(jù)該排程交錯地測試 所述數(shù)個待測通訊裝置。
[0010] 具體而言，本發(fā)明提供一種測試裝置及其測試方法。通過上述連接模塊的安排，該 測試裝置將與數(shù)個待測通訊裝置同步電性耦合，借此節(jié)省傳統(tǒng)測試裝置每測試一通訊裝置 就需重新電性耦合所耗費(fèi)的時間。通過上述處理器的安排，該測試裝置將為所述數(shù)個待測 通訊裝置所需的全部測試項(xiàng)目決定一排程，且根據(jù)該排程交錯地測試所述數(shù)個待測通訊裝 置，借此縮減傳統(tǒng)測試裝置測試數(shù)個待測通訊裝置的總時間。該測試方法用以使該測試裝 置執(zhí)行上述運(yùn)作。據(jù)此，本發(fā)明可有效地提升傳統(tǒng)測試裝置的測試效率。
[0011] 于參閱附圖及隨后描述的實(shí)施方式后，本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員便可更了解本發(fā)明 的技術(shù)手段及實(shí)施方式。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012] 圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例中所述的測試裝置的架構(gòu)示意圖；
[0013] 圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例中所述的時域排程的示意圖；
[0014] 圖3為本發(fā)明第一實(shí)施例中所述的頻域排程的示意圖；
[0015] 圖4為本發(fā)明第一實(shí)施例中所述的時-頻域排程的示意圖；
[0016] 圖5為本發(fā)明第二實(shí)施例中所述的測試方法的流程圖；以及
[0017] 圖6A、6B、6C分別用以繪示本發(fā)明第二實(shí)施例中所述的步驟S23的不同次步驟。
[0018] 【主要組件符號說明】
[0019] 1 :測試裝置
[0020] 11 :連接模塊
[0021] 13 :處理器
[0022] 3 :待測通訊裝置
[0023] 5 :屏蔽箱
[0024] D1、D2:時間區(qū)間
[0025] DUT1、DUT2、DUT3、DUT4 :待測通訊裝置
[0026] F1、F2:頻率區(qū)間
[0027] RB1?RB7 :資源區(qū)塊
[0028] S11 :時-頻二維區(qū)間
[0029] SF1 ?SF9 :次訊框。

【具體實(shí)施方式】
[0030] 本發(fā)明的內(nèi)容可通過以下實(shí)施例來解釋，但本發(fā)明的實(shí)施例并非用以限制本發(fā)明 必須在如以下實(shí)施例中所述的任何特定的環(huán)境、應(yīng)用或方式方能實(shí)施。因此，以下實(shí)施例的 說明僅在于闡釋本發(fā)明，而非用以限制本發(fā)明。在以下實(shí)施例及圖式中，與本發(fā)明非直接相 關(guān)的組件已省略而未繪示，而圖式中各組件之間的尺寸比例的繪示僅為便于理解，而非用 以限制為實(shí)際的實(shí)施比例。
[0031] 本發(fā)明的第一實(shí)施例用以闡述一種測試裝置，且圖1為該測試裝置的結(jié)構(gòu)示意 圖。如圖1所示，測試裝置1包含一連接模塊11以及一電性連接至連接模塊11的處理器 13。不同于傳統(tǒng)測試裝置必須依序?qū)?shù)個待測通訊裝置3進(jìn)行電性耦合，連接模塊11可 包含一對多的同步連接組件、多對多的同步連接組件或類似組件，以與各該待測通訊裝置3 同步電性耦合。
[0032] 實(shí)務(wù)上，連接模塊11可選擇通過一屏蔽箱5(shieldingbox)與所述數(shù)個待測通 訊裝置3電性耦合。借助屏蔽箱5的屏蔽，置于屏蔽箱5中的所述數(shù)個待測通訊裝置3,可 避免各種外在訊號以及噪聲的干擾，使得連接模塊11與所述數(shù)個待測通訊裝置3之間的電 性耦合更穩(wěn)定，進(jìn)而增加測試所述數(shù)個待測通訊裝置3的質(zhì)量。所述數(shù)個待測通訊裝置3 可安置于屏蔽箱5中的相同空間、或安置于屏蔽箱5中彼此不相互影響的獨(dú)立空間。于其 他實(shí)施例中，連接模塊11亦可通過一分歧器（Splitter)與所述數(shù)個待測通訊裝置3電性 耦合、或直接通過空氣（ontheair)無線地與所述數(shù)個待測通訊裝置3電性耦合。
[0033] 測試裝置1并不限定于特定的通訊傳輸規(guī)格。舉例而言，若所述數(shù)個待測通訊裝 置3符合長期演進(jìn)技術(shù)（LongTermEvolution,LTE)規(guī)格，則測試裝置1可根據(jù)長期演進(jìn) 技術(shù)規(guī)格，對所述數(shù)個待測通訊裝置3進(jìn)行測試。或者，若所述數(shù)個待測通訊裝置3符合全 球互通微波存?。╓orldwideInteroperabilityforMicrowaveAccess，WiMAX)規(guī)格，則 測試裝置1可根據(jù)全球互通微波存取，對所述數(shù)個待測通訊裝置3進(jìn)行測試。換言之，測試 裝置1在各種測試中可適用于各種不同的通訊傳輸規(guī)格。
[0034] 不同于傳統(tǒng)測試裝置必須依序?qū)Ω髟摯郎y通訊裝置3進(jìn)行測試，在連接模塊11與 所述數(shù)個待測通訊裝置3同步電性耦合之后，處理器13將為所述數(shù)個待測通訊裝置3決定 一排程，并根據(jù)該排程測試所述數(shù)個待測通訊裝置3。于其他實(shí)施例，測試裝置1還包含一 顯示器(未繪示)，以在處理器13根據(jù)該排程測試并統(tǒng)計(jì)所述數(shù)個待測通訊裝置3后，顯示 所述數(shù)個待測通訊裝置3的一測試結(jié)果。通過適應(yīng)性的排程機(jī)制，所述數(shù)個待測通訊裝置3 所需的數(shù)個待測項(xiàng)目，可交錯地被處理器13所測試。如此，不須等待前一個待測通訊裝置 3所需的測試項(xiàng)目全部被測試完，下一個待測通訊裝置3才可被處理器13測試。
[0035] 進(jìn)一步言之，處理器13可根據(jù)不同的情況，決定所述數(shù)個待測通訊裝置3的排程 為一時域排程、一頻域排程或一時-頻域排程。于其他實(shí)施例，處理器13還可決定所述數(shù) 個待測通訊裝置3的排程為其他類型。以下將分別說明處理器13為所述數(shù)個待測通訊裝 置3決定上述三種不同類型的排程，以及根據(jù)上述三種不同類型的排程測試所述數(shù)個待測 通訊裝置3的方法。
[0036] 首先說明時域排程的實(shí)施方式。所述時域排程意指處理器13在時域上針對測試 所述數(shù)個待測通訊裝置3所為的安排。具體而言，處理器13會根據(jù)該時域排程，在一時間 區(qū)間內(nèi)指派至少一個次訊框（sub-frame)至各個待測通訊裝置3,并于各個次訊框內(nèi)測試 相對應(yīng)的待測通訊裝置3。所述至少一個次訊框可視為一個或數(shù)個次訊框。
[0037] 處理器13在該時間區(qū)間內(nèi)根據(jù)測試特征、測試項(xiàng)目或其組合，測試各個待測通訊 裝置。測試特征可包含各式各樣的測試特征，例如：調(diào)變與編碼方式、帶寬等。測試項(xiàng)目可 包含各式各樣的測試項(xiàng)目，例如：傳輸速率（Throughput)、服務(wù)質(zhì)量（QualityofService, QoS)、傳輸功率（TransmittingPower)、測試時間（TestingTime)等。
[0038] 具體而言，處理器13能在一時間區(qū)間的數(shù)個次訊框內(nèi)，以相同的測試項(xiàng)目或不同 的測試項(xiàng)目測試不同的待測通訊裝置3,處理器13也能在一時間區(qū)間的數(shù)個次訊框內(nèi)，以 相同的測試特征或不同的測試特征，測試不同的待測通訊裝置3。
[0039] 此外，在該時間區(qū)間內(nèi)，若處理器13指派數(shù)個次訊框給一個待測通訊裝置3,處理 器13可在該時間區(qū)間的所述數(shù)個次訊框內(nèi)，以相同測試項(xiàng)目或不同測試項(xiàng)目測試該個待 測通訊裝置3。另外，處理器13可以相同或不同的測試特征對該個待測通訊裝置3進(jìn)行測 試。
[0040] 以下將以表1以及圖2為例，進(jìn)一步說明上述時域排程的實(shí)施方式。如表1及圖2 所示，共有四個待測通訊裝置（即DUT1、DUT2、DUT3、DUT4)需要被測試。于時間區(qū)間D1內(nèi)， 處理器13指派同一資源區(qū)塊（resourceblock)給待測通訊裝置DUT1、DUT2、DUT3、DUT4 ; 且處理器13指派三個次訊框（即SF1、SF8及SF9)給DUT1、指派二個次訊框（S卩SF2及SF7) 給DUT2、指派二個次訊框（S卩SF3及SF6)給DUT3、以及指派二個次訊框（S卩SF4及SF5)給 DUT4。
[0041] 針對DUT1，處理器13于次訊框SF1、SF8及SF9中，分別以不同的測試特征C11、 C12及C13對不同的測試項(xiàng)目Til、T12及T13進(jìn)行測試。針對DUT2,處理器13于次訊框 SF2及SF7中，分別以不同的測試特征C21及C22對相同的測試項(xiàng)目T21進(jìn)行測試。針對 DUT3,處理器13于次訊框SF3及SF6中，以一測試特征C31對一測試項(xiàng)目T31進(jìn)行測試。針 對DUT4,處理器13于次訊框SF4及SF5中，以相同的測試特征C41分別對不同的測試項(xiàng)目 T41及T42進(jìn)行測試。
[0042] 于后續(xù)的時間區(qū)間中，例如圖2所示的時間區(qū)間D2,處理器13可根據(jù)與時間區(qū)間 D1中相同的時域排程對待測通訊裝置DUT1、DUT2、DUT3、DUT4重復(fù)進(jìn)行測試，亦可根據(jù)新的 時域排程，對待測通訊裝置DUT1、DUT2、DUT3、DUT4重新安排測試的測試次序。
[0043] 據(jù)此，處理器13可根據(jù)不同的測試需求，指派不同數(shù)量的次訊框給各個待測通訊 裝置3,以及決定各該次訊框的長度。處理器13亦可根據(jù)不同的測試需求決定時間區(qū)間的 總數(shù)；而在各個時間區(qū)間中，處理器13可針對各個待測通訊裝置3,在其相對應(yīng)的數(shù)個次訊 框中，以相同的測試特征進(jìn)行相同的測試項(xiàng)目或不同的測試項(xiàng)目，以及根據(jù)不同的測試特 征進(jìn)行相同的測試項(xiàng)目或不同的測試項(xiàng)目。另外，處理器13可根據(jù)不同的測試需求，以不 同的交錯方式，指派次訊框給所述數(shù)個待測通訊裝置3。
[0044]表 1
[0045]

【權(quán)利要求】
1. 一種測試裝置，其特征在于，包含： 連接模塊，與數(shù)個待測通訊裝置同步電性耦合；以及 處理器，電性連接至該連接模塊，用以為所述數(shù)個待測通訊裝置決定一個排程，并根據(jù) 該排程交錯地測試所述數(shù)個待測通訊裝置。
2. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于：該排程為時域排程，該處理器根據(jù)該時 域排程，于一個時間區(qū)間內(nèi)指派至少一個次訊框至各該待測通訊裝置，并于各該次訊框內(nèi) 測試相對應(yīng)的待測通訊裝置。
3. 如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征，于該時間區(qū)間 內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
4. 如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于：該處理器根據(jù)測試項(xiàng)目，于該時間區(qū)間 內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
5. 如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征及測試項(xiàng)目，于 該時間區(qū)間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
6. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于：該排程為頻域排程，該處理器根據(jù)該頻 域排程，于一個頻率區(qū)間內(nèi)指派至少一個資源區(qū)塊至各該待測通訊裝置，并于各該資源區(qū) 塊內(nèi)測試相對應(yīng)的待測通訊裝置。
7. 如權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征，于該頻率區(qū)間 內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
8. 如權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于：該處理器根據(jù)測試項(xiàng)目，于該頻率區(qū)間 內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
9. 如權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征及測試項(xiàng)目，于 該頻率區(qū)間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
10. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于：該排程為時-頻域排程，該處理器根 據(jù)該時-頻域排程，于一個時-頻二維區(qū)間內(nèi)指派至少一個次訊框與至少一個資源區(qū)塊至 各該待測通訊裝置，并于各該次訊框與各該資源區(qū)塊內(nèi)測試相對應(yīng)的待測通訊裝置。
11. 如權(quán)利要求10所述的測試裝置，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征，于該時-頻 二維區(qū)間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
12. 如權(quán)利要求10所述的測試裝置，其特征在于：該處理器根據(jù)測試項(xiàng)目，于該時-頻 二維區(qū)間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
13. 如權(quán)利要求10所述的測試裝置，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征及測試項(xiàng)目， 于該時-頻二維區(qū)間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
14. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于：更包含顯示器，用以于該處理器根據(jù) 該排程測試所述數(shù)個待測通訊裝置后，顯示所述數(shù)個待測通訊裝置的測試結(jié)果。
15. -種用于測試裝置的測試方法，其特征在于，該測試裝置包含連接模塊與電性連接 至該連接模塊的處理器，該測試方法包含下列步驟： (a) 使該連接模塊與數(shù)個待測通訊裝置同步電性耦合；以及 (b) 使該處理器為所述數(shù)個待測通訊裝置決定一個排程，并根據(jù)該排程交錯地測試所 述數(shù)個待測通訊裝置。
16. 如權(quán)利要求15所述的測試方法，其特征在于該步驟（b)更包含下列步驟： (bl)使該處理器為所述數(shù)個待測通訊裝置決定一個時域排程；以及 (b2)使處理器根據(jù)該時域排程，于一個時間區(qū)間內(nèi)指派至少一個次訊框至各該待測通 訊裝置，并于各該次訊框內(nèi)測試相對應(yīng)的待測通訊裝置。
17. 如權(quán)利要求16所述的測試方法，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征，于該時間區(qū) 間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
18. 如權(quán)利要求16所述的測試方法，其特征在于：該處理器根據(jù)測試項(xiàng)目，于該時間區(qū) 間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
19. 如權(quán)利要求16所述的測試方法，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征及測試項(xiàng)目， 于該時間區(qū)間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
20. 如權(quán)利要求15所述的測試方法，其中特征在于該步驟（b)更包含下列步驟： (bl)使該處理器為所述數(shù)個待測通訊裝置決定一個頻域排程；以及 (b2)使處理器根據(jù)該頻域排程，于一個頻率區(qū)間內(nèi)指派至少一個資源區(qū)塊至各該待測 通訊裝置，并于各該資源區(qū)塊內(nèi)測試相對應(yīng)的待測通訊裝置。
21. 如權(quán)利要求20所述的測試方法，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征，于該頻率區(qū) 間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
22. 如權(quán)利要求20所述的測試方法，其特征在于：該處理器根據(jù)測試項(xiàng)目，于該頻率區(qū) 間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
23. 如權(quán)利要求20所述的測試方法，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征及測試項(xiàng)目， 于該頻率區(qū)間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
24. 如權(quán)利要求15所述的測試方法，其特征在于該步驟（b)更包含下列步驟： (bl)使該處理器為所述數(shù)個待測通訊裝置決定一個時-頻域排程；以及 (b2)使該處理器根據(jù)該時-頻域排程，于一個時-頻二維區(qū)間內(nèi)指派至少一個次訊框 與至少一個資源區(qū)塊至各該待測通訊裝置，并于各該次訊框與各該資源區(qū)塊內(nèi)測試相對應(yīng) 的待測通訊裝置。
25. 如權(quán)利要求24所述的測試方法，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征，于該時-頻 二維區(qū)間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
26. 如權(quán)利要求24所述的測試方法，其特征在于：該處理器根據(jù)測試項(xiàng)目，于該時-頻 二維區(qū)間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
27. 如權(quán)利要求24所述的測試方法，其特征在于：該處理器根據(jù)測試特征及測試項(xiàng)目， 于該時-頻二維區(qū)間內(nèi)測試各該待測通訊裝置。
28. 如權(quán)利要求15所述的測試方法，其特征在于該測試裝置更包含顯示器，且該測試 方法更包含下列步驟： (c)使該顯示器于該處理器根據(jù)該排程測試所述數(shù)個待測通訊裝置后，顯示所述數(shù)個 待測通訊裝置的測試結(jié)果。
【文檔編號】H04L12/26GK104518925SQ201410119142
【公開日】2015年4月15日 申請日期:2014年3月27日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月4日
【發(fā)明者】蘇盟凱, 沈誼中, 胡士祥, 許亨仰, 高淑華, 陳達(dá)慶 申請人:華壹生活科技股份有限公司