專利名稱：用于pci卡批量測(cè)試的pci總線擴(kuò)展方法及測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)以及通信設(shè)備中的外圍部件互連(PCI)卡批量測(cè)試時(shí)的總線擴(kuò)展方法以及裝置。
由于ISA卡采用的是半導(dǎo)體至半導(dǎo)體(TTL)電平的信號(hào)驅(qū)動(dòng)方式，而PCI總線的驅(qū)動(dòng)方式是反射式驅(qū)動(dòng)，而且是高速信號(hào)，因此PCI總線對(duì)信號(hào)的走線的長(zhǎng)度、拓?fù)潢P(guān)系、信號(hào)匹配與線路阻抗均有較高要求，例如PCI信號(hào)線的長(zhǎng)度和速度必須保證能夠使總線信號(hào)在10ns的傳播延遲時(shí)間內(nèi)在總線上往返一個(gè)來回、PCI元件引腳電容不能大于10pF等，如果采用ISA卡的直接驅(qū)動(dòng)式的測(cè)試方法，可能產(chǎn)生信號(hào)傳輸延遲、阻抗將達(dá)不到要求的現(xiàn)象，導(dǎo)致PCI板卡不能正常工作。因此目前PCI卡的測(cè)試主要依賴計(jì)算機(jī)，但由于計(jì)算機(jī)主板上的PCI插槽通常不支持PCI卡的熱插拔，所以不能帶電插拔PCI板卡，否則極有可能會(huì)導(dǎo)致死機(jī)或燒壞計(jì)算機(jī)主板和PCI板卡，只能在測(cè)試前先將計(jì)算機(jī)關(guān)機(jī)，將PCI卡插入計(jì)算機(jī)的PCI總線插槽，再啟動(dòng)計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)，然后啟動(dòng)測(cè)試軟件進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成后將計(jì)算機(jī)再次關(guān)機(jī)，換另一塊被測(cè)PCI卡，再開機(jī)繼續(xù)測(cè)試，直到測(cè)試完成所有的板卡。每測(cè)試一次，都需要開機(jī)、關(guān)機(jī)各一次，操作非常耗時(shí)、繁瑣。因此現(xiàn)有的PCI卡的測(cè)試方法成本高，而效率低。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的用于PCI卡批量測(cè)試的PCI總線擴(kuò)展方法，包括(1)設(shè)置從系統(tǒng)PCI總線引出的PCI總線擴(kuò)展槽；(2)在系統(tǒng)PCI總線與PCI總線擴(kuò)展槽之間設(shè)置用于隔離數(shù)據(jù)信號(hào)線的高速信號(hào)開關(guān)，同時(shí)在系統(tǒng)PCI總線與PCI總線擴(kuò)展槽之間設(shè)置用于隔離電源信號(hào)的電源開關(guān)；
(3)設(shè)置步驟(2)所述高速信號(hào)開關(guān)和電源開關(guān)的控制電路，使該電路輸出的高速信號(hào)開關(guān)信號(hào)與電源開關(guān)信號(hào)有一定的時(shí)序關(guān)系，即開始PCI卡測(cè)試時(shí)保證擴(kuò)展PCI總線槽的電源先上電，再接通其它總線信號(hào)，測(cè)試結(jié)束時(shí)保證先斷開除電源外的總線信號(hào)，再斷開電源；(4)在使用PCI擴(kuò)展槽測(cè)試PCI卡期間，當(dāng)被測(cè)試的PCI卡處于測(cè)試和插拔狀態(tài)時(shí)，由開關(guān)控制電路控制PCI擴(kuò)展槽的數(shù)據(jù)信號(hào)和電源信號(hào)的接通和斷開。
本發(fā)明還提供了一種PCI卡的測(cè)試裝置，包括PCI總線插槽和擴(kuò)展PCI總線插槽，高速信號(hào)隔離開關(guān)、電源隔離開關(guān)和開關(guān)控制電路，其中高速信號(hào)隔離開關(guān)連接在PCI總線插槽和擴(kuò)展PCI總線插槽之間的PCI總線的數(shù)據(jù)信號(hào)線之間，用于接通和斷開PCI總線擴(kuò)展槽上數(shù)據(jù)信號(hào)；電源隔離開關(guān)連接在PCI總線插槽和擴(kuò)展PCI總線插槽之間的PCI總線的電源線之間，用于接通和斷開PCI總線擴(kuò)展槽上的電源信號(hào)；開關(guān)控制電路，用于控制高速信號(hào)隔離開關(guān)和電源隔離開關(guān)的通、斷，在上述開關(guān)接通且PCI卡開始測(cè)試時(shí)，使高速信號(hào)驅(qū)動(dòng)開關(guān)比電源驅(qū)動(dòng)開關(guān)延遲接通，延遲時(shí)間大于等于PCI總線擴(kuò)展槽上電源信號(hào)的穩(wěn)定接通時(shí)間，測(cè)試結(jié)束時(shí)，電源開關(guān)比高速信號(hào)開關(guān)延遲關(guān)閉。
上述信號(hào)隔離開關(guān)為高速總線開關(guān)，所述電源隔離開關(guān)為繼電器。
所述開關(guān)控制電路包括第一延遲電路、第一施密特反向電路、第二延遲電路和第二施密特反向電路，第一延遲電路連接第一施密特反向電路，輸出PCI總線電源隔離開關(guān)信號(hào)；第二延遲電路連接第二施密特反向電路，延時(shí)輸出PCI總線信號(hào)隔離開關(guān)信號(hào)。
由于本發(fā)明在系統(tǒng)PCI總線與PCI總線擴(kuò)展槽之間設(shè)置用于隔離信號(hào)線的高速信號(hào)開關(guān)，同時(shí)設(shè)置用于隔離電源信號(hào)的電源開關(guān)，通過觸發(fā)控制電路，使PCI總線擴(kuò)展槽的數(shù)據(jù)信號(hào)與電源信號(hào)的接通與斷開有一定的時(shí)序關(guān)系，解決了PCI總線信號(hào)的高速切換、電源與總線信號(hào)的自動(dòng)控制和總線信號(hào)的上電次序問題，簡(jiǎn)化了操作，使測(cè)試PCI板卡時(shí)無需多次重復(fù)關(guān)閉與開啟與測(cè)試裝置連接的計(jì)算機(jī)，大大提高了測(cè)試效率，降低了測(cè)試成本。同時(shí)也保護(hù)了PCI卡與計(jì)算機(jī)本身，提高了測(cè)試的安全性。另外通過計(jì)算機(jī)控制開關(guān)控制電路還可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。


圖1是本發(fā)明所述方法的實(shí)施例流程圖。圖1所述的方法分為四個(gè)步驟，前三個(gè)步驟是進(jìn)行測(cè)試的準(zhǔn)備，最后一個(gè)步驟進(jìn)行測(cè)試的控制。首先進(jìn)行步驟1，設(shè)置從系統(tǒng)PCI總線引出的PCI總線擴(kuò)展槽。該擴(kuò)展槽實(shí)際上是計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的PCI插槽的拷貝，是專用于測(cè)試PCI卡的，通過對(duì)該擴(kuò)展槽上的PCI總線信號(hào)進(jìn)行通斷控制，可以避免多次重復(fù)開啟與關(guān)閉計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，以提高測(cè)試效率，降低測(cè)試成本。為使PCI總線擴(kuò)展槽能夠滿足信號(hào)傳輸延遲、阻抗匹配等要求，進(jìn)行步驟2，在系統(tǒng)PCI總線與PCI總線擴(kuò)展槽之間設(shè)置用于隔離數(shù)據(jù)信號(hào)的高速信號(hào)開關(guān)，同時(shí)設(shè)置用于隔離電源信號(hào)的電源開關(guān)。上述高速信號(hào)開關(guān)采用高速總線開關(guān)芯片，本例中芯片型號(hào)為iDT74FST163212，該類芯片具有超低導(dǎo)通電阻(5歐姆)，開關(guān)延遲可以達(dá)到可忽略(＜0.5ns)的程度，可以對(duì)PCI插槽中除電源以外的所有總線信號(hào)進(jìn)行開關(guān)式控制，該高速總線開關(guān)芯片有一個(gè)信號(hào)開關(guān)來控制信號(hào)的接通與關(guān)閉。上述電源開關(guān)采用繼電器，本例中采用型號(hào)為OZ-SS-105L的繼電器，可以控制PCI總線的3.3V與5V的電源電壓，采用型號(hào)為TN2-5V的繼電器，控制PCI總線的+/-12V電壓，以進(jìn)行PCI總線電源信號(hào)的開關(guān)控制。
由于有兩個(gè)開關(guān)需要進(jìn)行控制，按照CMOS器件上電次序要求，這兩個(gè)開關(guān)的動(dòng)作是有次序要求的上電時(shí)，必須先開電源開關(guān)，再開信號(hào)開關(guān)；下電時(shí)，必須先關(guān)閉信號(hào)開關(guān)，再關(guān)閉電源開關(guān)。因此，進(jìn)行步驟3，設(shè)置步驟2所述高速信號(hào)開關(guān)和電源開關(guān)的控制電路，使該電路輸出的高速信號(hào)開關(guān)信號(hào)與電源開關(guān)信號(hào)有一定的時(shí)序關(guān)系，以保證PCI總線擴(kuò)展槽的電源在PCI卡開始測(cè)試時(shí)先上電。所述高速信號(hào)開關(guān)觸發(fā)信號(hào)比電源開關(guān)觸發(fā)信號(hào)延遲的時(shí)間應(yīng)不小于PCI擴(kuò)展槽上的電源信號(hào)穩(wěn)定接通的時(shí)間。本發(fā)明采用一種型號(hào)為74AHC14的施密特反向器作為控制高速信號(hào)開關(guān)和電源開關(guān)的控制電路，實(shí)現(xiàn)上述兩個(gè)電路的自動(dòng)時(shí)序控制。在本例中，開關(guān)控制電路的輸入信號(hào)可以由軟件控制PC機(jī)I/O口來實(shí)現(xiàn)，不用人工干預(yù)，將I/O控制模塊嵌入到測(cè)試軟件，可以完全實(shí)現(xiàn)PCI板卡的自動(dòng)測(cè)試。
基于上述步驟，最后在步驟4，在使用PCI擴(kuò)展槽測(cè)試PCI卡期間，當(dāng)被測(cè)試的PCI卡處于測(cè)試時(shí)，由開關(guān)控制電路控制PCI擴(kuò)展槽的電源信號(hào)與數(shù)據(jù)信號(hào)依次接通，當(dāng)被測(cè)試的PCI卡處于插拔狀態(tài)時(shí)，由觸發(fā)控制電路控制PCI擴(kuò)展槽的數(shù)據(jù)信號(hào)和電源信號(hào)依次斷開。
圖2是本發(fā)明所述裝置的實(shí)施例框圖。圖中所述的PCI卡的測(cè)試裝置，包括PCI總線插槽1和擴(kuò)展PCI總線插槽2，還包括高速信號(hào)隔離開關(guān)3、電源隔離開關(guān)4和開關(guān)控制電路5，其中高速信號(hào)隔離開關(guān)3連接在PCI總線插槽1和擴(kuò)展PCI總線插槽2之間的PCI總線的數(shù)據(jù)信號(hào)線之間，用于接通和斷開數(shù)據(jù)信號(hào)；電源隔離開關(guān)4連接在PCI總線插槽1和擴(kuò)展PCI總線插槽2之間的PCI總線的電源線之間，用于接通和斷開電源信號(hào)；開關(guān)控制電路5，用于控制高速信號(hào)驅(qū)動(dòng)開關(guān)3和電源驅(qū)動(dòng)開關(guān)4的通、斷，并保證一定的開關(guān)時(shí)序，在上述開關(guān)接通且PCI卡開始測(cè)試時(shí)時(shí)，使高速信號(hào)驅(qū)動(dòng)開關(guān)3比電源驅(qū)動(dòng)開關(guān)4延遲接通，延遲時(shí)間不小于PCI總線擴(kuò)展槽上電源信號(hào)的穩(wěn)定接通時(shí)間。測(cè)試結(jié)束時(shí)，電源開關(guān)信號(hào)比高速信號(hào)開關(guān)延遲關(guān)閉。
本例中，高速信號(hào)驅(qū)動(dòng)開關(guān)3采用芯片型號(hào)為iDT74FST163212高速總線開關(guān)芯片，所述電源驅(qū)動(dòng)開關(guān)采用型號(hào)為OZ-SS-105L的繼電器，以控制PCI總線的3.3V與5V的電源電壓，采用型號(hào)為TN2-5V的繼電器，控制PCI總線的+/-12V電壓，開關(guān)控制電路采用型號(hào)為74HG14的施密特反向器。
在圖2所述的實(shí)例中，高速總線開關(guān)芯片3具有雙向功能，可以等效于一個(gè)機(jī)械開關(guān)。通過聯(lián)動(dòng)開關(guān)SW可以控制計(jì)算機(jī)側(cè)的所有PCI信號(hào)(包括電源信號(hào))透明傳輸?shù)綌U(kuò)展PCI總線槽，在滿足一定的電路板設(shè)計(jì)規(guī)則的前提下，擴(kuò)展后的PCI總線可以當(dāng)作普通的PCI插槽使用。在批量生產(chǎn)測(cè)試時(shí)，預(yù)先設(shè)置聯(lián)動(dòng)控制開關(guān)sw為OFF，電源控制開關(guān)pow_sw與信號(hào)控制開關(guān)sig_sw均為Off，擴(kuò)展PCI總線槽2與計(jì)算機(jī)側(cè)總線插槽1斷開，這時(shí)可以插上被測(cè)PCI板卡，再將SW設(shè)置為ON，則電源控制開關(guān)pow_sw為ON，信號(hào)控制開關(guān)sig_sw自動(dòng)延遲一段時(shí)間后變?yōu)镺N，則可以開始測(cè)試軟件進(jìn)行PCI卡測(cè)試，測(cè)試完成后，再設(shè)置聯(lián)動(dòng)控制開關(guān)sw為Off，則信號(hào)控制開關(guān)sig_sw為變?yōu)镺ff，電源控制開關(guān)pow_sw自動(dòng)延遲一段時(shí)間后變?yōu)?ff，擴(kuò)展PCI總線槽2與計(jì)算機(jī)側(cè)總線插槽1斷開，這時(shí)，可以將完成測(cè)試的PCI卡安全拔下，再插上下一塊板卡繼續(xù)重復(fù)剛才的動(dòng)作進(jìn)行測(cè)試，無須頻繁的啟動(dòng)/關(guān)閉計(jì)算機(jī)。
圖3是圖2中的施密特觸發(fā)電路第一種實(shí)現(xiàn)方案電路圖。圖中所述開關(guān)控制電路包括第一延遲電路31、第一施密特反向電路32、第二延遲電路33和第二施密特反向電路34，第一延遲電路31連接第一施密特反向電路32，輸出PCI總線電源驅(qū)動(dòng)開關(guān)信號(hào)；第二延遲電路33連接第二施密特反向電路34，延時(shí)輸出PCI總線信號(hào)隔離開關(guān)信號(hào)。
所述第一延遲電路31包括開關(guān)二極管D1和R1、C1組成的阻容延遲電路，開關(guān)二極管D1的陽極連接電阻R1不與電容C1連接的一端、陰極連接在電阻R1與電容C1連接的一端；所述第二延遲電路33包括開關(guān)二極管D2和R2、C2組成的阻容延遲電路，開關(guān)二極管D2的陰極連接電阻R2不與電容C2連接的電阻的一端、陰極連接在電阻R2與電容C2連接的一端。
圖3中的第一觸發(fā)電路32、第二觸發(fā)電路34采用型號(hào)為74HC14、74HC04的施密特反向器。
采用圖3所述的連接方式，當(dāng)連動(dòng)開關(guān)SW高電平時(shí)，由于開關(guān)二極管D1的正向連接，使SW不經(jīng)R1、C1的延遲，直接經(jīng)74HC14反向輸出，使其控制的電源控制信號(hào)POW_SW加到電源驅(qū)動(dòng)開關(guān)4，進(jìn)而使擴(kuò)展PCI總線槽的電源首先接通；而由于開關(guān)二極管D2的反向連接，使SW需經(jīng)R1、C1的延遲，當(dāng)C1的電平足夠高時(shí)，才經(jīng)74HC14反向輸出，使其控制的電源控制信號(hào)SIG_SW加到高速信號(hào)驅(qū)動(dòng)開關(guān)3，進(jìn)而使擴(kuò)展PCI總線槽的數(shù)據(jù)信號(hào)延時(shí)接通。
圖4是圖2中的施密特觸發(fā)電路第二種實(shí)現(xiàn)方案框圖，該方案采用可編程邏輯器件實(shí)現(xiàn)。圖中所述的開關(guān)控制電路包括上升沿檢測(cè)電路41，用于檢測(cè)控制信號(hào)的上升沿是否有效；下降沿檢測(cè)電路42，用于檢測(cè)控制信號(hào)的下降沿是否有效；與上升沿檢測(cè)電路、下降沿檢測(cè)電路相連接的開關(guān)信號(hào)輸出控制電路43，用于在上升沿檢測(cè)電路和下降沿檢測(cè)電路的輸出信號(hào)中選擇有效的信號(hào)輸出；與開關(guān)信號(hào)輸出控制電路連接的信號(hào)延遲電路44，用于輸出PCI總線電源驅(qū)動(dòng)開關(guān)的觸發(fā)信號(hào)和延時(shí)輸出PCI總線信號(hào)驅(qū)動(dòng)開關(guān)的觸發(fā)信號(hào)。
圖4中，利用信號(hào)沿檢測(cè)電路41、42檢測(cè)輸入開關(guān)信號(hào)sw是上升沿還是下降沿信號(hào)，通過開關(guān)信號(hào)輸出控制電路43控制輸出開關(guān)信號(hào)pow_sw與sig_sw是否通過信號(hào)延遲電路輸出，從而達(dá)到控制目的。
圖5、6是圖4采用的上升沿、下降沿檢測(cè)電路圖。圖中所示，上升沿與下降沿檢測(cè)電路可以檢測(cè)sw信號(hào)是上升沿還是下降沿，采用這種同步檢測(cè)電路的目的是為了消除外部機(jī)械觸點(diǎn)可能帶來的抖動(dòng)毛刺，避免誤觸發(fā)(如果是邏輯電路內(nèi)部，則不需要這樣檢測(cè))，分別輸出up信號(hào)與down信號(hào)(初始值都為‘0’)。上升沿與下降沿檢測(cè)電路包含了sw信號(hào)的兩個(gè)周期延遲，輸出為SW1。開關(guān)信號(hào)控制電路與延遲電路以及實(shí)現(xiàn)原理參考圖7。圖7中如果SW出現(xiàn)上升沿，則SEL為1，所以POW_SW為POW_UP，SIG_SW為SIG_UP；如果SW出現(xiàn)下降沿，則SEL為0，所以POW_SW為POW_DOWN，SIG_SW為SIG_DOWN；時(shí)鐘CLK的頻率可以由延遲時(shí)間決定。
圖8是圖3和圖4產(chǎn)生的開關(guān)控制信號(hào)輸出時(shí)序圖。
圖8中，延遲時(shí)間t的經(jīng)驗(yàn)公式為t＝R*C*ln(Vcc/(Vcc-VT+))，一般取幾十到100毫秒即可。
最后需要指出，在本發(fā)明具體實(shí)施時(shí)1、本發(fā)明所述的裝置以及依本發(fā)明所述方法制作的裝置可以集成在一塊板卡上；2、本發(fā)明在具體實(shí)施時(shí)采用的電路型號(hào)不局限于本文所提供的型號(hào)。3、連動(dòng)開關(guān)可以設(shè)置為手動(dòng)方式，也可以設(shè)置為有計(jì)算機(jī)系統(tǒng)控制的自動(dòng)方式。
權(quán)利要求
1.一種用于PCI卡批量測(cè)試的PCI總線擴(kuò)展方法，包括(1)設(shè)置從系統(tǒng)PCI總線引出的PCI總線擴(kuò)展槽；(2)在系統(tǒng)PCI總線與PCI總線擴(kuò)展槽之間設(shè)置用于隔離數(shù)據(jù)信號(hào)線的高速信號(hào)開關(guān)，同時(shí)在系統(tǒng)PCI總線與PCI總線擴(kuò)展槽之間設(shè)置用于隔離電源信號(hào)的電源開關(guān)；(3)設(shè)置步驟(2)所述高速信號(hào)開關(guān)和電源開關(guān)的控制電路，使該電路輸出的高速信號(hào)開關(guān)信號(hào)與電源開關(guān)信號(hào)有一定的時(shí)序關(guān)系，即開始PCI卡測(cè)試時(shí)保證擴(kuò)展PCI總線槽的電源先上電，再接通其它總線信號(hào)，測(cè)試結(jié)束時(shí)保證先斷開除電源外的總線信號(hào)，再斷開電源；(4)在使用PCI擴(kuò)展槽測(cè)試PCI卡期間，當(dāng)被測(cè)試的PCI卡處于測(cè)試和插拔狀態(tài)時(shí)，由開關(guān)控制電路控制PCI擴(kuò)展槽的數(shù)據(jù)信號(hào)和電源信號(hào)的接通和斷開。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCI總線擴(kuò)展方法，其特征在于步驟(2)所述設(shè)置高速信號(hào)開關(guān)為設(shè)置高速總線開關(guān)芯片。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的PCI總線擴(kuò)展方法，其特征在于步驟(2)所述設(shè)置電源開關(guān)為設(shè)置繼電器開關(guān)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的PCI總線擴(kuò)展方法，其特征在于步驟(3)所述PCI卡開始測(cè)試時(shí)，高速信號(hào)開關(guān)信號(hào)比電源開關(guān)信號(hào)延遲的時(shí)間不小于PCI總線擴(kuò)展槽上的電源信號(hào)穩(wěn)定接通的時(shí)間，測(cè)試結(jié)束時(shí)，電源開關(guān)比高速信號(hào)開關(guān)延遲關(guān)閉。
5.一種用于PCI卡批量測(cè)試的裝置，包括PCI總線插槽和擴(kuò)展PCI總線插槽，其特征在于還包括高速信號(hào)隔離開關(guān)、電源隔離開關(guān)和開關(guān)控制電路，其中高速信號(hào)隔離開關(guān)連接在PCI總線插槽和擴(kuò)展PCI總線插槽之間的PCI總線的數(shù)據(jù)信號(hào)線之間，用于接通和斷開PCI總線擴(kuò)展槽上數(shù)據(jù)信號(hào)；電源隔離開關(guān)連接在PCI總線插槽和擴(kuò)展PCI總線插槽之間的PCI總線的電源線之間，用于接通和斷開PCI總線擴(kuò)展槽上的電源信號(hào)；開關(guān)控制電路，用于控制高速信號(hào)隔離開關(guān)和電源隔離開關(guān)的通、斷，在上述開關(guān)接通且PCI卡開始測(cè)試時(shí)，使高速信號(hào)驅(qū)動(dòng)開關(guān)比電源驅(qū)動(dòng)開關(guān)延遲接通，延遲時(shí)間大于等于PCI總線擴(kuò)展槽上電源信號(hào)的穩(wěn)定接通時(shí)間，測(cè)試結(jié)束時(shí)，電源開關(guān)比高速信號(hào)開關(guān)延遲關(guān)閉。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的PCI卡批量測(cè)試的裝置，其特征在于所述信號(hào)隔離開關(guān)為高速總線開關(guān)，所述電源隔離開關(guān)為繼電器。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的PCI卡批量測(cè)試的裝置，其特征在于所述開關(guān)控制電路包括第一延遲電路、第一施密特反向電路、第二延遲電路和第二施密特反向電路，第一延遲電路連接第一施密特反向電路，輸出PCI總線電源隔離開關(guān)信號(hào)；第二延遲電路連接第二施密特反向電路，延時(shí)輸出PCI總線信號(hào)隔離開關(guān)信號(hào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的PCI卡批量測(cè)試的裝置，其特征在于所述第一延遲電路包括開關(guān)二極管和阻容延遲電路，開關(guān)二極管的陽極連接電阻不與電容連接的一端、陰極連接在電阻與電容連接的一端；所述第二延遲電路包括開關(guān)二極管和阻容延遲電路，開關(guān)二極管的陰極連接電阻不與電容連接的電阻的一端、陰極連接在電阻與電容連接的一端。
9.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的PCI卡批量測(cè)試的裝置，其特征在于所述開關(guān)控制電路包括上升沿檢測(cè)電路，用于檢測(cè)控制信號(hào)的上升沿是否有效；下降沿檢測(cè)電路，用于檢測(cè)控制信號(hào)的下降沿是否有效；與上升沿檢測(cè)電路、下降沿檢測(cè)電路相連接的開關(guān)信號(hào)輸出控制電路，用于在上升沿檢測(cè)電路和下降沿檢測(cè)電路的輸出信號(hào)中選擇有效的信號(hào)輸出；與開關(guān)信號(hào)輸出控制電路連接的信號(hào)延遲電路，用于輸出PCI總線電源隔離開關(guān)信號(hào)和延時(shí)輸出PCI總線信號(hào)隔離開關(guān)信號(hào)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于PCI卡批量測(cè)試的PCI總線擴(kuò)展方法，發(fā)明的關(guān)鍵是從PC機(jī)系統(tǒng)PCI總線引出PCI總線擴(kuò)展槽，在系統(tǒng)PCI總線與PCI總線擴(kuò)展槽之間設(shè)置用于隔離數(shù)據(jù)信號(hào)線的高速信號(hào)開關(guān)，同時(shí)設(shè)置用于隔離電源信號(hào)的電源，并設(shè)置上述兩種開關(guān)的觸發(fā)控制電路，在使用PCI擴(kuò)展槽測(cè)試PCI卡期間，當(dāng)被測(cè)試的PCI卡處于測(cè)試和插拔狀態(tài)時(shí)，由開關(guān)控制電路控制PCI擴(kuò)展槽的數(shù)據(jù)信號(hào)和電源信號(hào)的接通和斷開；上述方案可以簡(jiǎn)化PCI卡的測(cè)試操作，使測(cè)試PCI板卡時(shí)無需多次重復(fù)關(guān)閉與開啟與測(cè)試裝置連接的計(jì)算機(jī)，大大提高了測(cè)試效率，降低了測(cè)試成本。同時(shí)也保護(hù)了PCI卡與計(jì)算機(jī)本身，提高了測(cè)試的安全性。本發(fā)明還提供了一種PCI卡的測(cè)試裝置。
文檔編號(hào)H04L12/26GK1458766SQ02117679
公開日2003年11月26日 申請(qǐng)日期2002年5月14日 優(yōu)先權(quán)日2002年5月14日
發(fā)明者顏澤飛 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司