專利名稱：：用于隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的可編程自檢測(cè)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明所公開的內(nèi)容大體涉及集成電路領(lǐng)域，更具體地，涉及一種用于檢測(cè)集成電路的一個(gè)存儲(chǔ)器或多個(gè)存儲(chǔ)器的可編程內(nèi)建自檢測(cè)結(jié)構(gòu)和相應(yīng)的檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
：集成電路(IC)技術(shù)得到了不斷的改進(jìn)，包括按比例縮小器件的幾何形狀以實(shí)現(xiàn)較低的制造成本、較高的器件集成密度、較高的速度和更好的性能。這些改進(jìn)為IC提供了最佳質(zhì)量。典型地，在制造之后檢測(cè)IC,以確保IC展現(xiàn)出所需質(zhì)量。檢測(cè)通常包括為被檢測(cè)的IC施加一個(gè)激勵(lì)源，獲得并分析IC器件的響應(yīng)，且將器件的響應(yīng)與已知的、所需的響應(yīng)作對(duì)比。在IC的存儲(chǔ)器的檢測(cè)中，一種方法包括可編程內(nèi)建自檢測(cè)(BIST)電路。常規(guī)的可編程BIST制造在IC上且采用單獨(dú)的從屬嵌入式存儲(chǔ)器(例如，只讀存儲(chǔ)器)，用于編程一套檢測(cè)指令。但是，當(dāng)檢測(cè)復(fù)雜的存儲(chǔ)器器件時(shí)，從屬嵌入式存儲(chǔ)器需要大的指令集，其導(dǎo)致比所期望的更大的面積開銷。
發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明的目的是提供一種面積有效的可編程BIST結(jié)構(gòu)，以提供多重復(fù)雜的自檢測(cè)程序。根據(jù)本發(fā)明，提供了一種系統(tǒng)，該系統(tǒng)有效地提供適于復(fù)雜嵌入式存儲(chǔ)器的大的檢測(cè)指令集，同時(shí)提供減小的面積開銷。在一個(gè)實(shí)施例中，一種用于檢測(cè)集成電路的存儲(chǔ)器的系統(tǒng)包括一組寄存器，該組寄存器提供基于用于多個(gè)檢測(cè)的可編程要素，其中各個(gè)檢測(cè)包括多個(gè)檢測(cè)要素；一個(gè)用于從所述寄存器組接收多個(gè)檢測(cè)指令的有限狀態(tài)機(jī)，其中該有限狀態(tài)機(jī)分配信號(hào)來(lái)指示一個(gè)檢測(cè)模式發(fā)生器以產(chǎn)生一個(gè)檢測(cè)模式；一個(gè)存儲(chǔ)器控制模塊，用于將所產(chǎn)生的檢測(cè)模式施加到存儲(chǔ)器；以及一個(gè)比較器模塊，用于將從存儲(chǔ)器接收的響應(yīng)與所存儲(chǔ)的、已知的響應(yīng)相比較。在一些實(shí)施例中，寄存器組包括用于定義多個(gè)檢測(cè)要素的多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器。在一些實(shí)施例中，多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器包括用于控制寫功能的至少一位以及用于控制讀功能的至少一位。在一些實(shí)施例中，多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器包括用于啟動(dòng)重復(fù)功能的至少一個(gè)可編程位。在一些實(shí)施例中，多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器包括用于啟動(dòng)刷新功能的至少一個(gè)可編程位。在一些實(shí)施例中，寄存器組包括一個(gè)檢測(cè)要素重復(fù)計(jì)數(shù)寄存器，其對(duì)定義了一個(gè)檢測(cè)要素的至少一個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器指定了該檢測(cè)要素被重復(fù)的次數(shù)。在一些實(shí)施例中，寄存器組包括用于為多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器定義檢測(cè)設(shè)置的至少一個(gè)檢測(cè)模式寄存器。在一些實(shí)施例中，至少一個(gè)檢測(cè)模式寄存器包括通過(guò)列地址來(lái)控制數(shù)據(jù)模式觸發(fā)的至少一位、通過(guò)行地址來(lái)控制數(shù)據(jù)模式觸發(fā)的至少一位以及用于控制數(shù)據(jù)模式觸發(fā)來(lái)生成字線圖案的至少一位。在一些實(shí)施例中，至少一個(gè)檢測(cè)模式寄存器包括用于啟動(dòng)錯(cuò)誤觸發(fā)模式的至少一個(gè)可編程yf立。在一些實(shí)施例中，寄存器組包括一個(gè)刷新時(shí)間寄存器，其定義了用于插入一個(gè)刷新的至少一個(gè)時(shí)間。在一些實(shí)施例中，寄存器組包括一個(gè)組開始寄存器和一個(gè)組終止寄存器，其中組開始寄存器定義了用于一個(gè)檢測(cè)的存儲(chǔ)器的一個(gè)開始組，且組終止寄存器定義了用于一個(gè)檢測(cè)的存儲(chǔ)器的一個(gè)終止組。在一些實(shí)施例中，組開始寄存器和組終止寄存器提供了檢測(cè)分立存儲(chǔ)器組和存儲(chǔ)器組的不同組群的能力。在一些實(shí)施例中，寄存器組包括一個(gè)檢測(cè)循環(huán)寄存器，其選擇重復(fù)一個(gè)檢測(cè)直至接收一個(gè)終止命令。在一些實(shí)施例中，多個(gè)檢測(cè)包括零-一、棋盤、MATS、MATS+、MATS++、進(jìn)程X、進(jìn)程C、進(jìn)程C-、進(jìn)程Y、MOVI和干擾。在一些實(shí)施例中，多個(gè)檢測(cè)的至少一個(gè)包括一個(gè)暫停檢測(cè)要素。在一個(gè)實(shí)施例中，提供一種用于檢測(cè)集成電路的存儲(chǔ)器的方法，其中該存儲(chǔ)器包括多個(gè)存儲(chǔ)器組，包括編程包括了編程多個(gè)檢測(cè)要素的一個(gè)寄存器組，其中編程多個(gè)檢測(cè)要素的不同組合表示多個(gè)檢測(cè)；生成符合編程的寄存器組的多個(gè)檢測(cè)指令；執(zhí)行多個(gè)檢測(cè)指令來(lái)檢測(cè)存儲(chǔ)器；存儲(chǔ)所執(zhí)行的多個(gè)檢測(cè)指令生成的結(jié)果；以及通過(guò)將所存儲(chǔ)的結(jié)果與已知的響應(yīng)相比較來(lái)確定存儲(chǔ)器的質(zhì)量。在一些實(shí)施例中，編程多個(gè)檢測(cè)要素進(jìn)一步包括為多個(gè)檢測(cè)要素的至少一個(gè)啟動(dòng)重復(fù)功能且為至少一個(gè)檢測(cè)要素定義重復(fù)次數(shù)。在一些實(shí)施例中，編程多個(gè)檢測(cè)要素進(jìn)一步包括為多個(gè)檢測(cè)要素的至少一個(gè)啟動(dòng)刷新功能且定義用于插入刷新的時(shí)間。在一些實(shí)施例中，編程寄存器組進(jìn)一步包括定義一個(gè)開始存儲(chǔ)器組和定義一個(gè)終止存儲(chǔ)器組，其中所述定義提供了檢測(cè)分立存儲(chǔ)器組和存儲(chǔ)器組的不同組群的能力。在一些實(shí)施例中，執(zhí)行多個(gè)檢測(cè)指令并存儲(chǔ)所執(zhí)行的多個(gè)指令生成的結(jié)果進(jìn)一步包括探測(cè)和記錄存儲(chǔ)器中的第一錯(cuò)誤的位置，存儲(chǔ)所述位置作為一個(gè)觸發(fā)點(diǎn)；通過(guò)該觸發(fā)點(diǎn)繼續(xù)多個(gè)指令的執(zhí)行直至探測(cè)和記錄存儲(chǔ)器中的第二錯(cuò)誤的位置，存儲(chǔ)第二錯(cuò)誤的位置作為該觸發(fā)點(diǎn)；通過(guò)該觸發(fā)點(diǎn)繼續(xù)多個(gè)指令的執(zhí)行直至探測(cè)和記錄存儲(chǔ)器中的相繼錯(cuò)誤的位置，存儲(chǔ)各個(gè)相繼錯(cuò)誤的位置作為該觸發(fā)點(diǎn)直至停止多個(gè)指令的執(zhí)行?？偟膩?lái)說(shuō)，所公開的實(shí)施例提供以下一個(gè)或多個(gè)優(yōu)點(diǎn)(l)基于大檢測(cè)指令集的可編程要素；(2)可編程重復(fù)功能和可編程重復(fù)計(jì)數(shù)功能；(3)可編程保留4企測(cè)和可編程刷新檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)DRAM時(shí)尤為有用；(4)用于動(dòng)態(tài)干擾故障檢測(cè)的特殊檢測(cè)模式；(5)用于檢測(cè)的可編程組；(6)記錄生成在所檢測(cè)的存儲(chǔ)器(或多個(gè)存儲(chǔ)器)中的故障的新穎的錯(cuò)誤觸發(fā)；(7)在調(diào)試RAM中具有高靈活性的小面積開銷；以及(8)通過(guò)提供這種檢測(cè)作為可編程保留檢測(cè)、可編程刷新檢測(cè)和用于動(dòng)態(tài)干擾故障檢測(cè)的特殊檢測(cè)模式來(lái)確保DRAM質(zhì)量。當(dāng)閱讀附圖時(shí)，；^^開內(nèi)容將從如下詳細(xì)描述中得到最好的理解。需要強(qiáng)調(diào)的是，根據(jù)行業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)做法，不同的特征未按比例繪制且僅用于闡述性目的。事實(shí)上，為了討論的清楚，不同特征的尺寸可以任意增大或減小。圖1是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的可編程BIST結(jié)構(gòu)的簡(jiǎn)圖。圖2是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的可編程BIST寄存器的簡(jiǎn)圖。圖3闡述了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的包含在一組可編程BIST寄存器中的可編程檢測(cè)要素控制寄存器的實(shí)例。6圖4闡述了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的包含在一組可編程BIST寄存器中的可編程檢測(cè)模式寄存器的實(shí)例。具體實(shí)施例方式可以理解的是，以下公開內(nèi)容提供了多個(gè)不同的實(shí)施例或?qū)嵗?，用?lái)實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的不同特征。以下描述部件和裝置的特定實(shí)例以簡(jiǎn)化本公開內(nèi)容。當(dāng)然，以下描述的部件和裝置的特定實(shí)例僅僅是實(shí)例且并不旨在限制。另外，本公開內(nèi)容可以在不同的實(shí)例中重復(fù)使用附圖標(biāo)記和文字。這種重復(fù)用于簡(jiǎn)化和清楚的目的，且并不能由其本身決定所論述的不同實(shí)施例和/或構(gòu)造之間的關(guān)系。參考圖1至4，用于檢測(cè)集成電路存儲(chǔ)器，特別是復(fù)雜的嵌入式動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的可編程BIST(pBIST)結(jié)構(gòu)100和pBIST寄存器200共同在下文中描述?？梢岳斫獾氖?，其他特征可以添加到pBIST結(jié)構(gòu)100和pBIST寄存器200中，且對(duì)于pBIST結(jié)構(gòu)100和pBIST寄存器200的其他實(shí)施例來(lái)說(shuō)，下文描述的一些特征可以被取代或被取消。pBIST結(jié)構(gòu)100和pBIST寄存器200的當(dāng)前實(shí)施例允許編程大指令集以執(zhí)行多重復(fù)雜的自檢測(cè)程序，同時(shí)又能明顯地降低這種指令集所需的面積開銷。參照?qǐng)D1,提供一種pBIST結(jié)構(gòu)100。pBIST結(jié)構(gòu)100包括存儲(chǔ)器110、指令模塊120、有限狀態(tài)機(jī)130、檢測(cè)模式發(fā)生器140、數(shù)據(jù)發(fā)生器142、地址發(fā)生器144、比較器150、存儲(chǔ)器控制模塊160和pBIST寄存器200。pBIST結(jié)構(gòu)IOO檢測(cè)存儲(chǔ)器110的各種故障。存儲(chǔ)器IIO可以包括被檢測(cè)的單一存儲(chǔ)器或多個(gè)存儲(chǔ)器。存儲(chǔ)器IIO可以包括集成電路存儲(chǔ)器芯片，例如隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)、只讀存儲(chǔ)器(ROM)、其他合適的存儲(chǔ)器和/或其組合。RAM可以包括靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SRAM)、動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)、同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SDRAM)、非易失性隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(NVRAM)和/或其他合適的隨機(jī)存取存儲(chǔ)器。ROM可以包括可擦除可編程ROM(EPROM)、電可擦除可編程ROM(EEPROM)、閃存和/或其他合適的只讀存儲(chǔ)器。指令模塊120存儲(chǔ)不同的檢測(cè)指令、數(shù)據(jù)信息和存儲(chǔ)器信息。指令模塊120提供檢測(cè)指令到有限狀態(tài)機(jī)130。典型地，指令模塊120存儲(chǔ)硬編碼檢測(cè)指令，包括檢測(cè)集(例如，算法集)。但是，在指令模塊120中存儲(chǔ)檢測(cè)指令會(huì)導(dǎo)致大的面積開銷，且導(dǎo)致硬編碼設(shè)計(jì)不靈活。常規(guī)的pBIST結(jié)構(gòu)使用指令模塊120來(lái)存儲(chǔ)大的檢測(cè)指令集，這未能提供真正的高速檢測(cè)能力且經(jīng)常展現(xiàn)出對(duì)于實(shí)現(xiàn)多重復(fù)雜的自檢測(cè)程序的能力的不足，特別是當(dāng)檢測(cè)例如DRAM的復(fù)雜的存儲(chǔ)器的時(shí)候。在本實(shí)施例中，pBIST寄存器200提供一種存儲(chǔ)大檢測(cè)指令集的新穎方式，其是面積節(jié)約的，且無(wú)需對(duì)常規(guī)pBIST結(jié)構(gòu)的硬件做改變或再設(shè)計(jì)。pBIST寄存器200提供用于檢測(cè)的基于要素的可編程性(即，一個(gè)檢測(cè)可以一個(gè)要素一個(gè)要素的編程)。如以下進(jìn)一步論述的，一個(gè)要素一個(gè)要素的編程檢測(cè)的能力包括在存儲(chǔ)器單元上運(yùn)行例如讀和寫的組合操作的能力。這種用于檢測(cè)的基于要素的可編程性減小了面積開銷，但仍能使大的指令集在存儲(chǔ)器110上運(yùn)行。表1提供了在pBIST寄存器200中可以一個(gè)要素一個(gè)要素編程的檢測(cè)實(shí)例。<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage9</column></row><table>表l中提供的各個(gè)檢測(cè)探測(cè)被檢測(cè)的存儲(chǔ)器(或多個(gè)存儲(chǔ)器)110的不同類型的故障。"T，，表示操作開始于存儲(chǔ)器中的最低地址且向存儲(chǔ)器中的最高地址前進(jìn)。"r表示操作開始于存儲(chǔ)器中的最高地址且向存儲(chǔ)器中的最低地址前進(jìn)。"r，表示地址順序是無(wú)關(guān)的，操作可以從存儲(chǔ)器中的最高地址開始并向最低地址前進(jìn)，或操作可以從存儲(chǔ)器中的最低地址開始并向最高地址前進(jìn)。"w"表示向被測(cè)的存儲(chǔ)器110寫入，以及"R"表示AM皮測(cè)的存儲(chǔ)器110讀出。"o"表示預(yù)先確定的數(shù)據(jù)模式是寫或讀，以及"r，表示預(yù)先確定的數(shù)據(jù)模式的補(bǔ)集是寫或讀。"暫停"表示沒(méi)有操作(nop),不作操作的指令。本實(shí)施例中的干擾檢測(cè)提供一種用于動(dòng)態(tài)干擾故障檢測(cè)的方法，當(dāng)檢測(cè)動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器時(shí)顯得尤為重要，其中"暫停，vnop可以被編程為單一要素。這種新穎的檢測(cè)包括如下步驟1.在任何地址順序下，寫o到所有位置。2.在最低地址處讀0，在最低地址處寫1，重復(fù)這一系列操作直至到達(dá)最高地址。3.暫停/nop,即，對(duì)存儲(chǔ)器陣列不做任何操作。4.以任意地址順序讀1和寫0，依照所選擇的地址順序，重復(fù)這一系列操作，直至到達(dá)最低地址或最高地址。5.暫停/nop,即，對(duì)存儲(chǔ)器陣列不做任何操作。6.以任意地址順序讀O，依照所選擇的地址順序，重復(fù)這種操作，直至到達(dá)最低地址或最高地址。暫停/nop要素提供檢測(cè)dram的數(shù)據(jù)保留的能力。可以理解的是，"暫停"/nop要素可以編程到任何檢測(cè)中，且不局限于干擾檢測(cè)。pBIST寄存器200降低了與作為用于生成檢測(cè)地址信號(hào)、檢測(cè)數(shù)據(jù)信號(hào)和被檢測(cè)的存儲(chǔ)器110的控制信號(hào)的源的另一從屬嵌入式存儲(chǔ)器的依存關(guān)系。參考圖2，pBIST寄存器200包括多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器202、檢測(cè)要素重復(fù)計(jì)數(shù)寄存器204、刷新時(shí)間寄存器206、檢測(cè)模式寄存器208、檢測(cè)循環(huán)寄存器210、檢測(cè)控制寄存器212、組開始寄存器214、組終止寄存器216、檢測(cè)狀態(tài)寄存器218、故障計(jì)數(shù)寄存器220、故障數(shù)據(jù)寄存器222以及故障地址寄存器224?？梢岳斫獾氖?，pBIST寄存器200的數(shù)量、種類和功能不局限于以下列出或探討的那些。pBIST寄存器200可以提供其他功能。pBIST寄存器200可以進(jìn)一步包括由一個(gè)或多個(gè)寄存器實(shí)現(xiàn)的任意組合的功能。檢測(cè)要素控制寄存器202提供檢測(cè)的基于要素的可編程性。多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器202定義了多個(gè)檢測(cè)要素。具體地，每一個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器202可以編程一種檢測(cè)的單一要素。例如，如果pBIST寄存器200包括十六個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器202(其中各個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器202具有多重控制位)，則接著可以編程十六種要素?？梢岳斫獾氖牵琾BIST寄存器200的組可以包括任意數(shù)量的檢測(cè)要素控制寄存器202。圖3提供了可編程檢測(cè)要素控制寄存器的一個(gè)實(shí)施例?？删幊虣z測(cè)要素控制寄存器可以包括十三個(gè)控制位。多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器202可以包括任意適量的控制位。在可替換的實(shí)施例中，多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器202可以包括一個(gè)控制位，該控制位適于任何適當(dāng)?shù)墓δ芎?或提供不同功能的控制位的任意組合，這種功能和組合不局限于下文探討的那些。檢測(cè)要素控制寄存器在零-一檢測(cè)中，"wO",對(duì)第一要素進(jìn)行編程。第一位是可編程的重復(fù)位，確定是否重復(fù)特定的檢測(cè)要素。在本實(shí)施例中，第一位是"0"，其表明禁止重復(fù)功能。如果第一位是'T，，則啟動(dòng)重復(fù)功能。當(dāng)啟動(dòng)重復(fù)功能時(shí)，檢測(cè)要素重復(fù)計(jì)數(shù)寄存器204定義了檢測(cè)要素重復(fù)的次數(shù)。在一些實(shí)施例中，pBIST寄存器200可以包括多個(gè)檢測(cè)要素重復(fù)計(jì)數(shù)寄存器204，以便各個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器202與檢測(cè)要素重復(fù)計(jì)數(shù)寄存器204—致。可編程重復(fù)位提供一種可編程保留檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)DRAM的保留時(shí)尤為有用。例如，檢測(cè)要素控制寄存器在以上介紹的干擾檢測(cè)中可以編程為"暫停，，要素，且可進(jìn)一步被編程而為"暫停"要素啟動(dòng)重復(fù)功能。重復(fù)"暫停，，要素任意次數(shù)來(lái)檢測(cè)DRAM保持?jǐn)?shù)據(jù)的能力。10在編程檢測(cè)要素控制寄存器中的第二位是一個(gè)可編程的刷新位，表示是否啟動(dòng)內(nèi)部刷新功能。在本實(shí)施例中，內(nèi)部刷新是啟動(dòng)的。當(dāng)啟動(dòng)內(nèi)部刷新位時(shí)，刷新時(shí)間寄存器206規(guī)定插入刷新的一個(gè)時(shí)間(或多個(gè)時(shí)間)。接著，三位字段(第三、第四和第五位)是一種數(shù)據(jù)反轉(zhuǎn)控制，其規(guī)定是否反轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)。編程檢測(cè)要素控制寄存器進(jìn)一步包括一個(gè)讀控制位(第六位)和一個(gè)寫控制位(第七位)，其禁止或啟動(dòng)讀和寫功能。分離的可編程讀和寫控制位能夠使得組合操作在存儲(chǔ)器單元上實(shí)施(即，如果讀和寫控制位設(shè)置成啟動(dòng)讀操作和寫操作，則在前進(jìn)到第二存儲(chǔ)器單元之前，在第一存儲(chǔ)器單元上實(shí)施讀和寫操作)。在本實(shí)施例中，因?yàn)榫幊虣z測(cè)要素控制寄存器在零-一檢測(cè)，"wO，，下對(duì)第一要素進(jìn)行編程，則啟動(dòng)寫功能并禁止讀功能。包括了第八和第九位的兩位字段表示在檢測(cè)序列中的第一操作。包括第十、第十一和第十二位的三位字段表示操作總數(shù)減一。第十三位表示地址順序，例如檢測(cè)要素是升序運(yùn)行還是降序運(yùn)行。當(dāng)?shù)刂讽樞蛭皇?o，，時(shí)，地址以升序讀取，開始于最低地址位置并連續(xù)通過(guò)各個(gè)相繼的較高地址位置，直至到達(dá)最高地址。當(dāng)?shù)刂讽樞蛭皇?r，時(shí)，地址以降序讀取，開始于最高地址位置并連續(xù)通過(guò)各個(gè)相繼的較低地址位置，直至到達(dá)最低地址。檢測(cè)模式寄存器208定義了多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器202中編程的各個(gè)要素的檢測(cè)設(shè)置。圖4提供編程檢測(cè)模式寄存器的一個(gè)實(shí)施例。編程檢測(cè)模式寄存器可以包括二十二個(gè)控制位?？梢岳斫獾氖?，檢測(cè)模式寄存器208可以包括任意適量的控制位。可以進(jìn)一步理解的是，檢測(cè)模式寄存器208可以包括用于任何適當(dāng)?shù)墓δ芎?或提供不同功能的控制位的任意組合的一個(gè)控制位，這種功能和組合不局限于以下探討的那些。編程檢測(cè)模式寄存器包括用于禁止/啟動(dòng)數(shù)據(jù)編碼功能的第一位，以及用于禁止/啟動(dòng)錯(cuò)誤觸發(fā)模式的第二位。在本實(shí)施例中，啟動(dòng)了錯(cuò)誤觸發(fā)模式，其提供了用于記錄在存儲(chǔ)器110上運(yùn)行檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)的故障的新故障觸發(fā)模式。本實(shí)施例中通過(guò)每次尋找、存儲(chǔ)和記錄一個(gè)故障來(lái)記錄故障。例如，在一個(gè)實(shí)施例中，該方法包括運(yùn)行檢測(cè)、探測(cè)第一錯(cuò)誤、記錄第一錯(cuò)誤、存儲(chǔ)第一錯(cuò)誤的位置作為一個(gè)觸發(fā)點(diǎn)、通過(guò)該觸發(fā)點(diǎn)運(yùn)行檢測(cè)直至探測(cè)第二錯(cuò)誤、記錄第二錯(cuò)誤、存儲(chǔ)第二錯(cuò)誤的位置作為一個(gè)新的觸發(fā)點(diǎn)、通過(guò)該觸發(fā)點(diǎn)運(yùn)行檢測(cè)直至探測(cè)第三錯(cuò)誤等等。記錄故障的錯(cuò)誤觸發(fā)方法的本實(shí)施例導(dǎo)致低的面積開銷。與常規(guī)pBIST結(jié)構(gòu)不同，檢測(cè)模式寄存器208包括用于管理數(shù)據(jù)模式切換的三個(gè)分離控制。這三個(gè)分離的數(shù)據(jù)模式切換控制允許用于動(dòng)態(tài)干擾檢測(cè)的一種特殊模式，當(dāng)檢測(cè)動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器時(shí)尤為有用。在本實(shí)施例中，編程檢測(cè)模式寄存器包括一個(gè)三位字段(第三、第四和第五位)來(lái)控制用于產(chǎn)生不同字線圖案的數(shù)據(jù)模式切換，一位(第六位)通過(guò)行地址來(lái)控制數(shù)據(jù)模式切換，且一位(第七位)通過(guò)列地址來(lái)控制數(shù)據(jù)模式切換。編程檢測(cè)模式寄存器進(jìn)一步包括一個(gè)兩位字段(第八和第九位)，用于禁止/啟動(dòng)一個(gè)快速行模式并確定是否檢測(cè)所有組；一個(gè)八位字段(第十到第十七位)，用于確定讀或者寫數(shù)據(jù)；以及一個(gè)五位字段(第十八到第二十二位)，表示檢測(cè)中的要素?cái)?shù)目減一。檢測(cè)循環(huán)寄存器210選擇和確定重復(fù)檢測(cè)(即，特定的算法或算法集)的次數(shù)。檢測(cè)循環(huán)寄存器210可以重復(fù)檢測(cè)直至接收一個(gè)終止命令，且允許無(wú)限循環(huán)檢測(cè)。檢測(cè)控制寄存器212發(fā)出一個(gè)運(yùn)行命令到pBIST以開始一個(gè)檢測(cè)(或多個(gè)^r測(cè))。常規(guī)pBIST結(jié)構(gòu)在一個(gè)存儲(chǔ)器陣列中的所有存儲(chǔ)器組上運(yùn)行檢測(cè)/算法，即，第一檢測(cè)要素施加到每一個(gè)組中的所有位，接著第二檢測(cè)要素施加到每一個(gè)組中的所有位，等等。本實(shí)施例提供用于檢測(cè)的可編程組。組開始寄存器214和組終止寄存器216控制組以便一個(gè)檢測(cè)要素或多個(gè)纟企測(cè)要素施加到組。組開始寄存器214定義了用于檢測(cè)運(yùn)行的開始組。組終止寄存器216定義了用于檢測(cè)運(yùn)行的結(jié)束組。例如，在一個(gè)實(shí)施例中，存儲(chǔ)器IIO可以包括三十二個(gè)(32)組，組#0到組#31。組開始寄存器214可以編程到組#2,且組終止寄存器216可以編程到組#15。因此，4企測(cè)要素將運(yùn)行通過(guò)組#2中的所有位、組#3中的所有位，...直至組#15中的所有位。可編程組開始寄存器214和組終止寄存器216允許檢測(cè)存儲(chǔ)器單元中不同的存儲(chǔ)器組，而無(wú)需在存儲(chǔ)器單元中的所有存儲(chǔ)器組上運(yùn)行檢測(cè)。在一些實(shí)施例中，檢測(cè)要素可以僅在存儲(chǔ)器的一個(gè)組上運(yùn)行。在一些實(shí)施例中，檢測(cè)要素可以僅在存儲(chǔ)器的某一部分/組上運(yùn)行。檢測(cè)狀態(tài)寄存器218記錄來(lái)自pBIST運(yùn)行的各個(gè)檢測(cè)的結(jié)果。故障計(jì)數(shù)寄存器210存儲(chǔ)和報(bào)告發(fā)生在特定檢測(cè)運(yùn)行中的故障總數(shù)。故障地址寄存器212存儲(chǔ)和報(bào)告發(fā)生在特定檢測(cè)運(yùn)行中的地址故障的總數(shù)。故障數(shù)據(jù)寄存器214存儲(chǔ)和報(bào)告發(fā)生在特定檢測(cè)運(yùn)行中的故障的數(shù)據(jù)總數(shù)。有限狀態(tài)機(jī)(CTRL—FSM)130是可編程的，以根據(jù)從指令模塊120和pBIST寄存器200接收的檢測(cè)指令，在一個(gè)存儲(chǔ)器或多個(gè)存儲(chǔ)器IIO上執(zhí)行檢測(cè)的特定序列。檢測(cè)模式發(fā)生器(TPG)140包括數(shù)據(jù)發(fā)生器142和地址發(fā)生器144。數(shù)據(jù)發(fā)生器142和地址發(fā)生器144根據(jù)從有限狀態(tài)機(jī)130接收的控制信號(hào)來(lái)一起生成檢測(cè)地址和檢測(cè)數(shù)據(jù)。比較器150的作用是將存儲(chǔ)器110的實(shí)際響應(yīng)與已知的、存儲(chǔ)的響應(yīng)作比較。存儲(chǔ)器控制模塊160將從檢測(cè)模式發(fā)生器140接收的檢測(cè)地址和檢測(cè)數(shù)據(jù)施加到檢測(cè)下的一個(gè)存儲(chǔ)器(或多個(gè)存儲(chǔ)器)110?？偟膩?lái)說(shuō)，所公開的實(shí)施例提供以下一個(gè)或多個(gè)優(yōu)點(diǎn)(l)基于大檢測(cè)指令集的可編程要素；(2)可編程重復(fù)功能和可編程重復(fù)計(jì)數(shù)功能；(3)可編程保留檢測(cè)和可編程刷新檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)DRAM時(shí)尤為有用；(4)用于動(dòng)態(tài)干擾故障檢測(cè)的特殊檢測(cè)模式；(5)用于檢測(cè)的可編程組；(6)記錄生成在所檢測(cè)的存儲(chǔ)器(或多個(gè)存儲(chǔ)器)中的故障的新穎的錯(cuò)誤觸發(fā)；(7)在調(diào)試RAM中具有高靈活性的小面積開銷；以及(8)通過(guò)提供這種檢測(cè)作為可編程保留檢測(cè)、可編程刷新檢測(cè)和用于動(dòng)態(tài)干擾故障檢測(cè)的特殊檢測(cè)模式來(lái)確保DRAM質(zhì)量。發(fā)生器前述內(nèi)容概述了幾個(gè)實(shí)施例的特征，以便本領(lǐng)域技術(shù)人員可以更好的理解本公開內(nèi)容的觀點(diǎn)。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到，他們可以容易地使用相同優(yōu)點(diǎn)的其他方法和結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)。本領(lǐng)域技術(shù)人員還應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到，這些等價(jià)構(gòu)造未背離本公開內(nèi)容的精神和范圍，且在不背離本公開內(nèi)容的精神和范圍的情況下，他們可以在這里做出不同的改變、替換和變型。1權(quán)利要求1.一種用于檢測(cè)集成電路的存儲(chǔ)器的系統(tǒng)，包括一組寄存器，提供用于多個(gè)檢測(cè)的基于要素的可編程性，即，一個(gè)檢測(cè)可以一個(gè)要素一個(gè)要素的編程，其中各個(gè)檢測(cè)包括多個(gè)檢測(cè)要素；一個(gè)有限狀態(tài)機(jī)，用于從所述寄存器組接收多個(gè)檢測(cè)指令，其中所述有限狀態(tài)機(jī)分配信號(hào)來(lái)指示檢測(cè)模式發(fā)生器以產(chǎn)生檢測(cè)模式；一個(gè)存儲(chǔ)器控制模塊，用于將所產(chǎn)生的檢測(cè)模式施加到存儲(chǔ)器；以及一個(gè)比較器模塊，用于將從所述存儲(chǔ)器接收的響應(yīng)與所存儲(chǔ)的、已知的響應(yīng)相比較。2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述寄存器組包括用于定義所述多個(gè)檢測(cè)要素的多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器。3.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其中所述多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器包括用于控制寫功能的至少一位以及用于控制讀功能的至少一位、用于啟動(dòng)重復(fù)功能的至少一個(gè)可編程位或者用于啟動(dòng)刷新功能的至少一個(gè)可編程位。4.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其中所述寄存器組包括一個(gè)檢測(cè)要素重復(fù)計(jì)數(shù)寄存器，其指定了對(duì)于定義了一個(gè)檢測(cè)要素的至少一個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器，該檢測(cè)要素被重復(fù)的次數(shù)；或者包括用于為多個(gè)檢測(cè)要素控制寄存器定義檢測(cè)設(shè)置的至少一個(gè)檢測(cè)模式寄存器。5.如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中所述至少一個(gè)檢測(cè)模式寄存器包括通過(guò)列地址用于控制數(shù)據(jù)模式觸發(fā)的至少一位、通過(guò)行地址用于控制數(shù)據(jù)模式觸發(fā)的至少一位以及用于控制數(shù)據(jù)模式觸發(fā)來(lái)生成字線圖案的至少一位，或者用于啟動(dòng)錯(cuò)誤觸發(fā)模式的至少一個(gè)可編程位。6.如權(quán)利要求l所述的系統(tǒng)，其中所述寄存器組包括一個(gè)刷新時(shí)間寄存器，其定義了用于插入一個(gè)刷新的至少一個(gè)時(shí)間。7.如權(quán)利要求l所述的系統(tǒng)，其中所述寄存器組包括一個(gè)組開始寄存器和一個(gè)組終止寄存器，其中所述組開始寄存器定義了用于一個(gè)檢測(cè)的存儲(chǔ)器的一個(gè)開始組，且組終止寄存器定義了用于一個(gè)^r測(cè)的存儲(chǔ)器的一個(gè)終止組。8.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其中所述組開始寄存器和所述組終止寄存器提供了檢測(cè)分立存儲(chǔ)器組和/或存儲(chǔ)器組的不同組群的能力。9.如權(quán)利要求l所述的系統(tǒng)，其中所述寄存器組包括一個(gè)檢測(cè)循環(huán)寄存器，其選擇重復(fù)一個(gè)檢測(cè)直至接收到終止命令。10.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述多個(gè)檢測(cè)包括零-一、棋盤、MATS、MATS+、MATS++、進(jìn)程X、進(jìn)程C、進(jìn)程C-、進(jìn)程Y、M0VI和干擾。11.如權(quán)利要求10所述的系統(tǒng)，其中所述多個(gè)檢測(cè)的至少一個(gè)包括暫停才企測(cè)要素。12.—種用于檢測(cè)集成電路的存儲(chǔ)器的方法，其中所述存儲(chǔ)器包括多個(gè)存儲(chǔ)器組，所述方法包括編程包括了編程多個(gè)檢測(cè)要素的寄存器組，其中編程多個(gè)檢測(cè)要素的各種組合表示多個(gè)4企測(cè)；生成符合所述編程的寄存器組的多個(gè)檢測(cè)指令；執(zhí)行所述多個(gè)檢測(cè)指令以檢測(cè)存儲(chǔ)器；存儲(chǔ)所執(zhí)行的所述多個(gè)檢測(cè)指令生成的結(jié)果；以及通過(guò)將所述存儲(chǔ)的結(jié)果與已知的響應(yīng)相比較來(lái)確定存儲(chǔ)器的質(zhì)量。13.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)存儲(chǔ)器的方法，其中編程多個(gè)檢測(cè)要素進(jìn)一步包括為多個(gè)檢測(cè)要素的至少一個(gè)檢測(cè)要素啟動(dòng)重復(fù)功能且為至少一個(gè)被重復(fù)的檢測(cè)要素定義重復(fù)次數(shù)、或者為多個(gè)檢測(cè)要素的至少一個(gè)檢測(cè)要素啟動(dòng)刷新功能且定義用于插入刷新的時(shí)間。14.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)存儲(chǔ)器的方法，其中編程pBIST寄存器組進(jìn)一步包括定義一個(gè)開始存儲(chǔ)器組和定義一個(gè)終止存儲(chǔ)器組，其中所述定義提供了檢測(cè)分立存儲(chǔ)器組和存儲(chǔ)器組的不同組群的能力。15.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)存儲(chǔ)器的方法，其中執(zhí)行多個(gè)檢測(cè)指令并存儲(chǔ)所執(zhí)行的多個(gè)指令生成的結(jié)果進(jìn)一步包括探測(cè)和記錄存儲(chǔ)器中的第一錯(cuò)誤的位置，存儲(chǔ)所述位置作為觸發(fā)點(diǎn)；繼續(xù)通過(guò)觸發(fā)點(diǎn)的多個(gè)指令的執(zhí)行直至探測(cè)和記錄存儲(chǔ)器中的第二錯(cuò)誤的位置，存儲(chǔ)第二錯(cuò)誤的位置作為觸發(fā)點(diǎn)；繼續(xù)通過(guò)觸發(fā)點(diǎn)的多個(gè)指令的執(zhí)行直至探測(cè)和記錄存儲(chǔ)器中的相繼錯(cuò)誤的位置，存儲(chǔ)各個(gè)相繼錯(cuò)誤的位置作為觸發(fā)點(diǎn)直至停止多個(gè)指令的執(zhí)行。全文摘要本發(fā)明公開了一種可提供用于檢測(cè)存儲(chǔ)器的大指令集又能降低面積開銷的系統(tǒng)。這種用于檢測(cè)集成電路的存儲(chǔ)器的系統(tǒng)包括一組寄存器，提供用于多個(gè)檢測(cè)的基于要素的可編程性，即一個(gè)檢測(cè)可以一個(gè)要素一個(gè)要素的編程，其中各個(gè)檢測(cè)包括多個(gè)檢測(cè)要素；一個(gè)有限狀態(tài)機(jī)，用于從寄存器組接收多個(gè)檢測(cè)指令，其中該有限狀態(tài)機(jī)分配信號(hào)來(lái)指示檢測(cè)模式發(fā)生器以產(chǎn)生檢測(cè)模式；一個(gè)存儲(chǔ)器控制模塊，用于將所產(chǎn)生的檢測(cè)模式施加到存儲(chǔ)器；以及一個(gè)比較器模塊，用于將從存儲(chǔ)器接收的響應(yīng)與所存儲(chǔ)的、已知的響應(yīng)相比較。文檔編號(hào)G11C29/16GK101661799SQ20091016656公開日2010年3月3日申請(qǐng)日期2009年8月26日優(yōu)先權(quán)日2008年8月27日發(fā)明者張晴雯,林士杰,鄭瑋嘉申請(qǐng)人:臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司