一種測試硬盤的方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種測試硬盤的方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，用戶對(duì)電子設(shè)備的要求也越來越高。其中，硬盤是很多 電子設(shè)備中非常重要的一個(gè)組成部分，為了保證電子設(shè)備的應(yīng)用環(huán)境的穩(wěn)定、可靠和高性 能等，電子設(shè)備中的硬盤的性能需要滿足要求，這就需要對(duì)硬盤進(jìn)行全面的功能性、穩(wěn)定性 等性能測試，找到滿足要求的硬盤。
[0003] 現(xiàn)有技術(shù)中，用戶對(duì)測試硬盤的工具進(jìn)行手動(dòng)配置，然后對(duì)單個(gè)硬盤進(jìn)行測試，輸 出測試數(shù)據(jù)。通過上述描述可見，現(xiàn)有技術(shù)中，一般只是對(duì)單個(gè)硬盤進(jìn)行測試，無法同時(shí)對(duì) 多個(gè)硬盤的性能進(jìn)行測試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 有鑒于此，本發(fā)明提供了一種測試硬盤的方法及裝置，能夠同時(shí)對(duì)多個(gè)硬盤的性 能進(jìn)行測試。
[0005] 一方面，本發(fā)明提供了一種測試硬盤的方法，包括：預(yù)先設(shè)置用于存儲(chǔ)測試數(shù)據(jù)的 excel模板，預(yù)先設(shè)置多個(gè)待測試硬盤，預(yù)先設(shè)置多種測試環(huán)境組合，其中，每種測試環(huán)境組 合中包括：讀寫模式、數(shù)據(jù)塊大小、IO深度，還包括：
[0006] Sl:根據(jù)當(dāng)前測試環(huán)境組合，對(duì)多個(gè)待測試硬盤進(jìn)行測試；
[0007] S2 :輸出所有待測試硬盤的測試數(shù)據(jù)；
[0008] S3 :將所述測試數(shù)據(jù)導(dǎo)入到所述excel模板中；
[0009]S4:通過所述excel模板將測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成測試結(jié)果圖表。
[0010] 進(jìn)一步地，所述讀寫模式包括：順序讀、順序?qū)?、隨機(jī)讀、隨機(jī)寫；
[0011] 所述數(shù)據(jù)塊大小包括：512b、lk、2k、4k、8k、16k、32k、64k、128k、256k、512k、lM;
[0012] 所述IO深度包括：1、2、4、8、16、32、64、128。
[0013] 進(jìn)一步地，所述S3包括：
[0014] 將生成的用于存儲(chǔ)測試數(shù)據(jù)的TXT文件中的數(shù)據(jù)導(dǎo)入到所述excel模板的原始數(shù) 據(jù)頁中；
[0015] 所述S4包括：
[0016] 通過所述excel模板根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)頁中的數(shù)據(jù)生成所述測試結(jié)果圖表。
[0017] 進(jìn)一步地，在所述Sl之前，還包括：預(yù)先設(shè)置測試腳本；
[0018] 所述S1，包括：通過所述測試腳本，根據(jù)當(dāng)前測試環(huán)境組合配置FIO,通過FIO對(duì)多 個(gè)待測試硬盤進(jìn)行測試。
[0019] 進(jìn)一步地，所述S2包括：輸出每個(gè)待測試硬盤的每秒進(jìn)行讀寫操作的次數(shù)IOPS和 帶寬，其中，所述測試數(shù)據(jù)包括：IOPS和帶寬。
[0020] 另一方面，本發(fā)明提供了一種測試硬盤的裝置，包括：
[0021] 設(shè)置單元，用于設(shè)置用于存儲(chǔ)測試數(shù)據(jù)的excel模板，設(shè)置多個(gè)待測試硬盤，設(shè)置 多種測試環(huán)境組合，其中，每種測試環(huán)境組合中包括：讀寫模式、數(shù)據(jù)塊大小、IO深度；
[0022] 測試單元，用于根據(jù)當(dāng)前測試環(huán)境組合，對(duì)多個(gè)待測試硬盤進(jìn)行測試；
[0023] 輸出單元，用于輸出所有待測試硬盤的測試數(shù)據(jù)；
[0024] 導(dǎo)入單元，用于將所述測試數(shù)據(jù)導(dǎo)入到所述excel模板中；
[0025] 轉(zhuǎn)換單元，用于通過所述excel模板將測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成測試結(jié)果圖表。
[0026] 進(jìn)一步地，所述讀寫模式包括：順序讀、順序?qū)?、隨機(jī)讀、隨機(jī)寫；
[0027]所述數(shù)據(jù)塊大小包括：512b、lk、2k、4k、8k、16k、32k、64k、128k、256k、512k、lM;
[0028]所述IO深度包括：1、2、4、8、16、32、64、128。
[0029] 進(jìn)一步地，所述導(dǎo)入單元，用于將生成的用于存儲(chǔ)測試數(shù)據(jù)的TXT文件中的數(shù)據(jù) 導(dǎo)入到所述excel模板的原始數(shù)據(jù)頁中；
[0030] 所述轉(zhuǎn)換單元，用于通過所述excel模板根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)頁中的數(shù)據(jù)生成所述 測試結(jié)果圖表。
[0031] 進(jìn)一步地，還包括：
[0032] 腳本設(shè)置單元，用于設(shè)置測試腳本；
[0033] 所述測試單元，用于通過所述測試腳本，根據(jù)當(dāng)前測試環(huán)境組合配置FIO,通過 FIO對(duì)多個(gè)待測試硬盤進(jìn)行測試。
[0034] 進(jìn)一步地，所述輸出單元，用于輸出每個(gè)待測試硬盤的每秒進(jìn)行讀寫操作的次數(shù) IOPS和帶寬，其中，所述測試數(shù)據(jù)包括：IOPS和帶寬。
[0035] 本發(fā)明提供了一種測試硬盤的方法及裝置，預(yù)先設(shè)置多個(gè)待測試硬盤，預(yù)先設(shè)置 多種測試環(huán)境組合，在每種測試環(huán)境組合中，對(duì)每一個(gè)待測試硬盤進(jìn)行測試，得到所有待測 試硬盤在每種測試環(huán)境組合中的測試數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)多個(gè)待測試硬盤同時(shí)進(jìn)行測試，將測試 數(shù)據(jù)導(dǎo)入到excel模板中，通過excel模板將測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成測試結(jié)果圖表，能夠更直觀的 顯示每種硬盤的性能。
【附圖說明】
[0036] 為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn) 有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明 的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù) 這些附圖獲得其他的附圖。
[0037] 圖1是本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種測試硬盤的方法的流程圖；
[0038] 圖2是本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種測試硬盤的方法的流程圖；
[0039] 圖3是本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種測試硬盤的裝置的示意圖；
[0040]圖4是本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種測試硬盤的裝置的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0041] 為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例 中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是 本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例，基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員 在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0042] 如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種測試硬盤的方法，該方法可以包括以下步 驟：
[0043] SO:預(yù)先設(shè)置用于存儲(chǔ)測試數(shù)據(jù)的excel模板，預(yù)先設(shè)置多個(gè)待測試硬盤，預(yù)先設(shè) 置多種測試環(huán)境組合，其中，每種測試環(huán)境組合中包括：讀寫模式、數(shù)據(jù)塊大小、IO深度； [0044]Sl:根