專利名稱：硬盤測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置，特別涉及一種硬盤測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
通常，硬盤模塊發(fā)出硬盤電源狀態(tài)(PWG)信號(hào)以指示硬盤是否工作正常。因此，在存儲(chǔ)產(chǎn)品研發(fā)階段，需要對(duì)PWG信號(hào)進(jìn)行信號(hào)完整性測(cè)試，以確保存儲(chǔ)產(chǎn)品的品質(zhì)符合設(shè)計(jì)要求。然而，目前的測(cè)試方式是利用插拔硬盤的方式來(lái)觸發(fā)PWG信號(hào)，由于反復(fù)的插拔硬盤容易造成硬盤損壞，而增加測(cè)試成本。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種硬盤測(cè)試裝置，以解決硬盤測(cè)試時(shí)由于反復(fù)插拔硬盤而造成硬盤損壞的問(wèn)題。一種硬盤測(cè)試裝置，包括一第一連接器，用于與一電腦主機(jī)板上的第二連接器配合，所述第二連接器連接所述電腦主機(jī)板的一存儲(chǔ)控制器；一控制電路，用于通過(guò)所述第一連接器及第二連接器接收所述存儲(chǔ)控制器輸出的電壓信號(hào)并將所述電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為硬盤電源信號(hào)后輸出給一偵測(cè)電路；及所述偵測(cè)電路包括一與門、第一至第四電阻，所述與門的第一輸入端經(jīng)所述第一電阻接地及經(jīng)所述第二電阻連接所述控制電路，所述與門的第二輸入端經(jīng)所述第三電阻接地及經(jīng)所述第四電阻連接所述控制電路，所述與門的輸出端連接所述第一連接器的測(cè)量引腳，所述與門的第一及第二輸入端接收所述控制電路輸出的硬盤電源信號(hào)并輸出一硬盤電源狀態(tài)信號(hào)至所述第一連接器的相應(yīng)引腳，通過(guò)一測(cè)量設(shè)備捕獲所述第一連接器引腳的硬盤電源狀態(tài)信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。相較現(xiàn)有技術(shù)，所述硬盤測(cè)試裝置通過(guò)所述控制電路將所述存儲(chǔ)控制器輸出的電壓轉(zhuǎn)換為硬盤電源信號(hào)并提供給所述偵測(cè)電路以使所述偵測(cè)電路根據(jù)偵測(cè)到的硬盤電源信號(hào)輸出硬盤電源狀態(tài)信號(hào)，并通過(guò)測(cè)量設(shè)備捕獲此時(shí)的硬盤電源狀態(tài)信號(hào)以此來(lái)檢測(cè)硬盤的電源狀態(tài)信號(hào)的信號(hào)完整性。所述硬盤測(cè)試裝置可以模擬一硬盤，以解決硬盤測(cè)試時(shí)由于反復(fù)插拔硬盤而造成硬盤損壞的問(wèn)題。


下面參照附圖結(jié)合具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。圖1為本發(fā)明硬盤測(cè)試裝置通過(guò)一第二連接器連接一存儲(chǔ)控制器的示意圖。圖2至圖4為本發(fā)明硬盤測(cè)試裝置的較佳實(shí)施方式的電路圖。主要元件符號(hào)說(shuō)明硬盤測(cè)試裝置 100第一連接器 Jl
第二連接器 200存儲(chǔ)控制器 300控制電路10電壓轉(zhuǎn)換電路20偵測(cè)電路30電源交換控制器Ul與門U2硅管Zl電阻RO-Rl 7電容C1-C14場(chǎng)效應(yīng)管 Q1、Q具體實(shí)施例方式請(qǐng)參照?qǐng)D1至圖4，本發(fā)明硬盤測(cè)試裝置100用于模擬一硬盤發(fā)出電源狀態(tài)(PWG) 信號(hào)以用來(lái)測(cè)試硬盤工作狀態(tài)。所述硬盤測(cè)試裝置100的較佳實(shí)施方式包括一第一連接器 J1、一控制電路10、一電壓轉(zhuǎn)換電路20及一偵測(cè)電路30。所述第一連接器J1、控制電路10、 電壓轉(zhuǎn)換電路20及偵測(cè)電路30均設(shè)置在一電路板(圖未示)上。所述第一連接器Jl用于與一電腦主機(jī)板400上的第二連接器200配合連接，所述第二連接器200與所述電腦主機(jī)板400上的一存儲(chǔ)控制器300 (如硬盤存儲(chǔ)控制器)連接。所述控制電路10用于通過(guò)所述第一連接器Jl及第二連接器200接收所述電腦主機(jī)板400上存儲(chǔ)控制器300輸出的電壓信號(hào)并將所述電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為硬盤電源信號(hào)輸出給所述偵測(cè)電路30。所述電壓轉(zhuǎn)換電路 20用于將通過(guò)所述第一連接器Jl及第二連接器200接收到的5V電壓轉(zhuǎn)換為一 3. 3V電壓并提供給所述偵測(cè)電路30。所述偵測(cè)電路30用于接收所述電壓轉(zhuǎn)換電路20輸出的3. 3V 轉(zhuǎn)換電壓及接收所述控制電路10輸出的硬盤電源信號(hào)并根據(jù)接收到的硬盤電源信號(hào)輸出一 PWG信號(hào)至所述第一連接器Jl，通過(guò)一測(cè)量設(shè)備(如示波器)捕獲所述第一連接器Jl上的PWG信號(hào)以此來(lái)檢測(cè)硬盤的電源狀態(tài)信號(hào)的信號(hào)完整性。所述第一連接器Jl的接地引腳SGND_1-SGND_6及GND_2_GND_5均接地，其測(cè)量弓I 腳V33_3連接所述偵測(cè)電路30，其控制引腳RSV連接所述控制電路10，所述第一連接器Jl 的接地引腳GND_1經(jīng)一電阻RO接地，其電壓引腳V5_l經(jīng)一電阻Rl所述控制電路10，電壓引腳V5_2及V5_3均連接所述控制電路10，其電壓引腳12V_1經(jīng)所述電阻R2連接所述控制電路10，電壓引腳12V_2及12V_3均連接所述控制電路10。在本實(shí)施方式中，第一連接器 Jl 的型號(hào) FCI-100;34524-001LF。所述控制電路10包括電容C1-C12、電阻R3-R9、電源交換控制器Ul及場(chǎng)效應(yīng)管 Ql及Q2。所述電源交換控制器Ul的使能引腳ENABLE連接所述第一連接器Jl的控制引腳 RSV，其轉(zhuǎn)換引腳ISETl經(jīng)所述電阻R4連接轉(zhuǎn)換引腳mi并連接至所述第一連接器Jl的電壓引腳V5_l，所述電源交換控制器Ul的轉(zhuǎn)換引腳ISET2經(jīng)所述電阻R5連接轉(zhuǎn)換引腳IN2 并連接至所述第一連接器Jl的電壓引腳V12_l。所述電容C7串接在所述電源交換控制器 Ul的轉(zhuǎn)換引腳IN2與地之間，所述電容C8串接在所述電源交換控制器Ul的轉(zhuǎn)換引腳INl 與地之間。所述電源交換控制器Ul的電壓引腳DISCHl連接所述偵測(cè)電路30、經(jīng)所述電容CN 102541701 ACl接地及連接所述場(chǎng)效應(yīng)管Ql的源極，所述電容C2及C3與所述電容Cl并聯(lián)，所述場(chǎng)效應(yīng)管Ql的柵極經(jīng)所述電容C12接地及經(jīng)所述電阻R8連接所述電源交換控制器Ul的控制引腳GATEl，其漏極連接所述電源交換控制器Ul的感應(yīng)引腳ISENSE1及經(jīng)所述電阻R7連接所述電源交換控制器Ul的轉(zhuǎn)換引腳IN1。所述電源交換控制器Ul的電壓引腳DISCH2連接所述偵測(cè)電路30、經(jīng)所述電容C4接地及連接所述場(chǎng)效應(yīng)管Q2的源極，所述電容C5及C6 與所述電容C4并聯(lián)，所述場(chǎng)效應(yīng)管Q2的柵極經(jīng)所述電容Cll接地及經(jīng)所述電阻R9連接所述電源交換控制器Ul的控制引腳GATE2，其漏極連接所述電源交換控制器Ul的感應(yīng)引腳 ISENSE2及經(jīng)所述電阻R6連接所述電源交換控制器Ul的轉(zhuǎn)換引腳IN2。所述電阻R3串接在所述電源交換控制器Ul的數(shù)值引腳FAULT與電壓引腳DISCH2之間。所述電源交換控制器Ul的接地引腳DGND及AGND均接地，所述電容C9串接在所述電源交換控制器Ul的時(shí)鐘弓丨腳TIMER與地之間，所述電容ClO串接在所述電源交換控制器Ul的寄存引腳VREG與地之間。在本實(shí)施方式中，所述電源交換控制器的型號(hào)為TPS2320IPWR。所述電壓轉(zhuǎn)換電路20包括一硅管Z1、電阻R15-R17及電容C14。所述硅管Zl的陽(yáng)極接地，其陰極連接所述偵測(cè)電路30及經(jīng)所述電阻R15連接所述第一連接器Jl的電壓引腳V5_l，所述電阻R17串接在所述硅管Zl的控制極與陽(yáng)極之間，所述電阻R16串接在所述硅管Zl的控制極與陰極之間，所述電容C14串接在所述硅管Zl的陰極與地之間。所述偵測(cè)電路30包括一與門U2、電阻R10-R14及電容C13。所述與門U2的第一輸入端經(jīng)所述電阻R13接地及經(jīng)所述電阻R12連接所述電源交換控制器Ul的電壓引腳 DISCH1，所述與門U2的第二輸入端經(jīng)所述電阻Rll接地及經(jīng)所述電阻RlO連接所述電源交換控制器Ul的電壓引腳DISCH2，所述與門U2的電壓端連接所述硅管Zl的陰極及經(jīng)所述電容C13接地，其接地端接地，所述與門U2的輸出端經(jīng)所述電阻R14連接所述第一連接器Jl 的測(cè)量引腳V33_3。使用時(shí)，通過(guò)所述第一連接器Jl將所述硬盤測(cè)試裝置100與電腦主機(jī)板的第二連接器200連接，開(kāi)啟電腦主機(jī)板，所述存儲(chǔ)控制器300識(shí)別到所述硬盤測(cè)試裝置100連接至所述電腦主機(jī)板，則所述存儲(chǔ)控制器300通過(guò)所述第二連接器200及第一連接器Jl輸出一低電平信號(hào)給所述電源交換控制器Ul的使能引腳ENABLE以使所述電源交換控制器Ul工作及輸出5V及12V電壓給所述電源交換控制器Ul的轉(zhuǎn)換引腳ISET1、ISET2、INl及IN2， 同時(shí)，所述電源交換控制器Ul的控制引腳GATEl及GATE2分別輸出高電平信號(hào)，此時(shí)，所述場(chǎng)效應(yīng)管Q1、Q2導(dǎo)通，所述電源交換控制器Ul的電壓引腳DISCHl及DISCH2分別輸出高電平電壓控制信號(hào)給所述偵測(cè)電路30的與門U2的第一及第二輸入端，所述與門U2的輸出端輸出一高電平的PWG信號(hào)至所述第一連接器Jl的測(cè)量引腳V33_3，通過(guò)所述示波器捕獲所述第一連接器Jl的測(cè)量引腳V33_3的信號(hào)以此來(lái)檢測(cè)所述電源狀態(tài)信號(hào)的信號(hào)完整性。所述硬盤測(cè)試裝置100通過(guò)所述控制電路10將所述存儲(chǔ)控制器300輸出的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為電壓控制信號(hào)并提供給所述偵測(cè)電路30以使所述偵測(cè)電路30根據(jù)偵測(cè)到的電壓控制信號(hào)輸出PWG信號(hào)，并通過(guò)測(cè)量設(shè)備捕獲此時(shí)的PWG信號(hào)以此來(lái)檢測(cè)電源狀態(tài)信號(hào)的信號(hào)完整性。所述硬盤測(cè)試裝置100可模擬一硬盤，以解決硬盤測(cè)試時(shí)由于反復(fù)插拔硬盤而造成硬盤損壞的問(wèn)題。
權(quán)利要求
1.一種硬盤測(cè)試裝置，包括一第一連接器，用于與一電腦主機(jī)板上的第二連接器配合，所述第二連接器連接所述電腦主機(jī)板的一存儲(chǔ)控制器；一控制電路，用于通過(guò)所述第一連接器及第二連接器接收所述存儲(chǔ)控制器輸出的電壓信號(hào)并將所述電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為硬盤電源信號(hào)后輸出給一偵測(cè)電路；及所述偵測(cè)電路包括一與門、第一至第四電阻，所述與門的第一輸入端經(jīng)所述第一電阻接地及經(jīng)所述第二電阻連接所述控制電路，所述與門的第二輸入端經(jīng)所述第三電阻接地及經(jīng)所述第四電阻連接所述控制電路，所述與門的輸出端連接所述第一連接器的測(cè)量引腳， 所述與門的第一及第二輸入端接收所述控制電路輸出的硬盤電源信號(hào)并輸出一硬盤電源狀態(tài)信號(hào)至所述第一連接器的相應(yīng)引腳，通過(guò)一測(cè)量設(shè)備捕獲所述第一連接器引腳的硬盤電源狀態(tài)信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。
2.如權(quán)利要求1所述的硬盤測(cè)試裝置，其特征在于所述偵測(cè)電路還包括一第五電阻及一第一電容，所述第五電阻串接在所述與門的輸出端與所述第一連接器的測(cè)量引腳之間，所述第一電容串接在所述與門的電壓端與地之間。
3.如權(quán)利要求2所述的硬盤測(cè)試裝置，其特征在于所述控制電路包括第二至第十三電容、第六至第十二電阻、一電源交換控制器及第一及第二場(chǎng)效應(yīng)管，所述電源交換控制器的使能引腳連接所述第一連接器的控制引腳，所述電源交換控制器的第一轉(zhuǎn)換引腳經(jīng)所述第六電阻連接第二轉(zhuǎn)換引腳并連接至所述第一連接器的第一電壓引腳，所述電源交換控制器的第三轉(zhuǎn)換引腳經(jīng)所述第七電阻連接第四轉(zhuǎn)換引腳并連接至所述第一連接器的第二電壓引腳，所述第二電容串接在所述電源交換控制器的第四轉(zhuǎn)換引腳與地之間，所述第三電容串接在所述電源交換控制器的第二轉(zhuǎn)換引腳與地之間，所述電源交換控制器的電壓引腳連接所述偵測(cè)電路、經(jīng)所述第四電容接地及連接所述第一場(chǎng)效應(yīng)管的源極，所述第五及第六電容與所述第八電容并聯(lián)，所述第一場(chǎng)效應(yīng)管的柵極經(jīng)所述第七電容接地及經(jīng)所述第八電阻連接所述電源交換控制器的第一控制引腳，所述第一場(chǎng)效應(yīng)管的漏極連接所述電源交換控制器的第一感應(yīng)引腳及經(jīng)所述第九電阻連接所述電源交換控制器的第二轉(zhuǎn)換引腳，所述電源交換控制器的第二電壓引腳連接所述偵測(cè)電路、經(jīng)所述第八電容接地及連接所述第二場(chǎng)效應(yīng)管的源極，所述第九及第十電容與所述第八電容并聯(lián)，所述第二場(chǎng)效應(yīng)管的柵極經(jīng)所述第十一電容接地及經(jīng)所述第十電阻連接所述電源交換控制器的第二控制引腳，所述第二場(chǎng)效應(yīng)管的漏極連接所述電源交換控制器的第二感應(yīng)引腳及經(jīng)所述第十一電阻連接所述電源交換控制器的第四轉(zhuǎn)換引腳，所述第十二電阻串接在所述電源交換控制器的數(shù)值引腳與第二電壓引腳之間，所述第十二電容串接在所述電源交換控制器的時(shí)鐘引腳與地之間，所述第十三電容串接在所述電源交換控制器的寄存引腳與地之間。
4.如權(quán)利要求3所述的硬盤測(cè)試裝置，其特征在于所述硬盤測(cè)試裝置還包括一電壓轉(zhuǎn)換電路，所述電壓轉(zhuǎn)換電路包括一硅管、第十三至第十五電阻及第十四電容，所述硅管的陽(yáng)極接地，所述硅管的陰極連接所述偵測(cè)電路與門的電壓端及經(jīng)所述第十三電阻連接所述第一連接器的第一電壓引腳，所述第十四電阻串接在所述硅管的控制極與陽(yáng)極之間，所述第十五電阻串接在所述硅管的控制極與陰極之間，所述第十四電容串接在所述硅管的陰極與地之間。
全文摘要
一種硬盤測(cè)試裝置，包括第一連接器與電腦主機(jī)板的第二連接器配合，所述第二連接器連接所述電腦主機(jī)板的存儲(chǔ)控制器；控制電路接收存儲(chǔ)控制器輸出的電壓信號(hào)并轉(zhuǎn)換為硬盤電源信號(hào)后輸出給偵測(cè)電路；偵測(cè)電路包括與門、第一至第四電阻，與門的第一輸入端經(jīng)第一電阻接地及經(jīng)第二電阻連接控制電路，第二輸入端經(jīng)第三電阻接地及經(jīng)第四電阻連接控制電路，輸出端連接第一連接器的測(cè)量引腳，與門根據(jù)硬盤電源信號(hào)輸出硬盤電源狀態(tài)信號(hào)至第一連接器的相應(yīng)引腳，通過(guò)測(cè)量設(shè)備捕獲第一連接器測(cè)量引腳的硬盤電源狀態(tài)信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，以解決硬盤測(cè)試時(shí)由于反復(fù)插拔硬盤而造成硬盤損壞的問(wèn)題。
文檔編號(hào)G06F11/22GK102541701SQ201010602350
公開(kāi)日2012年7月4日 申請(qǐng)日期2010年12月23日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月23日
發(fā)明者黃發(fā)生 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司