技術(shù)編號：6339693
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種測試裝置，特別涉及一種硬盤測試裝置。 背景技術(shù)通常，硬盤模塊發(fā)出硬盤電源狀態(tài)(PWG)信號以指示硬盤是否工作正常。因此，在存儲產(chǎn)品研發(fā)階段，需要對PWG信號進行信號完整性測試，以確保存儲產(chǎn)品的品質(zhì)符合設(shè)計要求。然而，目前的測試方式是利用插拔硬盤的方式來觸發(fā)PWG信號，由于反復(fù)的插拔硬盤容易造成硬盤損壞，而增加測試成本。發(fā)明內(nèi)容鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種硬盤測試裝置，以解決硬盤測試時由于反復(fù)插拔硬盤而造成硬盤損壞的問題。一種硬盤測試裝置，包括...
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