基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于機器視覺缺陷檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]光伏行業(yè)中，硅片作為太陽能電池片的原料，其質(zhì)量直接決定后續(xù)生產(chǎn)環(huán)節(jié)的半成品、成品的品質(zhì)，因此需要針對硅片進行及時有效的外觀缺陷檢測。目前，很多企業(yè)中都有相關(guān)的電池片檢測裝置，但這些設(shè)備在使用環(huán)境發(fā)生變化時很難進行快速有效的調(diào)整，靈活性不強，并且僅針對某種缺陷檢測有效，不具備廣泛的適用性，無法滿足越來越多企業(yè)低成本下的現(xiàn)代快生產(chǎn)的需求。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]實用新型目的:本實用新型提供基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，結(jié)構(gòu)簡單，實現(xiàn)硅片外觀缺陷檢測的同時，降低了成本。
[0004]技術(shù)方案:為實現(xiàn)上述實用新型目的，本實用新型采用如下技術(shù)方案:基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，包括CCD相機、相機支架、光源、光源支架、箱體框架、箱體支架和凹槽;所述的箱體框架為底面開口的箱體結(jié)構(gòu)，其包括前、后、左、右四個側(cè)面和頂面;所述的箱體框架的前、后側(cè)面的底部的對邊與單向傳送帶的傳送方向垂直，所述的箱體框架的左、右側(cè)面的底部的對邊通過箱體支架架設(shè)在雙向傳送帶上，雙向傳送帶與單向傳送帶位于同一平面且相互垂直;配合后，在所述的箱體框架的底面形成檢測平臺；在所述箱體框架的左、右側(cè)面的中心均分別設(shè)置凹槽，在所述的凹槽上均分別設(shè)置相機支架和光源支架，所述的CCD相機通過對稱設(shè)置的相機支架固定，所述的光源通過對稱設(shè)置的光源支架固定。
[0005]所述的CCD相機通過相機支架固定在箱體框架頂面與檢測平臺之間；所述的光源通過光源支架固定在CCD相機與檢測平臺之間。
[0006]所述的光源為方形光源。
[0007]所述的凹槽為豎直條形。
[0008]在所述的箱體框架的前側(cè)面設(shè)置開窗。
[0009]在所述的箱體支架上設(shè)有通孔。
[0010]有益效果:與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置通過設(shè)置配合使用的箱體框架和支架，實現(xiàn)了對硅片外觀缺陷的在線檢測圖像采集;通過設(shè)置方形LED光源，并置于相機鏡頭底部，在視場內(nèi)實現(xiàn)均勻打光并有效呈現(xiàn)硅片缺陷，并能夠進行適應(yīng)性地靈活調(diào)節(jié)相機參數(shù)、相機位置、光源位置、易于安裝等優(yōu)點，在生產(chǎn)檢測的環(huán)節(jié)中極大提高了檢測精度與速度，有效節(jié)約了成本;本實用新型的裝置結(jié)構(gòu)科學(xué)，易于推廣應(yīng)用，具備良好的實用性。
【附圖說明】
[0011]圖1為基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0012]以下結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本實用新型做進一步的說明。
[0013]如圖1所示，基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，包括CCD相機1、相機支架2、光源3、光源支架4、箱體框架5、開窗6、箱體支架7和凹槽8。從左至右依次為相機支架2和光源支架4。
[0014]箱體框架5為底面開口的箱體結(jié)構(gòu)，其包括前、后、左、右四個側(cè)面和頂面。
[0015]箱體框架5的前、后側(cè)面的底部的對邊與單向傳送帶9的傳送方向垂直，所述的箱體框架5的左、右側(cè)面的底部的對邊通過箱體支架7架設(shè)在雙向傳送帶10上，雙向傳送帶10與單向傳送帶9位于同一平面且相互垂直，單向傳送帶9和雙向傳送帶10均分別貫穿箱體框架5，便于輸送硅片；配合后，在箱體框架5的底面形成檢測平臺。經(jīng)檢測不合格的硅片會經(jīng)過雙向傳送帶10輸出，合格的硅片經(jīng)單向傳送帶9繼續(xù)傳送。
[0016]在箱體框架5的左、右側(cè)面的中心均分別設(shè)置凹槽8，凹槽8設(shè)置在左、右側(cè)面的的內(nèi)壁上，凹槽8為豎直條形。在凹槽8上均分別設(shè)置相機支架2和光源支架4，CCD相機I通過對稱設(shè)置的相機支架2固定，光源3通過對稱設(shè)置的光源支架4固定。光源3為方形光源。CCD相機I通過相機支架2固定在箱體框架5頂面與檢測平臺之間；光源3通過光源支架4固定在箱體內(nèi)相機與檢測平臺之間。
[0017]在箱體框架5的前側(cè)面設(shè)置開窗6。在箱體支架7上設(shè)有通孔，箱體支架7通過螺絲螺母固定在生產(chǎn)線上視覺檢測部分的相應(yīng)位置。
[0018]相機支架2和光源支架4的外端通過旋鈕調(diào)節(jié)伸縮長度固定在兩側(cè)凹槽8內(nèi)，相機支架2和光源支架4的內(nèi)端通過螺絲螺母分別固定CCD相機1、光源3;根據(jù)所需視場或物距大小調(diào)整所述相機支架2、光源支架4的伸縮長度，進而調(diào)整CCD相機I和光源3的高度，確保硅片表面打光均勻，成像清晰，滿足檢測所需圖像質(zhì)量要求。
[0019]工作過程:硅片到達指定位置時，由光電傳感器觸發(fā)CCD相機I，通過相機支架2和光源支架4，CCD相機I和光源3的配合，從檢測平臺獲取硅片圖像，完成硅片外觀缺陷檢測，如果檢測結(jié)果為合格，則直接由單向傳送帶9流出，如果檢測結(jié)果為不合格，則根據(jù)不同的檢測結(jié)果由雙向傳送帶10的左右兩端分別流出。
【主權(quán)項】
1.基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:包括CCD相機(I)、相機支架(2)、光源(3)、光源支架(4)、箱體框架(5)、箱體支架(7)和凹槽(8);所述的箱體框架(5)為底面開口的箱體結(jié)構(gòu)，其包括前、后、左、右四個側(cè)面和頂面;所述的箱體框架(5)的前、后側(cè)面的底部的對邊與單向傳送帶(9 )的傳送方向垂直，所述的箱體框架(5 )的左、右側(cè)面的底部的對邊通過箱體支架(7)架設(shè)在雙向傳送帶(10)上，雙向傳送帶(10)與單向傳送帶(9)位于同一平面且相互垂直;配合后，在所述的箱體框架(5)的底面形成檢測平臺；在所述箱體框架(5)的左、右側(cè)面的中心均分別設(shè)置凹槽(8)，在所述的凹槽(8)上均分別設(shè)置相機支架(2)和光源支架(4)，所述的CCD相機(I)通過對稱設(shè)置的相機支架(2)固定，所述的光源(3)通過對稱設(shè)置的光源支架(4)固定。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:所述的CCD相機(I)通過相機支架(2)固定在箱體框架(5)頂面與檢測平臺之間；所述的光源(3)通過光源支架(4)固定在C⑶相機(I)與檢測平臺之間。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:所述的光源(3)為方形光源。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:所述的凹槽(8)為豎直條形。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:在所述的箱體框架(5)的前側(cè)面設(shè)置開窗(6)。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:在所述的箱體支架(7)上設(shè)有通孔。
【專利摘要】本實用新型公開了基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，屬于機器視覺缺陷檢測技術(shù)領(lǐng)域，基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，包括箱體框架，箱體框架為底面開口的箱體結(jié)構(gòu)，其包括前、后、左、右四個側(cè)面和頂面；箱體框架的前、后側(cè)面的底部的對邊與單向傳送帶的傳送方向垂直，箱體框架的左、右側(cè)面的底部的對邊通過箱體支架架設(shè)在雙向傳送帶上，雙向傳送帶與單向傳送帶位于同一平面且相互垂直；該裝置在太陽能電池片生產(chǎn)檢測的環(huán)節(jié)中極大提高了檢測精度與效率，有效降低了成本；且結(jié)構(gòu)科學(xué)，易于推廣應(yīng)用，具備良好的實用性。
【IPC分類】G01N21/95
【公開號】CN205246566
【申請?zhí)枴緾N201520839566
【發(fā)明人】孫智權(quán), 童鋼, 周奇, 張千
【申請人】鎮(zhèn)江蘇儀德科技有限公司
【公開日】2016年5月18日
【申請日】2015年10月28日