專利名稱：印刷電路板測試器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及印刷電路板測試器。
本發(fā)明基于按照歐洲專利公報EP875767A2的現(xiàn)有技術(shù)，由本專利申請的申請人公開該號公報揭示了一種測試設(shè)備，它包括多個測試連接，其中，被測電路板的電路板測試點藉助于電連接與測試連接接觸。
電子分析儀在電氣上連至網(wǎng)格狀線(grid partten)，在其上安裝適配器和/或轉(zhuǎn)換器(translator)，而被測的電路板可以置于其上。適配器和/或轉(zhuǎn)換器從被測電路板的電路板測試點產(chǎn)生至網(wǎng)格狀線觸點的電接觸。
測試設(shè)備的特征在于，至少兩個觸點相互電連接。更詳細地說，在這種測試器中，在每種情形中，數(shù)個觸點沿一條直線掃描通道相互連接。各別的掃描通道電氣連接至電子分析器。因為每個掃描通道連至數(shù)個觸點，因此與一臺作比較的測試器的電子分析器相比，本發(fā)明的電子分析器的單元數(shù)大大減少，因而測試設(shè)備的整個結(jié)構(gòu)變得很簡單。
雖然在這種測試設(shè)備中數(shù)個測試點電氣連接至單個掃描通道，但我們意外地發(fā)現(xiàn)，在絕大多數(shù)的應用中，不發(fā)生掃描通道的雙重分配，或者通過規(guī)定把電路板測試點分配給測試設(shè)備的觸點，可以可靠地避免任何這種雙重分派。通過已知的測試器用不太復雜的方法產(chǎn)生高觸點密度(例如要求相鄰觸點之間的平均間隔為800μm或更小)能做到這一點。這種高的電路板測試點密度是有利的，因為它允許接觸相應的高的局部電路板測試點密度而與此同時由于觸點密度而得到足夠的冗余度，于是能夠可靠地避免掃描通道的雙重分配。
本發(fā)明的目的是提供一種簡單而低成本的測試器，用于測試大面積的電路板，諸如例如尺寸為1000mm×750mm的底板。在本發(fā)明中，大面積電路板是指尺寸至少為500mm×500mm(即，表面積至少為250,000mm2)的電路板。
通過具有如權(quán)利要求1所述的特征的印刷電路板測試器達到這個目的。有利的方面在從屬權(quán)利要求中給出。
現(xiàn)在將通過參照示意圖描述例示實施例的方法來詳述本發(fā)明。在這些附圖中

圖1是橫截掃描通道取的通過一部分或網(wǎng)格基座的截面圖；圖2是掃描通道陣列和相互連接數(shù)個掃描通道的總線板的大大簡化的示意圖；以及圖3是如圖2所示的安排的正視圖(即，沿該圖的箭頭A的方向看到的圖)。
按照本發(fā)明的測試器1包括網(wǎng)格基座2，而網(wǎng)格基座2包括安排在網(wǎng)格基座2上邊的網(wǎng)格圖形3，網(wǎng)格圖形3由按規(guī)則圖形安排的多個導電觸點4構(gòu)成。
網(wǎng)格基座2最好構(gòu)造為疊層的電路板。示于圖1的例示實施例包括頂層和底層限定層5、6以及它們之間的13層中間層7。
在每種情形中，從觸點4垂直通過最頂層5和所有中間層7延伸的是垂直貫通連接8。一般，把貫通連接8構(gòu)造為經(jīng)導電金屬化電鍍的通孔。雖然確實可以采用其他類型的規(guī)則圖形來安排，我們將貫通連接8(因而觸點4)以例如規(guī)則的方形圖形安排，其中心距例如為1.27mm。
相應地按行安排貫通連接8(因而觸點4)。在每種情形中，埋設(shè)在網(wǎng)格基座2中的兩行貫通連接8之間的是導體路徑，下面稱之為掃描通道9。
在圖1的例示實施例中，在每種情形中，在兩行貫通連接8之間提供12條這樣的掃描通道，成對地安排每條掃描通道9，夾在兩層中間層之間。把在每種情形中安排成與一行貫通連接8相鄰的12對的掃描通道9分配給該行，即，任何一行的每個貫通連接8(因而每個觸點4)通過分支導體10電氣連接至分配給該行的掃描通道9之一。在本例示實施例中，在任何情形中，任何一行中的每個第24觸點電氣連接至同一掃描通道9。
圖2示出按照本發(fā)明的網(wǎng)格基座2的平面圖，通過布置沒有觸點4的掃描通道9而大大簡化網(wǎng)格圖形的描繪。為了使畫出的圖不雜亂，只示出了在一平面中平行放置的少量掃描通道9。
網(wǎng)格基座2包括測試區(qū)11和連接區(qū)12，測試區(qū)在所示的例示實施例中粗略地是方形，連接區(qū)在測試區(qū)之外延伸。在連接區(qū)12上，如在測試區(qū)11上那樣，圖1所示的觸點4設(shè)置在上邊，而觸點13設(shè)置在下邊，每個觸點用貫通連接8和分支導體10電氣連接至掃描通道9?？偩€適配器14直接設(shè)置在頂側(cè)，在總線適配器14上再安裝總線板15?？偩€板15包括平行總線導體16，總線導體16沿橫過掃描通道9的方向取向。安排總線導體16使之在面向總線適配器14的總線板15的表面上開路，或者電氣連接至安排在總線板15(在貫通連接8的行的中心間隔上)的表面上的觸點。
總線適配器14包括多個接觸插腳17，每個接觸插腳電氣連接一條掃描通道9至總線導體16。在每種情形中，由觸點17與總線導體16電氣連接的掃描通道9的交點在圖2中用圓18識別。接觸插腳17最好構(gòu)成為彈性接觸插腳。
提供總線適配器14和總線板15導致在每種情形中數(shù)個掃描通道9通過總線導體16電氣互連。
電氣互連的掃描通道9的每個陣列電氣連接至電子分析器的電子插件(electronics card)19，即，對于多個掃描通道，只需單個至電子分析器的連接，于是與用于相等數(shù)目觸點的常規(guī)的測試器相比，大大減少了電子分析器的單元數(shù)目，因為常規(guī)測試器對于每個觸點需要一個單獨的連接，并且需要分配給該連接的相應的電子分析器處理容量。
電子插件電氣上和機械上與網(wǎng)格基座連接，例如，用從DE16927801C1得知的柔性導體和彈性插腳。
現(xiàn)在，根據(jù)本發(fā)明，不僅沿直線掃描通道安排的觸點而且在網(wǎng)格基座的表面區(qū)域內(nèi)分布的觸點電氣連接。
模擬已經(jīng)示出，在大面積電路板(諸如例如底板)的情形中，設(shè)置在網(wǎng)格基座上的觸點4的大部分電氣不接觸，從而可以簡單避免任何電氣上互連的掃描通道9的多重分配，而與此同時可以得到高密度的觸點4，這在被測板上的電路板測試點密集的情形中有好處。
可以構(gòu)造按照本發(fā)明的測試器，用于測試尺寸為1000mm×600mm的底板。這些底板具有例如大致20,000個需要由測試器連接的電路板測試點。通常的測試器的網(wǎng)格間隔是十分之一英寸，從而常規(guī)的測試器包括一個包含160,000個觸點的網(wǎng)格圖形，每個觸點需要連至測試器的電子線路。這就是包括用于測試160,000個觸點的電子線路的這些測試器需要數(shù)目巨大的電子插件的原因?，F(xiàn)在，由于按照本發(fā)明在測試區(qū)中連接觸點4，因此在每種情形中，多個觸點共同地連至測試區(qū)電子線路的單個輸入端，于是允許極大地減少所需的電子插件的數(shù)目，而仍然能是測試器的所有的觸點4與要適當?shù)厥┘有盘柕谋粶y電路板接觸。
采用按照本發(fā)明的測試器的構(gòu)造，現(xiàn)在也可以提供這些觸點密度增高(例如雙倍觸點密度)的大的測試區(qū)，而無需相應地增加電子線路。當在電路板上提供具有密集位置的觸點區(qū)時，例如，在高級的高度集成的IC的情形中那樣，如所需要的，這種觸點密度的增高是有利的。
由本發(fā)明提供的還有一個好處是，通過改變總線適配器14中的接觸插腳17的安排，現(xiàn)在可以改變掃描通道9之間的電連接，允許在單個網(wǎng)格基座2上在測試區(qū)11中產(chǎn)生觸點4的不同連接，以適合被測的電路板。
將能理解，本發(fā)明不限于上面詳述的例示實施例，而電子插件連至總線板的實施例同樣也在本發(fā)明的范圍內(nèi)，例如，由此把總線適配器和和總線板安排在網(wǎng)格基座下方。總線板設(shè)置插入插腳，用于直接插入中空的在連接區(qū)12中無覆蓋物的測試連接。在這一實施例中不需要適配器，因為總線板直接連至網(wǎng)格基座。然而，為了有選擇地電氣連接掃描通道，采用本發(fā)明任何其他的連接技術(shù)都是可能的。例如，可以把總線適配器構(gòu)造為橡膠適配器，一個這樣的橡膠適配器是彈性橡膠板，它具有電氣連接掃描通道至總線導體的導電段。
權(quán)利要求
1．一種更詳細地說用于測試大面積未裝元件的電路板的印刷電路板測試器，包括網(wǎng)格圖形(3)，它設(shè)有按預定樣式安排的觸點(4)，在每種情形中有數(shù)個所述觸點(4)電氣連接至直線掃描通道(9)，并且有適配器和/或轉(zhuǎn)換器裝在所述網(wǎng)格圖形(3)上；電子分析器，它通過所述掃描通道(9)電氣上連至所述觸點(4)；被測電路板，將所述適配器和/或轉(zhuǎn)換器施加至所述被測電路板，從而所述適配器和/或轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生所述電路板的電路板測試點至所述網(wǎng)格圖形(3)的所述觸點(4)的電接觸，其特征在于，所述測試器還包括用于把多條所述掃描通道(9)電氣連接成電氣連接的掃描通道組的裝置，從而一組所述掃描通道只連至所述電子分析器的一個測試點。
2．如權(quán)利要求1所述的測試器，其特征在于，用于連接至少兩個所述掃描通道(9)的所述裝置包括總線板(15)，它包括數(shù)條最好一平行方式布線的總線導體(16)，可使它們與所述掃描通道有選擇地接觸。
3．如權(quán)利要求2所述的測試器，其特征在于，在所述總線板(15)和包括所述網(wǎng)格圖形(3)的網(wǎng)格基座(2)之間安排總線適配器(14)，使用它可以將所述掃描通道(9)有選擇地連至所述總線導體(16)。
4．如權(quán)利要求2所述的測試器，其特征在于，所述總線板(15)設(shè)有諸如例如接觸插腳等接觸元件，用于直接接觸包括所述掃描通道(9)的所述網(wǎng)格基座(2)。
5．如權(quán)利要求1至4任何一項所述的測試器，其特征在于，包括所述網(wǎng)格基座(2)，它包括測試區(qū)(11)，在該區(qū)中安排連至所述掃描通道(9)的所述觸點(4)，以電氣接觸被測的電路板；以及連接區(qū)(12)，在該區(qū)中提供另外一些連至所述掃描通道(9)的觸點(4)，以接觸所述總線導體(16)。
6．如權(quán)利要求5所述的測試器，其特征在于，在所述連接區(qū)(12)中，在所述網(wǎng)格基座(2)的與用于接觸所述總線導體(16)的所述觸點(4)相對的一側(cè)設(shè)置用于接觸所述電子分析器的觸點(4)。
7．如權(quán)利要求6所述的測試器，其特征在于，在所述網(wǎng)格基座(2)上以相對的成對方式安排所述觸點(4,13)，并且每一對連至一條掃描通道(9)。
8．如權(quán)利要求5至7任何一項所述的測試器，其特征在于，所述測試區(qū)具有至少250,000mm2的表面積。
9．如權(quán)利要求1至8任何一項所述的測試器，其特征在于，在網(wǎng)格上安排用于接觸所述被測電路板的所述觸點4，其間隔不大于十分之一英寸。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種更詳細地說用于測試大面積未裝元件的電路板的印刷電路板測試器,包括網(wǎng)格圖形,電子分析器、被測電路板和用于電氣連接至少兩條掃描通道的裝置。網(wǎng)格圖形設(shè)有按預定樣式安排的觸點、在每種情形中有數(shù)個觸點電氣連接至直線掃描通道,并且有適配器和/或轉(zhuǎn)換器裝在網(wǎng)格圖形上。電子分析器通過掃描通道電氣上連至觸點。將適配器和/或轉(zhuǎn)換器施加至被測電路板,從而產(chǎn)生電路板測試點至網(wǎng)格圖形觸點的電接觸。
文檔編號G01R31/02GK1302379SQ99801980
公開日2001年7月4日 申請日期1999年4月16日 優(yōu)先權(quán)日1998年11月2日
發(fā)明者M·普羅科普 申請人:Atg試驗體系兩合公司