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一種多點(diǎn)測試裝置的制作方法

文檔序號(hào):11479374閱讀:182來源:國知局
一種多點(diǎn)測試裝置的制造方法

本實(shí)用新型涉及通信技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種多點(diǎn)測試裝置。



背景技術(shù):

電力系統(tǒng)中的電氣設(shè)備,其絕緣性不僅受到工作電壓的作用,而且還會(huì)受到例如內(nèi)部過電壓的侵襲,高壓試驗(yàn)變壓器的功用在于產(chǎn)生工頻高電壓,使之作用于被試電氣設(shè)備的絕緣上,以考驗(yàn)其在長時(shí)間的工作電壓及瞬時(shí)的內(nèi)過電壓下是否能可靠工作。

發(fā)電機(jī)定子端部相間的短路故障,會(huì)造成很大的經(jīng)濟(jì)損失,因此,發(fā)電機(jī)端部絕緣性的測試非常有必要?,F(xiàn)有技術(shù)中,通常采用直流耐壓施加方法測試發(fā)電機(jī)端部絕緣性,直流高壓主要通過檢測外部高阻絕緣部分的泄露電流來判定發(fā)電機(jī)端部的絕緣性能。

發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在以下問題,直流耐壓施加方法不能同時(shí)測試待測裝置的多個(gè)待測位置,測試效率低,并且,檢測裝置的有效阻值較大,這對(duì)測試結(jié)果存在不可忽略的影響。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本實(shí)用新型實(shí)施方式的目的在于提供一種多點(diǎn)測試裝置,使得可以同時(shí)測試待測裝置的多個(gè)待測位置,測試效率高,同時(shí),檢測裝置的有效阻值較低,從而不會(huì)影響測試結(jié)果。

為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型的實(shí)施方式提供了一種多點(diǎn)測試裝置,包括:靜刀盤、動(dòng)刀盤、檢測裝置和驅(qū)動(dòng)裝置;靜刀盤上設(shè)置N個(gè)第一類觸點(diǎn),每個(gè)第一類觸點(diǎn)分別連接待測位置,不同的第一類觸點(diǎn)連接不同的待測位置;動(dòng)刀盤上設(shè)有一個(gè)第二類觸點(diǎn),第一類觸點(diǎn)和第二類觸點(diǎn)的位置對(duì)應(yīng),第二類觸點(diǎn)和檢測裝置連接;靜刀盤和動(dòng)刀盤同軸連接,靜刀盤固定設(shè)置,動(dòng)刀盤和驅(qū)動(dòng)裝置連接,驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)動(dòng)刀盤轉(zhuǎn)動(dòng),在動(dòng)刀盤轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),第二類觸點(diǎn)依次接觸各第一類觸點(diǎn)。

本實(shí)用新型實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言,靜刀盤的N個(gè)第一類觸點(diǎn)分別連接不同的待測位置,動(dòng)刀盤的第二類觸點(diǎn)與檢測裝置連接。在驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)下,動(dòng)刀盤的第二類觸點(diǎn)依次接觸靜刀盤的N個(gè)第一類觸點(diǎn),從而,可以通過檢測裝置依次檢測不同的待測位置。這樣,在測試待測裝置時(shí),可以同時(shí)測試待測裝置的多個(gè)待測位置,測試效率高,同時(shí),檢測裝置的有效阻值較低,從而不會(huì)影響測試結(jié)果。

另外,多點(diǎn)測試裝置還包括:絕緣材料制成的軸心和導(dǎo)電材料制成的軸承;靜刀盤和動(dòng)刀盤通過軸心同軸連接,靜刀盤通過軸承和軸心連接;第二類觸點(diǎn)利用軸承的軸套和檢測裝置連接。第二類觸點(diǎn)利用導(dǎo)電材料制成的軸承和檢測裝置連接,有利于檢測裝置通過軸承來檢測待測位置。

另外,軸承為滾動(dòng)軸承。這樣,靜刀盤可通過軸承的滾動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng),有利于檢測裝置通過轉(zhuǎn)動(dòng)的靜刀盤上的第一類觸點(diǎn)檢測待測位置,從而,有利于提高檢測效率。

另外,驅(qū)動(dòng)裝置包括:電機(jī)和減速器,電機(jī)和減速器相連,減速器通過軸心驅(qū)動(dòng)動(dòng)刀盤。

另外,多點(diǎn)測試裝置還包括:導(dǎo)電材料制成的固定座;固定座的一端連接軸承,另一端連接動(dòng)刀盤;第二類觸點(diǎn)利用固定座和軸承連接。

另外,多點(diǎn)測試裝置還包括碳刷,第二類觸點(diǎn)利用碳刷和檢測裝置連接。

另外,動(dòng)刀盤和靜刀盤的數(shù)量大于1個(gè),且一一對(duì)應(yīng);各動(dòng)刀盤和各靜刀盤同軸連接。

另外,多點(diǎn)測試裝置中,各靜刀盤利用絕緣板固定。

另外,相鄰2個(gè)靜刀盤上的第一類觸點(diǎn),相對(duì)于盤心的時(shí)鐘位置不同,減少動(dòng)靜刀盤觸點(diǎn)的空間電場的相互影響。

另外,多點(diǎn)測試裝置中的檢測裝置為高阻值分壓器。

附圖說明

圖1是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的多點(diǎn)測試裝置的結(jié)構(gòu)圖;

圖2是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式中的靜刀盤的結(jié)構(gòu)圖;

圖3是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式中的動(dòng)刀盤的結(jié)構(gòu)圖;

圖4是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式中的固定座的結(jié)構(gòu)圖;

圖5是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的多點(diǎn)測試裝置的結(jié)構(gòu)圖;

圖6是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式中的靜刀盤的結(jié)構(gòu)圖;

圖7是根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施方式的多點(diǎn)測試裝置的結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的各實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解,在本實(shí)用新型各實(shí)施方式中,為了使讀者更好地理解本申請(qǐng)而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是,即使沒有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下各實(shí)施方式的種種變化和修改,也可以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)所要求保護(hù)的技術(shù)方案。

本實(shí)用新型的第一實(shí)施方式涉及一種多點(diǎn)測試裝置,如圖1所示,該多點(diǎn)測試裝置包括:靜刀盤101、動(dòng)刀盤102、檢測裝置和驅(qū)動(dòng)裝置,靜刀盤101上可以設(shè)置N個(gè)第一類觸點(diǎn)105,本實(shí)施方式中以N取10為例,每個(gè)第一類觸點(diǎn)105分別連接待測位置,不同的第一類觸點(diǎn)105連接不同的待測位置,動(dòng)刀盤102上設(shè)有一個(gè)第二類觸點(diǎn)106,第一類觸點(diǎn)105和第二類觸點(diǎn)106的位置對(duì)應(yīng)。其中,檢測裝置可如圖1中A位置所示,與第二類觸點(diǎn)106連接。

如圖1所示,靜刀盤101和動(dòng)刀盤102同軸連接,靜刀盤101固定設(shè)置,動(dòng)刀盤102和驅(qū)動(dòng)裝置的減速器103連接,驅(qū)動(dòng)裝置的減速器103驅(qū)動(dòng)動(dòng)刀盤102轉(zhuǎn)動(dòng),在動(dòng)刀盤102轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),第二類觸點(diǎn)106依次接觸各第一類觸點(diǎn)105。

還需要說明的是,靜刀盤101上設(shè)有鏤空部203,其中,鏤空部203位于觸點(diǎn)之間,可用于增加高壓的爬電距離,優(yōu)化電場的邊緣效應(yīng);其次是減輕整體重量。

本實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置還包括絕緣板109,絕緣板109可用來固定靜刀盤101,如圖2所示,靜刀盤101上設(shè)置有10個(gè)第一類觸點(diǎn)105,且靜刀盤101的上下兩側(cè)分別用絕緣板109固定。

圖3為動(dòng)刀盤102的結(jié)構(gòu)圖,動(dòng)刀盤102上設(shè)有一個(gè)第二類觸點(diǎn)106以及一個(gè)平衡觸點(diǎn)201(為動(dòng)刀盤鍵削),其中,平衡觸點(diǎn)201可以作用于動(dòng)刀盤的平衡效果。

本實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置還包括絕緣材料制成的軸心108和導(dǎo)電材料制成的軸承107,靜刀盤101和動(dòng)刀盤102通過軸心108同軸連接,靜刀盤101通過軸承107和軸心108連接,第二類觸點(diǎn)106利用軸承107的軸套和檢測裝置連接。其中,軸承107為滾動(dòng)軸承。

本實(shí)施方式中,驅(qū)動(dòng)裝置包括減速器103和電機(jī)104,減速器103和電機(jī)104相連,減速器103通過軸心108驅(qū)動(dòng)動(dòng)刀盤102。

本實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置還包括限位擋片安裝盤110、限位擋片L111、限位擋片S112以及傳感器113,其中,限位擋片安裝盤110用來安裝限位擋片L111與限位擋片S112。

本實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置還包括導(dǎo)電材料制成的固定座114,固定座114的一端連接軸承107,另一端連接動(dòng)刀盤102,第二類觸點(diǎn)106利用固定座114和軸承107連接。其中,固定座114的具體結(jié)構(gòu)如圖4所示,固定座114還包括鏤空部202,主要作用于減輕動(dòng)刀盤的負(fù)載,其次是方便安裝動(dòng)靜刀盤的工作區(qū)域。

需要說明的是,本實(shí)施方式中,檢測裝置可以為高阻值分壓器。

本實(shí)用新型實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言,靜刀盤101的多個(gè)第一類觸點(diǎn)105分別連接不同的待測位置,動(dòng)刀盤102的第二類觸點(diǎn)106與檢測裝置連接。在驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)下,動(dòng)刀盤102的第二類觸點(diǎn)106依次接觸靜刀盤101的多個(gè)第一類觸點(diǎn)105,從而,可以通過檢測裝置依次檢測不同的待測位置。這樣,在測試待測裝置時(shí),可以同時(shí)測試待測裝置的多個(gè)待測位置,測試效率高,同時(shí),檢測裝置的有效阻值較低,從而,不會(huì)影響測試結(jié)果。

本實(shí)用新型的第二實(shí)施方式涉及一種多點(diǎn)測試裝置。第二實(shí)施方式與第一實(shí)施方式大致相同,主要區(qū)別之處在于:在第一實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置包括一個(gè)靜刀盤與一個(gè)動(dòng)刀盤,而在本實(shí)用新型第二實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置包括兩個(gè)靜刀盤與兩個(gè)動(dòng)刀盤。

如圖5所示,該多點(diǎn)測試裝置包括:兩個(gè)靜刀盤101、兩個(gè)動(dòng)刀盤102、檢測裝置和驅(qū)動(dòng)裝置,靜刀盤101上設(shè)置10個(gè)第一類觸點(diǎn)105,每個(gè)第一類觸點(diǎn)105分別連接待測位置,不同的第一類觸點(diǎn)105連接不同的待測位置;動(dòng)刀盤102上設(shè)有一個(gè)第二類觸點(diǎn)106,第一類觸點(diǎn)105和第二類觸點(diǎn)106的位置對(duì)應(yīng)。其中,檢測裝置可如圖1中A位置所示,與第二類觸點(diǎn)106連接,驅(qū)動(dòng)裝置包括減速器103和電機(jī)104。

本實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置還包括絕緣材料制成的軸心108、導(dǎo)電材料制成的軸承107與絕緣板109,兩個(gè)靜刀盤101和兩個(gè)動(dòng)刀盤102通過軸心108同軸連接,靜刀盤101通過軸承107和軸心108連接,第二類觸點(diǎn)106利用軸承107的軸套和檢測裝置連接。其中,軸承107為滾動(dòng)軸承,絕緣板109可用來固定兩個(gè)靜刀盤101,兩個(gè)靜刀盤101上的第一類觸點(diǎn)105,相對(duì)于盤心的時(shí)鐘位置不同。具體如圖2和圖6所示,可以相差18度。第一類觸點(diǎn)105相對(duì)于盤心的時(shí)鐘位置不同,有利于錯(cuò)開電位,從而避開電場干擾。

本實(shí)施方式中,驅(qū)動(dòng)裝置包括減速器103和電機(jī)104,減速器103和電機(jī)104相連,減速器103通過軸心108驅(qū)動(dòng)動(dòng)刀盤102。

本實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置還包括限位擋片安裝盤110、限位擋片L111、限位擋片S112以及傳感器113,其中,限位擋片安裝盤110用來安裝限位擋片L111與限位擋片S112。

本實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置還包括導(dǎo)電材料制成的固定座114,固定座114的一端連接軸承107,另一端連接動(dòng)刀盤102,第二類觸點(diǎn)106利用固定座114和軸承107連接。

本實(shí)用新型實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言,靜刀盤101的多個(gè)第一類觸點(diǎn)105分別連接不同的待測位置,動(dòng)刀盤102的第二類觸點(diǎn)106與檢測裝置連接。在驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)下,動(dòng)刀盤102的第二類觸點(diǎn)106依次接觸靜刀盤101的多個(gè)第一類觸點(diǎn)105,從而,可以通過檢測裝置依次檢測不同的待測位置。這樣,在測試待測裝置時(shí),可以同時(shí)測試待測裝置的多個(gè)待測位置,測試效率高,同時(shí),檢測裝置的有效阻值較低,從而,不會(huì)影響測試結(jié)果。

本實(shí)用新型的第三實(shí)施方式涉及一種多點(diǎn)測試裝置。第三實(shí)施方式與第一實(shí)施方式大致相同,主要區(qū)別之處在于:在第一實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置包括一個(gè)靜刀盤與一個(gè)動(dòng)刀盤,而在本實(shí)用新型第三實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置包括四個(gè)靜刀盤與四個(gè)動(dòng)刀盤。

如圖6所示,該多點(diǎn)測試裝置包括:四個(gè)靜刀盤101、四個(gè)動(dòng)刀盤102、檢測裝置和驅(qū)動(dòng)裝置,每個(gè)靜刀盤101上設(shè)置10個(gè)第一類觸點(diǎn)105,每個(gè)第一類觸點(diǎn)105分別連接待測位置,不同的第一類觸點(diǎn)105連接不同的待測位置;每個(gè)動(dòng)刀盤102上設(shè)有一個(gè)第二類觸點(diǎn)106,第一類觸點(diǎn)105和第二類觸點(diǎn)106的位置對(duì)應(yīng)。其中,檢測裝置可如圖1中A位置所示,與第二類觸點(diǎn)106連接,驅(qū)動(dòng)裝置包括減速器103和電機(jī)104。

本實(shí)施方式中,相鄰兩個(gè)靜刀盤101上的第一類觸點(diǎn)105,相對(duì)于盤心的時(shí)鐘位置不同,所有靜刀盤101利用絕緣板109固定。

此外,本實(shí)施方式中,多點(diǎn)測試裝置還可以包括碳刷,第二類觸點(diǎn)106可以利用碳刷和檢測裝置連接。

本實(shí)用新型實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言,靜刀盤101的多個(gè)第一類觸點(diǎn)105分別連接不同的待測位置,動(dòng)刀盤102的第二類觸點(diǎn)106與檢測裝置連接。在驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)下,動(dòng)刀盤102的第二類觸點(diǎn)106依次接觸靜刀盤101的多個(gè)第一類觸點(diǎn)105,從而,可以通過檢測裝置依次檢測不同的待測位置。這樣,在測試待測裝置時(shí),可以同時(shí)測試待測裝置的多個(gè)待測位置,測試效率高,同時(shí),檢測裝置的有效阻值較低,從而,不會(huì)影響測試結(jié)果。

上面各種方法的步驟劃分,只是為了描述清楚,實(shí)現(xiàn)時(shí)可以合并為一個(gè)步驟或者對(duì)某些步驟進(jìn)行拆分,分解為多個(gè)步驟,只要包含相同的邏輯關(guān)系,都在本專利的保護(hù)范圍內(nèi);對(duì)算法中或者流程中添加無關(guān)緊要的修改或者引入無關(guān)緊要的設(shè)計(jì),但不改變其算法和流程的核心設(shè)計(jì)都在該專利的保護(hù)范圍內(nèi)。

本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解,上述各實(shí)施方式是實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的具體實(shí)施例,而在實(shí)際應(yīng)用中,可以在形式上和細(xì)節(jié)上對(duì)其作各種改變,而不偏離本實(shí)用新型的精神和范圍。

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