本發(fā)明涉及電子電路領(lǐng)域，尤其涉及一種測試裝置及檢測方法。

背景技術(shù)：

目前，在液晶顯示裝置的生產(chǎn)過程中，需要對液晶顯示裝置中的背光模塊進行檢驗，主要是要對背光模塊上的LED(發(fā)光二極管)電燈通電情況進行檢驗，即要檢測點燈率?，F(xiàn)有的檢測方法是利用手工將背光源點燈裝置的兩個電極與背光模塊中的金手指的兩個電極相連接。但由于背光源點燈裝置的兩個電極端一般人工添加極性標(biāo)記，但由于操作人員的疏忽時常發(fā)生忘記標(biāo)記或者極性標(biāo)記錯誤的問題，而金手指的兩個電極端雖然同樣添加有電極標(biāo)記，但由于將背光源點燈裝置的兩電極與金手指的兩電極進行連接后，為防止連接處斷裂，通常會使用膠帶纏繞連接處，所使用的膠帶經(jīng)常會遮蓋金手指上的電極標(biāo)記，影響了操作人員對電極連接狀態(tài)進行確認。

如果背光源點燈裝置的兩電極與金手指的兩電極極性反接，則背光模塊無法正常被點亮，給測試者帶了很大的不便，影響了測試者的工作效率。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種測試裝置及檢測方法，其可以實現(xiàn)背光源點燈裝置和背光模塊之間極性的自動匹配。

根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供了一種測試裝置，用于為待測模塊提供測試信號，所述待測模塊具有第一極性的第一輸入端口和具有第二極性的第二輸入端口，包括：驅(qū)動模塊，產(chǎn)生具有第一極性的第一測試信號和具有第二極性的第二測試信號；控制模塊，用于根據(jù)所述第一測試信號產(chǎn)生控制信號；以及繼電器，用于根據(jù)所述控制信號為所述背光模塊提供與所述背光模塊的第一輸入端口和第二輸入端口的極性相匹配的測試信號。

優(yōu)選地，所述驅(qū)動模塊具有電源端、接地端、第一輸出端以及第二輸出端，所述驅(qū)動模塊的電源端接收第一電壓，所述驅(qū)動模塊的接地端接地，所述驅(qū)動模塊的第一輸出端和第二輸出端分別用于輸出第一測試信號和第二測試信號；

所述繼電器具有控制輸入端、第一輸入端、第二輸入端、第三輸入端、第四輸入端、第一輸出端和第二輸出端，所述繼電器的控制輸入端用于接收控制信號，所述繼電器的第一輸入端和第四輸入端與驅(qū)動模塊的第一輸出端相連，所述繼電器的第二輸入端和第三輸入端與驅(qū)動模塊的第二輸出端相連，所述繼電器的第一輸出端用于在所述控制信號為第一電平時輸出第一測試信號，在所述控制信號為第二電平時輸出第二測試信號，所述繼電器的第二輸出端用于在所述控制信號為第一電平時輸出第二測試信號，在所述控制信號為第二電平時輸出第一測試信號。

優(yōu)選地，所述控制模塊包括：比較模塊，用于將第一測試信號與第一電壓比較運算模塊，基于第二電壓對比較模塊的比較結(jié)果進行邏輯運算以生成控制信號。

優(yōu)選地，所述比較模塊包括：第一電阻，所述第一電阻的第一端用于接收第一測試信號；第二電阻，所述第二電阻的第一端接地，所述第二電阻的第二端與所述第一電阻的第二端相連；比較器，所述比較器的同相輸入端與所述第二電阻的第二端連接，所述比較器的同相輸入端接收第一電壓。

優(yōu)選地，所述運算模塊包括：與門，所述與門的第一輸入端與所述比較器的輸出端相連，所述與門的第二輸入端與所述與門的輸出端相連；第三電阻，所述第三電阻的第一端接收第二電壓，所述第三電阻的第二端與所述與門的第二輸入端相連；以及非門，所述非門與所述與門的輸出端相連，所述非門的輸出端用于輸出控制信號。

優(yōu)選地，所述第一極性為正極性，第二極性為負極性。

優(yōu)選地，所述第二電壓為3.3V。

優(yōu)選地，所述待測模塊包括液晶顯示裝置的背光模塊，所述第一測試信號和第二測試信號為背光模塊的點燈信號。

根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供一種檢測方法，包括：產(chǎn)生具有第一極性的第一測試信號和具有第二極性的第二測試信號；根據(jù)所述第一測試信號產(chǎn)生控制信號；以及利用繼電器根據(jù)所述控制信號為所述背光模塊提供與所述背光模塊的第一輸入端口和第二輸入端口的極性相匹配的測試信號。

優(yōu)選地，所述第一測試信號產(chǎn)生控制信號包括：將第一測試信號與第一電壓比較；基于第二電壓對比較模塊的比較結(jié)果進行邏輯運算以生成控制信號。

根據(jù)本發(fā)明實施例的測試裝置及檢測方法，可以實現(xiàn)測試裝置和待測模塊極性的自動匹配，其在與待測模塊連接時，無論二者連接端極性是否匹配，均可以正常完成測試操作，避免了現(xiàn)有技術(shù)中由于操作人員連接錯誤造成測試裝置無法正常使用，以及由此帶來的工作效率降低的問題。

附圖說明

通過以下參照附圖對發(fā)明實施例的描述，本發(fā)明的上述以及其他目的、特征和優(yōu)點將更為清楚，在附圖中：

圖1示出了本發(fā)明第一實施例提供的測試裝置的結(jié)構(gòu)圖；

圖2示出了本發(fā)明第一實施例提供的測試裝置中控制模塊的等效電路圖；

圖3示出了圖2中示波器的顯示情況。

具體實施方式

以下基于實施例對本發(fā)明進行描述，但是本發(fā)明并不僅僅限于這些實施例。在下文對本發(fā)明實施例的細節(jié)描述中，詳盡描述了一些特定的細節(jié)部分，對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說沒有這些細節(jié)部分的描述也可以完全理解本發(fā)明。為了避免混淆本發(fā)明的實質(zhì)，公知的方法、過程、流程沒有詳細敘述。

在各個附圖中，相同的元件采用類似的附圖標(biāo)記來表示。為了清楚起見，附圖中的各個部分沒有按比例繪制。此外，在圖中可能未示出某些公知的部分。附圖中的流程圖、框圖圖示了本發(fā)明的實施例的系統(tǒng)、方法、電路的可能的體系框架、功能和操作，附圖的方框以及方框順序只是用來更好的圖示實施例的過程和步驟，而不應(yīng)以此作為對發(fā)明本身的限制。

圖1示出了本發(fā)明第一實施例提供的測試裝置的結(jié)構(gòu)圖。如圖1所示，本發(fā)明第一實施例提供的測試裝置包括控制模塊100、驅(qū)動模塊200以及繼電器300，所述驅(qū)動模塊200用于產(chǎn)生具有第一極性的第一測試信號A和具有第二極性的第二測試信號K；所述控制模塊100用于根據(jù)所述第一測試信號產(chǎn)生控制信號CONTROL；所述繼電器300用于根據(jù)所述控制信號CONTROL為所述待測模塊提供與所述待測模塊的第一輸入端口BL_A和第二輸入端口BL_K的極性相匹配的測試信號，所述繼電器300例如為雙通道繼電器，所述待測模塊的第一輸入端口BL_A具有第一極性，所述待測模塊的第二輸入端口BL_K具有第二極性，所述待測模塊包括液晶顯示裝置的背光模塊，所述第一測試信號A和第二測試信號K例如為背光模塊的點燈信號，所述第一極性例如為正極，所述第二極性例如為負極。

圖1(a)示出了本發(fā)明第一實施例提供的測試裝置中控制模塊的結(jié)構(gòu)圖。如圖1a所示，所述控制模塊100包括比較模塊110和運算模塊120，所述比較模塊110包括第一電阻R1、第二電阻R2以及比較器U1，所述運算模塊120包括第三電阻R3、與門U2以及非門U3。

所述第一電阻R1的第一端用于接收第一測試信號A；所述第二電阻R2的第一端接地，所述第二電阻R2的第二端與所述第一電阻R1的第二端相連；所述比較器U1的同相輸入端與所述第二電阻R2的第二端連接，所述比較器U1的同相輸入端接收第一電壓VCC1，所述比較器U1的電源端接收第二電壓VCC2，所述比較器U1的接地端接地；所述與門U2的第一輸入端與所述比較器U1的輸出端相連；所述第三電阻R3的第一端接收第二電壓VCC2，所述第三電阻R3的第二端同時連接至所述與門U2的第二輸入端和輸出端；所述非門U3與所述與門U2的輸出端相連，所述非門U3的輸出端用于輸出控制信號CONTROL。

所述第一電壓VCC1的例如為2.5V；所述第二電壓VCC2例如為3.3V；所述第一電阻R1例如為阻值50KΩ、誤差5％的R0603型電阻；所述第二電阻R2例如為阻值10KΩ、誤差5％的R0603型電阻；所述第三電阻R3例如為阻值10KΩ、誤差5％的R0603型電阻。

圖1(b)示出本發(fā)明第一實施例提供的測試裝置中驅(qū)動模塊的結(jié)構(gòu)圖。如圖1(b)所示，所述驅(qū)動模塊200具有電源端A0、接地端A1、第一輸出端A2以及第二輸出端A3。所述驅(qū)動模塊的電源端A0接收供電電壓VIN，所述供電電壓VIN例如為12V，所述接地端A1接地。所述第一輸出端A2和第二輸出端A3分別用于輸出第一測試信號A和第二測試信號K。

圖1(c)示出本發(fā)明第一實施例提供的測試裝置中繼電器的結(jié)構(gòu)圖。如圖1(c)所示，所述繼電器具有控制輸入端A5、第一輸入端K11、第二輸入端K12、第三輸入端K21、第四輸入端K22、第一輸出端C1、第二輸出端C2以及電源端A4。

其中，所述繼電器300的第一輸入端K11用于接收第一測試信號A，所述繼電器300的第二輸入端K12用于接收第二測試信號K，所述繼電器300的第一輸出端C1和第一輸入端K11之間構(gòu)成第一常閉觸點，所述繼電器300的第一輸出端C1和第二輸入端K12之間構(gòu)成第一常開觸點，所述繼電器300的第三輸入端K21用于接收第二測試信號K，所述繼電器300的第四輸入端K22用于接收第一測試信號A，所述繼電器300的第二輸出端C2和第三輸入端之間K21構(gòu)成第二常閉觸點，所述繼電器300的第二輸出端C2和第四輸入端K22之間構(gòu)成第二常開觸點，所述電源端A4用于接收第二電壓VCC2，所述控制輸入端A5用于接受所述控制模塊提供的控制信號CONTROL。所述繼電器300的第一輸出端C1和第二輸出端C2用于與所述待測模塊連接，用于為所述待測模塊提供測試信號。同前文所述，所述第二電壓VCC2例如為3.3V。

所述繼電器300還包括線圈(圖中未示出)，當(dāng)所述線圈未得電時，所述繼電器300的第一常閉觸點閉合，所述第一常開觸點斷開，所述第一輸出端C1和所述第一輸入端K11相連通；所述第二常閉觸點閉合，所述第二常開觸點斷開，所述第二輸出端C2和所述第三輸入端K21相連通。

為了便于更好地實施本發(fā)明，本發(fā)明第二實施例提供一種檢測方法。其中名詞的含義與上述測試裝置中相同，具體實現(xiàn)細節(jié)可參考測試裝置實施例中的說明。

開始檢測時，若所述繼電器300的第一輸出端C1連接至待測模塊的第一輸入端口BL_A，且所述繼電器300的第二輸出端C2連接至待測模塊的第二輸出端口，由于連接端極性相匹配，所述驅(qū)動模塊100將供電電壓VIN經(jīng)升壓后經(jīng)由所述第一輸出端A2輸出，得到具有第一電平的第一測試信號A，所述第一測試信號A的電平值例如為21V～24V。

所述比較器U1同相輸入端電壓高于所述比較器U1反相輸入端電壓，所述比較器U1輸出為高電平。此時，所述與門U2的第一輸入端由于連接至所述比較器U1的輸出端，所述與門U2的第一輸入端為高電平。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)清楚，所述與門U2在當(dāng)前的連接關(guān)系下，當(dāng)所述與門U2的第一輸入端為高電平時，所述與門U2的輸出端也為高電平。對應(yīng)地，所述非門U3的輸入端為高電平，所述非門U3的輸出端輸出低電平的控制信號CONTROL。

由于在所述繼電器300的線圈未得電時，所述繼電器300的第一常閉觸點閉合，所述第一常開觸點斷開，所述第一輸出端C1和所述第一輸入端K11相連通；所述第二常閉觸點閉合，所述第二常開觸點斷開，所述第二輸出端C2和所述第三輸入端K21相連通。

此時，所述繼電器300接收所述低電平的控制信號CONTROL，使得所述繼電器300第一常閉觸點、第一常開觸點、第二常閉觸點以及的第二常開觸點繼續(xù)保持當(dāng)繼電器300線圈不得電時的狀態(tài)，所述第一輸出端C1和所述第一輸入端K11相連通，接收并輸出具有正極性的第一測試信號A，所述第二輸出端C2和所述第三輸入端K21相連通，接收并輸出具有負極性的第二測試信號K，所述測試裝置與所述待測模塊正確匹配，可正常進行測試操作。

若所述繼電器300的第一輸出端C1連接至待測模塊的第二輸入端口BL_K，且所述繼電器300的第二輸出端C2連接至待測模塊的第一輸出端口，由于連接端極性不相匹配，所述驅(qū)動模塊100無升壓作用，將所述供電電壓VIN經(jīng)所述第一輸出端A2直接輸出，得到第一測試信號A，所述第一測試信號A的電平值與供電電壓VIN的電平值相同為12V。

所述比較器U1同相輸入端電壓低于所述比較器U1反相輸入端電壓，所述比較器U1輸出為低電平。所述與門U2第一輸入端由于連接至所述比較器U1的輸出端，所述比較器U1的第一輸入端為低電平，所述與門U2第一輸入端同樣也為低電平，由與門U2的邏輯關(guān)系可知，所述與門U2的輸出端必然也為低電平。由于所述與門U2的第二輸入端連接至所述與門U2的輸出端，所述與門U2的第二輸入端電壓被拉至低電平。對應(yīng)地，所述非門U3的輸入端為低電平，所述非門U3的輸出端輸出高電平的控制信號CONTROL。

由于在所述繼電器300的線圈未得電時，所述繼電器300的第一常閉觸點閉合，所述第一常開觸點斷開，所述第一輸出端C1和所述第一輸入端K11相連通；所述第二常閉觸點閉合，所述第二常開觸點斷開，所述第二輸出端C2和所述第三輸入端K21相連通。

此時，所述繼電器300接收所述高電平的控制信號CONTROL，使所述第一常閉觸點斷開，所述第一常開觸點閉合，所述繼電器300經(jīng)由所述第一輸出端C1輸出具有負極性的第二測試信號K；所述第二常閉觸點斷開，所述第二常開觸點閉合，所述繼電器經(jīng)由所述第二輸出端C2輸出具有正極性的第一測試信號A，所述測試裝置與所述待測模塊正確匹配，可正常完成點燈操作。

圖2示出了本發(fā)明第一實施例提供的測試裝置中控制模塊的等效電路圖。如圖2所示，等效電路圖中的波形發(fā)生器U4的輸出端Q對應(yīng)為圖1中控制模塊中比較器U1的輸出端，所述波形發(fā)生器U4例如輸出頻率5Hz、占空比50％的方波。所述波形發(fā)生器U4的輸出與圖1中比較器U1輸出為高電平時等效。

圖3示出了圖2中示波器的顯示情況。如圖3所示，波形圖中示出了圖2中非門U3的輸出波形，從圖中可以看出，當(dāng)圖2中比較器U1輸出為高電平，所述非門U3的輸出持續(xù)保持為高電平，由此用實驗驗證了前文的理論論證過程。

相對于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的測試裝置及檢測方法，由于所述測試裝置可以實現(xiàn)極性的自動匹配，其在與待測模塊連接時，無論二者連接端極性是否匹配，通過本發(fā)明提供的檢測方法均可以正常完成測試操作，避免了現(xiàn)有技術(shù)中由于操作人員連接錯誤造成測試裝置無法正常使用，以及由此帶來的工作效率降低的問題。

應(yīng)當(dāng)說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。

依照本發(fā)明的實施例如上文所述，這些實施例并沒有詳盡敘述所有的細節(jié)，也不限制該發(fā)明僅為所述的具體實施例。顯然，根據(jù)以上描述，可作很多的修改和變化。本說明書選取并具體描述這些實施例，是為了更好地解釋本發(fā)明的原理和實際應(yīng)用，從而使所屬技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員能很好地利用本發(fā)明以及在本發(fā)明基礎(chǔ)上的修改使用。