1.一種導(dǎo)軌形變檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：
感測(cè)元件、傳感器和處理器；
其中，所述感測(cè)元件安裝在導(dǎo)軌上，用于對(duì)所述導(dǎo)軌的形變進(jìn)行檢測(cè)，所述傳感器與所述感測(cè)元件電連接，用于對(duì)所述感測(cè)元件的電學(xué)參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)，所述處理器與所述傳感器電連接，用于根據(jù)所述傳感器的感測(cè)結(jié)果及相應(yīng)的參數(shù)閾值，確定所述導(dǎo)軌是否發(fā)生形變。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：A/D轉(zhuǎn)換電路，所述A/D轉(zhuǎn)換電路與所述傳感器電連接，所述處理器通過所述A/D轉(zhuǎn)換電路與所述傳感器電連接，所述A/D轉(zhuǎn)換電路用于對(duì)所述傳感器檢測(cè)獲得的電學(xué)參數(shù)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，并將轉(zhuǎn)換后的電學(xué)參數(shù)輸出至所述處理器。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：放大電路；所述放大電路的輸入端與所述傳感器電連接，所述放大電路的輸出端與所述A/D轉(zhuǎn)換電路電連接，用于對(duì)所述傳感器的輸出進(jìn)行放大后發(fā)送給所述A/D轉(zhuǎn)換電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器；
所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器與所述處理器電連接，用于存儲(chǔ)感測(cè)元件的標(biāo)識(shí)與參數(shù)閾值之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：上位機(jī)，與所述處理器通信連接，所述上位機(jī)用于接收所述處理器在確定所述導(dǎo)軌發(fā)生形變時(shí)生成的報(bào)警信息。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述電學(xué)參數(shù)包括如下的至少一種：電流、電壓；所述傳感器包括如下傳感器中的至少一種：電壓傳感器、電流傳感器。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述感測(cè)元件為金屬電阻絲。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述金屬電阻絲的數(shù)量為多個(gè)，且每個(gè)金屬電阻絲設(shè)置在所述導(dǎo)軌的不同位置上，所述傳感器的數(shù)量與所述金屬電阻絲的數(shù)量對(duì)應(yīng)設(shè)置，用于分別對(duì)每個(gè)金屬電阻絲的電學(xué)參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述感測(cè)元件為壓電陶瓷。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述壓電陶瓷的數(shù)量為多個(gè)，且每個(gè)壓電陶瓷設(shè)置在所述導(dǎo)軌的不同位置上，所述傳感器的數(shù)量與所述壓電陶瓷的數(shù)量對(duì)應(yīng)設(shè)置，用于分別對(duì)每個(gè)壓電陶瓷的電學(xué)參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)。