本實(shí)用新型涉及設(shè)備接口板測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種快速測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

快速測(cè)試裝置主要用于線路設(shè)備接口板、電話接口板、E1接口板的測(cè)試。而在現(xiàn)有的快速測(cè)試裝置在對(duì)需要測(cè)試的接口板進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候直接就是把被測(cè)試的接口板插入到測(cè)試裝置的測(cè)試口內(nèi)，由于被測(cè)試的接口板沒(méi)有東西固定，使被測(cè)試的接口板出現(xiàn)松動(dòng)的狀況，致使測(cè)試的數(shù)據(jù)不夠準(zhǔn)確。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

（一）解決的技術(shù)問(wèn)題

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供了一種快速測(cè)試裝置，解決了無(wú)法對(duì)被測(cè)試接口板起到固定的問(wèn)題。

（二）技術(shù)方案

為實(shí)現(xiàn)以上目的，本實(shí)用新型通過(guò)以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)：一種快速測(cè)試裝置，包括箱體，所述箱體的內(nèi)部固定安裝有測(cè)試夾具體，所述測(cè)試夾具體的右側(cè)貫穿箱體并延伸至箱體的外部，所述測(cè)試夾具體的側(cè)面開(kāi)設(shè)有插槽，所述插槽的槽底固定安裝有測(cè)試插口，所述插槽的內(nèi)部設(shè)置有測(cè)試箱，所述測(cè)試箱靠近測(cè)試插口的一側(cè)固定安裝有與測(cè)試插口相適配的測(cè)試插頭，所述測(cè)試箱遠(yuǎn)離測(cè)試插頭的一側(cè)分別固定連接有第一測(cè)試接口和兩個(gè)固定架，兩個(gè)固定架相對(duì)應(yīng)的一側(cè)均開(kāi)設(shè)有滑槽，兩個(gè)固定架之間并位于滑槽的內(nèi)部設(shè)置有適配板，所述適配板的頂部固定安裝有與第一測(cè)試接口相適配的插口板，所述適配板的頂部并位于插口板的右側(cè)固定安裝有第二測(cè)試接口，所述第二測(cè)試接口的內(nèi)部插接有被測(cè)試接口板。

優(yōu)選的，所述測(cè)試插口為可靈活配置接口，可根據(jù)需要靈活選擇，可以將包括數(shù)字激勵(lì)接口、響應(yīng)接口、數(shù)字波形分析接口、A/D測(cè)試接口、開(kāi)關(guān)矩陣接口、任意波形產(chǎn)生接口、數(shù)字多用接口和D/A接口進(jìn)行任意組合，從而實(shí)現(xiàn)不同的測(cè)試需求。

優(yōu)選的，所述第一測(cè)試接口位于兩個(gè)固定架之間，兩個(gè)固定架以第一測(cè)試接口的中軸線對(duì)稱設(shè)置。

優(yōu)選的，所述測(cè)試盒的正面和背面均開(kāi)設(shè)有握槽，所述握槽位于測(cè)試夾具體的右側(cè)。

優(yōu)選的，所述第二測(cè)試接口為通用接口。

（三）有益效果

本實(shí)用新型提供了一種快速測(cè)試裝置。具備以下有益效果：

1、該快速測(cè)試裝置，結(jié)機(jī)簡(jiǎn)單，使用方便，對(duì)需要測(cè)試的接口板起到更好的固定作用，使其在測(cè)試時(shí)更加穩(wěn)固，測(cè)試出的數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。

2、該快速測(cè)試裝置，通過(guò)握槽與測(cè)試箱的配合使用，在把測(cè)試箱插入到測(cè)試夾具體內(nèi)部的時(shí)候更加方便，避免了在插入的時(shí)候無(wú)法對(duì)測(cè)試箱更好的控制的狀況。

3、該快速測(cè)試裝置，通過(guò)測(cè)試插口的靈活配置，可實(shí)現(xiàn)不同的測(cè)試需求，使其使用更為方便。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)正視圖；

圖2為本實(shí)用新型測(cè)試箱結(jié)構(gòu)俯視圖；

圖3為本實(shí)用新型測(cè)試夾具體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本使用新型測(cè)試箱結(jié)構(gòu)測(cè)試圖。

圖中：1箱體、2測(cè)試夾具體、3插槽、4測(cè)試插口、5測(cè)試箱、6測(cè)試插頭、7第一測(cè)試接口、8固定架、9滑槽、10適配板、11插口板、12第二測(cè)試接口、13被測(cè)試接口板、14數(shù)字激勵(lì)接口、15響應(yīng)接口、16數(shù)字波形分析接口、17A/D測(cè)試接口、18開(kāi)關(guān)矩陣接口、19任意波形產(chǎn)生接口、20數(shù)字多用接口、21D/A接口、22握槽。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種快速測(cè)試裝置，如圖1-4所示，包括箱體1，箱體1的內(nèi)部固定安裝有測(cè)試夾具體2，測(cè)試夾具體2的右側(cè)貫穿箱體1并延伸至箱體1的外部，測(cè)試夾具體2的側(cè)面開(kāi)設(shè)有插槽3，插槽3的槽底固定安裝有測(cè)試插口4，測(cè)試插口4包括數(shù)字激勵(lì)接口14、響應(yīng)接口15、數(shù)字波形分析接口16、A/D測(cè)試接口17、開(kāi)關(guān)矩陣接口18、任意波形產(chǎn)生接口19、數(shù)字多用接口20和D/A接口21，從左至右依次排列為數(shù)字激勵(lì)接口14、響應(yīng)接口15、數(shù)字波形分析接口16、A/D測(cè)試接口17、開(kāi)關(guān)矩陣接口18、任意波形產(chǎn)生接口19、數(shù)字多用接口20和D/A接口21，測(cè)試插口4可根據(jù)測(cè)試需求進(jìn)行靈活配置，插槽3的內(nèi)部設(shè)置有測(cè)試箱5，測(cè)試盒5的正面和背面均開(kāi)設(shè)有握槽22，握槽22位于測(cè)試夾具體2的右側(cè)，測(cè)試箱5靠近測(cè)試插口4的一側(cè)固定安裝有與測(cè)試插口4相適配的測(cè)試插頭6，測(cè)試箱5遠(yuǎn)離測(cè)試插頭6的一側(cè)分別固定連接有第一測(cè)試接口7和兩個(gè)固定架8，第一測(cè)試接口7位于兩個(gè)固定架8之間，兩個(gè)固定架8以第一測(cè)試接口7的中軸線對(duì)稱設(shè)置，兩個(gè)固定架8相對(duì)應(yīng)的一側(cè)均開(kāi)設(shè)有滑槽9，兩個(gè)固定架8之間并位于滑槽9的內(nèi)部設(shè)置有適配板10，適配板10的頂部固定安裝有與第一測(cè)試接口7相適配的插口板11，適配板10的頂部并位于插口板11的右側(cè)固定安裝有第二測(cè)試接口12，第二測(cè)試接口12為通用接口，第二測(cè)試接口12的內(nèi)部插接有被測(cè)試接口板13。

使用時(shí)，首先把需要測(cè)試的被測(cè)試接口板13插入到第二測(cè)試接口12內(nèi)，然后把適配板10插入到固定架8的滑槽9內(nèi)，并推動(dòng)適配板10使其靠近測(cè)試箱5，在適配板10快接近第一測(cè)試接口7的時(shí)候使插口板11對(duì)準(zhǔn)第一測(cè)試接口7并插入到第一測(cè)試接口7的內(nèi)部，完成之后雙手握住兩個(gè)握槽22，并把測(cè)試箱5插入到測(cè)試夾具體2的插槽3內(nèi)，把測(cè)試插頭6與測(cè)試插口4插接即可。

綜上所述，該快速測(cè)試裝置，結(jié)機(jī)簡(jiǎn)單，使用方便，對(duì)需要測(cè)試的接口板起到更好的固定作用，使其在測(cè)試時(shí)更加穩(wěn)固，測(cè)試出的數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。

測(cè)試插口可靈活配置，可實(shí)現(xiàn)不同的測(cè)試需求，使用更為方便。

并且，通過(guò)握槽22與測(cè)試箱5的配合使用，在把測(cè)試箱5插入到測(cè)試夾具體2內(nèi)部的時(shí)候更加方便，避免了在插入的時(shí)候無(wú)法對(duì)測(cè)試箱5更好的控制的狀況。

盡管已經(jīng)示出和描述了本實(shí)用新型的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以理解在不脫離本實(shí)用新型的原理和精神的情況下可以對(duì)這些實(shí)施例進(jìn)行多種變化、修改、替換和變型，本實(shí)用新型的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。