專利名稱：多晶硅棒倒角測量工裝的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種多晶硅棒倒角測量工裝。
背景技術：
現(xiàn)多晶硅棒倒角加工完成后在測量倒角大小時，使用普通的直尺，最小刻度為1_，而硅棒倒角大小規(guī)格值為0. 5-2_。實際操作中測量數(shù)據需估讀，誤差較大。且在2人以上測量時，數(shù)據判定偏差加大，易引起爭議。

實用新型內容本實用新型所要解決的技術問題是提供一種多晶硅棒倒角測量工裝，降低測量 值估讀產生的誤差，使測量數(shù)據更精確，避免爭議。本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是一種多晶硅棒倒角測量工裝，包括刻度板和刻度板上的刻度，刻度板至少設置一排刻度，每一排中的刻度的寬度都不同，由窄到寬依次平行地在刻度板上排列，刻度的寬度從倒角寬度范圍的下限值開始以0. Imm為單位依次遞增至倒角寬度范圍的上限值?？潭劝鍨榫匦?，刻度在刻度板的表面分為上下兩排，兩排刻度水平對稱?？潭劝宓恼疵鎯擅娑季哂锌潭?。本實用新型的有益效果是通過使用本測量工裝與硅棒倒角比對，找出與硅棒倒角最接近的對比刻度作為測量值。比對刻度范圍0. 5-2mm，范圍內比對刻度以0. Imm遞增。簡單，便捷，能準確的測量出尺寸。
以下結合附圖
和實施例對本實用新型進一步說明；圖I是本實用新型的正視圖；圖2是本實用新型的側視圖；圖中，I.刻度板，2.刻度。
具體實施方式
如圖I和2所示，一種多晶硅棒倒角測量工裝，包括刻度板I和刻度板I上的刻度2，刻度板I至少設置一排刻度，每一排中的刻度2的寬度都不同，由窄到寬依次平行地在刻度板I上排列，刻度2的寬度從倒角寬度范圍的下限值開始以0. Imm為單位依次遞增至倒角寬度范圍的上限值。倒角寬度范圍的下限值為0. 5mm，倒角寬度范圍的上限值為2mm?？潭?的寬度從
0.5,0. 6,0. 7,0. 8,0. 9,1. 0,1. 1、1. 2,1. 3,1. 4,1. 5,1. 6,1. 7,1. 8,1. 9 依次遞增至 2. O?？潭劝錓為矩形，刻度2在刻度板I的表面分為上下兩排，兩排刻度2水平對稱。刻度板I的正反面兩面都具有刻度2。
權利要求1.一種多晶硅棒倒角測量工裝，其特征是包括刻度板(I)和刻度板(I)上的刻度(2)，刻度板(I)至少設置一排刻度，每一排中的刻度(2)的寬度都不同，由窄到寬依次平行地在刻度板(I)上排列，刻度(2)的寬度從倒角寬度范圍的下限值開始以0. Imm為單位依次遞增至倒角寬度范圍的上限值。
2.根據權利要求I所述的多晶硅棒倒角測量工裝，其特征是所述的刻度板(I)為矩形，刻度(2)在刻度板(I)的表面分為上下兩排，兩排刻度(2)水平對稱。
3 根據權利要求I或2所述的多晶硅棒倒角測量工裝，其特征是所述的刻度板(I)的正反面兩面都具有刻度(2)。
專利摘要本實用新型涉及一種多晶硅棒倒角測量工裝，包括刻度板和刻度板上的刻度，刻度板至少設置一排刻度，每一排中的刻度的寬度都不同，由窄到寬依次平行地在刻度板上排列，刻度的寬度從倒角寬度范圍的下限值開始以0.1mm為單位依次遞增至倒角寬度范圍的上限值。本實用新型的有益效果是通過使用本測量工裝與硅棒倒角比對，找出與硅棒倒角寬度最接近的對比刻度作為測量值。比對刻度范圍0.5-2mm，范圍內比對刻度以0.1mm遞增。簡單，便捷，能準確的測量出尺寸。
文檔編號G01B5/24GK202494415SQ20122006745
公開日2012年10月17日 申請日期2012年2月28日 優(yōu)先權日2012年2月28日
發(fā)明者吳冬生 申請人:常州天合光能有限公司