專利名稱：一種研磨棒直徑檢測(cè)方法以及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于精密軸類零件加工技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種研磨棒直徑檢測(cè)方法以及
>J-U裝直。
背景技術(shù)：
隨著精密軸類零件加工精度要求越來(lái)越高，對(duì)作為精密軸類零件毛坯料的研磨棒自身精度提出更高的要求。一般毛坯料的研磨棒長(zhǎng)度均超過(guò)2m，采用無(wú)心磨床對(duì)外表面進(jìn)行磨削加工，以使得加工后的研磨棒具有所需要的表面粗糙度、圓度及直徑等技術(shù)要求。由于棒料長(zhǎng)度較長(zhǎng)，加工過(guò)程必然會(huì)存在同一根棒料不同段加工質(zhì)量不完全相同，這就要求 對(duì)加工后的研磨棒進(jìn)行精確檢測(cè)。直徑作為研磨棒精度的核心指標(biāo)，在研磨棒加工過(guò)程中需要被嚴(yán)格進(jìn)行監(jiān)控。傳統(tǒng)研磨棒加工過(guò)程中的直徑檢測(cè)，一般是采用螺旋測(cè)微儀或是游標(biāo)卡尺通過(guò)人工抽檢的方式來(lái)進(jìn)行測(cè)量，這種方法存在如下缺點(diǎn)1、測(cè)量效率低，一般研磨棒長(zhǎng)度均超過(guò)I米，檢測(cè)人員往往需要在同一根研磨棒上的不同位置檢測(cè)多次，才更能反映出該根研磨棒的實(shí)際直徑值；2、無(wú)論采用螺旋測(cè)微儀還是游標(biāo)卡尺，均需要在測(cè)量過(guò)程中與研磨棒實(shí)際接觸才能測(cè)量出實(shí)際直徑，即為傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量方法，這種方法會(huì)在測(cè)量過(guò)程中對(duì)研磨棒表面造成與測(cè)量工具的摩損損傷，從而影響研磨棒自身品質(zhì)；3、測(cè)量操作給檢測(cè)人員帶來(lái)較大的重復(fù)性勞動(dòng)，不符合現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)發(fā)展需求。

發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于提供對(duì)研磨棒直徑進(jìn)行非接觸式測(cè)量的一種研磨棒直徑檢測(cè)方法。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案為一種研磨棒直徑檢測(cè)方法，包括以下步驟A、通過(guò)信號(hào)發(fā)生器發(fā)射測(cè)量光束，測(cè)量光束處于垂直截面內(nèi)，足夠覆蓋研磨棒直徑，測(cè)量信號(hào)發(fā)生器發(fā)射的測(cè)量光束在垂直方向長(zhǎng)度為L(zhǎng) ；B、將研磨棒放入光束中，測(cè)量光束的一部分光被研磨棒擋住無(wú)法進(jìn)入到對(duì)面的信號(hào)接收器內(nèi)；C、信號(hào)發(fā)生器對(duì)面的信號(hào)接收器接收到研磨棒上部分未被遮擋的光束，以及收到研磨棒下部分未被遮擋的光束；D、測(cè)量對(duì)面的信號(hào)接收器接收到研磨棒上部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度LI，測(cè)量接收到研磨棒下部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度L2 ；E、根據(jù)實(shí)際研磨棒直徑計(jì)算公式為D=L-L1-L2，計(jì)算研磨棒的直徑數(shù)值。本發(fā)明還提供實(shí)施研磨棒直徑檢測(cè)方法的一種研磨棒直徑檢測(cè)裝置，由帶有數(shù)據(jù)線纜的對(duì)射測(cè)頭組成。進(jìn)一步，還包含放置對(duì)射測(cè)頭的底座。本發(fā)明的有益效果是本發(fā)明在對(duì)研磨棒測(cè)量過(guò)程中，對(duì)研磨棒自身無(wú)任何損傷，可為后續(xù)用該研磨棒加工精密軸類零件提供精度保證，通過(guò)連接電腦的數(shù)據(jù)線纜即時(shí)傳輸測(cè)量監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)，更方便監(jiān)控研磨棒直徑是否超差，杜絕人工采用傳統(tǒng)測(cè)量方法帶來(lái)影響，更快速、準(zhǔn)確地測(cè)量出研磨棒的直徑公差，并可根據(jù)不同批次、型號(hào)研磨棒設(shè)置相對(duì)應(yīng)的直徑公差監(jiān)控范圍，一旦檢測(cè)超差，則立即通過(guò)報(bào)警提醒將不合格產(chǎn)品剔除，提高了檢測(cè)精度、檢測(cè)效率和質(zhì)量控制的可靠性，從而便于實(shí)現(xiàn)對(duì)研磨棒直徑進(jìn)行全自動(dòng)測(cè)量，顯著提高研磨棒直徑檢測(cè)效率，為嚴(yán)格控制研磨棒生產(chǎn)質(zhì)量指標(biāo)提供科學(xué)檢測(cè)方法。


圖I是本發(fā)明裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明裝置的原理示意圖。
其中1.測(cè)頭附帶電纜；2.對(duì)射測(cè)頭；3.研磨棒；4.信號(hào)接收器；5.測(cè)量光束；
6.信號(hào)發(fā)生器；7.研磨棒；8.底座。
具體實(shí)施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。根據(jù)圖2所示本發(fā)明的測(cè)量原理為通過(guò)信號(hào)發(fā)生器6發(fā)射測(cè)量光束5，測(cè)量光束處于垂直截面內(nèi)，足夠覆蓋研磨棒直徑，將研磨棒7放入光束中，測(cè)量光束的一部分光被研磨棒擋住無(wú)法進(jìn)入到對(duì)面的信號(hào)接收器4內(nèi)，假定從信號(hào)發(fā)生器發(fā)射的測(cè)量光束在垂直方向長(zhǎng)度為L(zhǎng)，而對(duì)面的信號(hào)接收器接收到研磨棒上部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度為L(zhǎng)I，接收到研磨棒下部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度為L(zhǎng)2，則實(shí)際研磨棒直徑D=L-L1-L2。由于測(cè)量光束是以光幕方式由信號(hào)發(fā)生器對(duì)射到正對(duì)面的信號(hào)接收器的，中間只會(huì)被研磨棒遮 擋住部分，故可以非常精確的測(cè)量出研磨棒自身的直徑。根據(jù)以上的測(cè)量原理，本發(fā)明提供一種研磨棒直徑檢測(cè)方法，包括以下步驟A、通過(guò)信號(hào)發(fā)生器發(fā)射測(cè)量光束，測(cè)量光束處于垂直截面內(nèi)，足夠覆蓋研磨棒直徑，測(cè)量信號(hào)發(fā)生器發(fā)射的測(cè)量光束在垂直方向長(zhǎng)度為L(zhǎng) ；B、將研磨棒放入光束中，測(cè)量光束的一部分光被研磨棒擋住無(wú)法進(jìn)入到對(duì)面的信號(hào)接收器內(nèi)；C、信號(hào)發(fā)生器對(duì)面的信號(hào)接收器接收到研磨棒上部分未被遮擋的光束，以及收到研磨棒下部分未被遮擋的光束；D、測(cè)量對(duì)面的信號(hào)接收器接收到研磨棒上部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度LI，測(cè)量接收到研磨棒下部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度L2 ；E、根據(jù)實(shí)際研磨棒直徑計(jì)算公式為D=L-L1_L2，計(jì)算研磨棒的直徑數(shù)值。根據(jù)圖I、圖2所示根據(jù)以上的一種研磨棒直徑檢測(cè)方法，本發(fā)明還提供實(shí)施研磨棒直徑檢測(cè)方法的一種研磨棒直徑檢測(cè)裝置，由帶有數(shù)據(jù)線纜I的對(duì)射測(cè)頭2組成。其中對(duì)射測(cè)頭2由信號(hào)發(fā)生器6與信號(hào)接收器4組成，信號(hào)發(fā)生器6發(fā)射測(cè)量光束5，當(dāng)研磨棒7放入光束中，測(cè)量光束5的一部分光被研磨棒擋住無(wú)法進(jìn)入到對(duì)面的信號(hào)接收器4內(nèi)，通過(guò)測(cè)量信號(hào)發(fā)生器4發(fā)射的測(cè)量光束在垂直方向長(zhǎng)度為L(zhǎng)、信號(hào)接收器4接收到研磨棒上部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度為L(zhǎng)I，接收到研磨棒下部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度為L(zhǎng)2，并將該三個(gè)數(shù)據(jù)L、L1、L2通過(guò)與對(duì)射測(cè)頭2連接的數(shù)據(jù)線纜I即時(shí)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)監(jiān)控處理系統(tǒng)，則可以動(dòng)態(tài)的根據(jù)監(jiān)控處理系統(tǒng)預(yù)置的計(jì)算公式對(duì)研磨棒的直徑進(jìn)行計(jì)算，并自動(dòng)根據(jù)事先設(shè)置的對(duì)應(yīng)研磨棒直徑公差來(lái)實(shí)時(shí)判斷所檢測(cè)研磨棒直徑是否超過(guò)誤差，一旦系統(tǒng)檢測(cè)到數(shù)據(jù)超過(guò)誤差，則立即通過(guò)報(bào)警提醒生產(chǎn)人員將不合格產(chǎn)品剔除。底座8放置對(duì)射測(cè)頭2，數(shù)據(jù)線纜I從底座8下部穿出。當(dāng)然，可根據(jù)本發(fā)明提供的一種研磨棒直徑檢測(cè)方法以及一種研磨棒直徑檢測(cè)裝置，本領(lǐng)域技術(shù)人員能開發(fā)出便攜式研磨棒直徑檢測(cè)儀，或僅是在此基礎(chǔ)上增加研磨棒自動(dòng)傳送系統(tǒng),繼而開發(fā)全自動(dòng)研磨棒檢測(cè)系統(tǒng),本發(fā)明提供的技術(shù)方案為高精密研磨棒大批量生產(chǎn)和產(chǎn)品全程質(zhì)量控制提供了技術(shù)基礎(chǔ)。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精 神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種研磨棒直徑檢測(cè)方法，包括以下步驟 A、通過(guò)信號(hào)發(fā)生器發(fā)射測(cè)量光束，測(cè)量光束處于垂直截面內(nèi)，足夠覆蓋研磨棒直徑，測(cè)量信號(hào)發(fā)生器發(fā)射的測(cè)量光束在垂直方向長(zhǎng)度為L(zhǎng) ； B、將研磨棒放入光束中，測(cè)量光束的一部分光被研磨棒擋住無(wú)法進(jìn)入到對(duì)面的信號(hào)接收器內(nèi)； C、信號(hào)發(fā)生器對(duì)面的信號(hào)接收器接收到研磨棒上部分未被遮擋的光束，以及收到研磨棒下部分未被遮擋的光束； D、測(cè)量對(duì)面的信號(hào)接收器接收到研磨棒上部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度LI，測(cè)量接收到研磨棒下部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度L2 ； E、根據(jù)實(shí)際研磨棒直徑計(jì)算公式為D=L-L1-L2，計(jì)算研磨棒的直徑數(shù)值。
2.一種實(shí)施權(quán)利要求I所述方法的一種研磨棒直徑檢測(cè)裝置，其特征在于由帶有數(shù)據(jù)線纜的對(duì)射測(cè)頭組成。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種研磨棒直徑檢測(cè)裝置，其特征在于還包含放置對(duì)射測(cè)頭的底座。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種研磨棒直徑檢測(cè)裝置，其特征在于所述數(shù)據(jù)線纜從底座下部穿出。
5.根據(jù)權(quán)利要求2至4任一所述的一種研磨棒直徑檢測(cè)裝置，其特征在于所述對(duì)射測(cè)頭由信號(hào)發(fā)生器與信號(hào)接收器組成。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種研磨棒直徑檢測(cè)方法以及裝置，通過(guò)測(cè)量信號(hào)發(fā)生器發(fā)射測(cè)量光束在垂直方向長(zhǎng)度為L(zhǎng)，信號(hào)接收器接收到研磨棒上部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度L1，測(cè)量接收到研磨棒下部分未被遮擋的光束投影長(zhǎng)度L2,根據(jù)公式計(jì)算研磨棒的直徑數(shù)值，還提供實(shí)施研磨棒直徑檢測(cè)方法的一種研磨棒直徑檢測(cè)裝置，由帶有數(shù)據(jù)線纜的對(duì)射測(cè)頭組成。本發(fā)明在對(duì)研磨棒測(cè)量過(guò)程中，對(duì)研磨棒自身無(wú)任何損傷，可為后續(xù)用該研磨棒加工精密軸類零件提供精度保證，通過(guò)電腦監(jiān)控更快速、準(zhǔn)確地測(cè)量出研磨棒的直徑公差，為嚴(yán)格控制研磨棒生產(chǎn)質(zhì)量指標(biāo)提供科學(xué)檢測(cè)方法。
文檔編號(hào)G01B11/08GK102778205SQ20121023688
公開日2012年11月14日 申請(qǐng)日期2012年7月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月10日
發(fā)明者夏發(fā)平 申請(qǐng)人:昆山騰宇鑫金屬制品有限公司