專利名稱：晶片測試機的感測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種晶片測試機，尤指一種具有模組化以簡化維修及拆換時所需的校對，且應(yīng)用于探測裝置的高效率感測裝置。
背景技術(shù)：
如圖7所示，為一種應(yīng)用于各式晶片的電容、電感或電阻值等的測試機，它于機臺(11)上設(shè)有控制組(1)、入料組(13)、轉(zhuǎn)盤(14)、測試組(15)、出料組(16)及集料槽(17)等組合而成。晶片由入料組(13)送入轉(zhuǎn)盤(14)后，利用測試組(15)配合控制組(12)的電腦測試電容或電感實際值后分成預(yù)定設(shè)計的等級，由出料組(16)分開一一置入集料槽(17)中待處理。再如圖8所示，該測試組(15)由上、下探針(151)、(152)分別組設(shè)于機臺(11)及轉(zhuǎn)盤(14)內(nèi)，使隨轉(zhuǎn)盤(14)通過的晶片可以與上、下探針(151)、(152)接觸而完成測試，該上探針(151)為一薄板狀彈片且與轉(zhuǎn)盤(14)上的導(dǎo)環(huán)(141)保持適當(dāng)?shù)闹苯踊瑒幽Σ两佑|。
由于金屬制成薄板狀彈片的上探針(151)長期與塑膠制轉(zhuǎn)盤作一定壓力摩擦接觸，很快會使轉(zhuǎn)盤(14)受損且嚴(yán)重影響測試的正確值，使其分類也誤差加大，再者，很快受損的狀況必須時常換下測試組及轉(zhuǎn)盤作零件檢修與更換，之后又必須花費相當(dāng)長的時間作組合及精密調(diào)校才能再恢復(fù)正常作業(yè)，必須時常中斷正常作業(yè)流程，對于工作效率影響巨大。

發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的主要目的在于提供一種晶片測試機的感測裝置，該裝置由模組化組成的感測單元，當(dāng)感測裝置有受損或故障必須更換時，只需將整個模組化的感測單元拆卸下來直接更換新的感測單元，可以免除重新測試、校正等工作，每一次更修不必浪費一、二小時的測試、校正時間，對于檢測量及工作效率大幅提高且有實質(zhì)的幫助。
本實用新型的另一目的在于提供一種晶片測試機的感測裝置，該裝置由模組化的完整感測單元，可以提供業(yè)者平時的庫存標(biāo)準(zhǔn)零組件，于必要時由現(xiàn)場人員直接拆換，不必在感測故障時，還需等待原廠的技術(shù)維修支援，可以省卻等待時間，且能馬上更換，之后再將故障的感測單元找時間送修即可。
本實用新型的技術(shù)方案是一種晶片測試機的感測裝置，該感測裝置配合下探測裝置，接觸探測轉(zhuǎn)動經(jīng)過的轉(zhuǎn)盤上的晶片的實際電阻、電感、電容值，所述感測裝置由固定于機臺的固定座配合模數(shù)化的感測單元組成，該感測單元包括連接座、樞接座及探測組，且連接座設(shè)有數(shù)個缺槽供樞接板置入，并由彈簧的配合及樞軸貫穿于樞接座，而樞設(shè)樞接板，形成具有彈性接觸并作探測的感測單元。
所述固定座上設(shè)有組裝孔、下設(shè)有凹槽，且螺設(shè)有數(shù)支金屬導(dǎo)桿穿入凹槽內(nèi)，于金屬導(dǎo)桿底端為插入段、上為具平面的調(diào)整段并與電源連接，固定座兩側(cè)具有螺孔。
所述連接座兩側(cè)具孔洞供螺絲穿過以螺入螺孔內(nèi)結(jié)合，且具有數(shù)缺槽與向上穿出的端子相對應(yīng)連設(shè)，配合彈簧使端子上恰可與插入段配合對接，下利用橫銷插設(shè)并連接一導(dǎo)線，另于缺槽前的端面上設(shè)有數(shù)小螺孔。
所述所述樞接座設(shè)有數(shù)小孔洞供螺絲穿過以螺入小螺孔內(nèi)結(jié)合，并設(shè)有數(shù)凹槽與缺槽相對，由橫孔供樞軸橫設(shè)貫穿該凹槽后，由扣環(huán)扣合。
所述探測組由樞接板、支架、背架及導(dǎo)輪組成，樞接架一端具有穿孔供橫軸穿設(shè)樞合，下具有一凹槽，凹槽內(nèi)有數(shù)螺孔，可分別供螺絲螺入以連接導(dǎo)線及支架于樞接架的上、下面，恰可置入凹槽的支架略呈L型，平板段上具有孔洞供螺絲穿過，垂直段設(shè)有螺孔及一凹弧，而背架上具有孔洞及一凹弧，可使螺絲穿過孔洞后螺入螺孔，并由兩相對應(yīng)的凹弧所形成的孔洞供套置導(dǎo)輪軸桿。
所述探測組也可將活動的導(dǎo)輪設(shè)為具傾斜角的探測支架。
所述探測組的導(dǎo)輪的軸桿以石墨制成為佳。
本實用新型的優(yōu)點是1.整個模組化設(shè)計的探測單元可以直接配合固定座的拆卸或組設(shè)，其組裝及拆卸的操作相當(dāng)簡便快速，不需原廠技術(shù)人員即可作業(yè)，相當(dāng)簡便。
2.模組化的探測單元在出廠之前均已作精密調(diào)校，當(dāng)拆卸換裝時不必再經(jīng)長時間的測試即可使用，對于用戶而言可以省卻每一次拆卸重新組裝后的冗長測試工作，對于用戶的測試工作效率可以大幅提高。
3.模組化的探測單元在出廠之前均已作精密調(diào)校，可供用戶作一定數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)人員，可隨時因需要自行更替，既方便且利于管理。
4.本實用新型的模組化探測單元更進一步將之作為具有多支感測用的滾輪或探針，使之可以利用滾輪的滑動摩擦減少損耗外，更可一次作數(shù)道的探測，其工作效率數(shù)倍于昔，相當(dāng)具有實用性。
以下結(jié)合附圖及實施例對本實用新型作進一步描述

圖1為本實用新型的立體分解圖；圖2為本實用新型的另一角度立體分解圖；圖3為本實用新型的另一角度立體組合圖；圖4為本實用新型的剖面組合實施例圖；圖5為本實用新型的另一立體分解實施例；圖6為本實用新型的另一實施例組合示意圖；其中(2)固定座；(21)組裝孔；(22)凹槽；(23)金屬導(dǎo)桿；(24)插入段；(25)調(diào)整段；(26)螺孔；(3)連接座；(31)孔洞；(32)螺絲；(33)缺槽；(34)端子；(341)彈簧；(342)橫銷；(35)導(dǎo)線；(36)卡鉤；(37)插孔；(38)彈簧；(39)小螺孔；(4)樞接座；(41)小孔洞；(42)螺絲；(43)凹槽；(44)橫孔；(45)樞軸；(46)扣環(huán)；(5)探測組；(51)樞接板；(511)穿孔；(512)凹槽；(513)螺孔；(52)支架；(521)平板段；(522)孔洞；(523)垂直段；(524)螺孔；(525)凹??；(53)背架；(531)孔洞；(532)凹?。?533)螺絲；(54)導(dǎo)輪；(541)軸桿；(55)螺絲；(56)螺絲；(57)探測支架；(571)傾斜角；(6)轉(zhuǎn)盤；(61)導(dǎo)溝；(62)下探針；(63)晶片。
圖7為現(xiàn)有技術(shù)的整體示意圖；圖8為現(xiàn)有技術(shù)的部分立體示意圖；其中(11)機臺；(12)控制組；(13)入料組；(14)轉(zhuǎn)盤；(15)測試組；(151)上探針；(152)下探針；(16)出料組；(17)集料組。
具體實施方式
實施例如圖1、圖2、圖3所示，本實用新型由固定座(2)、連接座(3)、樞接座(4)及探測組(5)等組合而成。
固定座(2)上設(shè)有組裝孔(21)，下具有凹槽(22)，且螺設(shè)有數(shù)支金屬導(dǎo)桿(23)穿入凹槽(22)內(nèi)，于金屬導(dǎo)桿(23)底端為插入段(24)，上為具平面的調(diào)整段(25)并與電源連接，另外，固定座(2)兩側(cè)具有螺孔(26)。
連接座(3)兩側(cè)具孔洞(31)可供螺絲(32)穿過以螺入螺孔(26)內(nèi)作結(jié)合，且具有數(shù)缺槽(33)與向上穿出的端子(34)相對應(yīng)連設(shè)，配合彈簧(341)使端子(34)上恰可與插入段(24)配合對接，下利用橫銷(342)插設(shè)并連接一導(dǎo)線(35)，而缺槽(33)后具有一卡鉤(36)及向上的插孔(37)供置入彈簧(38)，另于缺槽(33)前的端面上設(shè)有數(shù)小螺絲(39)。
樞接座(4)設(shè)有小孔洞(41)供螺絲(42)穿過以螺入小螺孔(39)內(nèi)作結(jié)合，并設(shè)有數(shù)凹槽(43)與缺槽(33)相對，由橫孔(44)供樞軸(45)橫設(shè)貫穿該凹槽(43)后，由扣環(huán)(46)扣合。
探測組(5)由樞接板(51)、支架(52)、背架(53)及導(dǎo)輪(54)組成，樞接架(51)一端具有穿孔(511)可供樞軸(45)穿設(shè)樞合，下具有一凹槽(512)，凹槽(512)內(nèi)有數(shù)螺孔(513)，可分別供螺絲(55)、(56)螺入以連接導(dǎo)線(35)及支架(52)于樞接架(51)的上、下面，恰可置入凹槽(512)的支架(52)略呈L型，平板段(521)上具有孔洞(522)供螺絲(56)穿過，垂直段(523)設(shè)有螺孔(524)及一凹弧(525)，而背架(53)上具有孔洞(531)及一凹弧(532)，可使螺(533)穿過孔洞(531)后螺入螺孔(524)，并由兩相對應(yīng)的凹弧(525)、(532)所形成的孔洞供套置導(dǎo)輪(54)的軸桿(541)，該軸桿(541)以石墨制成為佳，具有耐磨導(dǎo)電性佳及摩擦系數(shù)小的優(yōu)點，并可避免同材質(zhì)的磨損。
經(jīng)由上述元件組成的感測單元形成一個完整的模組化結(jié)構(gòu)，恰可利用組裝孔(21)供螺絲穿過而組設(shè)于機臺上，此時電源經(jīng)金屬導(dǎo)桿(23)、端子(34)、導(dǎo)線(35)、樞接板(51)、支架(52)至導(dǎo)輪(54)上，當(dāng)導(dǎo)輪(54)在旋轉(zhuǎn)的轉(zhuǎn)盤(6)導(dǎo)溝(61)中，下配合有下探針(62)與之相對應(yīng)組設(shè)，使轉(zhuǎn)盤(6)中的晶片(63)經(jīng)過時即可導(dǎo)通受感測，且導(dǎo)輪(54)因彈簧(38)而有一定的壓觸彈性(如圖4、圖5所示)。
另外，如圖5、圖6所示，探測組(5)的活動導(dǎo)輪(54)也可直接改為具傾斜角(571)的探測支架(57)，且由連接座(3)、樞接座(4)及探測組(5)形成一個完整的模組化探測單元，可使之直接置入固定座(2)內(nèi)螺固，當(dāng)探測單元有故障時即可整組拆卸更換，不必再等原廠技術(shù)人員前來更替及檢測，即可上馬使用，再另外找時間將故障的模組化探測單元送修。
權(quán)利要求1.一種晶片測試機的感測裝置，該感測裝置配合下探測裝置，接觸探測轉(zhuǎn)動經(jīng)過的轉(zhuǎn)盤上的晶片的實際電阻、電感、電容值，其特征在于所述感測裝置由固定于機臺(11)的固定座(2)配合模數(shù)化的感測單元組成，該感測單元包括連接座(3)、樞接座(4)及探測組(5)，且連接座(3)設(shè)有數(shù)個缺槽(33)供樞接板(51)置入，并由彈簧(38)的配合及樞軸(45)貫穿于樞接座(4)，而樞設(shè)樞接板(51)，形成具有彈性接觸并作探測的感測單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片測試機的感測裝置，其特征在于所述固定座(2)上設(shè)有組裝孔(21)、下設(shè)有凹槽(22)，且螺設(shè)有數(shù)支金屬導(dǎo)桿(23)穿入凹槽(22)內(nèi)，于金屬導(dǎo)桿(23)底端為插入段(24)、上為具平面的調(diào)整段(25)并與電源連接，固定座(2)兩側(cè)具有螺孔(26)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片測試機的感測裝置，其特征在于所述連接座(3)兩側(cè)具孔洞(31)供螺絲(32)穿過以螺入螺孔(26)內(nèi)結(jié)合，且具有數(shù)缺槽(33)與向上穿出的端子(34)相對應(yīng)連設(shè)，配合彈簧(341)使端子(34)上恰可與插入段(24)配合對接，下利用橫銷(342)插設(shè)并連接一導(dǎo)線(35)，另于缺槽(33)前的端面上設(shè)有數(shù)小螺孔(39)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片測試機的感測裝置，其特征在于所述所述樞接座(4)設(shè)有數(shù)小孔洞(41)供螺絲(42)穿過以螺入小螺孔(39)內(nèi)結(jié)合，并設(shè)有數(shù)凹槽(43)與缺槽(33)相對，由橫孔(44)供樞軸(45)橫設(shè)貫穿該凹槽(43)后，由扣環(huán)(46)扣合。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片測試機的感測裝置，其特征在于所述探測組(5)由樞接板(51)、支架(52)、背架(53)及導(dǎo)輪(54)組成，樞接板一端具有穿孔(511)供樞軸(45)穿設(shè)樞合，下具有一凹槽(512)，凹槽(512)內(nèi)有數(shù)螺孔(513)，可分別供螺絲(55)、(56)螺入以連接導(dǎo)線(35)及支架(52)于樞接架的上、下面，恰可置入凹槽(512)的支架(52)略呈L型，平板段(521)上具有孔洞(522)供螺絲(56)穿過，垂直段(523)設(shè)有螺孔(524)及一凹弧(525)，而背架(53)上具有孔洞(531)及一凹弧(532)，可使螺絲(533)穿過孔洞(531)后螺入螺孔(524)，并由兩相對應(yīng)的凹弧(525)、(532)所形成的孔洞供套置導(dǎo)輪軸桿(541)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或5所述的晶片測試機的感測裝置，其特征在于所述探測組(5)也可將活動的導(dǎo)輪(54)設(shè)為具傾斜角的探測支架(57)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或5所述的晶片測試機的感測裝置，其特征在于所述探測組(5)的導(dǎo)輪(54)的軸桿(541)以石墨制成為佳。
專利摘要本實用新型公開了一種晶片測試機的感測裝置，該感測裝置配合下探測裝置，接觸探測轉(zhuǎn)動經(jīng)過的轉(zhuǎn)盤上的晶片的實際電阻、電感、電容值，所述感測裝置由固定于機臺的固定座配合模數(shù)化的感測單元組成，該感測單元由連接座、樞接座及探測組所組成，為一出廠前已作精密調(diào)校的標(biāo)準(zhǔn)模組化感測單元，供用戶作為庫存標(biāo)準(zhǔn)零部件，于該測試機的測試裝置故障時，可直接由用戶馬上更換且不必再作等待及冗長的調(diào)校即可使用。
文檔編號G01R27/00GK2524370SQ0127261
公開日2002年12月4日 申請日期2001年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2001年11月30日
發(fā)明者盧鏡來 申請人:昆山萬潤電子科技有限公司