專利名稱：一種波峰焊接浸錫時間測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及用于波峰焊接電路板的設(shè)備，尤其是一種波峰焊接浸錫時間測試儀。
背景技術(shù)：
在電子組裝行業(yè)波峰焊接過程中，很多焊接質(zhì)量異常(如尖刺、短路、未上錫等) 都與PCB板在過波峰焊接工序浸錫時間長短有關(guān)。為了保證PCB板上焊點的焊接質(zhì)量，確保生產(chǎn)過程順暢，生產(chǎn)時一般要求PCB板在過波峰焊接工序時的浸錫時間必須滿足如下要求有鉛焊接時間2. 5 5s，無鉛3. 5 k。目前對PCB板過波峰焊接工序的浸錫時間測定有如下幾種方式1、玻璃板法。將帶有刻度的玻璃板在波峰焊機傳達鏈上移動，然后查看玻璃板上預(yù)留的刻度，通過測量其長度和鏈速計算出浸錫時間。這種方式由于玻璃板比實際PCB板的潤濕差，測量誤差大；2、溫度曲線測試法。通過專業(yè)的爐溫測試儀測量元件在過波峰焊爐時溫度曲線從而通過軟件計算得出元件浸錫時間，這種測試方法由于溫度慣性大而使測試結(jié)果只能精確到IS級，不能滿足精密測量的要求，且這種測試還需電腦及軟件支持，測試不方便，數(shù)據(jù)顯示不直觀；3、插針法。在垂直于PCB傳送方向上排布一排插針，插針兩兩用導(dǎo)線連接起來，正常情況下兩兩斷開，一旦進入波峰焊接時，兩兩導(dǎo)通，當(dāng)任何一個引腳和錫波脫離時，電路斷開，通過測量導(dǎo)通時間從而得出浸錫時間。這種測試方式準(zhǔn)確，但是測試結(jié)果一般需電腦進行處理，數(shù)據(jù)顯示不直觀，同時這種方式需要特定的PCB(用來插針)，測試特定的焊點， 不能任意選擇PCB板或者任意焊點進行測試，無法模擬現(xiàn)場生產(chǎn)時的各種PCB板，給現(xiàn)場測試帶來不便。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于，提供一種操作靈活簡易、測量精確度高、測試結(jié)果顯示直觀的波峰焊接浸錫時間測試儀。本實用新型提供的一種波峰焊接浸錫時間測試儀，其包括供電電路、單片機、存儲電路、顯示電路、第一探針和第二探針，該單片機包括第一 I/O端口、第二 I/O端口和用于計算所述第一 I/O端口和所述第二 I/O端口導(dǎo)通時間的定時器，所述供電電路、所述存儲電路及所述顯示電路分別與所述單片機的相應(yīng)端口電連接，所述第一探針與所述第一 I/O端口和所述供電電路的負(fù)極電連接，所述第二探針與所述第二 I/O端口電連接。作為上述技術(shù)方案的優(yōu)選實施例，所述顯示電路包括數(shù)碼顯示管。作為上述技術(shù)方案的優(yōu)選實施例，還包括LED指示燈，該LED指示燈與所述單片機的相應(yīng)端口電連接。作為上述技術(shù)方案的優(yōu)選實施例，還包括按鍵控制開關(guān)，該按鍵控制開關(guān)與所述
3單片機的相應(yīng)端口電連接。作為上述技術(shù)方案的優(yōu)選實施例，所述供電電路包括電源，該電源為干電池。作為上述技術(shù)方案的優(yōu)選實施例，所述供電電路包括電源開關(guān)，該電源開關(guān)設(shè)置在所述電源與所述單片機之間。作為上述技術(shù)方案的優(yōu)選實施例，還包括殼體，所述供電模塊、所述單片機控制模塊、所述存儲模塊及所述顯示模塊裝于該殼體內(nèi)。使用本實用新型的波峰焊接浸錫時間測試儀時，將第一探針與錫爐壁連接，第二探針與元器件引腳相連，PCB板在波峰焊接過程中，元器件引腳在未進入錫波之前，第一探針與第二探針不導(dǎo)通，單片機的第二 I/O端口電平為高，當(dāng)元器件引腳在進入錫波后，由于熔融的錫波為導(dǎo)體，第一探針與第二探針導(dǎo)通，單片機的第二 I/O端口被接至地而變?yōu)榈碗娖?，?dāng)元器件引腳離開錫波后，第一探針與第二探針不導(dǎo)通，單片機的第二 I/O又被變?yōu)楦唠娖?，單片機的定時器計算第二 I/O端口的低電平時間，從而得出波峰焊接浸錫時間，并將測量結(jié)果及測量次序通過顯示電路直觀顯示。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的波峰焊接浸錫時間測試儀，具有如下優(yōu)點1.測量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，測量精度高(可精確到0. IS級)，測量直觀顯示，彌補目前市場上只針對浸錫時間長短進行測定的簡易型儀器或者設(shè)備的短缺；2.操作靈活簡易，可對現(xiàn)場生產(chǎn)的PCB板上任意焊點進行測試，無需額外的工裝等支持。

圖1是本實用新型實施例1的方框圖；圖2是本實用新型實施例1的使用狀態(tài)圖。附圖標(biāo)記說明10-波峰焊接浸錫時間測試儀、101-單片機、102-第一 I/O端口、 103-第一探針、104-第二 I/O端口、105-第二探針、106-顯示電路、107-LED指示燈、108-存儲電路、109-干電池、110-電源開關(guān)、111-按鍵控制開關(guān)、20-元器件引腳、30-PCB板、 40-錫爐壁、50-錫波。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型的實施例進行詳細(xì)說明如圖1所示，本實用新型的波峰焊接浸錫時間測試儀10主要由供電電路、單片機 101、存儲電路108、顯示電路106、按鍵控制開關(guān)111、第一探針103和第二探針105組成， 單片機101包括第一 I/O端口 102、第二 I/O端口 104和內(nèi)部的用于計算第一 I/O端口 102 和第二 I/O端口 104導(dǎo)通時間的定時器(可精確0.1S)，第二 I/O端口 104是中斷輸入端。 供電電路包括干電池109和控制電源通斷的電源開關(guān)110。顯示電路106包括數(shù)碼顯示管。 供電電路、存儲電路108、顯示電路106及按鍵控制開關(guān)111分別與單片機101的相應(yīng)端口電連接，第一探針103的一端與第一 I/O端口 102和干電池109的負(fù)極電連接，第二探針 105的一端與第二 I/O端口 104電連接。見圖2，使用波峰焊接浸錫時間測試儀10時，將第一探針103的另一端與錫爐壁 40連接，第二探針105的另一端與元器件引腳20相連，PCB板30在波峰焊接過程中，元器件引腳20在未進入錫波50之前，第一探針103與第二探針105不導(dǎo)通，單片機101的第二 I/O端口 104電平為高，當(dāng)元器件引腳20在進入錫波50后，由于熔融的錫波50為導(dǎo)體，第一探針103與第二探針105導(dǎo)通，單片機101的第二 I/O端口 104被接至地而變?yōu)榈碗娖剑?此信息通過單片機101的外部中斷立即輸入到單片機101，單片機101控制LED指示燈107 點亮，且單片機101通過內(nèi)部定時器開始計算導(dǎo)通時間，同時將計算出來的時長在數(shù)碼顯示管實時顯示。當(dāng)元器件引腳20離開錫波50后，第一探針103與第二探針105不導(dǎo)通，單片機101的第二 I/O端口又被變?yōu)楦唠娖?，此信息通過單片機101的外部中斷立即輸入到單片機101，單片機101控制LED指示燈107熄滅，且單片機101停止計算導(dǎo)通時間，此過程即完成一次測量，同時單片機101將測量次序及測量結(jié)果等數(shù)據(jù)送入到存儲電路108內(nèi)。 存儲電路108可存儲10組測量數(shù)據(jù)。測量結(jié)束后，通過按鍵控制開關(guān)111查詢之前測量結(jié)
^ ο 以上僅為本實用新型的具體實施例，并不以此限定本實用新型的保護范圍；在不違反本實用新型構(gòu)思的基礎(chǔ)上所作的任何替換與改進，均屬本實用新型的保護范圍。
權(quán)利要求1.一種波峰焊接浸錫時間測試儀，其特征在于包括供電電路、單片機、存儲電路、顯示電路、第一探針和第二探針，該單片機包括第一 I/O端口、第二 I/O端口和用于計算所述第一 I/O端口和所述第二 I/O端口導(dǎo)通時間的定時器，所述供電電路、所述存儲電路及所述顯示電路分別與所述單片機的相應(yīng)端口電連接，所述第一探針與所述第一 I/O端口和所述供電電路的負(fù)極電連接，所述第二探針與所述第二 I/O端口電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的波峰焊接浸錫時間測試儀，其特征在于所述顯示電路包括數(shù)碼顯示管。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的波峰焊接浸錫時間測試儀，其特征在于還包括LED指示燈， 該LED指示燈與所述單片機的相應(yīng)端口電連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的波峰焊接浸錫時間測試儀，其特征在于還包括按鍵控制開關(guān)，該按鍵控制開關(guān)與所述單片機的相應(yīng)端口電連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的波峰焊接浸錫時間測試儀，其特征在于所述供電電路包括電源，該電源為干電池。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的波峰焊接浸錫時間測試儀，其特征在于所述供電電路包括電源開關(guān)，該電源開關(guān)設(shè)置在所述電源與所述單片機之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6任一項所述的波峰焊接浸錫時間測試儀，其特征在于還包括殼體，所述供電模塊、所述單片機控制模塊、所述存儲模塊及所述顯示模塊裝于該殼體內(nèi)。
專利摘要本實用新型公開了一種波峰焊接浸錫時間測試儀，其包括供電電路、單片機、存儲電路、顯示電路、第一探針和第二探針，該單片機包括第一I/O端口、第二I/O端口和用于計算所述第一I/O端口和所述第二I/O端口導(dǎo)通時間的定時器，所述供電電路、所述存儲電路及所述顯示電路分別與所述單片機的相應(yīng)端口電連接，所述第一探針與所述第一I/O端口和所述供電電路的負(fù)極電連接，所述第二探針與所述第二I/O端口電連接。本實用新型的波峰焊接浸錫時間測試儀具有操作靈活簡易、測量精確度高、測試結(jié)果顯示直觀等優(yōu)點。
文檔編號H05K3/34GK202331071SQ20112038071
公開日2012年7月11日 申請日期2011年9月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月30日
發(fā)明者劉桂, 劉育凡, 唐承立, 張翰, 王旭東, 羅碧山, 蔡小洪, 閆紅慶, 陳友桂 申請人:珠海格力電器股份有限公司