1.一種晶體硅組件壓力試驗的測試裝置，其特征在于，包括壓力測試部件、支架和設置在所述壓力測試部件的頂端的預定重量的重物，所述壓力測試部件穿過所述支架的通孔，所述通孔用于對所述壓力測試部件進行限位，使得所述壓力測試部件在豎直方向運動。
2.如權利要求1所述晶體硅組件壓力試驗的測試裝置，其特征在于，所述預定重量的重物為17.8N～89N的重物。
3.如權利要求2所述晶體硅組件壓力試驗的測試裝置，其特征在于，還包括設置在所述壓力測試部件的頂端托盤，所述重物放置在所述托盤內。
4.如權利要求3所述晶體硅組件壓力試驗的測試裝置，其特征在于，所述壓力測試部件的側面設置有坎肩，用于對所述壓力測試部件的向下移動量進行限定。
5.如權利要求4所述晶體硅組件壓力試驗的測試裝置，其特征在于，還包括設置在所述壓力測試部件側面的電子顯示單元，用于顯示所述壓力測試部件的頂部接觸端受到的與被測試組件之間的壓力。
6.如權利要求5所述晶體硅組件壓力試驗的測試裝置，其特征在于，還包括設置在所述支架上的壓力調節(jié)部件，所述壓力調節(jié)部件的末端與所述托盤的底面接觸，用于使得所述壓力測試部件與所述被測試組件之間產生預定數值的壓力。
7.如權利要求6所述晶體硅組件壓力試驗的測試裝置，其特征在于，所述支架為工程塑料支架。
8.如權利要求7所述晶體硅組件壓力試驗的測試裝置，其特征在于，所述支架具有兩條支腿，所述支腿的底部為圓形支撐面或矩形支撐面。