br>[0025]進(jìn)一步地，所述第二連接板3可拆卸地設(shè)置在所述測(cè)試終端上，所述第一母連接器6和第二母連接器7分別設(shè)置在第二連接板3遠(yuǎn)離測(cè)試終端的一側(cè)。
[0026]由上述描述可知，此種結(jié)構(gòu)設(shè)置，使測(cè)試終端、第二連接板3、第一母連接器6和第二母連接器7形成一個(gè)整體，方便測(cè)試裝置的使用，測(cè)試時(shí)，只需將公連接器與母連接器插接即可，操作簡(jiǎn)單。
[0027]進(jìn)一步地，所述第一公連接器4、第二公連接器5、第一母連接器6和第二母連接器7的PIN腳個(gè)數(shù)均相同。
[0028]由上述描述可知，公連接器和母連接器的PIN腳個(gè)數(shù)均相同，公母連接器與連接板連接時(shí)無特殊的位置要求，公母連接器可互換，方便安裝。
[0029]進(jìn)一步地，所述測(cè)試終端為平板電腦或手機(jī)。
[0030]由上述描述可知，測(cè)試終端為平板電腦或手機(jī)，方便測(cè)試人員直接對(duì)EMMC的各項(xiàng)性能測(cè)試參數(shù)進(jìn)行分析。
[0031]請(qǐng)參照?qǐng)D1和圖2，本發(fā)明的實(shí)施例一為:
[0032]—種EMMC測(cè)試裝置，包括測(cè)試座1、第一連接板2、第二連接板3、第一公連接器4、第二公連接器5、第一母連接器6、第二母連接器7和測(cè)試終端，所述測(cè)試座1包括底座12、端蓋13和兩個(gè)以上測(cè)試探針14，端蓋13鉸接在底座12上，底座12上設(shè)有用于放置待測(cè)試EMMC的容納槽11和兩個(gè)以上通孔，通孔位于容納槽11下方，測(cè)試探針14設(shè)于通孔中，端蓋13朝向底座12的一面設(shè)有凸起15，凸起15與容納槽11對(duì)應(yīng)設(shè)置。端蓋13關(guān)閉后，凸起15會(huì)擠壓容納槽11中的待測(cè)試EMMC，使EMMC與測(cè)試探針14接觸良好。
[0033]第一連接板2為雙面PCB板，第一連接板2通過螺絲緊固在所述底座12遠(yuǎn)離所述端蓋13的一側(cè)，測(cè)試探針14的一端用于與所述容納槽11內(nèi)的待測(cè)試EMMC電連接，測(cè)試探針14的另一端與所述第一連接板2電連接，第一公連接器4和第二公連接器5分別設(shè)置在第一連接板2遠(yuǎn)離底座12的一側(cè)并與第一連接板2電連接。
[0034]第二連接板3為雙面PCB板，第二連接板3通過螺絲緊固在所述測(cè)試終端上并與測(cè)試終端電連接，所述第一母連接器6和第二母連接器7分別設(shè)置在第二連接板3遠(yuǎn)離測(cè)試終端的一側(cè)并與第二連接板3電連接，第一母連接器6和第二母連接器7通過第二連接板3與測(cè)試終端電連接，第一母連接器6插接在第一公連接器4上，第二母連接器7插接在第二公連接5器上。
[0035]測(cè)試時(shí)，將待測(cè)試EMMC放置在測(cè)試座1上的容納槽11中，通過測(cè)試探針14、第一連接板2、公連接器、母連接器和第二連接板3，使EMMC與測(cè)試終端上的主板電連接，從而實(shí)現(xiàn)信號(hào)的傳輸，即可對(duì)EMMC進(jìn)行測(cè)試。
[0036]測(cè)試座1上還設(shè)有扣合部，所述扣合部包括扣片16和扣條17，所述扣片16設(shè)于所述端蓋13上，所述扣條17設(shè)于所述底座12上，所述扣片16扣合在所述扣條17上。扣合部的設(shè)置可增強(qiáng)端蓋13和底座12之間閉合的緊密性，使凸起15與EMMC更緊密的貼合，從而使EMMC與測(cè)試探針14接觸良好。
[0037]所述第一公連接器4、第二公連接器5、第一母連接器6和第二母連接器7的PIN腳個(gè)數(shù)均相同。公母連接器的數(shù)量相同，使用時(shí)，其公母連接器的位置可互換，無需在連接板上設(shè)置特殊的焊盤。所述測(cè)試終端為平板電腦或手機(jī)，測(cè)試終端包括人機(jī)交互界面，可方便測(cè)試人員對(duì)EMMC的各項(xiàng)測(cè)試性能參數(shù)進(jìn)行分析。
[0038]綜上所述，本發(fā)明提供的EMMC測(cè)試裝置，不僅對(duì)EMMC無損，而且操作簡(jiǎn)單方便，測(cè)試效率高。
[0039]以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等同變換，或直接或間接運(yùn)用在相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種EMMC測(cè)試裝置，其特征在于，包括測(cè)試座、第一連接板、第二連接板、第一公連接器、第二公連接器、第一母連接器、第二母連接器和測(cè)試終端，所述測(cè)試座上設(shè)有用于放置待測(cè)試EMMC的容納槽，所述第一連接板的一面用于與所述容納槽內(nèi)的待測(cè)試EMMC電連接，第一連接板的另一面分別與第一公連接器和第二公連接器電連接，所述第二連接板的一面與所述測(cè)試終端電連接，所述第二連接板的另一面分別與所述第一母連接器和第二母連接器電連接，第一母連接器插接在第一公連接器上，第二母連接器插接在第二公連接器上。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EMMC測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試座包括底座、端蓋和兩個(gè)以上測(cè)試探針，所述容納槽設(shè)于所述底座上，所述底座上設(shè)有兩個(gè)以上通孔，所述通孔位于所述容納槽下方，所述測(cè)試探針設(shè)于所述通孔中，測(cè)試探針的一端用于與所述容納槽內(nèi)的待測(cè)試EMMC電連接，測(cè)試探針的另一端與所述第一連接板電連接，所述端蓋鉸接在所述底座上。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的EMMC測(cè)試裝置，其特征在于，所述端蓋朝向所述底座的一面設(shè)有凸起，所述凸起與所述容納槽對(duì)應(yīng)設(shè)置。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的EMMC測(cè)試裝置，其特征在于，還包括扣合部，所述扣合部包括扣片和扣條，所述扣片設(shè)于所述端蓋上，所述扣條設(shè)于所述底座上，所述扣片扣合在所述扣條上。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的EMMC測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一連接板可拆卸地設(shè)置在所述底座遠(yuǎn)離所述端蓋的一側(cè)，所述第一公連接器和第二公連接器分別設(shè)置在第一連接板遠(yuǎn)離底座的一側(cè)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的EMMC測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二連接板可拆卸地設(shè)置在所述測(cè)試終端上，所述第一母連接器和第二母連接器分別設(shè)置在第二連接板遠(yuǎn)離測(cè)試終端的一側(cè)。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EMMC測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一公連接器、第二公連接器、第一母連接器和第二母連接器的PIN腳個(gè)數(shù)均相同。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EMMC測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試終端為平板電腦或手機(jī)。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種EMMC測(cè)試裝置，包括測(cè)試座、第一連接板、第二連接板、第一公連接器、第二公連接器、第一母連接器、第二母連接器和測(cè)試終端，所述測(cè)試座上設(shè)有用于放置待測(cè)試EMMC的容納槽，所述第一連接板的一面用于與所述容納槽內(nèi)的待測(cè)試EMMC電連接，所述第一連接板的另一面分別與第一公連接器和第二公連接器電連接，所述第二連接板的一面與所述測(cè)試終端電連接，所述第二連接板的另一面分別與所述第一母連接器和第二母連接器電連接，第一母連接器插接在第一公連接器上，第二母連接器插接在第二公連接器上。本發(fā)明提供的EMMC測(cè)試裝置，不僅對(duì)EMMC無損，而且操作簡(jiǎn)單方便，測(cè)試效率高。
【IPC分類】G11C29/56
【公開號(hào)】CN105390163
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510932846
【發(fā)明人】孫日欣, 李振華, 王天益
【申請(qǐng)人】深圳佰維存儲(chǔ)科技有限公司
【公開日】2016年3月9日
【申請(qǐng)日】2015年12月15日