一種測(cè)試i2c的eeprom的方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及EEPROM測(cè)試領(lǐng)域，特別是I2C EEPROM的測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]I2C總線是PHILIPS公司為有效實(shí)現(xiàn)電子器件之間的控制而開發(fā)的一種簡(jiǎn)單的雙向兩線總線，它是一種兩線式高速的，全雙工，同步的通信串行總線，用于連接微控制器及其外圍設(shè)備。在標(biāo)準(zhǔn)的I2C總線協(xié)議中，其物理鏈路分別是一條串行數(shù)據(jù)線(SDA)和一條串行時(shí)鐘線(SCL)。由于其簡(jiǎn)單、靈活、硬件管腳資源少等優(yōu)點(diǎn)，在器件與器件之間的通信中有著廣泛的應(yīng)用?，F(xiàn)在，I2C總線已經(jīng)成為一個(gè)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，在超過(guò)100種不同的IC集成電路上實(shí)現(xiàn)，應(yīng)用涉及家電、通信、控制等眾多領(lǐng)域，特別是在ARM嵌入式系統(tǒng)開發(fā)中得到廣泛應(yīng)用。
[0003]EEPROM全稱為電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器，屬于一種存儲(chǔ)器的統(tǒng)稱，這種存儲(chǔ)器的特點(diǎn)是存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可直接用電信號(hào)擦除，也可用電信號(hào)寫入存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。由于EEPROM的可靠性高，結(jié)構(gòu)和工藝復(fù)雜，成本高，常用EEPROM的容量通常較小。
[0004]在以太網(wǎng)交換機(jī)等常用的電子設(shè)備中，需要用到EEPR0M，常用的EEPROM采用I2C數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議，容量通常為lkbit、2kbit、4kbit、8kbit或16kbit，EEPROM存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)信息為嵌入式系統(tǒng)基本數(shù)據(jù)信息。
[0005]目前，缺乏針對(duì)常用I2C EEPROM的快速有效的測(cè)試方法，一旦整個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)中的某個(gè)EEPROM損壞，則系統(tǒng)可能工作不穩(wěn)定或無(wú)法正常工作，而設(shè)備維護(hù)人員需要花費(fèi)大量時(shí)間排查設(shè)備故障原因。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]針對(duì)上述問(wèn)題，本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下:
[0007]一種測(cè)試I2C的EEPROM的方法，包括:步驟S2加載測(cè)試數(shù)據(jù)；S3將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入EEPROM ;S4讀取EEPROM的數(shù)據(jù)；S5對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的數(shù)據(jù)是否相同；S6當(dāng)比對(duì)的結(jié)果相同時(shí)，測(cè)試結(jié)果為通過(guò)；S7當(dāng)比對(duì)的結(jié)果不同時(shí)，測(cè)試結(jié)果未通過(guò)。
[0008]本發(fā)明還提供另一種測(cè)試I2C的EEPROM的方法，包括:步驟S2加載測(cè)試數(shù)據(jù)；S3將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入EEPROM ;S4讀取EEPROM的數(shù)據(jù)；S5對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的數(shù)據(jù)是否相同；S6當(dāng)比對(duì)的結(jié)果相同時(shí)，測(cè)試結(jié)果為通過(guò)；S7當(dāng)比對(duì)的結(jié)果不同時(shí)，測(cè)試結(jié)果未通過(guò)；S8根據(jù)是否完成整批測(cè)試，返回步驟S3。
[0009]本發(fā)明還提供另一種測(cè)試I2C的EEPROM的方法，包括:步驟S2加載測(cè)試數(shù)據(jù)；S25在整批的多個(gè)待測(cè)EEPROM中選擇一個(gè)待測(cè)EEPROM的地址；S3將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入EEPROM ；S4讀取EEPROM的數(shù)據(jù)；S5對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的數(shù)據(jù)是否相同；S6當(dāng)比對(duì)的結(jié)果相同時(shí)，測(cè)試結(jié)果為通過(guò)；S7當(dāng)比對(duì)的結(jié)果不同時(shí)，測(cè)試結(jié)果未通過(guò)；S8根據(jù)是否完成整批測(cè)試，返回步驟S3。
[0010]本發(fā)明還提供另一種測(cè)試I2C的EEPROM的方法，包括:步驟SI根據(jù)EEPROM的封裝類型，連接待測(cè)試的EEPROM ;所述EEPROM封裝類型為MS0P_8、PDIP-8、S0IC_8、或TSS0P-8 ；步驟S2加載測(cè)試數(shù)據(jù)；S25在整批的多個(gè)待測(cè)EEPROM中選擇一個(gè)待測(cè)EEPROM的地址；S3將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入EEPROM ；S3將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入EEPROM ；S4讀取EEPROM的數(shù)據(jù)；S5對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的數(shù)據(jù)是否相同；S6當(dāng)比對(duì)的結(jié)果相同時(shí)，測(cè)試結(jié)果為通過(guò)；S7當(dāng)比對(duì)的結(jié)果不同時(shí)，測(cè)試結(jié)果未通過(guò)；S8根據(jù)是否完成整批測(cè)試，返回步驟S3。
[0011 ] 本發(fā)明還提供另一種測(cè)試I2C的EEPROM的方法，包括:步驟SI根據(jù)EEPROM的封裝類型，連接待測(cè)試的EEPROM ;所述EEPROM封裝類型為MS0P_8、PDIP-8、S0IC_8、或TSS0P-8 ；S2加載測(cè)試數(shù)據(jù)；S25在整批的多個(gè)待測(cè)EEPROM中選擇一個(gè)待測(cè)EEPROM的地址；S3將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入EEPROM ;S4讀取EEPROM的數(shù)據(jù)；S5對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的數(shù)據(jù)是否相同；S6當(dāng)比對(duì)的結(jié)果相同時(shí)，測(cè)試結(jié)果為通過(guò)；S7當(dāng)比對(duì)的結(jié)果不同時(shí)，測(cè)試結(jié)果未通過(guò)；S75當(dāng)所述測(cè)試結(jié)果為通過(guò)時(shí)，點(diǎn)亮LED報(bào)警燈；當(dāng)所述測(cè)試結(jié)果為不通過(guò)時(shí)，維持LED報(bào)警燈熄滅；S8根據(jù)是否完成整批測(cè)試，返回步驟S3。
[0012]本發(fā)明還提供一種I2C的EEPROM的測(cè)試控制器，所述測(cè)試控制器包括:數(shù)據(jù)加載模塊，將測(cè)試數(shù)據(jù)加載入測(cè)試控制器；數(shù)據(jù)讀寫模塊，與所述數(shù)據(jù)加載模塊電連接，將加載入測(cè)試控制器的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入待測(cè)EEPR0M，并讀取寫入EEPROM的數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)對(duì)比模塊，與所述數(shù)據(jù)加載模塊、數(shù)據(jù)讀寫模塊電連接，將數(shù)據(jù)加載模塊加載入測(cè)試控制器的測(cè)試數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)讀寫模塊讀取的寫入EEPROM的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，判斷測(cè)試是否通過(guò)。
[0013]本發(fā)明還提供一種I2C的EEPROM的測(cè)試控制器，所述測(cè)試控制器包括:數(shù)據(jù)加載模塊，將測(cè)試數(shù)據(jù)加載入測(cè)試控制器；數(shù)據(jù)讀寫模塊，與所述數(shù)據(jù)加載模塊電連接，將加載入測(cè)試控制器的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入待測(cè)EEPR0M，并讀取寫入EEPROM的數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)對(duì)比模塊，與所述數(shù)據(jù)加載模塊、數(shù)據(jù)讀寫模塊電連接，將數(shù)據(jù)加載模塊加載入測(cè)試控制器的測(cè)試數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)讀寫模塊讀取的寫入EEPROM的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，判斷測(cè)試是否通過(guò)；批次控制模塊，與所述數(shù)據(jù)讀寫模塊、所述數(shù)據(jù)對(duì)比模塊電連接，判斷是否完成整批測(cè)試。
[0014]本發(fā)明還提供一種I2C的EEPROM的測(cè)試控制器，所述測(cè)試控制器包括:數(shù)據(jù)加載模塊，將測(cè)試數(shù)據(jù)加載入測(cè)試控制器；數(shù)據(jù)讀寫模塊，與所述數(shù)據(jù)加載模塊電連接，將加載入測(cè)試控制器的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入待測(cè)EEPR0M，并讀取寫入EEPROM的數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)對(duì)比模塊，與所述數(shù)據(jù)加載模塊、數(shù)據(jù)讀寫模塊電連接，將數(shù)據(jù)加載模塊加載入測(cè)試控制器的測(cè)試數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)讀寫模塊讀取的寫入EEPROM的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，判斷測(cè)試是否通過(guò)；批次控制模塊，與所述數(shù)據(jù)讀寫模塊、所述數(shù)據(jù)對(duì)比模塊電連接，判斷是否完成整批測(cè)試；尋址模塊，與所述數(shù)據(jù)讀寫模塊、批次控制模塊電連接，根據(jù)待測(cè)EEPROM的地址，在整批的多個(gè)EEPROM中確定一個(gè)待測(cè)試的EEPR0M。
[0015]本發(fā)明還提供一種I2C的EEPROM的測(cè)試裝置，包括測(cè)試控制器、至少一個(gè)測(cè)試座、I2C總線，所述測(cè)試控制器包括:數(shù)據(jù)加載模塊，將測(cè)試數(shù)據(jù)加載入測(cè)試控制器；數(shù)據(jù)讀寫模塊，與所述數(shù)據(jù)加載模塊電連接，將加載入測(cè)試控制器的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入待測(cè)EEPR0M，并讀取寫入EEPROM的數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)對(duì)比模塊，與所述數(shù)據(jù)加載模塊、數(shù)據(jù)讀寫模塊電連接，將數(shù)據(jù)加載模塊加載入測(cè)試控制器的測(cè)試數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)讀寫模塊讀取的寫入EEPROM的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，判斷測(cè)試是否通過(guò)；批次控制模塊，與所述數(shù)據(jù)讀寫模塊、所述數(shù)據(jù)對(duì)比模塊電連接，判斷是否完成整批測(cè)試；尋址模塊，與所述數(shù)據(jù)讀寫模塊、批次控制模塊電連接，根據(jù)待測(cè)EEPROM的地址，在整批的多個(gè)EEPROM中確定一個(gè)待測(cè)試的EEPROM ;所述至少一個(gè)測(cè)試座，與待測(cè)試的整批EEPROM分別電連接，所述測(cè)試座的插口形式適應(yīng)MS0P-8、PDIP-8、S0IC-8、或TSS0P-8封裝類型；所述I2C總線，與所述至少一個(gè)測(cè)試座、所述測(cè)試控制器電連接。
[0016]本發(fā)明還提供一種I2C的EEPROM的測(cè)試裝置，包括測(cè)試控制器、至少一個(gè)測(cè)試座、I2C總線、至少一個(gè)LED燈，所述測(cè)試控制器包括:數(shù)據(jù)加載模塊，將測(cè)試數(shù)據(jù)加載入測(cè)試控制器；數(shù)據(jù)讀寫模塊，與所述數(shù)據(jù)加載模塊電連接，將加載入測(cè)試控制器的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入待測(cè)EEPR0M，并讀取寫入EEPROM的數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)對(duì)比模塊，與所述數(shù)據(jù)加載模塊、數(shù)據(jù)讀寫模塊電連接，將數(shù)據(jù)加載模塊加載入測(cè)試控制器的測(cè)試數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)讀寫模塊讀取的寫入EEPROM的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，判斷測(cè)試是否通過(guò)；批次控制模塊，與所述數(shù)據(jù)讀寫模塊、所述數(shù)據(jù)對(duì)比模塊電連接，判斷是否完成整批測(cè)試；尋址模塊，與所述數(shù)據(jù)讀寫模塊、批次控制模塊電連接，根據(jù)待測(cè)EEPROM的地址，在整批的多個(gè)EEPROM中確定一個(gè)待測(cè)試的EEPROM ;所述至少一個(gè)測(cè)試座，與待測(cè)試的整批EEPROM分別電連接，所述測(cè)試座的插口形式適應(yīng)MS0P-8、PDIP-8、S0IC-8、或TSS0P-8封裝類型；所述I2C總線，與所述至少一個(gè)測(cè)試座、所述測(cè)試控制器電連接；至少一個(gè)LED燈，與所述測(cè)試控制器的數(shù)據(jù)對(duì)比模塊電連接；所述測(cè)試控制器的數(shù)據(jù)對(duì)比模塊根據(jù)測(cè)試結(jié)果是否通過(guò)，點(diǎn)亮/或熄滅與當(dāng)前待測(cè)試的EEPROM對(duì)應(yīng)的LED燈。
[0017]本發(fā)明提供了一種I2C EEPROM的測(cè)試方法及裝置，實(shí)現(xiàn)了一個(gè)或多個(gè)I2C EEPROM的快速測(cè)試，方便了測(cè)試人員和維護(hù)人員快速測(cè)試應(yīng)用在相關(guān)電子設(shè)備上的EEPR0M，具備節(jié)省時(shí)間、提高效率、準(zhǔn)確方便等優(yōu)點(diǎn)。
【附圖說(shuō)明】
[0018]下面將以明確易懂的方式，結(jié)合【附圖說(shuō)明】?jī)?yōu)選實(shí)施方式，對(duì)一種測(cè)試I2C的EEPROM的方法及裝置的上述特性、技術(shù)特征、優(yōu)點(diǎn)及其實(shí)現(xiàn)方式予以進(jìn)一步說(shuō)明。
[0019]圖1為本發(fā)明一種測(cè)試I2C的EEPROM的方法的主要步驟示意圖；
[0020]圖2是本發(fā)明一種I2C的EEPROM的測(cè)試控制器的主要組成結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖3是本發(fā)明一種I2C的EEPROM的測(cè)試裝置的完整組成結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖4為本發(fā)明一種測(cè)試I2C的EEPROM的方法的完整步驟示意圖；
[0023]裝置標(biāo)號(hào)