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一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢裝置及方法與流程

文檔序號(hào):12678685閱讀:167來源:國(guó)知局
一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢裝置及方法與流程

本發(fā)明涉及純電動(dòng)汽車上安裝綜合信息數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置領(lǐng)域,具體地說是一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢裝置及方法。



背景技術(shù):

純電動(dòng)汽車是新能源汽車發(fā)展的重要方向。國(guó)家鼓勵(lì)在純電動(dòng)汽車上安裝綜合信息數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置來記錄純電動(dòng)汽車的運(yùn)行狀況,以為事故責(zé)任鑒定、實(shí)際行駛里程鑒定等工作提供依據(jù)。因此綜合信息存儲(chǔ)裝置上的存儲(chǔ)體的好壞就變得十分重要。目前公知的綜合信息數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置不進(jìn)行存儲(chǔ)體自檢,這樣如果要記錄的數(shù)據(jù)被寫入到壞的存儲(chǔ)體當(dāng)中就會(huì)讓數(shù)據(jù)不能正常記錄,造成數(shù)據(jù)丟失風(fēng)險(xiǎn)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)缺陷,提供一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢裝置及方法,解決綜合信息數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置不進(jìn)行存儲(chǔ)體數(shù)據(jù)檢測(cè)可能導(dǎo)致的數(shù)據(jù)寫入壞的存儲(chǔ)體而引起的數(shù)據(jù)丟失的問題。

本發(fā)明通過下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):

一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢裝置,包括存儲(chǔ)體、控制芯片和緩存SRAM,所述存儲(chǔ)體分別通過存儲(chǔ)體連接數(shù)據(jù)總線、存儲(chǔ)體連接地址總線和存儲(chǔ)體連接控制總線與控制芯片控制連接,所述緩存SRAM分別通過緩存連接數(shù)據(jù)總線、緩存連接地址總線和緩存連接控制總線與控制芯片控制連接;所述存儲(chǔ)體的全部地址空間分成若干個(gè)被檢測(cè)塊。

進(jìn)一步的,所述存儲(chǔ)體的全部地址空間按照順序分成若干個(gè)被檢測(cè)塊。

進(jìn)一步的,所述存儲(chǔ)體的全部地址空間按照固定的大小存儲(chǔ)空間分成若干個(gè)被檢測(cè)塊。

本發(fā)明通過下述另一技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):

一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢方法,包括步驟:

步驟1:控制芯片將存儲(chǔ)體的第一個(gè)存儲(chǔ)體內(nèi)的被檢測(cè)塊的數(shù)據(jù)讀入到緩存SRAM(3)中;

步驟2:然后控制芯片對(duì)存儲(chǔ)體內(nèi)的該被檢測(cè)塊進(jìn)行寫入規(guī)定拓?fù)涞臄?shù)據(jù);

步驟3:再?gòu)脑摯鎯?chǔ)體內(nèi)的被檢測(cè)塊中讀出數(shù)據(jù)和寫入的數(shù)據(jù)作比較;

步驟4:如果讀出的數(shù)據(jù)和寫入的數(shù)據(jù)不一致,說明存儲(chǔ)體內(nèi)的該被檢測(cè)塊為故障存儲(chǔ)體,上面存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)已經(jīng)不可信,則將存儲(chǔ)體內(nèi)的該被檢測(cè)塊對(duì)應(yīng)的地址空間標(biāo)記為故障塊,并廢棄數(shù)據(jù);

步驟5:如果讀出的數(shù)據(jù)與寫入的都一致,說明存儲(chǔ)體內(nèi)的該被檢測(cè)塊是好塊,則將緩存在緩存SRAM內(nèi)的數(shù)據(jù)再寫回到存儲(chǔ)體內(nèi)的該被檢測(cè)塊地址空間內(nèi)。

進(jìn)一步的,還包括步驟:

步驟6:對(duì)存儲(chǔ)體上的其他被檢測(cè)塊重復(fù)上述操作,直到對(duì)存儲(chǔ)體上的全部被檢測(cè)塊都被檢測(cè)到。

本發(fā)明的有益效果是:

在綜合信息數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置剛剛開始上電時(shí)就對(duì)存儲(chǔ)體的好壞進(jìn)行檢測(cè),并且標(biāo)記出發(fā)生故障的存儲(chǔ)空間,使得綜合信息數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置在記錄數(shù)據(jù)時(shí)能夠避免將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在有故障的存儲(chǔ)體上。

附圖說明

圖1為本發(fā)明一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢裝置的原理示意圖;

圖2為本發(fā)明存儲(chǔ)體自檢的流程示意圖;

附圖中標(biāo)記及相應(yīng)的零部件名稱:

1-存儲(chǔ)體,2-控制芯片,3-緩存SRAM,4-被檢測(cè)塊,5-緩存連接數(shù)據(jù)總線,6-緩存連接地址總線,7-緩存連接控制總線,8-存儲(chǔ)體連接數(shù)據(jù)總線,9-存儲(chǔ)體連接地址總線,10-存儲(chǔ)體連接控制總線。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合實(shí)施例進(jìn)一步說明本發(fā)明的實(shí)質(zhì)內(nèi)容,但本發(fā)明的內(nèi)容并不限于此。

實(shí)施例1

如圖1所示,一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢裝置,包括存儲(chǔ)體1、控制芯片2和緩存SRAM3,存儲(chǔ)體1分別通過存儲(chǔ)體連接數(shù)據(jù)總線8、存儲(chǔ)體連接地址總線9和存儲(chǔ)體連接控制總線10與控制芯片2控制連接,緩存SRAM3分別通過緩存連接數(shù)據(jù)總線5、緩存連接地址總線6和緩存連接控制總線7與控制芯片2控制連接;存儲(chǔ)體1的全部地址空間按照順序分成10個(gè)被檢測(cè)塊4,如第一被檢測(cè)塊、第二被檢測(cè)塊、第三被檢測(cè)塊、、、、第十被檢測(cè)塊。被檢測(cè)塊4按照相同的存儲(chǔ)空間分成。

控制芯片2將存儲(chǔ)體1的第一個(gè)存儲(chǔ)體內(nèi)的被檢測(cè)塊4的數(shù)據(jù)讀入到緩存SRAM3中;然后控制芯片2對(duì)存儲(chǔ)體1內(nèi)的該被檢測(cè)塊4進(jìn)行寫入規(guī)定拓?fù)涞臄?shù)據(jù);再?gòu)脑摯鎯?chǔ)體內(nèi)的被檢測(cè)塊4中讀出數(shù)據(jù)和寫入的數(shù)據(jù)作比較;如果讀出的數(shù)據(jù)和寫入的數(shù)據(jù)不一致,說明存儲(chǔ)體1內(nèi)的該被檢測(cè)塊4為故障存儲(chǔ)體,上面存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)已經(jīng)不可信,則將存儲(chǔ)體1內(nèi)的該被檢測(cè)塊4對(duì)應(yīng)的地址空間標(biāo)記為故障塊,并廢棄數(shù)據(jù);如果讀出的數(shù)據(jù)與寫入的都一致,說明存儲(chǔ)體1內(nèi)的該被檢測(cè)塊4是好塊,則將緩存在緩存SRAM3內(nèi)的數(shù)據(jù)再寫回到存儲(chǔ)體3內(nèi)的該被檢測(cè)塊4地址空間內(nèi)。

對(duì)存儲(chǔ)體1上的其他被檢測(cè)塊4重復(fù)上述操作,直到對(duì)存儲(chǔ)體1上的全部被檢測(cè)塊4都被檢測(cè)到。

在綜合信息數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置剛剛開始上電時(shí)就對(duì)存儲(chǔ)體的好壞進(jìn)行檢測(cè),并且標(biāo)記出發(fā)生故障的存儲(chǔ)空間,使得綜合信息數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置在記錄數(shù)據(jù)時(shí)能夠避免將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在有故障的存儲(chǔ)體上。

實(shí)施例2

如圖2所示,一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢方法,包括步驟:

步驟1:控制芯片2將存儲(chǔ)體1的第一個(gè)存儲(chǔ)體內(nèi)的被檢測(cè)塊4的數(shù)據(jù)讀入到緩存SRAM3中;

步驟2:然后控制芯片2對(duì)存儲(chǔ)體1內(nèi)的該被檢測(cè)塊4進(jìn)行寫入規(guī)定拓?fù)涞臄?shù)據(jù);如十六進(jìn)制的0x00,0xff,0x55,0xaa等操作;

步驟3:再?gòu)脑摯鎯?chǔ)體內(nèi)的被檢測(cè)塊4中讀出數(shù)據(jù)和寫入的數(shù)據(jù)作比較;

步驟4:如果讀出的數(shù)據(jù)和寫入的數(shù)據(jù)不一致,說明存儲(chǔ)體1內(nèi)的該被檢測(cè)塊4為故障存儲(chǔ)體,上面存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)已經(jīng)不可信,則將存儲(chǔ)體1內(nèi)的該被檢測(cè)塊4對(duì)應(yīng)的地址空間標(biāo)記為故障塊,并廢棄數(shù)據(jù);

步驟5:如果讀出的數(shù)據(jù)與寫入的都一致,說明存儲(chǔ)體1內(nèi)的該被檢測(cè)塊(4)是好塊,則將緩存在緩存SRAM3內(nèi)的數(shù)據(jù)再寫回到存儲(chǔ)體3內(nèi)的該被檢測(cè)塊4地址空間內(nèi)。

5、如權(quán)利要求4的一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢方法,其特征在于,還包括步驟:

步驟6:對(duì)存儲(chǔ)體1上的其他被檢測(cè)塊4按順序重復(fù)上述操作,直到對(duì)存儲(chǔ)體1上的全部被檢測(cè)塊4都被檢測(cè)到。

本發(fā)明一種純電動(dòng)汽車綜合信息存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)體自檢方法,空閑時(shí)對(duì)上面的存儲(chǔ)體進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè),檢測(cè)結(jié)束后將檢測(cè)的結(jié)果保存下來,這樣綜合信息數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置在記錄數(shù)據(jù)時(shí)避開有故障的存儲(chǔ)體對(duì)應(yīng)的地址空間,避免數(shù)據(jù)丟失。

以上所述的具體實(shí)施方式,對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式而已,并不用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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