專利名稱：：光軸調(diào)整方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明有關(guān)一種光軸調(diào)整方法，且特別有關(guān)一種可以自動對于個別光驅(qū)的光軸偏差進行調(diào)整的光軸調(diào)整方法。
背景技術(shù)：
：一般而言，光驅(qū)在讀取光盤片數(shù)據(jù)時，光學(xué)讀寫頭傳回的射頻(RF)信號抖動(jitter)的大小與讀取錯誤率(errorrate)成正比，當抖動量大時，錯誤率也隨之增大，嚴重時甚至?xí)?dǎo)致讀取失敗。如果激光光經(jīng)光盤片反射回光學(xué)讀寫頭的光學(xué)品質(zhì)越佳，則射頻信號抖動亦可隨之抑制，而提升光學(xué)品質(zhì)的其中一項手段即為使光學(xué)讀寫頭的光軸(讀寫投射出的激光光路)盡量垂直于光盤片表面，使得激光光在反射過程中減少散射及折射損失。因此，光驅(qū)中常有光軸調(diào)整機構(gòu)的設(shè)計，個別對每臺機臺調(diào)整光盤片旋轉(zhuǎn)盤(turntable)或?qū)U(guidebar)所形成的平面，以補償機構(gòu)組合誤差及光學(xué)讀寫頭的光軸偏差；特別是對DVD光驅(qū)而言，光軸誤差對射頻信號抖動的影響，較一般CD光驅(qū)更加明顯，故光軸調(diào)整機構(gòu)幾乎成為DVD光驅(qū)的標準配備之一。一種現(xiàn)有的光軸調(diào)整機制是利用兩個分別置于旋轉(zhuǎn)盤與導(dǎo)桿的反射塊來進行相關(guān)量測作業(yè)。其中，置放于導(dǎo)桿上的反射塊是用來仿真光學(xué)讀寫頭的光軸偏移量。然而，由于光學(xué)讀寫頭分別定位于最近與最遠離旋轉(zhuǎn)盤的內(nèi)圈與外圈位置時的光軸偏移量可能不盡相同，因此，若依據(jù)現(xiàn)有技術(shù)僅利用兩個反射塊來對于光軸進行調(diào)整，將無法精確地仿真光學(xué)讀取頭于最內(nèi)與最外位置的情況，亦無法達成精確與最佳的光軸調(diào)整效果。此外，現(xiàn)有的光軸調(diào)整機構(gòu)皆為以人工方式來進行調(diào)整，故常會因作業(yè)人員的調(diào)整疏失而造成光驅(qū)調(diào)整不良。再者，現(xiàn)有的光軸調(diào)整機構(gòu)僅能就光驅(qū)機構(gòu)尺寸進行調(diào)整，而無法就光驅(qū)的整體真實狀況進行調(diào)整，故同樣會造成光驅(qū)調(diào)整不良。
發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本發(fā)明的主要目的為提供一種可以自動對于個別光驅(qū)的光軸偏差進行調(diào)整的光軸調(diào)整方法，從而增進光驅(qū)的讀片率。為了達成本發(fā)明的上述目的，可借由本發(fā)明所提供的光軸調(diào)整方法來達成。依據(jù)本發(fā)明的光軸調(diào)整方法是適用于一光驅(qū)。光驅(qū)具有包括一光學(xué)讀寫頭、一旋轉(zhuǎn)盤以及一導(dǎo)桿組的一進給組件總成，其中光學(xué)讀寫頭是滑動于導(dǎo)桿組之上并定位于一第一位置與一第二位置之間。首先，提供一第一反射塊，設(shè)置于進給組件總成的導(dǎo)桿組之上，是用以仿真光學(xué)讀寫頭定位于第一位置上的光軸偏移量、提供一第二反射塊，設(shè)置于進給組件總成的導(dǎo)桿組之上，用以仿真光學(xué)讀寫頭定位于第二位置上的光軸偏移量、且提供一第三反射塊，設(shè)置于進給組件總成的旋轉(zhuǎn)盤之上，用以模擬旋轉(zhuǎn)盤承載并轉(zhuǎn)動一光盤片時，光盤片對于光學(xué)讀寫頭的光軸偏移量。然后，分別輸出光線至第一反射塊、第二反射塊以及第三反射塊之上，并分別接收自第一反射塊、第二反射塊與第三反射塊反射的光線，以得到分別相應(yīng)第一反射塊、第二反射塊與第三反射塊的光軸偏移信息。之后，依據(jù)相應(yīng)第一反射塊、第二反射塊與第三反射塊的光軸偏移信息計算光驅(qū)的光軸偏移量，且依據(jù)光軸偏移量自動調(diào)整導(dǎo)桿組對于光學(xué)讀寫頭的相對水平位置。本發(fā)明方法還包括通過一條形碼掃描儀接收光學(xué)讀寫頭的一原始光軸偏移量，且依據(jù)原始光軸偏移量與相應(yīng)第一反射塊、第二反射塊與第三反射塊的光軸偏移信息計算光驅(qū)的光軸偏移量。其中，第一位置是位于進給組件總成中遠離旋轉(zhuǎn)盤處，且第二位置是位于進給組件總成中鄰接旋轉(zhuǎn)盤處。為使本發(fā)明之上述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合附圖進行詳細說明。圖1是顯示一光驅(qū)的進給組件總成的平面示意圖；圖2是顯示本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)的平面示意圖；圖3是顯示本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)的承載座及固定座承載及固定光驅(qū)的進給組件總成的示意圖；圖4是顯示本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)的承載座及固定座的側(cè)視示意圖；圖5A是顯示本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)的第一反射塊的俯視示意圖；圖5B是顯示根據(jù)圖5A的側(cè)視示意圖；圖6A是顯示本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)的第二反射塊的俯視示意圖；圖6B是顯示根據(jù)圖6A的側(cè)視示意圖；圖7A是顯示本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)的第三反射塊的俯視示意圖；圖7B是顯示根據(jù)圖7A的A-A剖面示意圖；圖8是顯示本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)的第一反射塊定位于進給組件總成中的示意圖；圖9是顯示本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)的第二反射塊定位于進給組件總成中的示意圖；圖10是顯示本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)的第三反射塊定位于光驅(qū)的進給組件總成的旋轉(zhuǎn)盤上的示意圖；圖11為一流程圖是顯示依據(jù)本發(fā)明的光軸調(diào)整方法的操作流程；以及圖12顯示一機構(gòu)狀態(tài)示意圖，用以說明反射塊的平面法向量。具體實施例方式請參閱圖1，一光驅(qū)的進給組件總成1主要是由一光學(xué)讀寫頭11、一旋轉(zhuǎn)盤12、一導(dǎo)桿組13以及三個調(diào)整螺絲14a、14b、14c所構(gòu)成，其中，導(dǎo)桿組13又可包含一主導(dǎo)桿13a以及一副導(dǎo)桿13b，并且主導(dǎo)桿13a是相對于副導(dǎo)桿13b。旋轉(zhuǎn)盤12是用來承載并轉(zhuǎn)動一光盤片。如圖1所示，光學(xué)讀寫頭11同時滑動于主導(dǎo)桿13a以及副導(dǎo)桿13b之上，并且是定位于一第一位置I與一第二位置II之間，以讀取光盤片上的數(shù)據(jù)。更詳細的來說，第一位置I是位于進給組件總成1中遠離旋轉(zhuǎn)盤12處，而第二位置II則是位于進給組件總成1中鄰接旋轉(zhuǎn)盤12處。至于調(diào)整螺絲14a、14b、14c則是用來調(diào)整導(dǎo)桿組13(主導(dǎo)桿13a以及副導(dǎo)桿13b)對于光學(xué)讀寫頭11的相對水平位置。請參閱圖2，光軸調(diào)整系統(tǒng)100包括有一承載座110、一固定座120、一光學(xué)組件130、一影像分析裝置140、一自動調(diào)整裝置150、一顯示器160、一計算機170以及一條形碼掃描儀180。光軸調(diào)整系統(tǒng)100可用以實施本發(fā)明的光軸調(diào)整方法，其操作將于后說明。請配合參閱圖3及圖4，承載座110是用來承載進給組件總成1，而固定座120是設(shè)置于承載座110及進給組件總成1之上，以將進給組件總成1固定于承載座110之上。此外，在固定座120之上還具有復(fù)數(shù)個固定桿121，固定桿121是用來抵接固定進給組件總成1。仍如圖2所示，光學(xué)組件130是設(shè)置于承載座110及固定座120之上方，并且其主要是由一激光光源(未顯示)以及一CCD(電荷耦合裝置，未顯示)所組成。光學(xué)組件130是借由其激光光源來輸出光線，并以其CCD來接收光線或影像。仍如圖2所示，影像分析裝置140電性連接于光學(xué)組件130，顯示器160電性連接于影像分析裝置140，以及計算機170電性連接于影像分析裝置140與自動調(diào)整裝置150。此外，自動調(diào)整裝置150還包括有三個步進馬達151以及三個抵推桿152(在圖2中僅能顯示兩個步進馬達151以及兩個抵推桿152)，并且每一個步進馬達151皆是連接于每一個對應(yīng)的抵推桿152。至于條形碼掃描儀180則是電性連接于計算機170。特別是，本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)100還包括有一第一反射塊210、一第二反射塊220以及一第三反射塊230。同時，第一反射塊210、第二反射塊220以及第三反射塊230分別具有至少一鏡面的表面。如圖1、圖5A、圖5B以及圖8所示，第一反射塊210是設(shè)置于進給組件總成1的導(dǎo)桿組13之上，其用來仿真光學(xué)讀寫頭11定位于第一位置I上的光軸偏移量。更具體說，第一反射塊210具有一第一端211、一第二端212以及一第三端213，當?shù)谝环瓷鋲K210仿真光學(xué)讀寫頭11定位于第一位置I上時，其第一端211以及第二端212是位于進給組件總成1的主導(dǎo)桿13a之上，而其第三端213是位于進給組件總成1的副導(dǎo)桿13b之上。特別是，第一反射塊210的第一端211與第三端213是位于進給組件總成1中的第一位置I上，而其第二端212是位于第二位置II上。如圖1、圖6A、圖6B以及圖9所示，第二反射塊220設(shè)置于進給組件總成1的導(dǎo)桿組13之上，其是用來仿真光學(xué)讀寫頭11定位于第二位置II上的光軸偏移量。更具體說，第二反射塊220具有一第四端221、一第五端222以及一第六端223，當?shù)诙瓷鋲K220仿真光學(xué)讀寫頭11定位于第二位置II上時，其第四端221以及第五端222是位于進給組件總成1的主導(dǎo)桿13a之上，而其第六端223是位于進給組件總成1的副導(dǎo)桿13b之上。特別是，第二反射塊220的第四端221是位于進給組件總成1中的第一位置I上，而其第五端222與第六端223是位于第二位置II上。如圖1、圖7A、圖7B以及圖10所示，第三反射塊230具有一圓形的形狀，其設(shè)置于進給組件總成1的旋轉(zhuǎn)盤12上，第三反射塊230可用來模擬旋轉(zhuǎn)盤12承載并轉(zhuǎn)動一光盤片時，該光盤片對于光學(xué)讀寫頭11的光軸偏移量。接下來將說明本發(fā)明的光軸調(diào)整系統(tǒng)100調(diào)整光驅(qū)光軸偏差的方式。圖11為一流程圖，是顯示依據(jù)本發(fā)明的光軸調(diào)整方法的操作流程。在進行光驅(qū)的調(diào)整之前，先將光驅(qū)的進給組件總成1放置于承載座110之上，然后再將固定座120設(shè)置于進給組件總成1之上，接著，再以固定座120上的固定桿121來抵接進給組件總成1的導(dǎo)桿組13(主導(dǎo)桿13a以及副導(dǎo)桿13b)，使得進給組件總成1固定于承載座110之上。此外，自動調(diào)整裝置150的三個抵推桿152是抵接于進給組件總成1的調(diào)整螺絲14a、14b、14c(或主導(dǎo)桿13a及副導(dǎo)桿13b)。接著，如步驟S111，以條形碼掃描儀180來掃描讀取進給組件總成1的光學(xué)讀寫頭11的原始光軸偏移量，并將其原始光軸偏移量數(shù)據(jù)傳送至計算機170中。值得注意的是，每個光學(xué)讀寫頭11在制造時都會具有一個別的原始光軸偏移量，且制造商都可以提供此信息，在本實施例中原始光軸偏移量可以通過條形碼掃描儀180來掃描事先建立的條形碼來接收，但并不限定于此，原始光軸偏移量亦可事先建立于計算機170中。接著，如步驟S112，將第一反射塊210設(shè)置于進給組件總成1的導(dǎo)桿組13之上，此時，第一反射塊210的鏡面表面是朝向光學(xué)組件130(如圖2所示)，并以光學(xué)組件130的激光光源輸出光線至第一反射塊210的鏡面表面上，再以光學(xué)組件130的CCD接收自第一反射塊210的鏡面表面所反射的光線(光學(xué)影像)，以得到相應(yīng)的光軸偏移信息。接著，經(jīng)由影像分析裝置140的分析與計算，即可得到仿真的光學(xué)讀寫頭11定位于第一位置I上的光軸偏移量，同時，影像分析裝置140會將所分析得到的光軸偏移量數(shù)據(jù)傳送至計算機170中以及顯示器160上。接著，如步驟S113，將第二反射塊220設(shè)置于進給組件總成1的導(dǎo)桿組13之上，此時，第二反射塊220的鏡面表面是朝向光學(xué)組件130(如圖2所示)。同樣地，以光學(xué)組件130的激光光源輸出光線至第二反射塊220的鏡面表面上，再以光學(xué)組件130的CCD接收自第二反射塊220的鏡面表面所反射的光線(光學(xué)影像)，以得到相應(yīng)的光軸偏移信息。接著，經(jīng)由影像分析裝置140的分析與計算，即可得到仿真的光學(xué)讀寫頭11定位于第二位置II上的光軸偏移量，同時，影像分析裝置140會將所分析得到的光軸偏移量數(shù)據(jù)傳送至計算機170中以及顯示器160上。接著，如步驟S114，將第三反射塊230設(shè)置于進給組件總成1的旋轉(zhuǎn)盤12之上，并通電使旋轉(zhuǎn)盤12產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)。然后，以光學(xué)組件130的激光光源輸出光線至轉(zhuǎn)動的第三反射塊230的鏡面表面上，再以光學(xué)組件130的CCD接收自轉(zhuǎn)動的第三反射塊230的鏡面表面所反射的光線(光學(xué)影像)，以得到相應(yīng)的光軸偏移信息。接著，經(jīng)由影像分析裝置140的分析與計算，即可得到模擬的旋轉(zhuǎn)盤12承載并轉(zhuǎn)動一光盤片時，該光盤片對于光學(xué)讀寫頭11的光軸偏移量，同時，影像分析裝置140會將所分析得到的光軸偏移量數(shù)據(jù)傳送至計算機170中以及顯示器160上。之后，如步驟S115，依據(jù)相應(yīng)第一反射塊210、第二反射塊220與第三反射塊230的光軸偏移量與光學(xué)讀寫頭11的原始光軸偏移量，即可判斷出進給組件總成1的導(dǎo)桿組13(主導(dǎo)桿13a以及副導(dǎo)桿13b)對于光學(xué)讀寫頭11的相對水平位置，進而可決定其相對水平位置的調(diào)整值，以期使光學(xué)讀寫頭11所發(fā)射出的激光光能與光盤片表面垂直。當計算出調(diào)整值之后，計算機170可輸出一信號至自動調(diào)整裝置150中，以驅(qū)使其步進馬達151運轉(zhuǎn)一特定步數(shù)或角度，此時，連接于步進馬達151的抵推桿152即會隨之上升或下降，而可轉(zhuǎn)動進給組件總成1的調(diào)整螺絲14a、14b或14c，進而達成進給組件總成1的光軸調(diào)整目的。值得注意的是，上述的計算機170亦可輸出信號來同時驅(qū)使三個步進馬達151各自運轉(zhuǎn)一特定步數(shù)或角度，以使三個抵推桿152同時轉(zhuǎn)動調(diào)整螺絲14a、14b及14c來達成進給組件總成1的光軸調(diào)整目的。圖12顯示一機構(gòu)狀態(tài)示意圖，用以說明反射塊的平面法向量。如圖所示，A、B、C三點為光學(xué)讀寫頭11的平面決定點，其構(gòu)成之平面法向量為n→=s→1×s→2.]]>其中，s→1=(-l2,l3,b),]]>s→2=(-l1,0,a),]]>且a為A、B點的高度；b為C點的高度。因此，n→=s→1×s→2=i→j→k→-l2l3b-l10a]]>=(al3)i→+(al2-bl1)j→+(l1l3)k→]]>=(al1)i→+(al2-bl1l1l3)j→+k→]]>假設(shè)由垂直儀讀出帽蓋之平面法向量為(仿真盤片)n→d=(Xd)i→+(Yd)j→+(Zd)k→,Zd=1,]]>且光學(xué)讀取頭之原始光軸偏移量為n→p=(Xp)i→+(Yp)j→+(Zp)k→,Zp=1.]]>由于光驅(qū)的最佳化條件為光學(xué)讀取頭發(fā)射之雷射光與盤片垂直，因此，所需調(diào)整之法向量等于帽蓋的平面法向量減去光學(xué)讀取頭機構(gòu)平面法向量與光學(xué)讀取頭之原始光軸偏移量，如下公式(1)所示。(Xd-al1-Xp)i→+(Yd-al2-bl1l1l3-Yp)j→+k→---(1)]]>因此，本發(fā)明可以依據(jù)公式(1)決定所需調(diào)整之法向量。此外，在本發(fā)明實施例中由于系使用3個調(diào)整點進行調(diào)整，其分別相應(yīng)步進馬達所需之調(diào)整步數(shù)如下iM1step＝((pAo-pTarget_X)×(pL1/pTrm))/pTD2S；iM2step＝(pBui-((pBuo-pBui)/(pL2o-pL2i))×pLio)/pTD2S；以及iM3step＝(pBuo-((pBuo-pBui)/(pL2o-pL2i))×pLoo)/pTD2S；其中，pBui＝(pAm-pTarget_X)×(pL2i/pTrm)+(pTarget_Y-pBm)×(pL3/pTrm)pBuo＝(pAo-pTarget_X)×(pL2o/pTrm)+(pTarget_Y-pBo)×(pL3/pTrm)其中，iM1step為主軸調(diào)整點調(diào)整步數(shù)、iM2step為副軸內(nèi)圈調(diào)整點調(diào)整步數(shù)、iM3step為副軸外圈調(diào)整點調(diào)整步數(shù)，且pTarget_X為X軸帽蓋反射點減原始光軸偏移量、pTarget_Y為Y軸帽蓋反射點減原始光軸偏移量、pAm為內(nèi)圖反射塊反射點X軸坐標、pBm為內(nèi)圈反射塊反射點Y軸坐標、pAo為外圈反射塊反射點X軸坐標、pBo為外圈反射塊反射點Y軸坐標，且pTD2S與pTrm為轉(zhuǎn)換常數(shù)，pTD2S＝(0.45/5000)；pTrm＝(180×60)/3.1415916，pL1，pL2i，pL2o，pL3，pLio，pLoo為常數(shù)，pL1＝62.3，pL2i＝14.72，pL2o＝50.70，pL3＝45.00，pLio＝5.38，pLoo＝6.20。值得注意的是，上述常數(shù)僅是一實例，對于不同的構(gòu)件尺寸亦可進行相應(yīng)的調(diào)整。另一方面，為了避免調(diào)整時造成螺絲的損壞，因此，本發(fā)明方法可以內(nèi)定一既定步數(shù)，且光軸偏移量大于此既定步數(shù)時，則先將導(dǎo)桿組對于光學(xué)讀寫頭的相對水平位置調(diào)整此既定步數(shù)，再重復(fù)步驟S112至S115的操作。此外，必須注意的是，本發(fā)明方法亦可當步驟S112至S115的操作重復(fù)一既定次數(shù)之后且光軸調(diào)整并未完成時，停止光軸調(diào)整的行為，避免多次的調(diào)整造成相關(guān)構(gòu)件的損壞。因此，借由本發(fā)明所提供的光軸調(diào)整方法，可以依據(jù)于不同位置的反射信息綜合判斷整體光軸的偏移情況，進而自動調(diào)整光軸，從而增進光驅(qū)的讀片率。本發(fā)明的方法與系統(tǒng)，或特定型態(tài)或其部份，可以以程序代碼的型態(tài)包含于實體媒體，如軟盤、光盤片、硬盤、或是任何其它機器可讀取(如計算機可讀取)儲存媒體，其中，當程序代碼被機器，如計算機加載且執(zhí)行時，此機器變成用以參與本發(fā)明的裝置。本發(fā)明的方法與裝置也可以以程序代碼型態(tài)通過一些傳送媒體，如電線或電纜、光纖、或是任何傳輸型態(tài)進行傳送，其中，當程序代碼被機器，如計算機接收、加載且執(zhí)行時，此機器變成用以參與本發(fā)明的裝置。當在一般用途處理器實作時，程序代碼結(jié)合處理器提供一操作類似于應(yīng)用特定邏輯電路的獨特裝置。雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭示如上，然而其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本技術(shù)的人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作出種種的等效的改變或替換，因此本發(fā)明的保護范圍當視后附的本申請權(quán)利要求范圍所界定的為準。權(quán)利要求1.一種光軸調(diào)整方法，用于一光驅(qū)，其中該光驅(qū)具有至少包括一光學(xué)讀寫頭、一旋轉(zhuǎn)盤以及一導(dǎo)桿組的一進給組件總成，其中該光學(xué)讀寫頭是滑動于該導(dǎo)桿組之上并定位于一第一位置與一第二位置之間，該方法包括下列步驟(a)提供一第一反射塊，設(shè)置于該進給組件總成的該導(dǎo)桿組之上，用以仿真該光學(xué)讀寫頭定位于該第一位置上的光軸偏移量；(b)提供一第二反射塊，設(shè)置于該進給組件總成的該導(dǎo)桿組之上，用以仿真該光學(xué)讀寫頭定位于該第二位置上的光軸偏移量；(c)提供一第三反射塊，設(shè)置于該進給組件總成的該旋轉(zhuǎn)盤之上，用以模擬該旋轉(zhuǎn)盤承載并轉(zhuǎn)動一光盤片時，該光盤片對于該光學(xué)讀寫頭的光軸偏移量；(d)分別輸出光線至該第一反射塊、該第二反射塊以及該第三反射塊之上，并分別接收自該第一反射塊、該第二反射塊與該第三反射塊反射的光線，以得到分別相應(yīng)該第一反射塊、該第二反射塊與該第三反射塊的光軸偏移信息；(e)依據(jù)相應(yīng)該第一反射塊、該第二反射塊與該第三反射塊的光軸偏移信息分別計算相應(yīng)的光軸偏移量；以及(f)依據(jù)該光軸偏移量計算一調(diào)整值，并依據(jù)該調(diào)整值自動調(diào)整該導(dǎo)桿組對于該光學(xué)讀寫頭的相對水平位置。2.如權(quán)利要求1所述的光軸調(diào)整方法，其特征在于還包括接收該光學(xué)讀寫頭的一原始光軸偏移量。3.如權(quán)利要求2所述的光軸調(diào)整方法，其特征在于還包括依據(jù)該原始光軸偏移量與相應(yīng)該第一反射塊、該第二反射塊與該第三反射塊的光軸偏移信息計算該光驅(qū)的光軸偏移量。4.如權(quán)利要求2所述的光軸調(diào)整方法，其特征在于該原始光軸偏移量是通過一條形碼掃描儀讀取。5.如權(quán)利要求1所述的光軸調(diào)整方法，其特征在于該第一位置是位于該進給組件總成中遠離該旋轉(zhuǎn)盤處，且該第二位置是位于該進給組件，總成中鄰接該旋轉(zhuǎn)盤處。6.如權(quán)利要求5所述的光軸調(diào)整方法，其特征在于該導(dǎo)桿組還具有一主導(dǎo)桿以及一副導(dǎo)桿，該主導(dǎo)桿是相對于該副導(dǎo)桿，該光學(xué)讀寫頭是滑動于該主導(dǎo)桿以及該副導(dǎo)桿之上，以及該自動調(diào)整裝置是同時抵接于該主導(dǎo)桿以及該副導(dǎo)桿。7.如權(quán)利要求6所述的光軸調(diào)整方法，其特征在于該第一反射塊還具有一第一端、一第二端以及一第三端，當該第一反射塊仿真該光學(xué)讀寫頭定位于該第一位置上時，該第一端以及該第二端是位于該主導(dǎo)桿之上，該第三端是位于該副導(dǎo)桿之上，該第一端與該第三端是位于該第一位置上，以及該第二端是位于該第二位置上。8.如權(quán)利要求6所述的光軸調(diào)整方法，其特征在于，該第二反射塊還具有一第四端、一第五端以及一第六端，當該第二反射塊仿真該光學(xué)讀寫頭定位于該第二位置上時，該第四端以及該第五端是位于該主導(dǎo)桿之上，該第六端是位于該副導(dǎo)桿之上，該第四端是位于該第一位置上，以及該第五端與該第六端是位于該第二位置上。9.如權(quán)利要求1所述的光軸調(diào)整方法，其特征在于還包括通過一步進馬達與至少一抵推桿依據(jù)該光軸偏移量自動調(diào)整該導(dǎo)桿組對于該光學(xué)讀寫頭的相對水平位置，其中該步進馬達是連接于該抵推桿，該抵推桿是抵接于該進給組件總成的該導(dǎo)桿組，且該導(dǎo)桿組具有至少一調(diào)整螺絲，該抵推桿抵接于該調(diào)整螺絲。10.如權(quán)利要求9所述的光軸調(diào)整方法，其特征在于還包括當該光軸偏移量大于一既定步數(shù)時，則先依據(jù)該既定步數(shù)調(diào)整該導(dǎo)桿組對于該光學(xué)讀寫頭的相對水平位置，以及重復(fù)(d)-(f)的操作。全文摘要一種光軸調(diào)整方法，首先，分別輸出光線至第一反射塊、第二反射塊以及第三反射塊之上，并分別接收相應(yīng)反射的光線，以得到分別相應(yīng)的光軸偏移信息，其中，第一反射塊、第二反射塊與第三反射塊是分別仿真光學(xué)讀寫頭定位于外圈、內(nèi)圈與旋轉(zhuǎn)盤承載的光軸偏移量。之后，依據(jù)光軸偏移信息計算光驅(qū)的光軸偏移量，且依據(jù)光軸偏移量自動調(diào)整導(dǎo)桿組對于光學(xué)讀寫頭的相對水平位置。文檔編號G11B7/09GK1737920SQ20041006422公開日2006年2月22日申請日期2004年8月18日優(yōu)先權(quán)日2004年8月18日發(fā)明者歐德權(quán),郭國龍,黃導(dǎ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