本發(fā)明涉及一種電容器生產(chǎn)的測(cè)試設(shè)備，尤其涉及一種用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有的電容器都是先將導(dǎo)針鉚接在極箔上，然后進(jìn)行卷繞。導(dǎo)針鉚接的質(zhì)量直接影響整個(gè)電容器的好壞，鉚接的好壞可通過測(cè)試極箔與導(dǎo)針之間的電阻來確定，然而在測(cè)試的時(shí)候由于在陽極箔表面形成有一層三氧化二鋁的氧化膜，正極測(cè)試針和負(fù)極測(cè)試針需要將三氧化二鋁刺穿才能夠測(cè)試極箔與導(dǎo)針之間的電阻，故在測(cè)試的時(shí)候非常容易出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象，往往導(dǎo)致測(cè)試出來的電阻偏大，不能夠真實(shí)的反應(yīng)極箔與導(dǎo)針之間的電阻。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種操作簡(jiǎn)單、能夠真實(shí)的測(cè)量極箔和導(dǎo)針之間的電阻的用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提出的技術(shù)方案為：一種用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具，包括底座、壓板和測(cè)試針組件，所述底座的中部固定設(shè)置有絕緣墊板，所述底座的兩側(cè)均設(shè)置有立柱，立柱穿過絕緣墊板并從壓板伸出，壓板能沿立柱上下移動(dòng)；所述測(cè)試針組件固定設(shè)置在壓板的中部；所述測(cè)試針組件包括兩根負(fù)極測(cè)試針和三根正極測(cè)試針，所述三根正極測(cè)試針成一排設(shè)置，兩根負(fù)極測(cè)試針分別設(shè)置在成一排設(shè)置的正極測(cè)試針的兩側(cè)；所述兩根負(fù)極測(cè)試針通過導(dǎo)線連接在一起并且連接在阻抗測(cè)試儀的負(fù)極上，三根正極測(cè)試針通過導(dǎo)線連接在一起并且連接連接在阻抗測(cè)試儀的正極上。本發(fā)明中，在測(cè)試極箔和導(dǎo)針之間的電阻的時(shí)候，先將待測(cè)試的帶有導(dǎo)針的極箔伸入到絕緣墊板上，將壓板壓下，這時(shí)正極測(cè)試針和負(fù)極測(cè)試針下端的圓錐形尖端刺穿極箔上的三氧化二鋁氧化膜和導(dǎo)針上的氧化膜，這樣正極測(cè)試針和負(fù)極測(cè)試針能夠分別直接接觸導(dǎo)針和極箔的內(nèi)部，這樣測(cè)試出來的電阻是最真實(shí)的，能夠真實(shí)的反應(yīng)鉚接的效果。在發(fā)明中設(shè)置有三根正極測(cè)試針和兩根負(fù)極測(cè)試針，這樣只要有一根正極測(cè)試針和一根負(fù)極測(cè)試針將導(dǎo)針和極箔表面的氧化膜刺穿就能夠完成測(cè)試，這樣能夠保證測(cè)試的穩(wěn)定性。

上述的用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具，優(yōu)選的，所述測(cè)試組件固定設(shè)置在連接塊上，所述連接塊通過卡槽設(shè)置在壓板上；所述連接塊可在壓板上滑動(dòng)。本發(fā)明中，由于每種電容器的型號(hào)和尺寸不同，在測(cè)試導(dǎo)針和極箔之間的電阻的時(shí)候，正極測(cè)試針會(huì)不可避免的可能之間頂在鉚花上，這樣不能夠真實(shí)的反應(yīng)導(dǎo)針和極箔之間的電阻，此時(shí)可以移動(dòng)測(cè)試組件使得正極測(cè)試針能夠準(zhǔn)確的頂在導(dǎo)針上。

上述的用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具，優(yōu)選的，負(fù)極測(cè)試針和正極測(cè)試針均包括探針，所述探針的下端呈尖銳的圓錐形，上端設(shè)置有導(dǎo)線連接部，所述導(dǎo)線焊接在導(dǎo)線連接部上，所述探針通過緩沖組件連接在壓板上。探針下端尖銳的圓錐形在測(cè)試的時(shí)候刺穿極箔和導(dǎo)針表面的氧化膜。

上述的用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具，優(yōu)選的，所述緩沖組件包括固定設(shè)置在壓板頂部的蓋板、緩沖彈簧和設(shè)置在正極測(cè)試針或者負(fù)極測(cè)試針中部的凸塊，所述緩沖彈簧設(shè)置在凸塊和蓋板之間；所述正極測(cè)試針的中部、負(fù)極測(cè)試針的中部和凸塊的表面設(shè)置有一個(gè)絕緣層。由于正極測(cè)試針和負(fù)極測(cè)試針的是導(dǎo)電的，故需要在正極測(cè)試針和負(fù)極測(cè)試針的中部以及凸塊的表面設(shè)置一個(gè)絕緣層。同時(shí)緩沖組件的設(shè)置能夠在刺穿導(dǎo)針和極箔表面氧化膜的時(shí)候起到緩沖作用，防止一下子將極箔刺穿，同時(shí)防止鋼性碰撞將圓錐形尖端損壞。本發(fā)明中，正極測(cè)試針的中部、負(fù)極測(cè)試針的中部和凸塊的表面的絕緣層可以是涂覆上去的絕緣材料，也可以是鍍上去的絕緣膜。

上述的用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具，優(yōu)選的，所述正極測(cè)試針的下端比負(fù)極測(cè)試針的下端高0.1-1mm。因?yàn)閷?dǎo)針鉚接在極箔上后，導(dǎo)針的鋁舌是有一定厚度的，其厚度一般在0.1-1mm之間。

上述的用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具，優(yōu)選的，所述底座和壓板之間通過螺紋桿連接在一起。通過螺紋桿可以控制壓板和底座之間的距離。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于：本發(fā)明的用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具能夠準(zhǔn)確的測(cè)量導(dǎo)針與極箔之間的電阻，從而評(píng)價(jià)導(dǎo)針的鉚接效果；并且本發(fā)明的測(cè)試治具非常穩(wěn)定。

附圖說明

圖1為本發(fā)明中用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本發(fā)明中測(cè)試針組件的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖例說明

1、底座；2、壓板；3、絕緣墊板；4、立柱；5、負(fù)極測(cè)試針；6、正極測(cè)試針；7、連接塊；8、卡槽；9、導(dǎo)線連接部；10、蓋板；11、緩沖彈簧；12、凸塊；13、螺紋桿；14、絕緣層。

具體實(shí)施方式

為了便于理解本發(fā)明，下文將結(jié)合較佳的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作更全面、細(xì)致地描述，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不限于以下具體的實(shí)施例。

需要特別說明的是，當(dāng)某一元件被描述為“固定于、固接于、連接于或連通于”另一元件上時(shí)，它可以是直接固定、固接、連接或連通在另一元件上，也可以是通過其他中間連接件間接固定、固接、連接或連通在另一元件上。

除非另有定義，下文中所使用的所有專業(yè)術(shù)語與本領(lǐng)域技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中所使用的專業(yè)術(shù)語只是為了描述具體實(shí)施例的目的，并不是旨在限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。

實(shí)施例

如圖1和圖2所示的一種用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具，包括底座1、壓板2和測(cè)試針組件，底座1的中部固定設(shè)置有絕緣墊板3，底座1的兩側(cè)均設(shè)置有立柱4，立柱4穿過絕緣墊板3并從壓板2伸出，壓板2能沿立柱上下移動(dòng)；測(cè)試針組件固定設(shè)置在壓板2的中部；測(cè)試針組件包括兩根負(fù)極測(cè)試針5和三根正極測(cè)試針6，三根正極測(cè)試針6成一排設(shè)置，兩根負(fù)極測(cè)試針5分別設(shè)置在成一排設(shè)置的正極測(cè)試針6的兩側(cè)；兩根負(fù)極測(cè)試針5通過導(dǎo)線連接在一起并且連接在阻抗測(cè)試儀的負(fù)極上，三根正極測(cè)試針6通過導(dǎo)線連接在一起并且連接連接在阻抗測(cè)試儀的正極上。測(cè)試組件固定設(shè)置在連接塊7上，連接塊7通過卡槽8設(shè)置在壓板2上；連接塊7可在壓板2上滑動(dòng)。底座1和壓板2之間通過螺紋桿13連接在一起。

本實(shí)施例中，負(fù)極測(cè)試針5和正極測(cè)試針6均包括探針，探針的下端呈尖銳的圓錐形，上端設(shè)置有導(dǎo)線連接部9，導(dǎo)線焊接在導(dǎo)線連接部9上，探針通過緩沖組件連接在壓板2上。緩沖組件包括固定設(shè)置在壓板2頂部的蓋板10、緩沖彈簧11和設(shè)置在正極測(cè)試針6或者負(fù)極測(cè)試針5中部的凸塊12，緩沖彈簧11設(shè)置在凸塊12和蓋板10之間；正極測(cè)試針6的中部、負(fù)極測(cè)試針5的中部和凸塊12的表面設(shè)置有一個(gè)絕緣層14。本實(shí)施例中，正極測(cè)試針6的下端比負(fù)極測(cè)試針5的下端高0.5mm。

本實(shí)施例的用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具能夠準(zhǔn)確的測(cè)量導(dǎo)針與極箔之間的電阻，從而評(píng)價(jià)導(dǎo)針的鉚接效果；并且本發(fā)明的測(cè)試治具非常穩(wěn)定。

技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
一種用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具，包括底座、壓板和測(cè)試針組件，底座的中部固定設(shè)置有絕緣墊板，底座的兩側(cè)均設(shè)置有立柱，立柱穿過絕緣墊板并從壓板伸出，壓板能沿立柱上下移動(dòng)；測(cè)試針組件固定設(shè)置在壓板的中部；測(cè)試針組件包括兩根負(fù)極測(cè)試針和三根正極測(cè)試針，三根正極測(cè)試針成一排設(shè)置，兩根負(fù)極測(cè)試針分別設(shè)置在成一排設(shè)置的正極測(cè)試針的兩側(cè)；兩根負(fù)極測(cè)試針通過導(dǎo)線連接在一起并且連接在阻抗測(cè)試儀的負(fù)極上，三根正極測(cè)試針通過導(dǎo)線連接在一起并且連接連接在阻抗測(cè)試儀的正極上。本發(fā)明的用于檢測(cè)電容器的導(dǎo)針與極箔鉚接阻抗的測(cè)試治具能夠準(zhǔn)確的測(cè)量導(dǎo)針與極箔之間的電阻，從而評(píng)價(jià)導(dǎo)針的鉚接效果。

技術(shù)研發(fā)人員：艾茂;彭國(guó)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：益陽市安興電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.07
技術(shù)公布日：2017.09.01