本發(fā)明涉及貴金屬制品檢測，更具體地說是一種貴金屬制品的快速檢測方法。

背景技術(shù)：

目前，在貴金屬檢測領(lǐng)域，x射線熒光光譜儀是一種用于檢驗貴金屬制品純度的常規(guī)檢測儀器，具有快速篩選的特點，但一般的x射線熒光光譜儀對于貴金屬制品的檢測只局限于表層(x射線對金的探測深度僅約10μm，對銀的探測深度僅約50μm)，無法對貴金屬制品的內(nèi)部情況進(jìn)行檢測；市面上存在貴金屬內(nèi)部摻雜造假的情況，僅通過x射線熒光光譜分析貴金屬制品表面，極易出現(xiàn)誤判，檢測不準(zhǔn)確的情況；現(xiàn)在也有采用密度綜合法來檢測貴金屬，但存在成本高、耗時長、局限性較大等問題，對于通過配重以及摻雜密度相近金屬造假的貴金屬制品，則無法檢測出來。

因此，有必要設(shè)計一種能夠無損、快速、準(zhǔn)確、便捷的檢測貴金屬制品的檢測方法。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種貴金屬制品的快速檢測方法。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：一種貴金屬制品的快速檢測方法，包括以下步驟：

s10、設(shè)定x射線熒光光譜儀的工作條件，將被測樣品置于x射線熒光光譜儀的檢測臺上，檢測被測樣品表層的主要成分及成分含量；

s20、將被測樣品表層多個檢測點測得的被測樣品數(shù)據(jù)取平均值與被測樣品的標(biāo)稱值數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，若滿足標(biāo)準(zhǔn)值下限要求，則進(jìn)行下一步檢測，否則，停止檢測，判斷被測樣品不合格；

s30、用量尺測出被測樣品測試點處兩相對表面的厚度值d1；

s40、設(shè)定超聲波測厚儀的工作條件，通過超聲波測厚儀發(fā)出的超聲波脈沖到達(dá)被測樣品的第一個物質(zhì)界面并反射回超聲波測厚儀所消耗的時間，以計算出被測樣品測試點表面與第一個物質(zhì)界面之間的厚度值d2。

s50、將d1與d2進(jìn)行對比，若符合|d2/d1-1|*100％≤5％，則被測樣合格，否則，被測樣品不合格。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述步驟s10之前還包括用無水乙醇擦洗被測樣品的測試表面。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述s10步驟中，選擇錳元素在5.89kev能量位置的峰，分辨率優(yōu)于170ev的x射線熒光光譜儀。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述步驟s20中，所述檢測點包括三個以上檢測點，其中，相鄰兩個檢測點之間的直線距離為10mm以上。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述步驟s30中，所述量尺為游標(biāo)卡尺。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述游標(biāo)卡尺的最小分度值為0.01mm～0.02mm。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述步驟s40中，超聲波測厚儀檢測的被測樣品測試點與量尺所測的被測樣品測試點的位置相同。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述步驟s40具體包括以下子步驟：

s41：選擇范圍/分辨率為0.6-508mm/0.01mm，誤差為±0.3％d+0.03mm，聲速為500-9999m/s的超聲波測厚儀；

s42：校準(zhǔn)超聲波測厚儀；

s43：將耦合劑涂覆于被測樣品測試點和/或超聲波測厚儀的探頭；

s44：將探頭貼緊與被測樣品測試點，調(diào)節(jié)超聲波測厚儀工作參數(shù)，以得到穩(wěn)定的厚度值d2。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果是：本發(fā)明一種貴金屬制品的快速檢測方法采用了x射線熒光光譜儀檢測被測樣品表面主要成分及成分含量，可以初步判斷被樣品是否合格，采用超聲波測厚儀對被測樣品內(nèi)部情況進(jìn)行進(jìn)一步的檢測，提高了檢測的準(zhǔn)確性，另外，通過x射線熒光光譜儀和超聲波測厚儀兩者結(jié)合對被測樣品進(jìn)行檢測，不會破壞測試樣品，實現(xiàn)無損檢測，對被測樣品的條件限制較少，步驟簡便，更能快速、方便的檢測，對于大型檢驗中心在檢驗任務(wù)較多的情況下，可大大提高工作效率，減低成本。

上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征及優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1為本發(fā)明一種貴金屬制品的快速檢測方法具體實施例的流程圖；

圖2為本發(fā)明一種貴金屬制品的快速檢測方法具體實施例中步驟s40的子步驟流程圖；

圖3為實施例一的銀塊主要成分及成分含量的數(shù)據(jù)表格；

圖4為實施例一的游標(biāo)卡尺測量銀塊厚度值d1的數(shù)據(jù)表格。

具體實施方式

為了更充分理解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，下面結(jié)合具體實施例對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)一步介紹和說明，但不局限于此。

如圖1-2所示，本發(fā)明一種貴金屬制品的快速檢測方法，包括以下步驟：

s10、設(shè)定x射線熒光光譜儀的工作條件，將被測樣品置于x射線熒光光譜儀的檢測臺上，檢測被測樣品表層的主要成分及成分含量；

s20、將被測樣品表層多個檢測點測得的被測樣品數(shù)據(jù)取平均值與被測樣品的標(biāo)稱值數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，若滿足標(biāo)準(zhǔn)值下限要求，則進(jìn)行下一步檢測，否則，停止檢測，判斷被測樣品不合格；

s30、用量尺測出被測樣品測試點的厚度值d1；

s40、設(shè)定超聲波測厚儀的工作條件，通過超聲波測厚儀發(fā)出的超聲波脈沖到達(dá)被測樣品的第一個物質(zhì)界面并反射回超聲波測厚儀所消耗的時間，以計算出被測樣品測試點與第一個物質(zhì)界面之間的厚度值d2。

s50、將d1與d2進(jìn)行對比，若符合|d2/d1-1|*100％≤5％，則被測樣合格，否則，被測樣品不合格。

進(jìn)一步的，步驟s10之前還包括用無水乙醇擦洗被測樣品的測試表面，去除油污。

進(jìn)一步的，s10步驟中，選擇錳元素在5.89kev能量位置的峰，分辨率優(yōu)于170ev的x射線熒光光譜儀。

進(jìn)一步的，步驟s20中，檢測點包括三個以上檢測點，其中，相鄰兩個檢測點之間的直線距離為10mm以上。；從具有代表性的不同點取得的數(shù)據(jù)綜合分析得出的結(jié)果更為準(zhǔn)確。

進(jìn)一步的，步驟s30中，量尺為游標(biāo)卡尺或者千分尺；游標(biāo)卡尺的最小分度值為0.01mm～0.02mm，優(yōu)選為0.01mm。

進(jìn)一步的，步驟s40中，超聲波測厚儀檢測的被測樣品測試點與量尺所測的被測樣品測試點的位置相同。

步驟s40具體包括以下子步驟：

s41：選擇范圍/分辨率為0.6-508mm/0.01mm，誤差為±0.3％d+0.03mm，聲速為500-9999m/s的超聲波測厚儀；

s42：校準(zhǔn)超聲波測厚儀；

s43：將耦合劑涂覆于被測樣品測試點和/或超聲波測厚儀的探頭；

s44：將探頭貼緊與被測樣品測試點，調(diào)節(jié)超聲波測厚儀工作參數(shù)，以得到穩(wěn)定的厚度值d2。

具體的，本實施例一采用一種貴金屬制品的快速檢測方法檢測足銀999的具體方法：

第一步：用無水乙醇擦洗銀塊表面，去除油污；

第二步：選擇錳元素在5.89kev能量位置的峰，分辨率優(yōu)于170ev的x射線熒光光譜儀，將銀塊放置在x射線熒光光譜儀的檢測臺上，合上檢測艙蓋，選擇銀系列工作曲線；選取銀塊上3個不同位置進(jìn)行檢測，得到的結(jié)果取平均值，請參考圖3所示的測試數(shù)據(jù)，測試結(jié)果銀含量為999.5‰，符合足銀999中銀含量標(biāo)稱值的范圍，初步檢測銀塊合格；

第三步：選擇最小分度值為0.02mm的游標(biāo)卡尺，在銀塊上選擇表面較光滑，相對的兩表面平形或同軸的測試點，用酒精擦拭測試點表面油污，用游標(biāo)卡尺測量測試點兩相對表面的距離，即厚度值d1；請參考圖4所示的測試數(shù)據(jù)，對同一個測試點重復(fù)測試三次，取平均值結(jié)果為d1＝2.62mm；

第四步：選擇范圍/分辨率為1.5-150mm/0.01mm，誤差為±0.3％d+0.03mm，聲速為1000-9999m/s的超聲波測厚儀，開啟超聲波測厚儀，利用超聲波測厚儀自帶的4.00mm不銹鋼片進(jìn)行零點校準(zhǔn)，涂覆耦合劑在鋼片上，點擊“校準(zhǔn)”按鈕，將探頭貼在涂有耦合劑的鋼片表面，確保貼近，等待儀器自動校準(zhǔn)完成；

第五步：超聲波測厚儀內(nèi)置有聲波在金、銀、鉑和鈀4種類型的貴金屬的傳播速度，本次檢測中，選擇“銀”類型，設(shè)置厚度值為2.6mm，將耦合劑涂覆在銀塊測試點，將探頭貼緊樣品表面，待顯示屏上的讀數(shù)穩(wěn)定，讀取厚度值d2＝2.64mm；

第六步：d1＝2.62mm，d2＝2.64mm，符合|d2/d1-1|*100％≤5％說明銀塊表面與內(nèi)部均勻，不存在缺陷和夾雜，判定此銀塊整體滿足足銀999成色的要求。

于其它實施例中，選擇錳元素在5.89kev能量位置的峰，分辨率優(yōu)于170ev的x射線熒光光譜儀，范圍/分辨率為0.6-508mm/0.01mm，誤差為±0.3％d+0.03mm，聲速為500-9999m/s的超聲波測厚儀，最小分度值為0.02mm的游標(biāo)卡尺進(jìn)行檢測。

于其它實施例中，采用丙酮等常用去除油污的有機(jī)溶劑擦洗被測樣品的測試表面。

綜合上述：本發(fā)明一種貴金屬制品的快速檢測方法采用了x射線熒光光譜儀檢測被測樣品表面主要成分及成分含量，可以初步判斷被樣品是否合格，采用超聲波測厚儀對被測樣品內(nèi)部情況進(jìn)行進(jìn)一步的檢測，提高了檢測的準(zhǔn)確性，另外，通過x射線熒光光譜儀和超聲波測厚儀兩者結(jié)合對被測樣品進(jìn)行檢測，不會破壞測試樣品，實現(xiàn)無損檢測，對被測樣品的條件限制較少，步驟簡便，更能快速、方便的檢測，對于大型檢驗中心在檢驗任務(wù)較多的情況下，可大大提高工作效率，減低成本。

上述僅以實施例來進(jìn)一步說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，以便于讀者更容易理解，但不代表本發(fā)明的實施方式僅限于此，任何依本發(fā)明所做的技術(shù)延伸或再創(chuàng)造，均受本發(fā)明的保護(hù)。本發(fā)明的保護(hù)范圍以權(quán)利要求書為準(zhǔn)。