技術(shù)編號(hào)：11706298
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及貴金屬制品檢測(cè)，更具體地說(shuō)是一種貴金屬制品的快速檢測(cè)方法。背景技術(shù)目前，在貴金屬檢測(cè)領(lǐng)域，X射線熒光光譜儀是一種用于檢驗(yàn)貴金屬制品純度的常規(guī)檢測(cè)儀器，具有快速篩選的特點(diǎn)，但一般的X射線熒光光譜儀對(duì)于貴金屬制品的檢測(cè)只局限于表層(X射線對(duì)金的探測(cè)深度僅約10μm，對(duì)銀的探測(cè)深度僅約50μm)，無(wú)法對(duì)貴金屬制品的內(nèi)部情況進(jìn)行檢測(cè)；市面上存在貴金屬內(nèi)部摻雜造假的情況，僅通過(guò)X射線熒光光譜分析貴金屬制品表面，極易出現(xiàn)誤判，檢測(cè)不準(zhǔn)確的情況；現(xiàn)在也有采用密度綜合法來(lái)檢測(cè)貴金屬，但存在成本高、耗時(shí)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。