1.一種數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，具有：
第一檢測(cè)部；
第二檢測(cè)部；
數(shù)據(jù)獲取部，其在按照每一固定時(shí)間設(shè)定有多個(gè)時(shí)點(diǎn)的數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)，在第奇數(shù)次與第偶數(shù)次中的一方的時(shí)點(diǎn)獲取來自所述第一檢測(cè)部的第一數(shù)據(jù)，并且在第奇數(shù)次與第偶數(shù)次中的另一方的時(shí)點(diǎn)獲取來自所述第二檢測(cè)部的第二數(shù)據(jù)；以及
檢測(cè)值決定部，其基于所述第一數(shù)據(jù)決定所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)的第一檢測(cè)值，基于所述第二數(shù)據(jù)決定所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)的第二檢測(cè)值，
在所述數(shù)據(jù)獲取部中，將在所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)獲取所述第一數(shù)據(jù)的次數(shù)與獲取所述第二數(shù)據(jù)的次數(shù)之和設(shè)為三次以上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
在所述數(shù)據(jù)獲取部中，將在所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)獲取所述第一數(shù)據(jù)的次數(shù)與獲取所述第二數(shù)據(jù)的次數(shù)之和設(shè)為五次以上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
所述第一檢測(cè)部連續(xù)輸出第一模擬數(shù)據(jù)，并且所述第二檢測(cè)部連續(xù)輸出第二模擬數(shù)據(jù)，
設(shè)置將所述第一模擬數(shù)據(jù)與所述第二模擬數(shù)據(jù)交替地轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的A/D轉(zhuǎn)換器，
在所述數(shù)據(jù)獲取部中，通過所述A/D轉(zhuǎn)換器，以在所述一方的時(shí)點(diǎn)將所述第一模擬數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的結(jié)果作為所述第一數(shù)據(jù)，以在所述另一方的時(shí)點(diǎn)將所述第二模擬數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的結(jié)果作為所述第二數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中的任一項(xiàng)所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
在所述檢測(cè)值決定部中，根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)的算術(shù)平均數(shù)決定所述第一檢測(cè)值，根據(jù)所述第二數(shù)據(jù)的算數(shù)平均數(shù)決定所述第二檢測(cè)值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至3中的任一項(xiàng)所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
在所述檢測(cè)值決定部中，將所述第一數(shù)據(jù)相加從而算出所述第一檢測(cè)值，將所述第二數(shù)據(jù)相加從而算出所述第二檢測(cè)值，
在算出所述第一檢測(cè)值與算出所述第二檢測(cè)值的至少一方中，通過乘以相對(duì)于所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間的中間在前側(cè)與后側(cè)對(duì)稱的系數(shù)的加權(quán)和計(jì)算，使所述第一檢測(cè)值的位長與所述第二檢測(cè)值的位長一致。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
將在靠近所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間的中間的時(shí)間獲取的數(shù)據(jù)乘以比在離所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間的中間較遠(yuǎn)的時(shí)間獲取的數(shù)據(jù)大的系數(shù)進(jìn)行加權(quán)和計(jì)算。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
所述系數(shù)為2的冪。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至3中的任一項(xiàng)所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
所述第一檢測(cè)部為磁阻元件的第一磁阻膜，
所述第二檢測(cè)部為所述磁阻元件的第二磁阻膜，
所述第一磁阻膜基于來自與所述磁阻元件相對(duì)旋轉(zhuǎn)的磁鐵的磁場變化，輸出由正弦波構(gòu)成的第一模擬數(shù)據(jù)，
所述第二磁阻膜基于來自所述磁鐵的磁場變化，輸出由余弦波構(gòu)成的第二模擬數(shù)據(jù)，
基于與所述檢測(cè)值決定部決定的所述第一檢測(cè)值和所述第二檢測(cè)值對(duì)應(yīng)的反正切算出所述磁鐵相對(duì)于所述磁阻元件的角度位置。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
在所述檢測(cè)值決定部中，根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)的算術(shù)平均數(shù)決定所述第一檢測(cè)值，根據(jù)所述第二數(shù)據(jù)的算數(shù)平均數(shù)決定所述第二檢測(cè)值。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
設(shè)置有時(shí)點(diǎn)控制部，該時(shí)點(diǎn)控制部對(duì)在所述A/D轉(zhuǎn)換器中從所述第一模擬數(shù)據(jù)獲取所述第一數(shù)據(jù)并從所述第二模擬數(shù)據(jù)獲取所述第二數(shù)據(jù)的時(shí)點(diǎn)進(jìn)行控制，
連續(xù)設(shè)定所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間，
在所述時(shí)點(diǎn)控制部中，對(duì)條件進(jìn)行切換，以使所述多個(gè)時(shí)點(diǎn)中的第奇數(shù)次的數(shù)據(jù)獲取和偶數(shù)次的數(shù)據(jù)獲取交替，藉此，
若在所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)，在第奇數(shù)次的時(shí)點(diǎn)獲取所述第一數(shù)據(jù)且在第偶數(shù)次獲取所述第二數(shù)據(jù)，
則在下一次所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)，在第偶數(shù)次獲取所述第一數(shù)據(jù)且在第奇數(shù)次獲取所述第二數(shù)據(jù)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
按照所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間除以在所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)獲取所述第一數(shù)據(jù)的次數(shù)與獲取所述第二數(shù)據(jù)的次數(shù)之和所得的時(shí)間設(shè)定所述多個(gè)時(shí)點(diǎn)。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
在所述檢測(cè)值決定部中，將所述第一數(shù)據(jù)相加從而算出所述第一檢測(cè)值，將所述第二數(shù)據(jù)相加從而算出所述第二檢測(cè)值，
在算出所述第一檢測(cè)值與算出所述第二檢測(cè)值的至少一方中，通過乘以相對(duì)于所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間的中間在前側(cè)與后側(cè)對(duì)稱的系數(shù)的加權(quán)和計(jì)算，使所述第一檢測(cè)值的位長與所述第二檢測(cè)值的位長一致。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
設(shè)置有時(shí)點(diǎn)控制部，該時(shí)點(diǎn)控制部對(duì)在所述A/D轉(zhuǎn)換器中從所述第一模擬數(shù)據(jù)獲取所述第一數(shù)據(jù)并從所述第二模擬數(shù)據(jù)獲取所述第二數(shù)據(jù)的時(shí)點(diǎn)進(jìn)行控制，
連續(xù)設(shè)定所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間，
在所述時(shí)點(diǎn)控制部中，對(duì)條件進(jìn)行切換，以使所述多個(gè)時(shí)點(diǎn)中的第奇數(shù)次的數(shù)據(jù)獲取和偶數(shù)次的數(shù)據(jù)獲取交替，藉此，
若在所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)，在第奇數(shù)次的時(shí)點(diǎn)獲取所述第一數(shù)據(jù)且在第偶數(shù)次獲取所述第二數(shù)據(jù)，
則在下一次所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)，在第偶數(shù)次獲取所述第一數(shù)據(jù)且在第奇數(shù)次獲取所述第二數(shù)據(jù)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，其特征在于，
按照所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間除以在所述數(shù)據(jù)檢測(cè)期間內(nèi)獲取所述第一數(shù)據(jù)的次數(shù)與獲取所述第二數(shù)據(jù)的次數(shù)之和所得的時(shí)間設(shè)定所述多個(gè)時(shí)點(diǎn)。